TWI394317B - 射頻標籤測試天線之極化率的補償裝置與方法 - Google Patents

Description

射頻標籤測試天線之極化率的補償裝置與方法

本揭露是有關於一種天線之極化率的補償裝置與方法，且特別是有關於一種射頻標籤測試天線之極化率的補償裝置與方法。

一般來說，射頻識別(radio-frequency identification，RFID)發射天線多為圓形極化，而射頻標籤多為線性極化，但是市面上大部份量產之射頻識別天線的極化率(Axial Ratio)通常在2~4dB。因此，在一般使用上並不太有問題，但是在測試進行時，線性極化的射頻標籤在不同角度會因天線極化率之影響而造成誤差。天線的極化率和增益也會隨著頻率變化。

射頻識別測試大至上有兩種設備，實驗室級儀器(例如HP、Agilent等)和一般市售讀取器(Reader)。實驗室級目前只有幾個大公司自己開發，因此，大部分的人只能使用一般市售的讀取器，再搭配一般讀取器天線來進行射頻識別測試。也就是說，既有的射頻識別測試通常利用現有的射頻識別發射天線放在零度仰角，在將待測物放在距離一、二米內的位置做旋轉，但是如此的偵測方式只能測出一個平面的場形圖，亦即在測試過程中不會牽涉到天線的極化問題。

在多數的應用裡需要做更多的剖面的測試，然而，市面上大部分的射頻識別發射天線的極化率大約維持在2~4dB，如此已足夠應付大多數的應用，有一些較為特殊款式的極化率可達到1~2dB。也就是當待測物經過旋轉的掃瞄讀取時，射頻標籤的極化所對應到發射天線的極化率會造成量測準確度的影響。因此，若有一套設備能有效地修正此誤差，將可以大幅提高量測準確度。

提出一種射頻標籤測試天線之極化率的補償方法示範實施例，包括下列步驟。首先，設定射頻標籤之初始位置，以取得一初始向量，其中射頻標籤位於天線的一側。接著，依序射頻標籤以第一軸線旋轉、天線以第二軸線旋轉，其中第一軸線與第二軸線垂直。之後，依據射頻標籤的初始向量與射頻標籤旋轉後的位置，計算射頻標籤的極化角度。依據上述射頻標籤的極化角度，利用一查表取得此極化角度的補償值，以對天線的極化率進行補償。

提出一種用於射頻標籤測試之天線極化率的補償裝置示範實施例，包括天線、載具、讀取器與控制器。天線配置於固定架的滑軌上。載具位於天線的一側，用以承載射頻標籤。讀取器耦接天線，用以產生無線電波至射頻標籤，以激發射頻標籤，並接收射頻標籤被激發後的能量。控制器耦接固定架、載具與讀取器，控制器儲存查表數值，並透過讀取器接收射頻標籤被激發後的能量，而同時計算出天線的極化率。並且，控制器用以產生第一控制信號與第二控制信號給載具與固定架，使載具以第一軸線來旋轉射頻標籤，以及固定架以第二軸線而沿著滑軌來旋轉天線，依據射頻標籤的初始向量與射頻標籤旋轉後的位置，計算射頻標籤的極化角度，並依據標間的極化角度，利用一查表取得補償值，以對天線的極化率進行補償。其中，第一軸線與第二軸線垂直。

藉由設定射頻標籤的初始位置後，射頻標籤以第一軸線，天線以第二軸線旋轉至所須測試的位置。接著，依據上述的位置計算出射頻標籤的極化角度，並依據此極化角度，利用查表的方式找到對應此極化角度的補償值，來對天線的極化率進行補償。

為讓本揭露之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。為取得天線的極化率查表數值也在以下說明。

圖1A繪示為一示範實施例之天線之極化率的補償裝置。請參照圖1A，天線之極化率的補償裝置100包括天線110、載具120、讀取器130與控制器140。天線110配置於固定架111的滑軌112上，使得天線110可於滑軌112上進行移動。其中，本示範實施例之天線110以圓形極化天線實施之。

