TWI381299B

TWI381299B - 電容式觸控面板的觸碰偵測方法

Info

Publication number: TWI381299B
Application number: TW97138776A
Authority: TW
Inventors: Ming Chuan Lo
Priority date: 2008-10-07
Filing date: 2008-10-07
Publication date: 2013-01-01
Also published as: TW201015409A

Description

電容式觸控面板的觸碰偵測方法

本發明係關於一種觸控面板的偵測方法，特別是關於一種抗雜訊的觸控面板的觸碰偵測方法。

電容式觸控面板是藉由手指(觸碰物)的帶電特性來進行控制的輸入裝置。當觸碰物觸碰到觸控面板，或者在觸碰面板上滑動時，觸控面板上的電容量即會發生改變，藉由偵測此電容量改變的技術，即可計算出代表觸碰物的游標移動量。因為電容式觸控面板的厚度較薄，所以能設計於較薄的筆記型電腦、鍵盤、數位播放器等等裝置中。

第1圖係為習知的二維電容式觸控面板100，其包括有：面板102、Y軸感應層104、絕緣層106、X軸感應層108及底板110。當手指112觸碰到面板102時，其所觸碰的位置將會有相應的電容量改變，亦即，形成一感應量。而連接觸控面板100的控制電路可將觸控面板上的電容量之改變轉換為感應量，如第2圖所示，藉由對此感應量的偵測，即可判斷手指的位置、位移量及移動的方向。

在習知技術中，要確認觸碰物是否觸碰電容式觸控面板100係以偵測到的感應量大小作為判斷的依據，如第3圖所示。當感應量大於閥值th時，表示觸碰物碰觸觸控面板100；反之，當感應量小於閥值th時，表示觸碰物離開觸控面板100或是觸控面板100上沒有觸碰物存在。

然而，觸控面板100可能受到如手機等無線裝置信號的干擾而產生雜訊，使觸控面板100誤判有觸碰物在其上進行觸碰、點擊、移動或其他的手勢操作。第4A圖係在觸控面板100上所產生的雜訊示例，該雜訊經類比數位轉換(ADC)得到感應量，如第4B圖所示者，最後再經取樣得到第4C圖的波形圖。這樣的波形圖類似兩隻手指觸碰觸控面板100時所產生的波形圖，如第5圖所示者。因此第4A圖的雜訊可能被誤判為兩隻手指觸碰觸控面板100，造成錯誤的操作。

因此，如何開發能夠防止雜訊干擾的偵測方法，成為觸控面板技術開發的重點。

鑑於以上習知技術的問題，本發明提供一種電容式觸控面板的觸碰物偵測方法，以達到運算容易，且可快速進行位置計算之目的。

本發明的另一目的在於，提供一種電容式觸控面板的觸碰物偵測方法，可提高觸碰物偵測的抗雜訊能力。藉由鄰感應量的計算，即可排除外界的雜訊干擾源。

為達上述目的，本發明提供一種電容式觸控面板的觸碰物偵測方法，係運用於具有第一軸向與第二軸向之矩陣型觸控面板，包括下列步驟：偵測該觸控面板之第一軸向之各掃描線物理量；以及，依據該掃描線物理量計算相鄰兩掃描線之鄰變化量；其中，若該鄰變化量具有一正負值轉換點，表示有一觸碰物觸碰該觸控面板，該正負值轉換點之位置即為該觸碰點之位置。

更進一步，本發明提供一種電容式觸控面板的多觸碰物偵測方法，係運用於具有第一軸向與第二軸向之矩陣型觸控面板，包括下列步驟：偵測該觸控面板之第一軸向之各掃描線物理量；以及依據該掃描線物理量計算相鄰兩掃描線之鄰變化量；其中，若該鄰變化量具有多個正負值轉換點，表示有多個觸碰物觸碰該觸控面板，該多個正負值轉換點之位置即為該觸碰點之位置。

為讓本發明之上述和其他目的、特徵、和優點能更明顯易懂，下文特舉數個較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下：

