TWI398631B - 連續帶狀物基重之量測裝置及量測方法 - Google Patents

Description

連續帶狀物基重之量測裝置及量測方法

本發明是有關於一種連續帶狀物基重之量測裝置及量測方法，且特別是有關於一種穿透性之連續帶狀物基重之量測裝置及量測方法。

目前在市面上常見的連續帶狀物，例如不織布、針織布、薄膜、皮革布、塗佈膜、貼合布、造紙等製品，其生產技術以及品質均已相當純熟，因此在生產線上進行即時之品質控制就顯得極為重要。

目前在生產線中常見的連續帶狀物的品質檢測技術，包括利用浮動加壓羅拉(roller)量測連續帶狀物之厚度，藉以換算出連續帶狀物的重量均勻度。但此種方法在進行量測時必須接觸連續帶狀物表面，容易破壞或改變連續帶狀物原有的物理性質。另外一種常見的連續帶狀物的品質檢測技術，係利用放射線來量測連續帶狀物的物理性質。然而，此種利用放射線進行量測的方式，仍舊很容易在量測時破壞連續帶狀物的物理性質。此外，放射線對於人體具有傷害性，使得量測人員暴露在放射線污染的風險中。

此外，連續帶狀物之檢測技術中更包括利用光源訊號穿透連續帶狀物之方式來進行基重之量測。然而，此種方法應用在高吸收率、低穿透率的連續帶狀物檢測時，會因為光源訊號的穿透率不足，大大降低了量測的靈敏度。甚至當待測連續帶狀物表面具有花色或圖樣時，造成基重以及重量均勻度判斷失真。如此一來，便無法在生產線中正確、有效地檢測連續帶狀物的品質。

本發明係提供一種連續帶狀物基重之量測裝置及量測方法，其係利用升壓後之一驅動電氣訊號驅動一訊號發射器，以增強訊號發射器的功率，可以提升紅外光訊號的穿透率，並進一步提升連續帶狀物之基重的量測精確度。

依據本發明之一方面，提出一種連續帶狀物基重之量測裝置，包括一發射模組、一接收模組以及一運算單元。發射模組中係利用一升壓電路對於一驅動電氣訊號進行升壓的動作，並且由一發射端電路利用升壓後之驅動電氣訊號驅動訊號發射器。發射端電路旁係設置一散熱元件，用以對於散熱端電路進行散熱的動作。訊號發射器用以朝向連續帶狀物發射一訊號。此外，發射模組中更利用一訊號偵測器接收此訊號，並據以輸出一補償電氣訊號。接著，由一迴授比較器根據補償電氣訊號補償驅動電氣訊號。接收模組用以接收穿透過連續帶狀物之光波訊號，並且據以輸出一量測電氣訊號。運算單元用以根據量測電氣訊號計算取得連續帶狀物之基重。

依據本發明之一實施例中，上述之訊號發射器係為雙波長可見光發射器，其所發射之光波訊號波長範圍大約為300~800nm。

依據本發明之另一實施例中，上述之訊號發射器可為由單波長可見光訊號發射器與單波長紅外光訊號發射器所組合而成。上述之單波長可見光訊號發射器所發射之光波訊號波長範圍大約為300~880nm，上述之單波長紅外光訊號發射器所發射之光波訊號波長範圍大約為880~1200nm。

依據本發明之另一方面，提出一種連續帶狀物基重之量測方法。首先，提供升壓後之一驅動電氣訊號。接著，以升壓後之驅動電氣訊號驅動一訊號發射器，以朝向一連續帶狀物發射一光波訊號。再來，接收光波訊號以用負迴授電路產生一補償電氣訊號。其次，接收穿透過連續帶狀物後之光波訊號以產生一量測電氣之電壓訊號。然後，根據量測電氣之電壓訊號轉換數位值差計算取得連續帶狀物之基重。

依照本發明一實施方式之量測裝置及量測方法，用以量測連續帶狀物之基重，即連續帶狀物之單位面積重量。其係藉由升壓後之驅動電氣訊號驅動訊號發射器，以朝連續帶狀物發射特定波長之光波訊號。接著，接收透過連續帶狀物後的光波訊號，以輸出一量測電氣訊號。然後根據量測電氣之電壓訊號轉換數位值差計算取得連續帶狀物的基重。