載具120位於天線110的一側，且用以承載一射頻標籤(未繪示，例如參考標籤)。讀取器130耦接天線110，用以透過天線110發射無線電波至射頻標籤，以激發射頻標籤，並接收射頻標籤回傳的無線電波，以計算出射頻標籤的啟動功率，並可藉由所計算出的啟動功率來獲得一查表數值。控制器140耦接固定架111、載具120與讀取器130，控制器140儲存查表數值，並透過讀取器130接收射頻標籤回傳的無線電波，以取得天線110的極化率。控制器140產生第一控制信號與第二控制信號，以控制載具120以第一軸線121來旋轉射頻標籤，並控制固定架111以第二軸線122而沿著滑軌112來移動天線110。另外，控制器140還可以產生第三控制信號與第四控制信號，以控制載具120分別以第二軸線122與第三軸線123來旋轉射頻標籤。

其中，第一軸線121關於調整射頻標籤的方位角(azimuth wise)，也就是當載具120以第一軸線121旋轉時，則射頻標籤可以對準天線110。第二軸線122關於調整射頻標籤或天線110的仰角(elevation wise)，也就是當載具120以第二軸線122旋轉或是天線110以第二軸線122而沿著滑軌旋轉時，使得射頻標籤與天線110之間可具有不同的角度。第三軸線123關於調整射頻標籤的極化角度，也就是當載具120以第三軸線123旋轉時，使得射頻標籤對應天線110而產生不同的極化角度。

在本示範實施例中，第一軸線121與重力方向平行；第二軸線122例如與重力方向垂直。另外，為了方便進行測試，本示範實施例於測試過程中計算極化角度時，不以天線110本身的軸線(未繪示)來移動天線110，即以調整天線110與射頻標籤之間的仰角，亦即天線110沿著滑軌112來移動，而是藉由控制器140控制載具120以第二軸線122對射頻標籤進行反向的虛擬仰角旋轉，使得射頻標籤與天線110呈現欲測試的仰角。

在控制器140控制載具120旋轉之後，控制器140會依據射頻標籤的初始向量與射頻標籤旋轉後的位置，計算出射頻標籤的一極化角度，並依據極化角度，由一查表(look up table)中找到對應此極化角度的補償值，以對天線110的極化率進行補償。如此一來，本示範實施例便可有效地降低射頻標籤在不同極化角度會因天線之極化率之影響而造成之誤差。

另外，本示範實施例之載具120可包括圓形底座124、支撐架125、載板126，如圖1B所繪示。支撐架125樞設於圓形底座124上，且以第一軸線121進行旋轉。載板126樞設於支撐架125上，用以承載射頻標籤127，且以第二軸線122進行旋轉，其中射頻標籤127以第三軸線123樞設於載板127上，以便於射頻標籤127以第三軸線進行旋轉。

因此，在本示範實施例中，當支撐架125以第一軸線121旋轉(例如控制器140產生第一控制信號給載具120)時，表示旋轉射頻標籤127的方位角，當載板126以第二軸線122旋轉(例如控制器140產生第三控制信號給載具120)時，表示旋轉射頻標籤127的仰角，即調整天線110與射頻標籤127所預測式的仰角，當射頻標籤127以第三軸線123旋轉(例如控制器140產生第四控制信號給載具120)時，亦即以圖1B之箭頭128方向進行旋轉，表示旋轉射頻標籤127的極化角度。

另外，在本示範實施例中，於測試實際產品(例如已貼標籤的產品)的期間，載具120可經由實際產品220來取代，如圖2所示。當然，實際產品220可包括如圖1B所配置的射頻標籤127，故實際產品220的測試仍可參照圖1B，以第一軸線121、第二軸線122來旋轉實際產品上的標籤。為了方便說明，圖2與圖1A、圖1B之相同或相似的元件，將以相同的標號來表示。

上述大致已說明本示範實施例之補償裝置100內的構件及其功用。接下來，將說明實際產品220如何在測試過程中進行對天線110的極化率補償。

首先，根據射頻標籤127的極化角度，使用者可設定射頻標籤127的初始位置，例如下列式(1)之圓球座標所示：

其中V _{T AG 0} 表示射頻標籤127的初始向量，r ₀ 表示為初始徑向距離、θ₀ 為初始天頂角、Φ ₀ 為初始方位角。當設定完成上述初始位置後，初始位置會被轉換成初始向量V _{TAG 0} ，以儲存至控制器140。接著，在測試期間，控制器140會將初始向量V _{TAG 0} 的圓球座標轉換成直角座標，如下列式(2)所示：