當觸碰物觸碰到觸控面板時，觸控面板的被觸碰處會有相應的物理量的改變。本發明係運用每次偵測到的掃描線物理量，計算出每相鄰兩掃描線的差值，亦即，鄰感應量差，來進行判斷是否有觸碰物觸碰觸控面板。

請參考第6圖，其係為觸控面板的電路所呈現之物理量圖形，其係以對X軸之掃描線進行物理量偵測的實施例。X0,X1,X2,...X7掃描線的物理量，分別為Cx0,Cx1,Cx2,...Cx7，其中，Cx0,Cx1,Cx3,Cx4,Cx5,Cx6,Cx7的物理量均為電容均值Ce(Equivalent Capacity)，而Cx2的值為Ce＋△Cx2。此示範例說明了在X2點有發生觸碰感應的情形。在平時，無感應發生時，每點的物理量，亦即，電容值均為Ce，在感應發生時，電容量隨即發生改變。

本發明係藉由掃描線之間所測得電容量差異值，來達到判斷觸碰物觸碰的目的。請參考第7圖，其為運用差值轉換電路來進行兩掃描線之間的物理量差異值計算的示意圖。運用轉換電路310來將電容值(Capacity)轉換為電壓值(Voltage)，其中，電容值的輸入，分別以兩條掃描線Xa,Xb的電容值Ca,Cb來做兩端的輸入。

在平常的狀態，兩條掃描線Xa,Xb的電容值Ca,Cb應為等值者，亦即，前述的Ce值，因此，差值轉換電路310的轉換輸出端Vout＝A(Ca－Cb)的值，應為零。一旦兩條掃描線Xa,Xb的輸入，亦即Ca,Cb有差異時，Vout隨即產生變化。

將第6圖的電容值進行差值計算的電路，可如第8圖所示者，電容Cx0,Cx1,Cx2,Cx3,Cx4,Cx5,...Cxm,Cy0,Cy1,...,Cyn分別代表X0,X1,X2,X3,X4,X5,...Xm,Y0,Y1,...,Yn掃描線的電容值，其為即時測量的值，亦即，電容均值Ce加上感應量△C(m＋n)。透過控制切換開關S10,S11,S12,S13,S14,S15,...,S1(m＋n)，即可具體將相鄰兩條掃描線的物理量，亦即，本實施例的電容量相減，進而獲得所選取的鄰感應量。

實際計算獲得的鄰感應量圖如第9圖所示者，其即為依據第6圖之兩掃描線之物理量差值所得出的圖形。圖中呈現了兩個鄰感應量，分別為：V_D1 ＝A(Cx2－Cx1)＝△Vx2,V_D2 ＝A(Cx3－Cx2)＝－△Vx2。

觀察第9圖的感應量變化可發現，鄰感應量V_D1 與V_D2 的值，由正值(△Vx2)轉為負值(－△Vx2)。當有此種正值轉為負值的情形發生時，即可判定有觸碰物觸碰。

除了運用正值轉為負值情形發生來判定有觸碰物觸碰外，亦可透過閥值的大小來進行判定，以下分別說明之：1.當正值的差值大小超過第一閥值Th1(Threshold,Th)時，即可判斷為有觸碰物觸碰到觸控面板。

2.負值的差值大小低於第二閥值－Th2，即可判斷為有觸碰物觸碰到觸控面板。

3.採取兩個閥值同時判定，亦即，正值的差值大小超過第一閥值Th1時，且負值的差值大小低於第二閥值－Th2，即可判斷為有觸碰物觸碰到觸控面板，其中，正閥值與負閥值可以不同。

4.以上的第一閥值Th1,第二閥值－Th2,其絕對值可以兩者相同，或者兩者不同。可由實際的實驗得出兩者實際的值。

第9圖轉換後的鄰感應量為放大過後的值，只要符合前述的閥值判斷基準，即可判斷為有觸碰物觸碰觸控面板。

觸碰物的觸碰判斷，除了正負值轉換點的方式，或者採用前述的閥值判斷方式外，亦可採取兩種方式綜合判斷。

至於觸碰點的位置，則可由第9圖來進行判斷，藉由正負值轉換的點來進行觸碰點的位置判斷。在本實施例中，由於V_D1 與V_D2 的值分別超過閥限值Th1,－Th2，因此，發生在D1與D2的點可得到觸碰點，亦即，觸碰物的觸碰位置發生在X1~X3之間，亦即X2。

