TWI398810B - 多點觸控電阻式觸控面板及其多觸控點之偵測方法與應用其之電子裝置 - Google Patents

多點觸控電阻式觸控面板及其多觸控點之偵測方法與應用其之電子裝置 Download PDF

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Description

多點觸控電阻式觸控面板及其多觸控點之偵測方法與應用其之電子裝置
本發明是有關於一種觸控面板,且特別是有關於一種可多點觸控之電阻式觸控面板。
自從2007年初蘋果電腦發表iPhone所引發之觸控面板商機以來,觸控面板更帶動其他消費型電子產品的應用,例如:一般通訊手機、筆記型電腦、多媒體隨身播放裝置(如MP3、MP4等)、個人數位助理(personal digital assistant, PDA)、全球衛星定位系統(global positioning system, GPS)裝置、超迷你電腦(ultra mobile personal computer, UMPC)等可攜式電子裝置。據市場調查公司iSuppli研究預估,在iPhone的刺激下,全球的觸控面板在手機市場的滲透率將快速增長,預估2012年將達到44億美元。
就觸控面板的技術種類而言,較常見於市場的有電阻式、電容式、紅外線式以及超因波式之觸控面板。然到目前為止,仍以電阻式與電容式為市場上之大宗,尤其是電阻式觸控面板更佔市場過半以上的佔有率,而電容式則是隨iPhone產品問世才開始受到重視,而逐漸應用到其他產品上。電容式觸控面板因iPhone產品推出而受到極大重視的主要原因在於,電容式觸控面板可以多點觸控,同時可以藉由兩點以上目標進行位置辨識,因而可完成縮放圖片 等特殊功能。然而,這樣的功能就目前各類電阻式觸控面板而言仍無法完成,因此如何在電阻式觸控的架構下完成多點觸控之功能即成為各家廠商研發之方向。
本發明係有關於一種多點觸控電阻式觸控面板及其多觸控點之偵測方法與應用其之電子裝置,是透過一基板其透明電極之電極圖樣設計,並搭配另一基板之導電電極作為信號偵測端,因而使電阻式觸控面板具有偵測多觸控點之功能。
本發明提出一種多點觸控電阻式觸控面板,其包括第一基板、第二基板與間隔元件,其中,間隔元件設置在第一基板與第二基板之間。第一基板具有第一透明電極、二個第一導電電極與二個第二導電電極,其中,第一導電電極係相互平行設置在第一透明電極之二個邊界,第二導電電極係相互平行設置在第一透明電極之另二個邊界,並垂直第一導電電極。第二基板具有多個第二透明電極,其中,這些第二透明電極係沿著第一軸方向佈滿第二基板面向第一透明電極之一表面,而第二透明電極係沿著第二軸方向延伸,且第二軸方向係垂直第一軸方向。
本發明另提出一種電阻式觸控面板其多觸控點之偵測方法,包括:判斷觸控面板之觸控模式,若為一多點觸控模式則進入下一步驟;驅使一第一基板之二個第一導電電極與二個第二導電電極之至少其中之一作為第一信號 偵測端;以及,依序偵測第一基板對向之第二基板之多個第二透明電極,並根據第一信號偵測端偵測到之所有產生信號之第二透明電極之接點位置,去取得多個觸控點於第二透明電極配置之第一軸方向上之位置,並量測所有產生信號之第二透明電極之接觸端電阻值,以取得多個觸控點於第二透明電極各別延伸之第二軸方向上之位置。
本發明更提出一種電子裝置,此裝置包括顯示面板與多點觸控電阻式觸控面板。觸控面板相對顯示面板設置,並包括第一基板、第二基板與間隔元件,其中,間隔元件設置在第一基板與第二基板之間。第一基板具有第一透明電極、二個第一導電電極與二個第二導電電極,其中,第一導電電極係相互平行設置在第一透明電極之二個邊界,第二導電電極係相互平行設置在第一透明電極之另二個邊界,並垂直第一導電電極。第二基板具有多個第二透明電極,其中,這些第二透明電極係沿著第一軸方向佈滿第二基板面向第一透明電極之一表面,而第二透明電極其本身係沿著第二軸方向延伸,且第二軸方向係垂直第一軸方向。