為了方便計算，故會將初始徑向距離r ₀ 的數值設定為單位向量“1”。接著，在座標轉換之後，以便開始測試(及對已貼標籤之產品進行測試)。一般來說，在測試期間，射頻標籤127會在方位角上進行旋轉，而天線110亦會進行移動(例如天線110以圖2所繪示之軌道112上進行移動)以改變與射頻標籤127之間欲測試的仰角。也就是說，控制器140會提供第一控制信號给載具120來旋轉射頻標籤127，並從而定位射頻標籤127，以使得射頻標籤127位於所需的方位角上。同時，若射頻標籤127旋轉至特定方位角，控制器140會計算射頻標籤127當前的狀態。

舉例來說，當使用者需要射頻標籤127位於某一特定方位角進行測試時，控制器140會產生第一控制信號，以便控制載具120之支撐架125以第一軸線121將射頻標籤127旋轉。同時，控制器140會將初始向量V _{TAG 0} 的座標透過旋轉矩陣(如下列式(3)所示)旋轉至相同的方位角，以如下列式(4)所示。

其中，R _Z (θ _RZ )作為射頻標籤127旋轉方位角時的旋轉矩陣，為初始向量V _{TAG 0} (也就是產品上標籤)所需旋轉之方位角的座標。

在測試期間，例如可藉由控制器140產生第二控制信號給固定架111，以驅動固定架111連接之馬達(未繪示)，進而控制天線110沿著滑軌112進行移動(旋轉)，使得射頻標籤127亦可在不同仰角進行測試。為了維持原有座標，在本示範實施例中，當天線110移動至不同仰角時，控制器140並不會計算天線110移動的狀態，取而代之的是對初始向量做反向的虛擬仰角旋轉，以代表天線110移動後所產生的仰角。也就是說，控制器140產生第三控制信號給載具120，而載具120會以第二軸線122對射頻標籤127進行反向的虛擬仰角旋轉，使得射頻標籤127與天線110呈現欲測試的仰角。同時，控制器140會利用另一旋轉矩陣(例如下列式(5))將初始向量V _{TAG 0} 轉至對應的負仰角。

其中，R _Z (θ _RZ )作為旋轉仰角時的旋轉矩陣，為射頻標籤127所需旋轉之仰角的座標。

之後，控制器140內所記錄之旋轉後的向量V _{TAG 0} 的座標會和射頻標籤127(或例如已貼標籤之實際產品)一致。因此，只要沿著x 軸(亦即第三軸線123)將旋轉後的向量投影至天線110，也就是，利用式(8)的轉換矩陣將向量V _{TAG 0} 的座標進行轉換，以獲得投影後的座標，如下列式(9)所示：

其中，P _YZ 為射頻標籤投影至天線的轉換矩陣，為射頻標籤投影後的位置。然而，天線110的座標和射頻標籤127的座標只差一個x軸的位移，故藉由投影可將x 軸方向的向量設定為0。接著，依據式(9)的計算後可獲得式(10)。之後，依據所計算出來的式(10)，並藉由式(11)以及式(12)分別計算出向量的長度以及角度，而此角度即為射頻標籤127的極化角度，

其中，為射頻標籤投影至天線的向量，r _p 為長度，ρ _P 為射頻標籤的極化角度。

在取得極化角度後，控制器140便可根據所計算之射頻標籤127的極化角度以及其內所儲存的查表數值，找到對應上述所計算之極化角度的補償值。控制器140便可將上述補償值(例如先前已計算出來的補償值)加入天線110的極化率，如下式(13)所示：

TTOP _ARC (f _i ,ρ _p )=TTOP (f _i ,ρ _p )-G _ARC (ρ _p ,f _i )　(13)

其中，TTＯP _ARC (f _i ,ρ _p )為補償後之天線的極化率；TTOP (f _i ,ρ _p )為補償前之天線的極化率；G _ARC (ρ _p ,f _i )為補償值。如此一來，本示範實施例可補償射頻標籤127位於每一角度之天線110的極化率，以有效地降低射頻標籤127在不同極化角度會因天線110之極化率之影響而造成的誤差。舉例來說，當控制器140測試出射頻標籤127的啟動功率為TTOP(ρ_p ,f(i))=-13.3dBm，控制器140便可將先前已計算出來的補償值(例如0.5dBm)加入，以得到TTOP _ARC (f _i ,ρ _p )=-13.3dBm-0.5=-13.8dBm。由此可見，天線110在射頻標籤127的極化角度為15度具有較低的增益，而射頻標籤127顯然需要較高的啟動功率，因此需要對射頻標籤127的啟動功率進行補償。