相反地，如果第9圖的判斷觸碰物觸碰之觸碰條件消失，亦即，以正負值轉換點或者閥值的判斷，即可判斷為觸碰物離開觸碰面板。亦即，在一定時間(T1)內，前述的判斷觸碰的條件消失，即可判斷觸碰物離開。

運用相同的判斷方法，本發明亦可進行多點的觸碰判斷。請參考第10圖，其係為觸控面板之有兩個觸碰點的物理量改變圖形。本實施例的掃描線物理量，在X0,X1,X2,...X7處分別為Cx0,Cx1,Cx2,...Cx7，其中，Cx0,Cx1,Cx3,Cx4,Cx6,Cx7的物理量均為Ce(Equivalent Capacity)，而Cx2的值為 Ce＋△Cx2，Cx5的值為Ce＋△Cx5。此示範例說明了在X2,X5點有發生觸碰感應的情形。在平時，無感應發生時，每點的物理量，亦即，電容值均為Ce，在感應發生時，電容量隨即發生改變。

實際計算獲得的鄰感應量圖如第11圖所示者，其即為依據第10圖之兩掃描線之物理量差值所得出的圖形。圖中呈現了四個鄰感應量，分別為：V_D1 ＝A(Cx2－Cx1)＝△Vx2,V_D2 ＝A(Cx3－Cx2)＝－△Vx2,V_D4 ＝A(Cx5－Cx4)＝△Vx5,V_D5 ＝A(Cx6－Cx5)＝－△Vx5。

觀察第11圖的物理量變化可發現，鄰感應量V_D1 與V_D2 的值，由正值(△Vx2)轉為負值(－△Vx2)；鄰感應量V_D4 與V_D5 的值，由正值(△Vx5)轉為負值(－△Vx5)。當有此種正值轉為負值的情形發生時，即可判定有觸碰物觸碰。

另外，可透過閥值的大小來進行判定，分別為：1.當正值的差值大小超過第一閥值Th1(Threshold,Th)時，即可判斷為有觸碰物觸碰到觸控面板。

3.採取兩個閥值同時判定，亦即，正值的差值大小超過第一閥值Th1時，且負值的差值大小低於第二閥值－Th，即可判斷為有觸碰物觸碰到觸控面板，其中，正閥值與負閥值可以不同。

以上幾種判斷方式，係藉由相同的判斷標準來判斷所有的觸碰點，不論是一個、兩個、三個...觸碰點。實際應用上，亦可採取單獨一個觸碰點進行判斷的方式，亦即，單獨以每點來進行不同的判斷方式，例如：5.每個點均單獨採取一個判斷標準，例如，正值的差值大小超過第一閥值Th1(Threshold,Th)時來判斷或負值的差值大小低於第二閥值－Th2；因此，如果有兩個點，將有四種判斷方式，(i)第一點採取正值閥值判斷，第二點亦採取正值閥值判斷，此種判斷方式，同前述的實施例；(ii)第一點採取正值閥值判斷，第二點採取負值閥值判斷；(iii)第一點採取負值閥值判斷，第二點採取正值閥值判斷；(iv)第一點採取負值閥值判斷，第二點亦採取負值閥值判斷。如果有三個點，亦可類推，其具有2x2x2，亦即，八種判斷方式。其餘者可類推。

6.有些點採取一個判准來判斷，有些點採取兩個判准來判斷，例如，某些點採取正值的差值大小超過第一閥值Th1(Threshold,Th)時來判斷或負值的差值大小低於第二閥值－Th2，其他點則同時採取兩個閥值同時判定。因此，如果有兩個點，將有四種判斷方式，(i)第一點採取正值閥值判斷，第二點則採取兩個閥值判斷；(ii)第一點採取負值閥值判斷，第二點採取兩個閥值判斷；(iii)第一點採取兩個閥值判斷，第二點採取正值閥值判斷；(iv)第一點採取兩個閥值判斷，第二點採取負值閥值判斷。如果有三個點，判斷方法則有更多種組合，共有3x3x3＝27種判斷方法。其餘者可類推。

