TWI393852B - 玻璃基板量測方法及其裝置 - Google Patents
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本發明係關於一種量測方法及其裝置，尤指一種用於量測玻璃基板邊緣連續性及端部尺寸之量測方法及其裝置。
按，在講求品質及生產力的今天，高生產力及最佳品質的要求已成為目前業界最重要的課題，而為了提高生產力與改善品質，則必須正確地掌握品質的檢驗方式，其中關於玻璃基板的品質量測方面，主要係針對玻璃基板的邊緣連續性及端部尺寸的變化進行量測，藉以作為玻璃基板品質的依據；然而，既有於量測玻璃基板時係以人工操作手持式相機的方式，對於玻璃基板的邊緣連續性及端部尺寸進行量測，於長時間的工作下容易造成檢測人員注意力降低，對於產品檢驗速度也有所限制，進而無法有效率地對產品進行檢測，加上既有量測方法過程繁複，且所使用的量測裝置構件多且複雜，不僅會增加量測所需的時間，且會增加量測所需的成本，誠有加以改進之處。
因此，本發明人有鑑於上述量測玻璃基板方法與裝置於實際使用上的不足與問題，特經過不斷的研究與試驗，終於發展出一種能改進現有缺失之本發明。
本發明之主要目的係在於一種玻璃基板量測方法及其裝置，其主要係利用幾何量測原理與數位影像處理的方式，快速且準確地對於玻璃基板的邊緣連續性及端部尺寸進行量測，進而達到方便量測、準確度高且節省成本之目的者。
為達到上述目的，本發明係提供一種玻璃基板量測方法，其操作步驟係包括如下所示：
(A).準備儀器：準備一量測裝置，該量測裝置係設有一夾具、一影像擷取組及一影像處理組，該夾具係設有具有複數個磁鐵的基座、一壓板以及一擋板，而該影像處理組係設有一影像量測軟體，透過壓板及檔板與基座中磁鐵的相互吸引貼合的方式，使玻璃基板的一側邊緣或一端部外露於基座外而位於影像擷取組的下方處；
(B).影像擷取：透過影像處理組的訊號傳遞，使夾具的基座可相對影像擷取組產生移動，進而讓影像擷取組可擷取玻璃基板外露於基座的側邊影像及端部影像；以及
(C).影像處理：將所擷取的影像經影像擷取組傳送至影像處理組中進行處理，其中係利用單一閥值方式對於原始影像進行影像處理，藉以將灰階影像轉換為二元(黑白)的數位影像，在量測玻璃基板邊緣連續性時，係透過最小平方法求出該玻璃基板邊緣的線性迴歸線，藉以求得一趨近玻璃基板邊緣的直線，並由截取出來的點尋找出離近似直線最大及最小的點，作為判斷玻璃基板邊緣加工是否符合規格，而在量測玻璃基板端部尺寸時透過影像量測軟體，求出玻璃基板端部的尺寸與角度。
進一步，在影像處理的操作步驟中，於原始影像中設定一灰階值k
，依照每個像素的灰階值大小(大於或小於k
)，將各像素轉換為黑色或白色，亦即當像素之灰階值>k
，則像素轉換為白色(灰階值為255)，而當像素之灰階值，則像素轉換為黑色(灰階值為0)，前述之k
值可經由Otsu演算法(Otsu’s method)求得，其中將影像值方圖視為一種機率分布p i
=n i
/N
，其中P i
為像素灰階值為i
的機率，n i
為灰階值為i
像素數目，而該N
為像素總數；若閥值設定為k
時，則定義，其中L
為灰階數(L
-1則為最大灰階數)，按照定義計算出w
(k
)與u
(k
)差異最大時的k
值，可以先定義影像平均為，並找出函數值最大時的k
值，即可求得k
值，進而對於影像進行二元轉換而得到玻璃基板邊緣與端部之二元(黑白)影像。
再進一步，在影像處理的操作步驟中，假設y