另外，由於本示範實施例之天線110以圓形極化天線來實施，因此需要對圓形極化天線的性能進行補償。並且，在進行天線110之極化率的補償之前，會先行建立天線110之極化率之補償值的查表。因此，以下將舉例來說明如何利用本示範實施例之補償裝置100來建立查表的操作。首先，控制器140會提供第一控制信號，以控制載具120之支撐架125以第一軸線121旋轉射頻標籤127，使射頻標籤127對準天線110。接著，控制器140會提供第三控制信號，以控制載具之120之載板126以第二軸線122旋轉射頻標籤127，使射頻標籤127旋轉至一仰角(例如天線110與射頻標籤127之間的仰角為零度角)。控制器140會再提供第四控制信號，以控制載具120之載板126所連接之馬達(未繪示，但必須保持距離)以第三軸線123旋轉射頻標籤127，使射頻標籤127旋轉至一初始角度(亦即使射頻標籤127的極化角度為零度角)。

之後，控制器140控制讀取器130的輸出功率，且命令讀取器130嘗試對射頻標籤127進行讀取。也就是說，讀取器130透過天線110發射無線電波至射頻標籤127，以激發射頻標籤127(亦即激發射頻標籤127內部的電路)，並由天線110接收射頻標籤127被激發後的能量且傳送至讀取器130。接著，控制器140會透適讀取器130接收射頻標籤127被激發後的能量，以同時計算出第一極化率，例如12.5dBm。

接著，控制器140再提供第四控制信號，以控制載具120之載板126連接之馬達(未繪示)以第三軸線123旋轉射頻標籤127，使射頻標籤127旋轉至測試角度(亦即調整射頻標籤127的極化角度，例如15度)。此時，讀取器130透過天線110發射無線電波至射頻標籤127，以激發射頻標籤127，並由天線110接收射頻標籤127被激發後的能量且傳送至讀取器130。接著，控制器140會透過讀取器130接收射頻標籤127被激發後的能量，以同時計算出第二極化率，例12.0dBm。

接著，控制器140便會計算所取得的第一極化率與第二極化率間的差值並記錄之。也就是說，控制器140會將12.5dBm(第一極化率)-12dBm(第二極化率)=+0.5dBm(亦即射頻標籤127的極化角度為15度時，天線110之極化率的差值為+0.5dBm)。如下列式(14)所示：

G _ARC (ρ _p ,f (i ))=G (ρ _p ,f (i ))-G (ρ _POL-CAL ,f (i ))　(14)

其中，G (ρ _p ,f (i ))為射頻標籤127位於某一極化角度時，天線110的功率或增益(與讀取器130之天線110及射頻標籤127之增益有直接關係者)；G (ρ _POL-CAL ,f (i ))為射頻標籤127位於零度角之極化角度時，天線110的功率或增益；G _ARC (ρ _p ,f (i ))為射頻標籤127位於某一極化角度與零度角之極化角度之間之天線110之極化率的差值。

舉例來說，ρ _p 為15度(射頻標籤127的極化角度)，f (i )為915MHz，且假設查表內記錄G(ρ_p =15度,f(i)=915MHz))=12.5dBm，而G(ρ_POL-CAL =0度,f(i)=200MHz))=12.0dBm，因此G_ARC (ρ=15度,f(i)=200MHz))=G(ρ_p =15度,f(i)=200MHz))-G(ρ_POL-CAL =15度,f(i)=200MHz))=12.5-12.0=0.5 dBm。由此可見，當天線110在射頻標籤127的極化角度為15度時，由於天線110需要以較高的功率來啟動射頻標籤127，因此天線110會具有較低的增益。