7.以上的第一閥值Th1,第二閥值－Th2,其絕對值可以兩者相同，或者兩者不同。可由實際的實驗得出兩者實際的值。

透過前述的閥值判斷基準，即可判斷為有觸碰物觸碰觸控面板。

同樣地，觸碰物的觸碰判斷，除了正負值轉換點的方式，或者採用前述的閥值判斷方式外，亦可採取兩種方式綜合判斷。

而觸碰的點，則由第11圖來進行判斷，判斷方式為：正負值轉換的點，在本實施例中，由於V_D1 與V_D2 的值分別超過閥限值Th1,－Th2，因此，發生在D1與D2的點可得到觸碰點，亦即，觸碰物的觸碰位置發生在X1~X3之間，亦即X2；因此，發生在D4與D5的點可得到觸碰點，亦即，觸碰物的觸碰位置發生在X4~X6之間，亦即X5。

相反地，如果第11圖的判斷觸碰物觸碰之觸碰條件消失，亦即，以正負值轉換點或者閥值的判斷，即可判斷為觸碰物離開觸碰面板。。亦即，在一定時間(T1)內，前述的判斷觸碰的條件消失，即可判斷觸碰物離開。

以上的實施例，係採用Y軸固定，掃描X軸上的掃描線物理量來判斷觸碰點者；X軸固定，並偵測Y軸的掃描線物理量來判斷Y軸的觸碰點方法亦相同。

在本發明的差分架構的計算下，雜訊將成為共模雜訊，在相鄰兩掃描線的差異值相減後，將被直接抑制。因此，本發明具有抗雜訊的功能。此外，在差異值的轉換過程中，可提高轉換的倍率，亦即，A值的大小，藉以讓輸出的資訊，可快速地計算出有觸碰的情形。此外，更可讓輸出僅儲存帶電量改變的值，不需儲存無意義的資訊。

此外，在觸碰物觸碰的判斷上，亦可採取以下的方式來進行。例如，僅比較X2/X0,X4/X2,X6/X4...的鄰感應量，並採取前述的觸碰物觸碰的判斷方法，可應用在低解析度之應用需求；或者，採取一條掃描線固定，將其他掃描線與之比較，所得到的感應量差值，藉由前述的觸碰物觸碰的判斷方法，同樣可進行觸碰物的觸碰判斷。由此延伸，本發明之運用鄰感應量來判斷觸碰物觸碰的方法，係為採取掃描線之間的差異值計算(Differential Calculation)結果，來進行觸碰物判斷者。

本發明所提出之運用差異值計算(Differential Calculation)的方法運用在觸碰面板上，除了進行觸碰物的判斷外，亦可作為其他的不同應用。例如，進行電容均值的計算，以進行在觸碰物觸碰時的電容值差異值計算前進行歸零，在無觸碰物觸碰的時候，其可透過相鄰兩掃描線的差異值計算；或者，固定一條，其他掃描線與之比較的差異值計算；或者，其他的差異值計算方式。

延伸本發明的方法，亦即，採用本發明所提出的差異值計算(Differential Calculation)方法，可進行觸控面板的各種不同的應用。亦即，運用本發明，將觸控面板的任意兩條掃描線的差異值計算，以做各種應用。此種任意兩條掃描線的比較方式，可透過第8圖的實施例輕易達成。

此外，若掃描方式為由X7,X6,...X0(降冪，原為升冪的方式，亦即，X0,X1,...X7)的方向，則轉換點的鄰感應量將在有觸碰物觸碰時，變為由負轉正。同樣地，閥值的判斷基準相同。

雖然本發明之較佳實施例揭露如上所述，然其並非用以限定本發明，任何熟習相關技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之專利保護範圍須視本說明書所附之申請專利範圍所界定者為準。