以下首先對於本發明一實施方式的一種量測裝置100進行說明。請參照第1圖，其繪示依照本發明一實施方式之連續帶狀物之量測裝置之功能方塊圖。量測裝置100係利用發射模組110朝向連續帶狀物200發射包含兩種波長之光線的光波訊號S。發射模組110位於連續帶狀物200之一側，其中包含一訊號發射器111，用以朝向連續帶狀物200發射光波訊號S。

發射模組110包含一第一訊號發射器111a及一第二訊號發射器111b。兩訊號發射器111a及111b分別為功率約為1300毫瓦(mW)之訊號發射器。第一訊號發射器111a為一單波常可見光訊號發射器，其所發射之光波訊號S1波長範圍大約為300~880 nm。進一步來說，光波訊號S1可為波長約560 nm的單波長可見光訊號。其次，第二訊號發射器111b為一單波長紅外光訊號發射器，其所發射之光波訊號S2波長範圍大約為880~1200 nm的單波長紅外光。更進一步來說，光波訊號S2可為波長約930 nm之單波長紅外光訊號。

另外，如第1圖所示，發射模組110’更可包括一切換開關117，設置於發射端電路113及兩訊號發射器111a、111b之間。其係用以根據使用者的設定，選擇性地將升壓後的驅動電氣訊號，傳送至第一訊號發射器111a或第二訊號發射器111b。藉以以分別驅動第一訊號發射器111a發射可見光訊號，或者驅動第二訊號發射器111b發射紅外光訊號。

進一步來說，發射模組110更包含升壓電路115、發射端電路113及散熱元件116。升壓電路115用以接收驅動電氣訊號，並且將驅動電氣訊號進行升壓，然後將升壓後的驅動電氣訊號提供至發射端電路113。發射端電路113利用升壓後之驅動電氣訊號驅動訊號發射器111，藉以讓訊號發射器111可達到1300毫瓦(mW)之功率。散熱元件116接 觸於發射端電路113，用以讓發射端電路113進行散熱，避免發射端電路113溫度過高，係可提升運作穩定性。

於一實施例中，散熱元件116更可接觸於升壓電路115、訊號發射器111或其他發射模組110中的元件，避免在高功率、高溫狀態下發射模組110中電子元件發生運作失常甚至是高溫損壞的問題。

實際應用上，由於量測裝置100係在連續帶狀物200之製程中，以線上(on-line)方式量測連續帶狀物200之基重，因此量測裝置100便暴露在製程的環境溫度中，例如在60~75℃之環境溫度中。在前述之工作溫度中，光波訊號S的強度容易受到空氣密度變化的影響，進而會影響量測裝置100量測連續帶狀物200基重的精確性。

因此，發射模組110更可具有訊號補償的機制，藉由改變驅動電氣訊號的方式來補償光波訊號S的強度改變。此訊號補償機制包含一訊號偵測器112及一迴授比較器114。訊號偵測器112設置在光波訊號S路徑旁，並且由發射端電路113以升壓後之驅動電氣訊號驅動之。訊號偵測器112用以接收光波訊號S，並判斷接收到之光波訊號S的訊號穩定性是否合乎要求。當判斷出光波訊號S之穩定性不符合要求時，訊號偵測器112係據以輸出一補償電氣訊號。迴授比較器114係接收補償電氣訊號，並據以補償驅動電氣訊號，藉之補償光波訊號S強度改變。於一實施例中，迴授比較器114可為一負迴授電路與比較器，藉以隨時調整訊號發射器111之功率，以隨時進行光波訊號S強度的補償。