當計算出射頻標籤127之極化角度為15度與射頻標籤127之極化角度為零度角之天線110之極化率的差值時，控制器140再次提供第四控制信號，以控制載具120之載板126之馬達(未繪示)，而以第三軸線123將射頻標籤127旋轉至初始角度(即零度角的極化角度)，以再次獲得射頻標籤127於初始角度時的第一極化率(例如12.0dBm)。接著，控制器140提供第四控制信號，以控制載具120之載板126上的馬達(未繪示)，以將射頻標籤127旋轉至測試角度(即調整射頻標籤127的極化角度為30度)，來獲得射頻標籤127於測試角度的第二極化率(例如12.7dB)。之後，控制器140便可計算出射頻標籤127之極化角度為30度與射頻標籤127之極化角度為零度角之天線110之極化率的差值(即-0.7dB)並記錄之。

之後，控制器140會提供第四信號將射頻標籤127旋轉至初始角度，以取得第一極化率，再將射頻標籤127旋轉至測試角度，以取得第二極化率，進而計算此測試角度之極化率的差值，接著重複上述流程，直到完成射頻標籤127位於各個測試角度(即極化角度)的第二極化率與射頻標籤127位於零度角之極化角度之第一極化率的差值。在計算完射頻標籤127位於各測試角度與射頻標籤127位於初始角度之天線110之極化率的差值後，控制器140便會依照每一極化角度、頻率、差值(即補償值)進行儲存以建立成天線110之極化率補償所需的查表數值。

另外，由於使用的讀取器130為一般的射頻識別讀取器，故讀取器130所輸出之無線信號的能量會隨著其內部晶片的溫度而產生變化。為了避免溫度的變化而造成天線之極化率量測時的誤差，因此，讀取器130在每一次輸出無線信號對天線之極化率進行測試後，會關閉一預設時間，以讓讀取器130的溫度降低至一預設值。接著，讀取器130才會再次輸出無線電波，以進行下一次之天線之極化率的測試。如此，將可有效地降低溫度對讀取器130所產生之無線電波的能量而造成的影響。

以下，將以具有不同極化率的兩個天線(天線A與B)，於本示範實施對一個射頻標籤例進行測試。待測的射頻標籤旋轉360度而天線固定在67.5度仰角，且測試結果如圖3所示。圖3為一示範實施例之天線之極化率補償前與補償後的對應關係圖。請參照圖3，曲線310表示天線A之補償前的天線之極化率與射頻標籤之極化角度的對應關係；曲線320表示天線A之補償後的天線之極化率與射頻標籤之極化角度的對應關係；曲線330表示天線B之補償前的天線之極化率與射頻標籤之極化角度的對應關係；曲線340表示天線B之補償後的天線之極化率與射頻標籤之極化角度的對應關係；曲線350為接近微橢圓的理想曲線，亦即理想的天線之極化率與射頻標籤之極化角度的對應關係。

由圖3中可以看出，在天線A與天線B未經過本示範實施例之補償裝置100補償前，天線之極化率分別為曲線310及曲線330。由曲線310及曲線330的比較來看，極化率問題造成之間的差異約為2-4bB，因此在天線A與天線B補償前，天線之極化率會具有較大的誤差。然而，在天線A與天線B經過本示範實施例之補償裝置100補償後，天線之極化率分別為曲線320與曲線340。由曲線320與曲線340的比較來看，極化率之間的差異基本上很接近。因此，在天線A與天線B補償後，天線之極化率幾乎不會產生誤差。如此一來，本示範實施例所提供之天線之極化率的補償裝置110，可有效地降低射頻標籤位於不同極化角度會因天線之極化率之影響而造成的誤差。

藉由上述實施例的說明，可以歸納出一種天線之極化率的補償方法以及查表的建立方法。圖4繪示為一示範實施例之天線之極化率的補償方法流程圖。其中，本實施例的天線例如以圓形極化天線來實施。請參照圖4，在步驟S410中，設定射頻標籤的初始位置，以取得初始向量。在步驟S420中，以第一軸線(例如為z軸)旋轉射頻標籤(即旋轉射頻標籤的方位角)。在步驟S430中，以第二軸線(例如為y軸)旋轉天線(即旋轉射頻標籤與天線之間的仰角)，其中第一軸線與第二軸線垂直(例如第一軸線與重力方向平行，第二軸線與重力方向垂直)。

接著，在步驟S440中，依據射頻標籤初始向量與射頻標籤旋轉後的位置，計算天線與射頻標籤之間的極化角度。之後，在步驟S450中，依據極化角度，利用查表取得補償值，以對天線的極化率進行補償。如此一來，本示範實施例可補償射頻標籤在每一極化角度之天線的極化率，以有效地降低射頻標籤在不同極化角度會因天線之極化率之影響而造成的誤差。