100‧‧‧觸控面板

102‧‧‧面板

104‧‧‧Y軸感應層

106‧‧‧絕緣層

108‧‧‧X軸感應層

110‧‧‧底板

112‧‧‧手指

310‧‧‧轉換電路

Cx2‧‧‧X2之物理量

Cx5‧‧‧X5之物理量

△Cx2‧‧‧X2之感應量

△Cx5‧‧‧X5之感應量

Ce‧‧‧電容均值

D0‧‧‧X1減去X0之鄰感應量

D1‧‧‧X2減去X1之鄰感應量

D2‧‧‧X3減去X2之鄰感應量

D3‧‧‧X4減去X3之鄰感應量

D4‧‧‧X5減去X4之鄰感應量

D5‧‧‧X6減去X5之鄰感應量

D6‧‧‧X7減去X6之鄰感應量

Th1‧‧‧第一閥值

Th2‧‧‧第二閥值

X0‧‧‧X軸第0條掃描線

X1‧‧‧X軸第1條掃描線

X2‧‧‧X軸第2條掃描線

X3‧‧‧X軸第3條掃描線

X4‧‧‧X軸第4條掃描線

X5‧‧‧X軸第5條掃描線

X6‧‧‧X軸第6條掃描線

X7‧‧‧X軸第7條掃描線

第1圖係習知的二維電容式觸控面板；第2圖係第1圖的觸控面板上感應量與位置的關係圖；第3圖顯示兩隻手指觸碰觸控面板後所偵測到的感應量變化；第4A圖顯示一雜訊之波形圖；第4B圖係第4A圖中雜訊經類比數位轉換所得到的感應量；第4C圖係將第4B圖取樣後的波形圖；第5圖係兩隻手指觸碰觸控面板時所偵測到的波形圖；第6圖係為觸控面板的電路所呈現之物理量圖形；第7圖係為運用差值轉換電路來進行兩掃描線之間的物理量差異值計算的示意圖；第8圖係為差值計算電路示意圖；第9圖係為第8圖之兩掃描線之物理量差值所得出的鄰感應量圖形；第10圖係為觸控面板之有兩個觸碰點的物理量改變圖形；以及第11圖係為為依據第10圖之兩相鄰掃描線之物理量差值所得出的鄰感應量圖形。