另外一方面，量測裝置100係利用接收模組120接收穿透過連續帶狀物200後轉換成的光波訊號S’。接收模組120設置於連續帶狀物200相對於發射模組110之另一側，其中包含一第一訊號接收器121a及一第二訊號接收器121b。第一及第二訊號接收器121a及121b分別對應於第一訊號發射器111a及第二訊號發射器111b的位置。第一訊號接收器121a用以接收通過連續帶狀物200後轉換成之光波訊號S1’，第二訊號接收器121b用以接收通過連續帶狀物200後轉換成之光波訊號S2’，並據以產生電壓形式之量測電氣訊號。

接收模組120中更包括一接收端電路122及一運算放大器123。接收端電路122用以接收訊號接收器121輸出之電壓形式之量測電氣訊號，並且將量測電氣訊號輸出至運算放大器123。運算放大器123係用以增益放大此量測電氣訊號。運算放大器123可由放大/衰減電路、緩衝電路、積分電路及微分電路等所組成，並且內建相位補償電容。其係用以將量測電氣訊號進行增益放大，並穩定地將增益放大後之量測電氣訊號輸出。

另外，接收模組120更包括一第一訊號轉換器124，用以將增益放大後之電壓形式的量測電氣訊號，轉換為電流形式。接收模組120係輸出電流形式的量測電氣訊號，可避免量測電氣訊號由接收模組120傳送至其他元件的過程中發生衰減的現象，進而可降低訊號的失真率。

前述量測裝置100之發射模組110及接收模組120中，分別以包含兩個單波長光波訊號發射器及兩個單波長 光波訊號接收器為例。然而，於另一實施例中，發射模組110及接收模組120可分別包含一個雙波長光波訊號發射器以及一個雙波長光波訊號接收器。

請參照第2圖，其繪示依照本發明另一實施方式之連續帶狀物之量測裝置之功能方塊圖。量測裝置100’之發射模組110’中，訊號發射器111係為功率約為1300毫瓦(mW)之雙波長可見光訊號發射器，其發射之光波訊號S波長範圍大約為300~880 nm。更進一步來說，光波訊號S可為波長約560 nm及660 nm之雙波長可見光訊號。藉由高功率之訊號發射器111發射雙波長之光波訊號S，可以提升光波訊號S對於連續帶狀物200的穿透率。

另外，量測裝置100’之收模組120’中，訊號接收器121可為一雙波長可見光訊號接收器，用以接收光波訊號S通過連續帶狀物200後轉換成的光波訊號S’，並據以輸出量測電氣訊號。接著，其係將量測電氣訊號輸出至接收端電路122，進而進行訊號運算放大以及轉換之動作，以下係不再贅述。

於一實施例中，當量測電氣訊號離開接收模組120之後，係由一訊號處理單元140進行訊號處理。訊號處理單元140包括一第二訊號轉換器141，用以接收由接收模組120輸出之電流形式的量測電氣訊號，並將其轉換為電壓形式。接著，量測電氣訊號由一訊號前處理器142處理後，經由一放大積分電路143對電壓及時間做積分，並且經由一類比/數位轉換器144轉換為一數位訊號。訊號處理單元140係將此數位訊號傳遞至運算單元130，以進行運算。

另外，訊號處理單元140更利用放大積分電路143觸發一訊號觸發時序產生器145，以使振盪器146產生一同步頻率信號。訊號處理器140係將同步頻率信號傳遞至發射模組110之迴授比較器114，以使發射端電路113驅動訊號發射器111及訊號偵測器112。

訊號處理單元140將轉換後之數位訊號傳遞至運算單元130後，係由運算單元130計算取得連續帶狀物200的基重。於一實施例中，運算單元130可為一電腦，其係以透光率與基重之關係為基礎進行運算。以下係描述透光率與基重之關係。

經由光吸收理論可知光線穿過介質時，介質物理性質與吸收之關係式為：

其中，I₀ 表示投射之光線強度，I_t 表示穿過介質後之光強度，α表示介質之光吸收係數，x 表示介質厚度，c 表示介質密度。在本實施方式中，介質係為連續帶狀物200，在訊號接收器121涵蓋面積之連續帶狀物200的重量W係如下式所示：

其中Φ(繪示於第2圖)表示連續帶狀物200上訊號接收器121涵蓋面積之直徑，D表示連續帶狀物200之容積密度，h表示連續帶狀物200的厚度。經由式(1)及式(2)可得：