對x
的線性迴歸線為y
=b
+ax
，求出讓為最小時的迴歸係數b
及a
，可得到，其中，進而求出趨近玻璃基板邊緣的直線。
本發明另提供一玻璃基板量測裝置，其係包含有一夾具組、一影像擷取組及一影像處理組，其中：該夾具組係設有一底座、一滑動平台及一夾具，該滑動平台係組設於底座上且設有一固定座及一滑動座，該固定座係固設於底座上且於頂部設有兩平行設置之軌條，而該滑動座係可滑動地與固定座的兩軌條相結合，而該夾具係設於滑動平台的滑動座上且設有一基座、一壓板及一擋板，該基座於內表面係間隔設有複數個磁鐵，而該壓板及擋板係透過與各磁鐵磁力吸引的方式而分別與基座相貼合，使玻璃基板可夾持於基座、壓板及擋板之間；該影像擷取組係與夾具組相結合且設有一支撐座及一影像擷取器，該支撐座係固設於底座上且於頂部設有一朝夾具方向伸設的延伸桿，該影像擷取器係設於支撐座的延伸桿上且朝下設有一正光源；以及該影像處理組係與夾具組及影像擷取組相連接且設有一電腦，該電腦係與滑動平台及影像擷取器相電性連接且內建有一影像量測軟體，使滑動座可相對固定座移動，並可接收影像擷取器所擷取的玻璃基板影像。
進一步，該影像擷取器於底座上係設有一位於正光源下方處的背光板。
再進一步，該影像擷取器係為一電荷耦合元件數位相機。
較佳地，該電腦係藉由一通用序列匯流排的傳輸方式而與影像擷取組相連結。
較佳地，該基座係為一非導磁材料所製成之L形截面座，該底座係為一略呈長方形之板體，而該擋板係為一略呈L形之板體。
實施上述技術手段以後，本發明玻璃基板量測方法及其裝置，主要係利用基座各磁鐵與壓板及擋板磁力相吸的方式，即可方便地將待測的玻璃基板夾持於基座上，藉以快速地對於待測物進行拆卸與組裝，相對於既有量測時利用真空吸盤而言，可大幅降低夾持治具所需之成本，且透過電腦的影像量測軟體對於玻璃基板影像做一線上即時的檢測，不僅可大幅提升檢測的效率與增加產品的品質與良率，且可避免既有於量測玻璃基板時係以人工操作手持式相機的方式，於長時間的工作下容易造成檢測人員注意力降低，進而無法有效率地對產品進行檢測的現象，藉以構成一方便量測、準確度高且節省成本的量測方法及其裝置者。
為能詳細瞭解本發明的技術特徵及實用功效，並可依照說明書的內容來實施，玆進一步以圖式(如第一及二圖所示)所示的較佳實施例，詳細說明如後：本發明之玻璃基板量測方法，其主要係利用幾何量測原理與數位影像處理的方式，快速且準確地對於玻璃基板的邊緣連續性及端部尺寸進行量測，其操作步驟包括如下：
(A).準備儀器：準備一量測裝置，該量測裝置係設有一夾具(13)、一影像擷取組(20)及一影像處理組(30)，請再配合參看如第三圖所示，該夾具(13)係設有一基座(131)、一壓板(132)以及一擋板(133)，而該影像處理組(30)係設有一影像量測軟體，將一待測的玻璃基板(40)如第四及五圖所示透過基座(131)內部磁鐵(134)與壓板(132)磁性相吸的方式將玻璃基板(40)夾持於基座(131)與壓板(132)之間，使玻璃基板(40)的一側邊緣外露於基座(131)外而位於影像擷取組(20)的下方處，另可將待測的玻璃基板(40)如第七及八圖所示夾設於基座(131)、壓板(132)及檔板(133)間，使該玻璃基板(40)的一端部係凸出於基座(131)外而位於影像擷取組(20)的下方；
(B).影像擷取：透過影像處理組(30)的訊號傳遞，使夾具(13)的基座(131)如第五及八圖所示可相對影像擷取組(20)產生移動，進而讓影像擷取組(20)可擷取玻璃基板(40)外露於基座(131)的側邊影像及端部影像；以及
