TWI385395B - 測試裝置及其自動化測試方法 - Google Patents

Description

測試裝置及其自動化測試方法

本發明有關於一種測試裝置，且特別是有關於一種測試裝置及其自動化測試方法。

顯示卡等各種板卡生產維修過程中，經常需要將其放置在測試機台上，並運行這些板卡以檢測其是否能正常運作。

測試機台可設置一正常良好的主機板，以方便待測試板卡可以插設在主機板上，待測試板卡插設在主機板後，便可運行主機板來測試板卡的性能。

目前技術中，通常是將板卡放入測試機台後，操作人員打開測試機台的電源開關，按壓測試機台的上電開關，將主機板開機。測試完成之後，操作人員需要將主機板關機，斷開測試機台的電源開關，再按壓測試機台的放電開關，將測試機台內的電壓釋放。

以上的操作流程中，操作人員需要手動進行上電、開機、關機和放電的步驟，作業步驟繁瑣，作業時間長，影響產能。

本發明提供一種測試裝置及其自動化測試方法，能夠解決上述問題。

本發明提供一種測試裝置，用以測試一待測電路板。測試裝置包括主機板、偵測單元以及控制電路，偵測單元用以偵測待測電路板是否位於預設位置。若待測電路板位於預設位置，偵測單元提供偵測信號。控制電路耦接偵測單元和主機板，且依據偵測信號延遲預設時間來控制主機板開機，以測試待測電路板。

本發明較佳實施例中，測試裝置還包括模式切換開關，其用以切換控制電路的工作模式。

本發明另提供一種自動化測試方法，用以測試一待測電路板，待測電路板可耦接主機板，自動化測試方法包括以下步驟：偵測待測電路板是否位於預設位置；若待測電路板位於預設位置，則提供偵測信號；以及依據偵測信號延遲預設時間來控制主機板開機，以測試待測電路板。

本發明有益效果為：通過偵測單元和控制電路的設置，檢測到待測電路板位於預設位置時，即自動對主機板上電、開機，無需人工作業。控制電路還在主機板關機之後，對主機板自動進行斷電、放電操作。模式切換開關的設置整合了測試裝置在生產測試中需求的兩種測試模式，方便測試裝置的工作模式切換與調試。

本發明提供的測試裝置簡化了操作者的操作步驟，實現測試裝置的上電、開機、斷電和放電的自動化控制。

為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。

圖1為本發明較佳實施例的測試裝置的功能方塊圖。

本實施例所提供的測試裝置100用以測試一待測電路板200，在本實施例中，待測電路板200例如為顯示卡，但本發明並不加以限制。待測電路板200包括第一連接部201。測試裝置100包括主機板101、偵測單元102、控制電路103以及模式切換開關105，其中主機板101包括多個第二連接部104。

待測電路板200耦接至主機板101。例如：待測電路板200可透過第一連接部201耦接至主機板101的第二連接部104之一。對應於不同規格的待測電路板200，待測電路板200可以耦接至主機板101的不同第二連接部104。在其他實施例中，待測電路板200亦可透過轉接卡(圖未示)或轉接裝置來耦接主機板101。

控制電路103分別耦接主機板101、偵測單元102以及模式切換開關105。

在本實施例中，主機板101、偵測單元102、控制電路103以及模式切換開關105是設置在一機台(圖未示)的各個不同位置。主機板101是可拆卸地設置於機台。此外，主機板101是一能正常運作的板子，在測試時，其插設有中央處理單元(CPU)、記憶體、儲存裝置(例如：HDD)等運作時的相關電子元件。藉此，主機板101在耦接至待測電路板200之後，可進行開機，以測試待測電路板200。

在本實施例中，偵測單元102用以偵測待測電路板200是否位於預設位置。當待測電路板200位於預設位置時，則偵測單元102提供偵測信號至控制電路103，使得控制電路103可依據偵測信號延遲預設時間(例如：5秒)來控制主機板101開機，以測試待測電路板200。有關偵測單元102的設置位置及其相關說明，容後詳述。

在本實施例中，模式切換開關105用以切換控制電路103的工作模式。舉例來說，控制電路103的工作模式分為第一測試模式和第二測試模式。

第一測試模式為當主機板101對待測電路板200測試完畢後，控制電路103控制主機板101關機。之後，操作人員取出待測電路板200，插入另一塊待測電路板200之後，再次對主機板101進行開機。

第二測試模式為當主機板101對待測電路板200測試完畢後，控制電路103控制已開機的主機板101進入休眠模式。繼而，取出待測電路板200並插入另一塊待測電路板200之後，再喚醒主機板101。