經由式(2)及式(3)可得：

運算單元130可利用雙波長光波訊號S穿透連續帶狀物200前後之光強度變化，取得連續帶狀物200之基重。

更進一步來說，運算單元130係根據量測電氣訊號以及計算取得之連續帶狀物200的基重，經由回歸分析之最小平方近似法(least square approximation method)，得到最佳近似方程式，以取得連續帶狀物200之重量均勻度。

最小平方近似法係根據多個已知數據點求出一近似函數(approximating function)，使得每一個數據點至近似函數的平方總和誤差值L 為最小，此總和平方誤差值稱為最小平方誤差，如下式所示：

其中y _i 為任一數據點值，y _i 為Y(x _i ) 所對應之值，e _i ² 為平方誤差值。以m個數據點為例，其座標分別為(x₁ ,y₁ )、(x₂ ,y₂ )、...、(x_m ,y_m )，且使用xⁿ 之多項式，可得近似函數如下：

其中f _j (x )=x ^i-1 ，i =1,2,..,n ，c _j 為待求係數，使得每一個數據點距離近似函數Y(x) 為最接近。總和平方誤差值L 係如下式：

應用最小平方近似法求近似函數時，均由一次近似函數開始計算，再利用最小平方誤差值來判斷是否需要繼續求二次函數或三次函數等等。

在量測同一材質之連續帶狀物200時，基重係與量測裝置100接收到的光波強度之電壓值有關。經由實驗過程可知兩者呈現正相關之關係。實際應用在本實施例方式之量測裝置100及量測方法中，可藉由量測取得m個數據之標準連續帶狀物200樣本電壓數值，計算取得m組連續帶狀物200之基重。

其中W_i 為第i個樣本計算得到的連續帶狀物200基重，W_i ^a 為第i個樣本的實際基重。可利用多項式逼近最小平方法解得式(5)之係數C _j 。再藉由最小平方誤差方程式評估逼近方程式階次之最佳值。可藉由計算取得當式(6)中的L為最小時的階次n以及C _j 。或者，計算取得當式(6)中的L小於允許之誤差時的階次n以及C _j ，再代入式(5)得出最佳近似方程式。

本實施例之量測裝置100，藉由升壓後的驅動電氣訊號驅動訊號發射器111，係可提高光波訊號S的穿透性。另外，藉由發射具有雙波長之光波訊號，可提升量測裝置的應用彈性。使得本發明實施例之量測裝置100及量測方法，可應用在量測具有高吸收度、高密度及高厚度的連續帶狀物200。例如深色或黑色之不織布，或者近紅外線紡織布料、薄膜、造紙材料、人造纖維、高分子材料，或碳纖維不織布等。連續帶狀物200之厚度至多可約為20mm，容積密度至多可約為3.0g/cm³ 。

請同時參照第3圖及第4圖，第3圖繪示依照本發明一實施方式之連續帶狀物基重之量測方法的流程圖，第4圖繪示依照本發明又一實施方式之連續帶狀物基重之量測裝置的示意圖。

依照本發明一實施方式之量測方法，首先進行步驟S1，提供升壓後之一驅動電氣訊號。量測裝置100中，係於發射模組110中，利用一升壓電路115將驅動電氣訊號進行升壓的動作。

接下來，如步驟S2所示，使用升壓後之驅動電氣訊號，驅動發射模組110中的訊號發射器111。藉以朝向連續帶狀物200發射光波訊號S。

如步驟S3所示，在發射模組110中接收訊號發射器111所發射之光波訊號S，並據以判斷是否需要進行訊號之補償。當判斷需進行訊號補償時，進行步驟S4。

接著如步驟S4所示，產生一補償電氣訊號，並將其傳遞至迴授比較器，以根據補償電氣訊號補償驅動電氣訊號，以改變訊號發射器111發射之光波訊號S的強度。

請參照步驟S5，量測裝置100利用一接收模組120接收穿透過連續帶狀物200後轉換成的光波訊號S’，並且據以產生一量測電氣訊號之電壓值。此外，當在步驟S3中判斷出不需進行訊號補償時，量測方法係直接執行步驟S5。