圖5繪示為一示範實施例之建立查表的流程圖。請參照圖5，在步驟S510中，以第一軸線(例如z軸)旋轉射頻標籤，使射頻標籤對準天線。接著，在步驟S520中，以第二軸線(例如y軸)旋轉射頻標籤，使射頻標籤位於特定仰角，例如天線與射頻標籤之間呈現零度角的仰角。在步驟S530中，以第三軸線(例如x軸)旋轉射頻標籤，使射頻標籤位於初始角度，例如射頻標籤位於零度角的極化角度。

之後，在步驟S540中，透過天線發射一無線電波至射頻標籤，以激發射頻標籤(亦即激發射頻標籤內部的電路)，並由天線接收射頻標籤被激發後的能量，以取得第一極化率。接著，在步驟S550中，以第二軸線旋轉射頻標籤，使射頻標籤旋轉至測試角度(亦即調整射頻標籤的極化角度)。

在步驟S560中，透過天線發射無線電波至射頻標籤，以激發射頻標籤，並由天線接收射頻標籤被激發後的能量，以取得第二極化率。在步驟S570中，計算第一極化率與第二極化率間的差值並記錄之，亦即計算本示範實施例所需的補償植。之後，進入步驟S580，判斷是否完成射頻標籤位於各個測試角度之第二極化率與射頻標籤位於初始角度之第一極化率間的差值。

若判斷結果為否，表示尚未完成所有差值的計算，則回到步驟S530中繼續進行各個測試角度(即極化角度)的極化率的測試以及各個測試角度之第二極化率與初始角度之第一極化率的差值，直到所有完成所有差值的計算後，進入步驟S590，依據各個測試角度、各個極化率、各個差值，建立天線之極化率補償所需的查表。

綜上所述，本示範實施例藉由設定射頻標籤的初始位置後，射頻標籤以第一軸線，天線以第二軸線旋轉(或是射頻標籤以第二軸線進行反向的虛擬仰角旋轉)至所需測試的位置。接著，依據上述的位置計算出射頻標籤的極化角度，並依據上述極化角度，以便利用查表的方式找到對應此極化角度的補償值，來對天線的極化率進行補償。並且，在對天線之極化率進行補償前，還會先進行查表的建立。如此一來，可降低天線在不同角度而極化率之影響而造成的誤差。

雖然本揭露已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本揭露之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100．．．天線之極化率的補償裝置

110．．．天線

111．．．固定架

112．．．滑軌

120．．．載具

121．．．第一軸線

122．．．第二軸線

123．．．第三軸線

124．．．圓形底座

125．．．支撐架

126．．．載板

127．．．射頻標籤

128．．．箭頭

130．．．讀取器

140．．．控制器

220．．．實際產品

S410~S450．．．本揭露之示範實施例之天線之極化率的補償方法各步驟

S510~S590．．．本揭露之示範實施例之建立查表的各步驟

圖1A繪示為一示範實施例之射頻標籤測試天線之極化率的補償裝置示意圖。

圖1B繪示為圖1A之載具120的結構示意圖。

圖2繪示為另一示範實施例之射頻標籤測試天線之極化率的補償裝置示意圖。

圖3繪示為一示範實施例之天線之極化率補償前與補償後的對應關係圖。

圖4繪示為一示範實施例之天線之極化率的補償方法流程圖。

圖5繪示為一示範實施例之建立查表的流程圖。

S410~S450．．．本揭露之示範實施例之天線之極化率的補償方法各步驟

Claims (8)