(C).影像處理：將所擷取的影像經影像擷取組(20)傳送至影像處理組(30)中進行處理，其中係利用單一閥值方式對於原始影像進行影像處理，藉以將灰階影像轉換為二元(黑白)的數位影像，於原始影像中設定一灰階值k
，依照每個像素的灰階值大小(大於或小於k
)，將各像素轉換為黑色或白色，亦即當像素之灰階值>k
，則像素轉換為白色(灰階值為255)，而當像素之灰階值，則像素轉換為黑色(灰階值為0)，前述之k
值可經由Otsu演算法(Otsu’s method)求得，其中將影像值方圖視為一種機率分布p i
=n i
/N
，其中P i
為像素灰階值為i
的機率，n i
為灰階值為i
像素數目，而該N
為像素總數；若閥值設定為k
時，則定義，其中L
為灰階數(L
-1則為最大灰階數)，按照定義；計算出w
(k
)與u
(k
)差異最大時的k
值，可以先定義影像平均為，並找出函數值最大時的k
值，即可求得k
值，進而對於影像進行二元轉換而得到如第六以及九圖所示之玻璃基板(40)邊緣與端部之二元(黑白)影像；其中，在量測玻璃基板(40)邊緣連續性時，係透過最小平方法求出該玻璃基板(40)邊緣的線性迴歸線，其中假設y
對x
的線性迴歸線為y
=b
+ax
，求出讓為最小時的迴歸係數b
及a
，可得到，其中，進而求出如第六圖所示之一趨近玻璃基板(40)邊緣的直線，並由截取出來的點尋找出離近似直線最大及最小的點，作為判斷玻璃基板(40)邊緣加工是否符合規格；在量測玻璃基板(40)端部尺寸時係如第九圖所示，對於經二元化處理的玻璃基板(40)的端部影像搜尋出影像邊緣的各點座標(a、b、c、d)進行尺寸計算，其中由a及d點座標可以計算出A尺寸，a及b點座標可見算出D尺寸，而在計算c及d點座標可計算出C角度，即可透過影像量測軟體即可求出玻璃基板端部的尺寸與角度。
請再配合參看如第二、三及八圖所示，本發明係提供一玻璃基板量測裝置，其係設有一夾具組(10)、一影像擷取組(20)及一影像處理組(30)，其中：該夾具組(10)係設有一底座(11)、一滑動平台(12)及一夾具(13)，其中該底座(11)係為一略呈長方形之板體，而該滑動平台(12)係組設於底座(11)上且設有一固定座(121)及一滑動座(122)，該固定座(121)係固設於底座(11)上且於頂部設有兩平行設置之軌條(123)，而該滑動座(122)係可滑動地與固定座(121)的兩軌條(123)相結合，而該夾具(13)係設於滑動平台(12)的滑動座(122)上且設有一基座(131)、一壓板(132)及一擋板(133)，較佳地，該基座(131)係為一非導磁材料所製成之L形截面座，且該基座(131)於內表面係間隔設有複數個磁鐵(134)，而該壓板(132)及擋板(133)係透過與各磁鐵(134)磁力吸引的方式而分別與基座(131)相貼合，使玻璃基板(40)可夾持於基座(131)、壓板(132)及擋板(133)之間，較佳地，該擋板(133)係為一略呈L形之板體；該影像擷取組(20)係與夾具組(10)相結合且設有一支撐座(21)及一影像擷取器(22)，其中該支撐座(21)係固設於底座(11)上且於頂部設有一朝夾具(13)方向伸設的延伸桿(211)，該影像擷取器(22)係設於支撐座(21)的延伸桿(211)上且朝下設有一正光源(221)，較佳地，該影像擷取器(22)於底座(11)上係設有一位於正光源(221)下方處的背光板(222)，較佳地，該影像擷取器(22)係為一電荷耦合元件(charge-coupled