然後，如步驟S6所示，量測裝置100利用運算單元130進行計算，以根據量測電氣訊號之電壓值計算取得連續帶狀物200的基重。

上述依照本發明一實施方式之量測裝置及量測方法，利用升壓後之驅動電氣訊號驅動高功率之訊號發射器，可以提升光波訊號對於連續帶狀物之穿透率。再者，利用散熱元件對於發射端電路進行散熱，可以提升發射模組的運作穩定性。此外，藉由訊號偵測器及迴授比較器補償驅動電氣訊號，可以提升發射之光波訊號的穩定性，提升量測精確度。量測裝置中更利用電流形式進行量測電氣訊號的傳遞，以降低量測電氣訊號傳遞時訊號衰減的問題。再者，運算單元係利用最小平方法進行運算，可以提升基重量測以及取得連續帶狀物的重量均勻度的準確性。另一方面，量測裝置利用雙波長之光波訊號進行量測，可以對應量測不同光吸收性的連續帶狀物，提升量測裝置的應用彈性。

雖然本發明已以實施方式揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100．．．量測裝置

100’．．．量測裝置

110．．．發射模組

110’．．．發射模組

111．．．訊號發射器

111a．．．第一訊號發射器

111b．．．第二訊號發射器

112．．．訊號偵測器

113．．．發射端電路

114．．．迴授比較器

115．．．升壓電路

116．．．散熱元件

120．．．接收模組

120’．．．接收模組

121．．．訊號接收器

121a．．．第一訊號接收器

121b．．．第二訊號接收器

122．．．接收端電路

123．．．運算放大器

124．．．第一訊號轉換器

130．．．運算單元

140．．．訊號處理單元

141．．．第二訊號轉換器

142．．．訊號前處理器

143．．．放大積分電路

144．．．類比/數位轉換器

145．．．訊號觸發時序產生器

146．．．振盪器

200．．．連續帶狀物

h．．．連續帶狀物之厚度

S．．．光波訊號

S’．．．光波訊號

S1．．．光波訊號

S1’．．．光波訊號

S2．．．光波訊號

S2’．．．光波訊號

Φ．．．涵蓋面積之直徑

為讓本發明之上述和其他目的、特徵、優點與實施例能更明顯易懂，所附圖式之說明如下：

第1圖繪示依照本發明一實施方式之連續帶狀物之量測裝置之功能方塊圖。

第2圖繪示依照本發明另一實施方式之連續帶狀物之量測裝置之功能方塊圖。

第3圖繪示依照本發明一實施方式之連續帶狀物基重之量測方法的流程圖。

第4圖繪示依照本發明又一實施方式之連續帶狀物基重之量測裝置的示意圖。

100．．．量測裝置

110．．．發射模組

111a．．．訊號發射器

111b．．．訊號發射器

112．．．訊號偵測器

113．．．發射端電路

114．．．迴授比較器

115．．．升壓電路

116．．．散熱元件

120．．．接收模組

121a．．．訊號接收器

121b．．．訊號接收器

122．．．接收端電路

123．．．運算放大器

124．．．第一訊號轉換器

130．．．運算單元

140．．．訊號處理單元

141．．．第二訊號轉換器

142．．．訊號前處理器

143．．．放大積分電路

144．．．類比/數位轉換器

145．．．訊號觸發時序產生器

146．．．振盪器

200．．．連續帶狀物

S1．．．光波訊號

S1’．．．光波訊號

S2．．．光波訊號

S2’．．．光波訊號

Claims (31)