Th1‧‧‧第一閥值

－Th2‧‧‧第二閥值

Claims

一種電容式觸控面板的觸碰物偵測方法，係運用於具有第一軸向與第二軸向之矩陣型觸控面板，包括下列步驟：偵測該觸控面板之第一軸向之各掃描線物理量；以及依據該掃描線物理量選擇兩條掃描線進行差異值計算出鄰變化量；其中，當該差異值計算具有正負值轉換、鄰變化量閥值超越，兩者其中之一的情形時，即判斷有觸碰物觸碰。
如申請專利範圍第1項之方法，其中該兩條掃描線之選擇係為以下之一；I.相鄰兩條，逐次比較，例如X1/X0,X2/X1,X3/X2,...依此類推；II.間隔掃描線，逐次比較，例如，X2/X0,X4/X2,X6/X4,...依此類推；III.一條掃描線固定，其他掃描線與之比較。
如申請專利範圍第2項之方法，其中該鄰變化量係採升冪方式計算，且該正負值轉換係為由正值轉換為負值。
如申請專利範圍第2項之方法，其中該鄰變化量係採降冪方式計算，且該正負值轉換點係為由負值轉換為正值。
如申請專利範圍第2項之方法，其中該第一軸向與第二軸向，係分別為X軸、Y軸，Y軸、X軸，其中之一。
如申請專利範圍第3或4或5項之方法，其中該正負值轉換、閥值超越，其中之一之觸碰物觸碰判斷之條件停止一預設時間後，即確認該觸碰物離開。
如申請專利範圍第2項之方法，其中該閥值超越係為該鄰變化量中正值者大於一第一閥值，即確認該觸碰物觸碰。
如申請專利範圍第2項之方法，其中該閥值超越係為該鄰變化量中負值者係小於一第二閥值，即確認該觸碰物觸碰。
如申請專利範圍第2項之方法，其中該閥值超越係為該鄰變化量中正值者係大於一第一閥值，且負值者係小於一第二閥值，即確認該觸碰物觸碰。
如申請專利範圍第9項之方法，其中該第一閥值之絕對值係等於，小於，大於該第二閥值之絕對值，其中之一，即確認該觸碰物觸碰。
一種電容式觸控面板的觸碰物偵測方法，係運用於具有第一軸向與第二軸向之矩陣型觸控面板，包括下列步驟：偵測該觸控面板之第一軸向之各掃描線物理量；以及依據該掃描線物理量選擇兩條掃描線進行差異值計算出鄰變化量；其中，當該差異值計算同時具有正負值轉換、閥值超越的情形時，即判斷有觸碰物觸碰。
如申請專利範圍第11項之方法，其中該兩條掃描線之選擇係為以下之一；I.相鄰兩條，逐次比較，例如X1/X0,X2/X1,X3/X2,...依此類推；II.間隔掃描線，逐次比較，例如，X2/X0, X4/X2,X6/X4,...依此類推；III.一條掃描線固定，其他掃描線與之比較。
如申請專利範圍第12項之方法，其中該鄰變化量係採升冪方式計算，且該正負值轉換係為由正值轉換為負值。
如申請專利範圍第12項之方法，其中該鄰變化量係採降冪方式計算，且該正負值轉換點係為由負值轉換為正值。
如申請專利範圍第12項之方法，其中該第一軸向與第二軸向，係分別為X軸、Y軸，Y軸、X軸，其中之一。
如申請專利範圍第13或14或15項之方法，其中該正負值轉換、閥值超越，其中之一之觸碰物觸碰判斷之條件停止一預設時間後，即確認該觸碰物離開。
如申請專利範圍第12項之方法，其中該閥值超越係為該鄰變化量中正值者大於一第一閥值，即確認該觸碰物觸碰。
如申請專利範圍第12項之方法，其中該閥值超越係為該鄰變化量中負值者係小於一第二閥值，即確認該觸碰物觸碰。
如申請專利範圍第12項之方法，其中該閥值超越係為該鄰變化量中正值者係大於一第一閥值，且負值者係小於一第二閥值，即確認該觸碰物觸碰。
如申請專利範圍第19項之方法，其中該第一閥值之絕對值係等於，小於，大於該第二閥值之絕對值，其中之一，即確認該觸碰物觸碰。
一種電容式觸控面板的多觸碰物偵測方法，係運用於具有第一軸向與第二軸向之矩陣型觸控面板，包括下列步驟：偵測該觸控面板之第一軸向之各掃描線物理量；以及依據該掃描線物理量選擇兩條掃描線進行差異值計算出鄰變化量；當該差異值計算具有多個正負值轉換、多個同向鄰變化量閥值超越的情形其中之一時，即判斷有多個觸碰物觸碰。
如申請專利範圍第21項之方法，其中該兩條掃描線之選擇係為以下之一；I.相鄰兩條，逐次比較，例如X1/X0,X2/X1,X3/X2,...依此類推；II.間隔掃描線，逐次比較，例如，X2/X0,X4/X2,X6/X4,...依此類推；III.一條掃描線固定，其他掃描線與之比較。