device；CCD)數位相機；以及該影像處理組(30)係與夾具組(10)及影像擷取組(20)相連接且設有一電腦(31)，其中該電腦(31)係與滑動平台(12)及影像擷取器(22)相電性連接且內建有一影像量測軟體，使滑動座(122)可相對固定座(121)移動，並可接收影像擷取器(22)所擷取的玻璃基板(40)影像，較佳地，該電腦(31)係藉由一通用序列匯流排(Universal Serial Bus；USB)的傳輸方式而與影像擷取組(20)相連結。
藉由上述的技術手段，本發明所提供玻璃基板量測方法及其裝置，主要係利用基座(131)各磁鐵(134)與壓板(132)及擋板(133)磁力相吸的方式，即可方便地將待測的玻璃基板(40)夾持於基座(131)上，藉以快速地對於待測物進行拆卸與組裝，相對於既有量測時利用真空吸盤而言，可大幅降低夾持治具所需之成本，且透過電腦(31)的影像量測軟體對於玻璃基板(40)影像做一線上即時的檢測，不僅可大幅提升檢測的效率與增加產品的品質與良率，且可避免既有於量測玻璃基板(40)時係以人工操作手持式相機的方式，於長時間的工作下容易造成檢測人員注意力降低，進而無法有效率地對產品進行檢測的現象，藉以構成一方便量測、準確度高且節省成本的量測方法及其裝置者。
以上所述，僅是本發明的較佳實施例，並非對本發明作任何形式上的限制，任何所屬技術領域中具有通常知識者，若在不脫離本發明所提技術方案的範圍內，利用本發明所揭示技術內容所作出局部更動或修飾的等效實施例，並且未脫離本發明的技術方案內容，均仍屬於本發明技術方案的範圍內。
(10)．．．夾具組
(11)．．．底座
(12)．．．滑動平台
(121)．．．固定座
(122)．．．滑動座
(123)．．．軌條
(13)．．．夾具
(131)．．．基座
(132)．．．壓板
(133)．．．擋板
(134)．．．磁鐵
(20)．．．影像擷取組
(21)．．．支撐座
(211)．．．延伸桿
(22)．．．影像擷取器
(221)．．．正光源
(222)．．．背光板
(30)．．．影像處理組
(31)．．．電腦
(40)．．．玻璃基板
第一圖係本發明玻璃基板量測方法操作流程方塊圖。
第二圖係本發明玻璃基板量測裝置之外觀示意圖。
第三圖係本發明夾具組之放大外觀立體示意圖。
第四圖係本發明量測玻璃基板邊緣連續性之操作側視示意圖。
第五圖係本發明量測玻璃基板邊緣連續性之局部放大操作示意圖。
第六圖係本發明待測玻璃基板之邊緣連續性之影像示意圖。
第七圖係本發明量測玻璃基板端部尺寸之操作側視示意圖。
第八圖係本發明量測玻璃基板端部尺寸操作示意圖。
第九圖係本發明待測玻璃基板端部尺寸之影像示意圖。
Claims (10)
- 一種玻璃基板量測方法，其操作步驟係包含有：準備儀器：準備一量測裝置，該量測裝置係設有一夾具、一影像擷取組及一影像處理組，該夾具係設有一具有複數個磁鐵的基座、一壓板以及一擋板，而該影像處理組係設有一影像量測軟體，透過壓板及檔板與基座磁性相吸貼合的方式，使玻璃基板的一側邊緣或一端部外露於基座外而位於影像擷取組的下方處；影像擷取：透過影像處理組的訊號傳遞，使夾具的基座可相對影像擷取組產生移動，進而讓影像擷取組可擷取玻璃基板外露於基座的側邊影像及端部影像；以及影像處理：將所擷取的影像經影像擷取組傳送至影像處理組中進行處理，其中係利用單一閥值方式對於原始影像進行影像處理，藉以將灰階影像轉換為二元(黑白)的數位影像，在量測玻璃基板邊緣連續性時，係透過最小平方法求出該玻璃基板邊緣的線性迴歸線，藉以求得一趨近玻璃基板邊緣的直線，並由截取出來的點尋找出離近似直線最大及最小的點，作為判斷玻璃基板邊緣加工是否符合規格，而在量測玻璃基板端部尺寸時透過影像量測軟體，求出玻璃基板端部的尺寸與角度。