1. 一種連續帶狀物基重之量測裝置，包括：一發射模組，包括：一訊號發射器，用以朝向該連續帶狀物發射一光波訊號；一訊號偵測器，用以接收該光波訊號，並據以輸出一補償電氣訊號；一升壓電路，用以對於一驅動電氣訊號進行升壓；一發射端電路，用以利用升壓後之該驅動電氣訊號驅動該訊號發射器及該訊號偵測器；及一迴授比較器，用以根據該補償電氣訊號補償該驅動電氣訊號；一接收模組，用以接收穿透過該連續帶狀物後之該光波訊號，並且輸出一量測電氣訊號；以及一運算單元，用以轉換該量測電氣訊號之電壓值為數位訊號，並據以計算取得該連續帶狀物之基重。
2. 如申請專利範圍第1項所述之量測裝置，其中該訊號發射器為一雙波長可見光訊號發射器，其發射之該光波訊號波長範圍大約為300~880 nm。
3. 如申請專利範圍第2項所述之量測裝置，其中該訊號發射器發射之該光波訊號波長大約為560 nm及660 nm。
4. 如申請專利範圍第2項所述之量測裝置，其中該接收模組包括：一訊號接收器，設置於該連續帶狀物相對於該發射模組之一側，並且對應於該訊號發射器，用以接收該光波訊號。
5. 如申請專利範圍第4項所述之量測裝置，其中該訊號接收器接收該光波訊號後，輸出電壓形式之該量測電氣訊號，該接收模組更包括：一接收端電路，用以接收電壓形式之該量測電氣訊號；一運算放大器，用以增益放大電壓形式之該量測電氣訊號；及一第一訊號轉換器，用以轉換增益放大後之電壓形式之該量測電氣訊號為電流形式之該量測電氣訊號。
6. 如申請專利範圍第5項所述之量測裝置，更包括：一訊號處理單元，電性連接於該發射模組、該接收模組及該運算單元，該訊號處理單元包括：一第二訊號轉換器，用以接收該接收模組輸出之電流形式之該量測電氣訊號，並轉換電流形式之該量測電氣訊號為電壓形式；一訊號前處理器，用以處理該第二訊號轉換器轉換後之該量測電氣訊號； 一放大積分電路，用以將處理後之該量測電氣訊號對電壓及時間做積分；及一類比/數位轉換器，用以轉換積分後之該量測電氣訊號為一數位訊號，該運算單元係用以接收該數位訊號。
7. 如申請專利範圍第6項所述之量測裝置，其中該訊號處理單元更包括：一訊號觸發時序產生器；及一振盪器，該放大積分電路更用以觸發該訊號觸發時序產生器，使該振盪器產生一同步頻率信號傳送至該迴授比較器，進而使該發射端電路驅動該訊號發射器及該訊號偵測器。
8. 如申請專利範圍第1項所述之量測裝置，其中該訊號發射器包括：一單波長可見光訊號發射器，連接於該發射端電路，其發射之可見光訊號波長範圍大約為300~880 nm；及一單波長紅外光訊號發射器，連接於該發射端電路，其發射之紅外光訊號波長範圍大約為880~1200 nm。。
9. 如申請專利範圍第8項所述之量測裝置，其中該單波長可見光訊號發射器發射之可見光訊號波長大約為560 nm，該單波長紅外光訊號發射器發射之紅外光訊號波長大約為930 nm。
10. 如申請專利範圍第8項所述之量測裝置，其中該接收模組包括：一單波長可見光訊號接收器，設置於該連續帶狀物相對於該發射模組之一側，並且對應於該單波長可見光訊號發射器，用以接收可見光訊號；及一單波長紅外光訊號接收器，設置於該連續帶狀物相對於該發射模組之一側，並且對應於該單波長紅外光訊號發射器，用以接收紅外光訊號。
11. 如申請專利範圍第10項所述之量測裝置，其中該兩訊號接收器接收該光波訊號後，輸出電壓形式之該量測電氣訊號，該接收模組更包括：一接收端電路，用以接收電壓形式之該量測電氣訊號；一運算放大器，用以增益放大電壓形式之該量測電氣訊號；及一第一訊號轉換器，用以轉換增益放大後之電壓形式之該量測電氣訊號為電流形式之該量測電氣訊號。
12. 如申請專利範圍第1項所述之量測裝置，其中該訊號發射器係為一功率約為1300毫瓦(mW)之訊號發射器。