1. 一種射頻標籤測試天線之極化率的補償方法，包括：設定該射頻標籤的初始位置，以取得一初始向量，其中該標籤位於該天線的一側；以一第一軸線旋轉該射頻標籤；以一第二軸線旋轉該天線，其中該第一軸線與該第二軸線垂直；依據該射頻標籤的初始向量與該射頻標籤旋轉後的位置，計算該射頻標籤的一極化角度；以及依據該極化角度，利用一查表取得一補償值，以對該天線的極化率進行補償。
2. 如申請專利範圍第1項所述之天線之極化率的補償方法，其中該第一軸線與一重力方向平行，該第二軸線與該重力方向垂直。
3. 如申請專利範圍第2項所述之天線之極化率的補償方法，其中該天線為圓極化天線。
4. 如申請專利範圍第1項所述之天線之極化率的補償方法，其中建立該查表的步驟包括：以該第一軸線旋轉該射頻標籤，使該射頻標籤對準該天線；以該第二軸線旋轉該射頻標籤，使該射頻標籤旋轉至一特定仰角；以該第三軸線旋轉該射頻標籤，使該射頻標籤旋轉至一初始角度；透過該天線發射一無線電波至該射頻標籤，以激發該射頻標籤，並由該天線接收該射頻標籤被激發後的能量，以取得一第一極化率；以該第三軸線旋轉該射頻標籤，使該射頻標籤旋轉至一測試角度；透過該天線發射該無線電波至該射頻標籤，以激發該射頻標籤，並由該天線接收該標籤被激發後的能量，以取得一第二極化率；計算該第一極化率與該第二極化率間的一差值並記錄之；判斷是否完成該射頻標籤位於各個測試角度之該第二極化率與該射頻標籤位於該初始角度之該第一極化率間的差值；若判斷結果為否，則回到以該第三軸線旋轉該射頻標籤，使該射頻標籤位於一初始角度的步驟；以及若判斷結果為是，依據上述各該測試角度、各該天線之極化率、各該差值，建立該查表。
5. 一種天線之極化率的補償裝置，包括：一天線，配置於一固定架的一滑軌上；一載具，位於該天線的一側，用以承載一射頻標籤；一讀取器，耦接該天線，用以產生一無線電波至該射頻標籤，以激發該射頻標籤，並接收該射頻標籤被激發後的能量；以及一控制器，耦接該固定架、該載具與該讀取器，該控制器儲存一查表，並透過該讀取器接收該射頻標籤被激發後的能量，而同時計算出該天線的極化率，且用以產生一第一控制信號與一第二控制信號給該載具與該固定架，使該載具以一第一軸線來旋轉該射頻標籤，以及該固定架以一第二軸線而延著滑軌來旋轉該天線，以依據該射頻標籤的一初始向量與該射頻標籤旋轉後的位置，計算該射頻標籤之間的一極化角度，並依據該極化角度，利用該查表取得一補償值，以對該天線的極化率進行補償，其中該第一軸線與該第二軸線垂直。
6. 如申請專利範圍第5項所述之天線之極化率的補償裝置，其中該載具包括：一圓形底座；一支撐架，樞設於該圓形底座上，該支撐架以該第一軸線進行旋轉；以及一載板，樞設於該支撐架上，用以承載該射頻標籤，該載板以該第二軸線進行旋轉，其中該射頻標籤以一第三軸線樞設於該載板上。
7. 如申請專利範圍第5項所述之天線之極化率的補償裝置，其中該第一軸線與一重力方向平行，該第二軸線與該重力方向垂直。
8. 如申請專利範圍第6項所述之天線之極化率的補償裝置，其中該控制器提供該第一控制信號，使該載具以該第一軸線旋轉該射頻標籤，使該射頻標籤對準該天線；該控制器提供一第三控制信號，使該載具以該第二軸線旋轉該射頻標籤，使該射頻標籤旋轉至一特定仰角；該控制器提供一第四控制信號，使該載具以該第三軸線旋轉該射頻標籤，使該射頻標籤旋轉至一初始角度；該讀取器透過該天線發射一無線電波至該射頻標籤，以激發該射頻標籤，並由該天線接收該射頻標籤被激發後的能量，且該控制器透過該讀取器接收該射頻標籤被激發後的能量，以取得一第一極化率；該控制器提供該第四控制信號，使該載具以該第三軸線旋轉該射頻標籤，使該射頻標籤旋轉至一測試角度；該讀取器透過該天線發射該無線電波至該射頻標籤，以激發該射頻標籤，並由該天線接收該射頻標籤被激發後的能量，該控制器透過該讀取器接收該射頻標籤被激發後的能量，以取得一第二極化率；該控制器計算該第一極化率與該第二極化率間的一差值並記錄之；接著該控制器會再依序提供該第四控制信號，使該載具旋轉該射頻標籤，直到完成該射頻標籤位於各個測試角度之該第二極化率與該射頻標籤位於該初始角度之該第一極化率間的差值，並記錄之，以產生該查表且儲存於該控制器。