為讓本發明之上述內容能更明顯易懂,下文特舉較佳實施例,並配合所附圖式,作詳細說明如下:
請參照第1、2圖,第1圖繪示依照本發明較佳實施例的一種多點觸控電阻式觸控面板之示意圖,第2圖繪示 第1圖的第一基板與第二基板之平面示意圖。如第1圖所示,多點觸控電阻式觸控面板10包括第一基板101、第二基板103與間隔元件105,其中,間隔元件105設置在第一基板101與第二基板103之間。如第2圖所示,第一基板101具有第一透明底材107、第一透明電極109、二個第一導電電極111、113與二個第二導電電極115、117,其中,第一透明電極109鋪設在第一透明底材107上,而第一導電電極111、113係相互平行設置在第一透明電極109之二個邊界,第二導電電極115、117係相互平行設置在第一透明電極109之另二個邊界,並垂直第一導電電極111、113。第二基板103具有第二透明底材119與多個第二透明電極121,其中,這些第二透明電極121例如是長條形結構,且其係沿著第一軸方向排列以佈滿第二透明底材119板面向第一透明電極109之表面,而第二透明電極121其本身係沿著第二軸方向延伸,且第二軸方向係垂直第一軸方向,並較佳地與第一導電電極111、113之延伸方向一致。本實施例之第一軸方向是以X軸方向為例,而第二軸方向則是以Y軸方向為例作說明。
上述之第一透明底材107與第二透明底材119之材質係包括玻璃、壓克力與工程塑料之至少其中之一。第一透明電極109與第二透明電極121之材質係可為透明導電材料,如ITO、IZO、ZnO、SnO等金屬氧化物。間隔元件105之材質係包括玻璃、塑膠、高分子材料與氧化物之至少其中之一,且可藉由印刷、曝光顯影、噴灑等方式設置在第 一基板101與第二基板103之間。間隔元件105之高度較佳約為20微米至200微米。
如第2圖所示,電阻式觸控面板10更包括一控制模組123,其例如是透過多個信號線125各別連接至第一基板101之第一導電電極111、113與第二導電電極115、117,控制模組123並透過多個信號線127各別連接至第二基板103之第二透明電極121。藉由第一基板101、第二基板103之結構設計,以及搭配控制模組123之運作,本實施例之多點觸控電阻式觸控面板10係可於多點觸控模式與單點觸控模式下切換,以偵測多個觸控點或單一觸控點。
請參照第3圖,其繪示第2圖控制模組之電路方塊圖。如第3圖所示,控制模組123包括處理單元129、判斷單元131、切換單元133、電壓輸出單元135、儲存單元137與暫存單元139。判斷單元131用以判斷觸控面板10是處於單點觸控模式或是多點觸控模式。
於多點觸控模式下,控制模組123之切換單元133用以驅使第一導電電極111、113與第二導電電極115、117之至少其中之一作為一第一信號偵測端。電壓輸出單元135用以提供電壓至第二透明電極121。儲存單元137用以儲存多點觸控模式之多個預設電阻值之資料。處理單元129是根據產生信號之第二透明電極121去決定多個觸控點於第一軸方向(X軸方向)上之位置,處理單元129並藉由偵測第二透明電極121之接觸端電阻值,以判斷這些 觸控點於第二軸方向(Y軸方向)上之位置。暫存單元139用以依序儲存多個觸控點之位置資料。
於單點觸控模式下,切換單元133用以使這些第二透明電極121串接短路以作為一第二信號偵測端。電壓輸出單元135用以交替地提供電壓至第一導電電極111、113與第二導電電極115、117,以形成二個方向之電場。處理單元129用以於第一導電電極111、113通電時,根據第二信號偵測端偵測到的電壓去取得單一觸控點於第一軸方向(X軸方向)上之位置。接著於第二導電電極115、117通電時,處理單元129再根據第二信號偵測端偵測到的電壓去取得單一觸控點與第二軸方向(Y軸方向)上之位置,如此一來,即可獲知單一觸控點之確實位置。