模式切換開關105使控制電路103在第一測試模式和第二測試模式之間切換。

圖2為本發明較佳實施例中測試裝置的示意圖。有關圖2的說明，敬請一併參照圖1。

測試裝置100還包括機台10、至少一個夾持部106、移動部107、操作部108、功能測試連接部109以及固定部110。

在本實施例中，夾持部106、移動部107、操作部108、功能測試連接部109以及固定部110設置在機台10。在本實施例中，夾持部106為兩個，夾持部106用以夾持待測電路板200。夾持部106設置在移動部107上，使得夾持部106可在移動部107上移動而變換位置。夾持部106移動的方式可以為手動或是機械控制，本發明在此不作限制。

在本實施例中，移動部107可為一可向前轉動的螺桿或其他可使得夾持部106移動的等效裝置，本發明並不對此加以限制。

在本實施例中，操作部108耦接移動部107，當操作部108運作時其可連動移動部107，使得移動部107移動，進而使得尚未耦接主機板101的待測電路板200位於預設位置，以耦接主機板101。

在本實施例中，待測電路板200耦接主機板101時也會耦接功能測試連接部109。在其他實施例中，待測電路板200耦接主機板101時亦可不耦接功能測試連接部109。

在本實施例中，功能測試連接部109可提供電視訊號源、影像訊號或其他測試訊號等。在其他實施例中，功能測試連接部109例如可耦接至網路或提供與待測電路板200相關功能的測試訊號。

在本實施例中，偵測單元102設置在機台10，且偵測待測電路板200位於預設位置時，偵測單元102提供偵測信號至控制電路103。在本實施例中，偵測單元102的偵測方式可以為按壓式偵測。在其他實施例中，偵測單元102的偵測方式亦可以是其他偵測方式，例如是光遮斷偵測、聲波偵測等自動偵測方式。

在本實施例中，偵測單元102為按壓式彈片，待測電路板200未移動至預設位置時，偵測單元102的彈片彈性地凸出於機台10表面。當待測電路板200移動至預設位置時，則待測電路板200會按壓到偵測單元102的彈片，使得偵測單元102的彈片發生變形而接通相關電路，並提供偵測信號至控制電路103。

在本實施例中，控制電路103可包括多個延時繼電器、多個繼電器以及多個開關，以達成延遲預設時間來控制主機板101的操作(例如：開機)。在其他實施例中，控制電路103亦可包括其他電晶體、RC延遲電路、或其他等效之元件與相關電路來達成上述操作，本發明對此並不加以限制。

另外，在本實施例中，控制電路103與主機板101的電源電路、電源開關(圖未示)相耦接。

圖3為本發明較佳實施例的自動化測試方法的流程圖。有關圖3的說明，敬請一併參照圖1與圖2。

在步驟S300中，操作者先將測試裝置100設置好，並將待測電路板200準備好，以開始測試待測電路板200。

在步驟S305中，操作者可將待測電路板200放置在夾持部106中，以夾持住待測電路板200。

在步驟S310中，待測電路板200被夾持部106夾持住後，操作者可操作操作部108，以移動待測電路板200至預設位置，使得待測電路板200可耦接主機板101與功能測試連接部109。

在步驟S315中，偵測單元102偵測待測電路板200是否位於預設位置。若待測電路板200位於預設位置，則待測電路板200會使得偵測單元102提供一偵測信號至控制電路103(步驟S320)。若待測電路板200沒有位於預設位置，則偵測單元102會持續偵測待測電路板200是否位於預設位置。

在步驟S325中，控制電路103便依據偵測信號來延遲預設時間控制主機板101開機。

在本實施例中，當待測電路板200測試完之後，控制電路103可控制斷開主機板101的電源，且對主機板101進行失電開機，用以對主機板101放電。

另外，本實施例所提供的測試裝置100可被切換其工作模式，使得主機板101切換至第一測試模式或第二.測試模式下操作。在本實施例中，切換方式可透過硬體或軟體的設定來達成，本發明並不對此加以限制。

圖4a為本發明一較佳實施例之測試裝置在第一測試模式的工作流程圖。圖4b為本發明一較佳實施例之測試裝置在第二測試模式的工作流程圖。

有關圖4a與圖4b之說明，敬請一併參照圖1至圖3。於圖4a之流程圖中，其操作與圖3的流程圖類似，先將測試治具推壓到位，繼而透過控制電路103自動接通220V電源，且控制電路103延遲預設時間(同時進行自動計數)後自動開機，繼而進行待測電路板200的相關功能測試。在圖4a中，測試裝置100在第一測試模式，其在測試完待測電路板200後，控制電路103控制主機板101進行軟關機，繼而再控制自動切斷主機板101的220V電源，控制電路103並使得主機板101自動進行放電處理。之後，操作者便可拉出待測電路板200。若還有其他待測電路板200尚未完成測試，即生產測試未結束，則操作者可再將另一塊待測電路板200放置在夾持部106，接著再重複上述的相關操作，請參照圖4a。若已完成生產測試，則關閉整個測試裝置100的電源，以進行關機處理。

於圖4b中，測試裝置100在第二測試模式中，在這個模式中，其操作情形皆與圖4a類似。唯，測試裝置100在測試完待測電路板200後，控制電路103控制主機板101進入系統休眠狀態，直到放入另一待測電路板200，且該另一待測電路板200在預設位置之後，控制電路103會控制主機板101由睡眠狀態喚醒。