- 如申請專利範圍第1項所述之玻璃基板量測方法，其中在影像處理的操作步驟中，於原始影像中設定一灰階值k ，依照每個像素的灰階值大小(大於或小於k )，將各像素轉換為黑色或白色，亦即當像素之灰階值>k ，則像素轉換為白色(灰階值為255)，而當像素之灰階值，則像素轉換為黑色(灰階值為0)，前述之k 值可經由Otsu演算法(Otsu’s method)求得，其中將影像值方圖視為一種機率分布p i =n i /N ，其中P i 為像素灰階值為i 的機率，n i 為灰階值為i 像素數目，而該N 為像素總數；若閥值設定為k 時，則定義，其中L 為灰階數(L -1則為最大灰階數)，按照定義；計算出w (k )與u (k )差異最大時的k 值，可以先定義影像平均為，並找出函數值最大時的k 值，即可求得k 值，進而對於影像進行二元轉換而得到玻璃基板邊緣與端部之二元(黑白)影像。
- 如申請專利範圍第1或2項所述之玻璃基板量測方法，其中在影像處理的操作步驟中，假設y 對x 的線性迴歸線為y =b +ax ，求出讓為最小時的迴歸係數b 及a ，可得到，其中，進而求出趨近玻璃基板邊緣的直線。
- 一種玻璃基板量測裝置，其係包含有一夾具組、一影像擷取組及一影像處理組，其中：該夾具組係設有一底座、一滑動平台及一夾具，該滑動平台係組設於底座上且設有一固定座及一滑動座，該固定座係固設於底座上且於頂部設有兩平行設置之軌條，而該滑動座係可滑動地與固定座的兩軌條相結合，而該夾具係設於滑動平台的滑動座上且設有一基座、一壓板及一擋板，該基座於內表面係間隔設有複數個磁鐵，而該壓板及擋板係透過與各磁鐵磁力吸引的方式而分別與基座相貼合，使玻璃基板可夾持於基座、壓板及擋板之間；該影像擷取組係與夾具組相結合且設有一支撐座及一影像擷取器，該支撐座係固設於底座上且於頂部設有一朝夾具方向伸設的延伸桿，該影像擷取器係設於支撐座的延伸桿上且朝下設有一正光源；以及該影像處理組係與夾具組及影像擷取組相連接且設有一電腦，該電腦係與滑動平台及影像擷取器相電性連接且內建有一影像量測軟體，使滑動座可相對固定座移動，並可接收影像擷取器所擷取的玻璃基板影像。
- 如申請專利範圍第4項所述之玻璃基板量測裝置，其中該影像擷取器於底座上係設有一位於正光源下方處的背光板。
- 如申請專利範圍第4或5項所述之玻璃基板量測裝置，其中該影像擷取器係為一電荷耦合元件數位相機。
- 如申請專利範圍第6項所述之玻璃基板量測裝置，其中該電腦係藉由一通用序列匯流排的傳輸方式而與影像擷取組相連結。
- 如申請專利範圍第7項所述之玻璃基板量測裝置，其中該基座係為一非導磁材料所製成之L形截面座，該底座係為一略呈長方形之板體，而該擋板係為一略呈L形之板體。
- 如申請專利範圍第4或5項所述之玻璃基板量測裝置，其中該影像擷取器係為一電荷耦合元件數位相機。
- 如申請專利範圍第4或5項所述之玻璃基板量測裝置，其中該電腦係藉由一通用序列匯流排的傳輸方式而與影像擷取組相連結。
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