本實施例另提出電阻式觸控面板其多點觸控之偵測方法,其方法流程圖請參照第4圖,多點觸控之偵測方法包括步驟S10、S20與S30。於步驟S10中,先判斷觸控面板10之觸控模式,若為多點觸控模式則進入下一步驟,即步驟S20。如第3圖所示,控制模組123之判斷單元131例如是依據所接收到之外部信號去判斷觸控面板10所需之觸控模式。以具有觀看照片或播放影像功能之電子裝置400(見第10圖)為例,此外部信號可以是照片或影像開啟時所產生的信號。當判斷單元131一接收到此信號後,即可傳遞信號至處理單元129,以判定觸控面板10為多點觸控模式。
於步驟S20中,驅使第一基板101之二個第一導電電 極111、113與二個第二導電電極115、117之至少其中之一作為第一信號偵測端。如第3圖所示,切換單元133係根據傳遞至處理單元129之信號,去選擇第一導電電極111、113與第二導電電極115、117之至少其中之一或是全部作為量測電阻值之第一信號偵測端,其中,如第2圖所示,第一導電電極111、113與第二導電電極115、117之電極位置例如被分別定義為X0、X1、Y0與Y1,本實施例接下來是以第二導電電極115 (Y0)作為第一信號偵測端為例作說明。
然後,如步驟S30所示,依序偵測第一基板101對向之第二基板103之多個第二透明電極121,並根據第一信號偵測端偵測到之所有產生信號之第二透明電極121之接點位置,去取得多個觸控點於第二透明電極121配置之第一軸方向(X軸方向)上之位置,並量測所有產生信號之第二透明電極121之接觸端電阻值,以取得多個觸控點於第二透明電極121各別延伸之第二軸方向(Y軸方向)上之位置。並請參照第5圖,其繪示於多點觸控模式下偵測觸控點之詳細流程圖。
以偵測第2圖之二個觸控點P1、P2為例。當進行X軸方向之偵測時,僅需要確定那些信號線127接收到信號,即可判斷出X軸的位置。而當進行Y軸之偵測時,則需要將對應接收動作的第二透明電極121之信號線所測得的電阻值大小進行換算,即可得到Y軸的位置。偵測X軸的位置時,例如是從第二透明電極121(1)向第二透明電 極121(20)的方向開始掃描,其中,第二透明電極121(1)之X軸位置例如定義為X=1,而第二透明電極121(20)之X軸位置例如定義為X=n。如第5圖之步驟S31所示,是由X=1處開始偵測信號。接著進入步驟S32,判斷是否有信號輸出。由於觸控點P1是位於第二透明電極121(3)與121(4)上,X=1處並沒有信號輸出,因此跳至步驟S35,判斷X值是否為n。由於偵測處之X值並不等於n,故跳至步驟S36,將X值累加1並返回步驟S32以繼續偵測下一個第二透明電極121(2)。當偵測到第二透明電極121(3)時,由於有信號產生,故跳至步驟S33,由第一基板101之第一信號偵測端量測電阻值,並將電阻值換算為Y軸座標。
如第2圖所示,依據預先定義之第一信號偵測端之位置,觸控點P1至第一信號偵測端之電阻值係可為RX0、RX1、RY0或RY1。由於本實施例是以第二導電電極115(Y0)作為第一信號偵測端,故觸控點P1至第一信號偵測端之電阻值係為RY0,而觸控點P1於第二透明電極121(3)之接觸端電阻值為R3。處理單元129例如是藉由量測到之接觸端電阻值R3,並根據儲存單元137儲存之多個預設電阻值之資料,去換算出觸控點P1之Y軸座標。
然後,如第5圖之步驟S34所示,將信號線之X值與換算後之Y值儲存至m*n矩陣構成之暫存區中,亦即,每計算出一觸控點之位置,即將其位置資訊儲存至暫存區中,此暫存區係位於暫存單元139中。然後,繼續掃描下 一信號線並重複上述步驟,即可得到觸控點P1於第二透明電極121(4)之接觸端電阻值R4。如此一來,藉由上述求得之二個座標位置,即可推知觸控點P1確切之X軸與Y軸座標。接著利用同樣的方式繼續掃描,即可由信號線127與第二透明電極121(16)、121(17)之接點位置以及所測得第二透明電極121(16)、121(17)之電阻值R16、R17,進一步得出觸控點P2之確實位置。