在本實施例中，切換控制電路103為第一測試模式還是第二測試模式是根據主機板101所運行的測試程式來決定的。當主機板101運行的為一般的測試程式，即測試完成之後關機，那麼選擇第一測試模式。當主機板101運行的為熱插拔測試程式，即測試完成之後主機板休眠，那麼選擇第二測試模式。

綜上所述，本實施例所提供的測試裝置提供測試機台的上電、開機、(關機)斷電與放電自動化控制。另外，測試裝置提供一種自動化測試方法，其可按照實際操作的時間順序來對待測電路板進行生產性的順序測試，控制機台的上電、開機、及關機後的斷電與測試完後的機台放電處理，且測試裝置具有兩種操作模式，常規的正常測試模式與熱插拔測試工作模式，方便機台的工作模式切換與調試。

雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

10．．．機台

100．．．測試裝置

101．．．主機板

102．．．偵測單元

103．．．控制電路

104．．．第二連接部

105．．．模式切換開關

106．．．夾持部

107．．．移動部

108．．．操作部

109．．．功能測試連接部

110．．．固定部

200．．．待測電路板

201．．．第一連接部

S300~S325．．．步驟

圖1為本發明較佳實施例的測試裝置的功能方塊圖。

圖2為本發明較佳實施例中測試裝置的示意圖。

圖3為本發明較佳實施例的自動化測試方法的流程圖。

圖4a為本發明一較佳實施例之測試裝置在第一測試模式的工作流程圖。

圖4b為本發明一較佳實施例之測試裝置在第二測試模式的工作流程圖。

100．．．測試裝置

101．．．主機板

102．．．偵測單元

103．．．控制電路

104．．．第二連接部

105．．．模式切換開關

200．．．待測電路板

201．．．第一連接部

Claims (13)

1. 一種測試裝置，用以測試一待測電路板，該測試裝置包括：一主機板；一偵測單元，用以偵測該待測電路板是否位於一預設位置，若該待測電路板位於該預設位置，則該偵測單元提供一偵測信號；以及一控制電路，耦接該偵測單元和該主機板，且依據該偵測信號延遲一預設時間來控制該主機板開機，以測試該待測電路板。
2. 如申請專利範圍第1項所述的測試裝置，其中該待測電路板包括一第一連接部，該測試裝置還包括多個第二連接部，該些第二連接部之一用以耦接該待測電路板的該第一連接部。
3. 如申請專利範圍第1項所述的測試裝置，還包括：一移動部；以及一夾持部，可滑動地設置在該移動部，該夾持部用以夾持該待測電路板，使得該待測電路板移動而與該主機板耦接。
4. 如申請專利範圍第3項所述的測試裝置，其中該偵測單元為按壓式彈片，當該待測電路板透過該夾持部與該移動部移動至該預設位置時，該待測電路板按壓該偵測單元，該偵測單元發生變形並接通電路，而發出該偵測信號。
5. 如申請專利範圍第1項所述的測試裝置，還包括一模式切換開關，耦接該控制電路，以切換該控制電路於一第一測試模式或一第二測試模式下操作。
6. 一種自動化測試方法，用以測試一待測電路板，該待測電路板可耦接一主機板，該自動化測試方法包括以下步驟：偵測該待測電路板是否位於一預設位置；若該待測電路板位於該預設位置，則提供一偵測信號；以及依據該偵測信號延遲一預設時間來控制該主機板開機，以測試該待測電路板。
7. 如申請專利範圍第6項所述的自動化測試方法，還包括：夾持該待測電路板；以及移動該待測電路板，使得該待測電路板於該預設位置耦接該主機板。
8. 如申請專利範圍第6項所述的自動化測試方法，其中在依據該偵測信號延遲該預設時間來控制該主機板開機，以測試該待測電路板的步驟之後，使得該主機板關機。
9. 如申請專利範圍第6項所述的自動化測試方法，其中在依據該偵測信號延遲該預設時間來控制該主機板開機，以測試該待測電路板的步驟之後，斷開該主機板的電源。
10. 如申請專利範圍第9項所述的自動化測試方法，其中在斷開該主機板的電源之後，對該主機板進行失電開機，用以對該主機板放電。
11. 如申請專利範圍第6項所述的自動化測試方法，還包括：切換一工作模式，使得該主機板於一第一測試模式或一第二測試模式下操作。
12. 如申請專利範圍第6項所述的自動化測試方法，其中在依據該偵測信號延遲該預設時間來控制該主機板開機，以測試該待測電路板的步驟之後，該主機板進入一休眠狀態。
13. 如申請專利範圍第12項所述的自動化測試方法，其中在測試另一待測電路板時，若該另一待測電路板位於該預設位置，則於該預設時間後控制該主機板由該休眠狀態喚醒，以測試該另一待測電路板。