13. 如申請專利範圍第1項所述之量測裝置，其中該運算單元更用以根據該量測電氣訊號及計算取得之該連續 帶狀物之基重，經由最小平方法計算取得該連續帶狀物之重量均勻度。
14. 如申請專利範圍第1項所述之量測裝置，其中該訊號偵測器係設置於該光波訊號之路徑旁，用以偵測環境溫度造成該光波訊號之強度變化。
15. 如申請專利範圍第1項所述之量測裝置，其中該發射模組更包括：一散熱元件，接觸於該發射端電路，用以對於該發射端電路進行散熱。
16. 一種連續帶狀物基重之量測方法，包括：提供升壓後之一驅動電氣訊號；以升壓後之該驅動電氣訊號驅動一訊號發射器，以朝向一連續帶狀物發射一光波訊號；接收該光波訊號以產生一補償電氣訊號；根據該補償電氣訊號補償該驅動電氣訊號；接收穿透過該連續帶狀物後之該光波訊號以產生一量測電氣訊號；以及根據該量測電氣訊號計算取得該連續帶狀物之基重。
17. 如申請專利範圍第16項所述之量測方法，其中於驅動該訊號發射器之該步驟中，係經由一發射端電路驅動 該訊號發射器，該量測方法更包括：以一散熱元件對於該發射端電路進行散熱。
18. 如申請專利範圍第16項所述之量測方法，其中驅動該訊號發射器之該步驟包括：發射波長範圍大約為300~880 nm之雙波長可見光訊號。
19. 如申請專利範圍第18項所述之量測方法，其中驅動該訊號發射器之該步驟包括：發射波長範圍大約為560 nm及660 nm之雙波長可見光訊號。
20. 如申請專利範圍第16項所述之量測方法，其中驅動該訊號發射器之該步驟包括：發射波長範圍大約為300~880 nm之單波長可見光訊號；及發射波長範圍大約為880~1200 nm之單波長紅外光訊號。
21. 如申請專利範圍第20項所述之量測方法，其中驅動該訊號發射器之該步驟包括：發射波長範圍大約為560 nm之單波長可見光訊號；及發射波長範圍大約為930 nm之單波長紅外光訊號。
22. 如申請專利範圍第16項所述之量測方法，其中於驅動該訊號發射器之該步驟中，該訊號發射器之功率約為1300毫瓦(mW)。
23. 如申請專利範圍第16項所述之量測方法，更包括：根據該量測電氣訊號及計算取得之該連續帶狀物之基重，經由最小平方法計算取得該連續帶狀物之重量均勻度。
24. 如申請專利範圍第16項所述之量測方法，其中於接收該光波訊號以產生該補償電氣訊號之該步驟中，係經由一訊號偵測器偵測一環境溫度造成該光波訊號之強度變化，以產生該補償電氣訊號。
25. 如申請專利範圍第24項所述之量測方法，其中該環境溫度至多大約為60~75℃。
26. 如申請專利範圍第16項所述之量測方法，其中於接收穿透過該連續帶狀物後之該光波訊號之該步驟中，係產生電壓形式之該量測電氣訊號，該量測方法更包括：轉換電壓形式之該量測電氣訊號為電流形式之該量測電氣訊號。
27. 如申請專利範圍第26項所述之量測方法，更包括：轉換電流形式之該量測電氣訊號為電壓形式之該量測電氣訊號；將轉換後之該量測電氣訊號對電壓及時間做積分；將積分後之該量測電氣訊號轉換為一數位訊號；及傳送該數位訊號至一運算單元，以計算取得該連續帶狀物之基重。
28. 如申請專利範圍第16項所述之量測方法，其中於驅動該訊號發射器之該步驟中，該連續帶狀物係為深色。
29. 如申請專利範圍第28項所述之量測方法，其中於驅動該訊號發射器之該步驟中，該連續帶狀物係為黑色。
30. 如申請專利範圍第16項所述之量測方法，其中於驅動該訊號發射器之該步驟中，該連續帶狀物之厚度至多約為20 mm。
31. 如申請專利範圍第16項所述之量測方法，其中於驅動該訊號發射器之該步驟中，該連續帶狀物之容積密度至多約為3.0 g/cm³ 。