再以觸控點P1為例,由於X軸部分可藉由接收到信號之信號線位置去判斷,故無須作進一步的計算。然而,由於Y軸部分與電阻值有關,以電阻值RY0與R3為例,第一信號偵測端Y0測得之總電阻值RT實質上為電阻值RY0與R3之總合,為減少RY0所造成之Y軸誤差,可使R3之電阻值大於RY0,且較佳地,R3之電阻值大於RY0之十倍以上,或是一百倍以上,以求得更為準確之偵測效果。另外,於電阻值轉換為座標時也可加入一電阻補償參數,以減少RY0所造成之Y軸誤差。
關於電阻值判斷與補償方式,以下附圖舉例說明。請參照第6圖,其繪示基板上不同觸控點其電阻值設計之示意圖。同樣選擇以Y0做為信號偵測端作說明。如前所述,由於Y0其端點電阻值RY0與接觸端電阻值之差異不大時,信號偵測端Y0的電阻值RY0有可能會造成偵測時的誤差,為此,必須將電阻值RY0考慮進去,也就是可加入一電阻補償參數以計算總電阻。舉例來說,如第6圖所示,使接觸端電阻值為信號偵測端Y0之電阻值RY0之十倍, 例如:觸控點P3之RY0為100Ω,而其第二透明電極121(1)上對應之接觸端電阻值R1則為1000Ω;觸控點P4之RY0為0,而其第二透明電極121(10)上對應之接觸端電阻值R10亦為0;觸控點P5之RY0為50Ω,而其第二透明電極121(20)上對應之接觸端電阻值R20則為500Ω。前述之電阻補償參數可定義為:接觸端電阻值除以信號偵測端電阻值。不同位置之總電阻值RTi之計算式如下:RTi=Ri+Ri/補償參數其中,Ri為不同位置之接觸端電阻值,根據上述例子,補償參數為10。
當接觸點在接觸端離信號偵測端最遠的位置,如觸控點P3之位置,此時接觸點電阻值即等於接觸端的端點電阻,因此偵測到的總電阻值RT1=1000+(1000/10)=1100Ω。
當接觸點在離信號偵測端最近之位置,如觸控點P4之位置,此時接觸點電阻值幾乎等於0,而所偵測到的總電阻值RT10=0+(0/10)=0。
當接觸點在接觸端之中間位置,如觸控點P5之位置,此時接觸點電阻值係等於接觸端的端點電阻之二分之一,所偵測到的總電阻值RT1=500+(500/10)=550Ω。
由上述之例子可知,此種電阻值設計係可得到等比例的電阻值變化,因而,在多點觸控模式下係可依序推算出多個觸控點之Y軸座標。
若在步驟S10(見第4圖)中係判斷為單點觸控模式時,則觸控面板10將以一般類比方式偵測單一觸控點之 位置。請參照第7圖,其繪示於單點觸控模式下偵測觸控點之詳細流程圖。如步驟S41所示,偵測單一觸控點時,是先將第二基板103(見第2圖)之所有第二透明電極121串接短路以作為第二信號偵測端。
然後,如步驟S42所示,供電至第一基板101之二個第一導電電極111、113,以使二者之間產生電位差,並以第二基板103之第二信號偵測端偵測電壓輸出,並換算成X軸座標。由於當第一導電電極111、113具有電位差時,第一導電電極111、113之間係形成沿著X方向分佈之電場,因此,每當一觸控動作發生使第一基板101與第二基板103接觸時,作為第二信號偵測端之第二基板103便會帶走第一基板101一些微量的電流,後端控制模組123(見第3圖)之處理單元129因而可根據電流被帶走之比例而計算出X軸座標。
接著,如步驟S43所示,供電至第一基板101之二個第二導電電極115、117,以使二者之間產生電位差,並以第二基板103之第二信號偵測端偵測電壓輸出,並換算成Y軸座標。當第二導電電極115、117具有電位差時,第二導電電極115、117之間係形成沿著Y方向分佈之電場。同樣地,當觸控動作發生時,處理單元129亦是根據電流被帶走之比例而計算出Y軸座標。
如步驟S44所示,當單一觸控點之X、Y軸座標皆已計算出來,即可輸出這些座標資訊,進而完成單一觸控點之偵測。