如申請專利範圍第22項之方法，其中該鄰變化量係採升冪方式計算，且該正負值轉換係為由正值轉換為負值。
如申請專利範圍第22項之方法，其中該鄰變化量係採降冪方式計算，且該正負值轉換點係為由負值轉換為正值。
如申請專利範圍第22項之方法，其中該第一軸向與第二軸向，係分別為X軸、Y軸，Y軸、X軸，其中之一。
如申請專利範圍第23或24或25項之方法，其中該正負值轉換、閥值超越，其中之一之觸碰物觸碰判斷之條件停止一預設時間後，即確認該觸碰物離開。
如申請專利範圍第22項之方法，其中該閥值超越係為該鄰變化量中正值者大於一第一閥值，即確認該觸碰物觸碰。
如申請專利範圍第22項之方法，其中該閥值超越係為該鄰變化量中負值者係小於一第二閥值，即確認該觸碰物觸碰。
如申請專利範圍第22項之方法，其中該閥值超越係為該鄰變化量中正值者係大於一第一閥值，且負值者係小於一第二閥值，即確認該觸碰物觸碰。
如申請專利範圍第29項之方法，其中該第一閥值之絕對值係等於，小於，大於該第二閥值之絕對值，其中之一，即確認該觸碰物觸碰。
如申請專利範圍第22項之方法，其中該閥值超越係為該鄰變化量中，係採取單點判斷之方式，亦即，每個點之判斷可採取以下三種判斷方式之選擇；該鄰變化量正值者係大於一第一閥值，即確認該觸碰物觸碰；該鄰變化量負值者係小於一第二閥值，即確認該觸碰物觸碰；該鄰變化量正值者係大於一第一閥值，且負值者係小於一第二閥值，即確認該觸碰物觸碰。
如申請專利範圍第31項之方法，其中該第一閥值之絕對值係等於，小於，大於該第二閥值之絕對值，其中之一。
一種電容式觸控面板的多觸碰物偵測方法，係運用於具有第一軸向與第二軸向之矩陣型觸控面板，包括下列步驟：偵測該觸控面板之第一軸向之各掃描線物理量；以及依據該掃描線物理量選擇兩條掃描線進行差異值計算出鄰變化量；當該差異值計算同時具有多個正負值轉換、多個同向鄰變化量閥值超越的情形時，即判斷有多個觸碰物觸碰。
如申請專利範圍第33項之方法，其中該兩條掃描線之選擇係為以下之一；I.相鄰兩條，逐次比較，例如X1/X0,X2/X1,X3/X2,...依此類推；II.間隔掃描線，逐次比較，例如，X2/X0,X4/X2,X6/X4,...依此類推；III.一條掃描線固定，其他掃描線與之比較。
如申請專利範圍第34項之方法，其中該鄰變化量係採升冪方式計算，且該正負值轉換係為由正值轉換為負值。
如申請專利範圍第34項之方法，其中該鄰變化量係採降冪方式計算，且該正負值轉換點係為由負值轉換為正值。
如申請專利範圍第34項之方法，其中該第一軸向與第二軸向，係分別為X軸、Y軸，Y軸、X軸，其中之一。
如申請專利範圍第35或36或37項之方法，其中該正負值轉換、閥值超越，其中之一之觸碰物觸碰判斷之條件停止一預設時間後，即確認該觸碰物離開。
如申請專利範圍第34項之方法，其中該閥值超越係為該鄰變化量中正值者大於一第一閥值，即確認該觸碰物觸碰。
如申請專利範圍第34項之方法，其中該閥值超越係為該鄰變化量中負值者係小於一第二閥值，即確認該觸碰物觸碰。
如申請專利範圍第34項之方法，其中該閥值超越係為該鄰變化量中正值者係大於一第一閥值，且負值者係小於一第二閥值，即確認該觸碰物觸碰。
如申請專利範圍第41項之方法，其中該第一閥值之絕對值係等於，小於，大於該第二閥值之絕對值，其中之一，即確認該觸碰物觸碰。
如申請專利範圍第34項之方法，其中該閥值超越係為該鄰變化量中，係採取單點判斷之方式，亦即，每個點之判斷可採取以下三種判斷方式之選擇；該鄰變化量正值者係大於一第一閥值，即確認該觸碰物觸碰；該鄰變化量負值者係小於一第二閥值，即確認該觸碰物觸碰；該鄰變化量正值者係大於一第一閥值，且負值者係小於一第二閥值，即確認該觸碰物觸碰。
如申請專利範圍第43項之方法，其中該第一閥值之絕對值係等於，小於，大於該第二閥值之絕對值，其中之一。
一種電容式觸控面板的鄰變化量偵測方法，係運用於具有M條掃描線之第一軸向與具有N條掃描線之第二軸向的矩陣型觸控面板，其特徵在於：於該第一軸向之M條掃描線與該第二軸向之N條掃描線任選兩條掃描線，進行物理量之差異比較，再將該兩條掃描線之物理量差異值進行轉換輸出為電壓值，並藉以作各種之輸出控制者。