本實施例上述第二基板103之第二透明電極121雖是以長條形結構為例作說明,然本發明並不限定於此。第二透明電極之配置亦可為其他不同的電極圖樣,以下附圖說明。請參照第8A、8B圖,第8A圖繪示第二基板具有菱形透明電極配置之示意圖,第8B圖繪示第8A圖單一個第二透明電極之示意圖。第二基板203之各個第二透明電極221皆是由數個菱形之透明區塊(如透明區塊2211至2219)串連而成,且相鄰的二個第二透明電極221之透明區塊係彼此相隔不重疊。此種電極圖樣之電阻偵測方式主要以菱形透明區塊為主。根據電阻計算公式可知,電阻值與電流通過之截面積成反比。由於二個菱形透明區塊之連接處的截面積最小,因此在單一第二透明電極221之結構中,電阻值主要取決於透明區塊連接的部分。
以第8A圖為例,可將同一個菱形透明區塊所佔據的位置視為具有同一電阻值之位置,而不同的菱形透明區塊則代表不同的觸控區域。以第8B圖為例,假設每二個菱形透明區塊之連接處之跨接阻抗為100Ω,其他位置之電阻值可因此稍加推估出來,例如:當測得之電阻值介於0~100Ω時,則其觸控點之位置為透明區塊2211之位置;若電阻值介於100~200Ω時,則其觸控點之位置為透明區塊2212之位置,其他觸控位置可依此類推,進而計算出Y軸座標。
請參照第9圖,其繪示第二基板具有矩形透明電極配置之示意圖。第二基板303之各個第二透明電極321是由 數個矩形之透明區塊串連而成。同樣地,在單一個第二透明電極321之結構中,其電阻值亦主要取決於二個透明區塊之連接處,因此亦可如上述菱形透明區塊之電阻值計算方式,並根據偵測之電阻值範圍以求得Y軸座標。
上述實施例中,第二透明電極之透明區塊雖是以菱形及矩形為例作說明,然本發明並不侷限於此,透明區塊係可為任意形狀。透明區塊實質上可為其他不同長寬尺寸之長方形、正方形、三角形、多邊形、圓形、橢圓形、星形等。此外,串連的透明區塊之數量亦不限定,只要是將一基板之透明電極分割為多個可獨立偵測信號之電極,且具有任意形狀並串連之多個透明區塊,皆屬於本發明之範疇。
本發明上述多點觸控電阻式觸控面板10係可應用於各種電子裝置中,如第10圖所示之電子裝置400,並搭配顯示面板410使用。整合式觸控面板10係覆蓋在顯示面板410上,二者係連接至電子裝置400之其他控制電路(未繪示)。由於多點觸控電阻式觸控面板10可於單點觸控與多點觸控模式之間切換並偵測,搭配顯示面板410於不同功能模式下所顯示的畫面,相較於傳統上電阻式觸控面板無法多點偵測的問題,本實施例之多點觸控電阻式觸控面板10使電子裝置400之功能更為提升。
本發明上述實施例所揭露之多點觸控電阻式觸控面板及其多觸控點之偵測方法與應用其之電子裝置,是在觸控面板之第一基板上設計整面的第一透明電極,並於第一 透明電極之四個邊界設置四個導電電極。此外,觸控面板之第二基板上設計有獨立不相交之單方向平行之多個第二透明電極。觸控面板於單點觸控模式下,是透過四個導電電極交替形成二個方向的電場,以藉由類比方式偵測出單一觸控點的確實位置。於多點觸控模式下,則是根據產生信號之第二透明電極其信號線位置以及接觸端的電阻值去判斷出多個觸控點之位置,因而解決了傳統上電阻式觸控面板無法多點觸控之問題。也由於本發明上述實施例之電阻式觸控面板具有多點偵測之功能,因而可根據所辨識出的多觸控點其位置關係,電子裝置因而可進一步設計出其他功能模式,如編輯、縮放影像等功能。
綜上所述,雖然本發明已以較佳實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作各種之更動與潤飾。因此,本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
10‧‧‧多點觸控電阻式觸控面板
101‧‧‧第一基板
103、203、303‧‧‧第二基板
105‧‧‧間隔元件
107‧‧‧第一透明底材
109‧‧‧第一透明電極
111、113‧‧‧第一導電電極
115、117‧‧‧第二導電電極
119‧‧‧第二透明底材
121、221、321‧‧‧第二透明電極
123‧‧‧控制模組
125、127‧‧‧信號線
129‧‧‧處理單元
131‧‧‧判斷單元
133‧‧‧切換單元
135‧‧‧電壓輸出單元
137‧‧‧儲存單元
139‧‧‧暫存單元
400‧‧‧電子裝置
410‧‧‧顯示面板
2211~2219‧‧‧透明區塊
P1~P5‧‧‧觸控點
第1圖繪示依照本發明較佳實施例的一種多點觸控電阻式觸控面板之示意圖。
第2圖繪示第1圖的第一基板與第二基板之平面示意圖。
第3圖繪示第2圖控制模組之電路方塊圖。
第4圖繪示依照本發明較佳實施例的一種電阻式觸控面板其多點觸控之偵測方法之方法流程圖。
第5圖繪示於多點觸控模式下偵測觸控點之詳細流程圖。
第6圖繪示基板上不同觸控點其電阻值設計之示意圖。
第7圖繪示於單點觸控模式下偵測觸控點之詳細流程圖。
第8A圖繪示第二基板具有菱形透明電極配置之示意圖。
第8B圖繪示第8A圖單一個第二透明電極之示意圖。
第9圖繪示第二基板具有矩形透明電極配置之示意圖。
第10圖繪示應用本發明較佳實施例的一種電子裝置之示意圖。
10‧‧‧多點觸控電阻式觸控面板
101‧‧‧第一基板
103‧‧‧第二基板
107‧‧‧第一透明底材
109‧‧‧第一透明電極
111、113‧‧‧第一導電電極
115、117‧‧‧第二導電電極
119‧‧‧第二透明底材
121‧‧‧第二透明電極
123‧‧‧控制模組
125、127‧‧‧信號線
P1、P2‧‧‧觸控點

Claims (30)

  1. 一種多點觸控電阻式觸控面板,包括:一第一基板,具有一第一透明電極、二個第一導電電極與二個第二導電電極,其中,該二個第一導電電極係相互平行設置在該第一透明電極之二個邊界,該二個第二導電電極係相互平行設置在該第一透明電極之另二個邊界,並垂直該二個第一導電電極;一第二基板,具有複數個第二透明電極,其中,該些第二透明電極係沿著一第一軸方向排列佈滿該第二基板面向該第一透明電極之一表面,而該些第二透明電極其本身係沿著一第二軸方向延伸,且該第二軸方向係垂直該第一軸方向;以及一間隔元件,設置在該第一基板與該第二基板之間。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板,更包括一控制模組,連接至該第一基板與該第二基板,藉此,於一多點觸控模式下,該控制模組係用以驅使該二個第一導電電極與該二個第二導電電極之至少其中之一作為一第一信號偵測端,該控制模組係藉由該些第二透明電極與該控制模組之接點位置以判斷至少二個觸控點於該第一軸方向上之位置,該控制模組並藉由偵測該些第二透明電極之接觸端電阻值以判斷該至少二個觸控點於該第二軸方向上之位置;以及於一單點觸控模式下,該控制模組係用以使該些第二透明電極串接短路以作為一第二信號偵測端,該控制模組 並交替驅動該二個第一導電電極與該二個第二導電電極以形成二個方向之電場,藉此以取得單一觸控點之位置。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之觸控面板,其中該控制模組包括:一判斷單元,用以判斷該觸控面板係於該單點觸控模式或該多點觸控模式;一切換單元,於該多點觸控模式下係用以驅使該二個第一導電電極與該二個第二導電電極之至少其中之一作為該第一信號偵測端;一電壓輸出單元,於該多點觸控模式下係用以提供電壓至該些第二透明電極;一儲存單元,用以儲存該多點觸控模式之複數個預設電阻值之資料;一處理單元,於該多點觸控模式下根據產生信號之該些第二透明電極之接點位置去決定該至少二觸控點於該第一軸方向上之位置,該處理單元更用以判斷該些第二透明電極之接觸端電阻值與該些預設電阻值之關係去決定該至少二個觸控點於該第二軸方向上之位置;以及一暫存單元,用以於該多點觸控模式下依序儲存該至少二觸控點之位置資料。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之觸控面板,其中於該單點觸控模式下:該切換單元更用以使該些第二透明電極串接短路以作為該第二信號偵測端; 該電壓輸出單元更用以交替地提供電壓至該二個第一導電電極與該二個第二導電電極;以及該處理單元更用以於該二個第一導電電極通電時,根據該第二信號偵測端偵測到之電壓去取得該單一觸控點於該第一軸方向上之位置,而於該二個第二導電電極通電時,該處理單元更用以根據該第二信號偵測端偵測到之電壓去取得該單一觸控點於該第二軸方向上之位置。
  5. 如申請專利範圍第2項所述之觸控面板,其中該些第二透明電極之接觸端電阻值係大於該第一信號偵測端之電阻值。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之觸控面板,其中該些第二透明電極之接觸端電阻值係為該第一信號偵測端之電阻值之十倍以上。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板,其中該些第二透明電極各具有複數個串連之透明區塊,且相鄰二個第二透明電極之透明區塊係彼此相隔不重疊。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之觸控面板,其中該些透明區塊之形狀包括三角形、正方形、長條形、菱形、多邊形、圓形、橢圓形及星形之至少其中之一。
  9. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板,其中該第一基板更具有一第一透明底材,該第二基板更具有一第二透明底材。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之觸控面板,其中該第一透明底材與該第二透明底材之材質係包括玻璃、壓克 力與工程塑料之至少其中之一。
  11. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板,其中該第一透明電極之材質係為透明導電材料。
  12. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板,其中該些第二透明電極之材質係為透明導電材料。
  13. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板,其中該間隔元件之材質係包括玻璃、塑膠、高分子材料與氧化物之至少其中之一。
  14. 如申請專利範圍第1項所述之觸控面板,其中該間隔元件之高度約為20微米至200微米。
  15. 一種電阻式觸控面板之偵測方法,包括:a.判斷一觸控面板之觸控模式,若為一多點觸控模式則進入步驟b;b.驅使一第一基板之二個第一導電電極與二個第二導電電極之至少其中之一作為一第一信號偵測端;c.依序偵測該第一基板對向之一第二基板之複數個第二透明電極,並根據該第一信號偵測端偵測到之產生信號之該些第二透明電極之接點位置去取得至少二個觸控點於該些第二透明電極配置之一第一軸方向上之位置,並量測產生信號之該些第二透明電極之接觸端電阻值,以取得該至少二個觸控點於該些第二透明電極其本身各別延伸之一第二軸方向上之位置;d.於該步驟a中,若為一單點觸控模式,則使串接短路該些第二透明電極串接短路以作為一第二信號偵測 端;e.供電至該二個第一導電電極,根據該第二信號偵測端偵測到之電壓去取得單一觸控點於該第一軸方向上之位置;以及f.供電至該二個第二導電電極,根據該第二信號偵測端偵測到之電壓去取得該單一觸控點於該第二軸方向上之位置。
  16. 如申請專利範圍第15項所述之偵測方法,其中於該步驟c中,每當取得一觸控點之位置資料,係將其儲存至一暫存單元中,再進行下一觸控點之偵測。
  17. 一種電子裝置,包括:一顯示面板;以及一多點觸控電阻式觸控面板,相對該顯示面板設置,並包括:一第一基板,具有一第一透明電極、二個第一導電電極與二個第二導電電極,其中,該二個第一導電電極係相互平行設置在該第一透明電極之二個邊界,該二個第二導電電極係相互平行設置在該第一透明電極之另二個邊界,並垂直該二個第一導電電極;一第二基板,具有複數個第二透明電極,其中,該些第二透明電極係沿著一第一軸方向排列佈滿該第二基板面向該第一透明電極之一表面,而該些第二透明電極其本身係沿著一第二軸方向延伸,且該第二軸方向係垂直該第一軸方向;以及 一間隔元件,設置在該第一基板與該第二基板之間。
  18. 如申請專利範圍第17項所述之電子裝置,其中該觸控面板更包括一控制模組,連接至該第一基板與該第二基板,藉此,於一多點觸控模式下,該控制模組係用以驅使該二個第一導電電極與該二個第二導電電極之至少其中之一作為一第一信號偵測端,該控制模組係藉由該些第二透明電極與該控制模組之接點位置以判斷至少二個觸控點於該第一軸方向上之位置,該控制模組並藉由偵測該些第二透明電極之接觸端電阻值以判斷該至少二個觸控點於該第二軸方向上之位置;以及於一單點觸控模式下,該控制模組係用以使該些第二透明電極串接短路以作為一第二信號偵測端,該控制模組並交替驅動該二個第一導電電極與該二個第二導電電極以形成二個方向之電場,藉此以取得單一觸控點之位置。
  19. 如申請專利範圍第18項所述之電子裝置,其中該控制模組包括:一判斷單元,用以判斷該觸控面板係於該單點觸控模式或該多點觸控模式;一切換單元,於該多點觸控模式下係用以驅使該二個第一導電電極與該二個第二導電電極之至少其中之一作為該第一信號偵測端;一電壓輸出單元,於該多點觸控模式下係用以提供電 壓至該些第二透明電極;一儲存單元,用以儲存該多點觸控模式之複數個預設電阻值之資料;一處理單元,於該多點觸控模式下係用以根據產生信號之該些第二透明電極之接點位置去決定該至少二觸控點於該第一軸方向上之位置,該處理單元更用以判斷該些第二透明電極之接觸端電阻值與該些預設電阻值之關係去決定該至少二個觸控點於該第二軸方向上之位置;以及一暫存單元,用以於該多點觸控模式下依序儲存該至少二觸控點之位置資料。
  20. 如申請專利範圍第19項所述之電子裝置,其中於該單點觸控模式下:該切換單元更用以使該些第二透明電極串接短路以作為該第二信號偵測端;該電壓輸出單元更用以交替地提供電壓至該二個第一導電電極與該二個第二導電電極;以及該處理單元更用以於該二個第一導電電極通電時,根據該第二信號偵測端偵測到之電壓去取得該單一觸控點於該第一軸方向上之位置,而於該二個第二導電電極通電時,該處理單元更用以根據該第二信號偵測端偵測到之電壓去取得該單一觸控點於該第二軸方向上之位置。
  21. 如申請專利範圍第18項所述之電子裝置,其中該些第二透明電極之接觸端電阻值係大於該第一信號偵測端之電阻值。
  22. 如申請專利範圍第21項所述之電子裝置,其中該些第二透明電極之接觸端電阻值係為該第一信號偵測端之電阻值之十倍以上。
  23. 如申請專利範圍第17項所述之電子裝置,其中該些第二透明電極各具有複數個串連之透明區塊,且相鄰二個第二透明電極之透明區塊係彼此相隔不重疊。
  24. 如申請專利範圍第23項所述之電子裝置,其中該些透明區塊之形狀包括三角形、正方形、長條形、菱形、多邊形、圓形、橢圓形及星形之至少其中之一。
  25. 如申請專利範圍第17項所述之電子裝置,其中該第一基板更具有一第一透明底材,該第二基板更具有一第二透明底材。
  26. 如申請專利範圍第25項所述之電子裝置,其中該第一透明底材與該第二透明底材之材質係包括玻璃、壓克力與工程塑料之至少其中之一。
  27. 如申請專利範圍第17項所述之電子裝置,其中該第一透明電極之材質係為透明導電材料。
  28. 如申請專利範圍第17項所述之電子裝置,其中該些第二透明電極之材質係為透明導電材料。
  29. 如申請專利範圍第17項所述之電子裝置,其中該間隔元件之材質係包括玻璃、塑膠、高分子材料與氧化物之至少其中之一。
  30. 如申請專利範圍第17項所述之電子裝置,其中該間隔元件之高度約為20微米至200微米。
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