TWI374524B - Sealed joint structure of device and process using the same - Google Patents

Sealed joint structure of device and process using the same Download PDF

Info

Publication number
TWI374524B
TWI374524B TW097151881A TW97151881A TWI374524B TW I374524 B TWI374524 B TW I374524B TW 097151881 A TW097151881 A TW 097151881A TW 97151881 A TW97151881 A TW 97151881A TW I374524 B TWI374524 B TW I374524B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
component
substrate
electrodes
electrode
sealing
Prior art date
Application number
TW097151881A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201025519A (en
Inventor
Tsung Fu Yang
Su Tsai Lu
Original Assignee
Ind Tech Res Inst
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ind Tech Res Inst filed Critical Ind Tech Res Inst
Priority to TW097151881A priority Critical patent/TWI374524B/zh
Publication of TW201025519A publication Critical patent/TW201025519A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI374524B publication Critical patent/TWI374524B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16151Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/16221Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/16225Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation

Landscapes

  • Electrotherapy Devices (AREA)

Description

1374524 P51970121TW 29474twf.doc/d 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 發明是㈣於—觀封接合結構,且_是有關於一種 同%達到元件密封及封裝效果的密封接合結構及其製程。 . 【先前技術】 ,綜觀醫療電子產品的發展趨勢,植入式(impIamabIe)微 型封裝7L件及生物相容性(bi〇c〇mpatibility )技術扮演相當重要 • 的角色,若無法達到生物相容性及密封性的要求,對植入微型 封裝元件的人體或動物而言,體液的侵蝕、降解或肌肉組織的 活動所產生的破壞而使有毒物質侵入活體内,將有相當大的危 險性。 在採用欽金屬蓋(titanium can)的生醫電子封裝元件中, 以多層陶瓷基板的電極將訊號導通至外部。此多層陶瓷基板的 製作是採用低溫共燒陶瓷(LTCC,Low-Tempemture Coflred Ceramics)技術,以金、銀、銅等低阻抗金屬做為電極,再使 用平版印刷來塗佈電路,最後在攝氏850度到9〇〇度中燒結而 鲁形成一整合式陶瓷元件’並將此整合式陶瓷元件裝入於鈦金屬 蓋的一氣閉密封空間中,而完成密封的製程。 近年來,為了達到微型化的要求,採用半導體積體電路製 程及封裝技術’可製作出各式各樣的微型封裝元件,其以矽晶 片、玻璃或高分子聚合物為基材,並結合微機電技術與生物醫 學技術,設計及製作具有微小化、快速、平行處理能力的生物 及醫療用檢測元件’例如基因晶片、蛋白質晶片、檢體處理晶 片及生物感測晶片等,充分運用分子生物學、分析化學、生化 反應等原理’在微小面積上快速進行大量生化感測或反應。 3 1374524 P51970121TW 29474twf.doc/d w ^y^/^nvLaoc/a 此外,對於心律調整器(pacemaker)、神經刺激器 (neurostimulator )或血糖監測器(bi〇〇d giuc〇se m〇njt〇r )等植 入式微型封裝元件而言,為了避免有毒物f侵人活體内, 材料及封裝可靠度在安全上扮演著非常重要的角色。 【發明内容】 本發明提出—種凡件密封接合結構,用以將—元件封褒於 蛀又邱上’該讀密封結合結構包括-緩衝凸塊層、多個導電 =邱,衝凸塊層包括多個第—部分以及一第二部分,$ 接於第—部分的外圍。多個導電接合部電性連 第-電極二ί:=該基板上的一第二電極,且各該 電接合部的外圍,^密封=生ff。密封接合部環繞於該些導 該接合環與該第-邛八° #匕括该基板上的一接合環,且 成—密封空間 刀相互接合’以使該元件與該基板之間形 本^提出-種元件密封接 成-π件的基材;形成― ^首先域-預定形 層,以形成包括多個第―日於該兀件上;圖案化該緩衝 其中該第二部分環繞於該第二部分的緩衝凸塊層, 於各該第-部分上;提供分的外圍;形成-第-電極 以及-接合環,該接合環圍c形成有多個第二電極 元件於該基板上,其_各^°二亥些第二電極的外圍。配置該 ί該第二電極電性連接,=接1=^各該第二電極並與 δ,=該元件與該基板之間形第二部分相互接 本發明提出1元件 ^在封工間。 件山封接合結構’用以將一元件封裝於 1374524 P51970121TW 29474twf.d〇c/d 接t該Ϊ件密封結合結構包括-緩衝凸塊層、多個導電 ^ 合部。_凸塊層配置於該元件與該基板 分,且^有多健墊’而該緩衝^層具有—環狀部 二連it °多辦電接合部電 牛板之間’其中各個導電接合部包括該元 ’且各該金屬凸塊與各該第二電_性 戈 些且導;接合部的外圍,該密封接合部包括二 該互接合,以使該元件^ 本發明提出-種元件密封接合製程。首先… t-凡件的基材,該元件具有多個接墊;形成—緩衝:形 二上盆,案化該緩衝層,以形成具有—環狀分^衝= 狀部ί環繞於該些接塾的外圍;形成== 各該金屬凸塊與各該接塾電性連接if 基板,該基板形成有多個第二電極以及一接合^一 的外圍。配置該元件於該基板二 孟屬凸塊對應於各該第二電極並與各該第二^中各该 該接合㈣额該微部分相 使^連接,且 間形成一密封空間。 便該凡件與該基板之 為讓本考X明之上述特徵和 施例,並配合所附圖式作詳細說明如’下文特舉實 【實施方式】 圖1Α及圖1Β為本發_者 剖面示意圖。圖2A〜_為-二二=== 5 1374524 P51970121TW 29474hvf.doc/d 作方法的流程示意圖。 °月參考圖1A’元件您封接合結構1〇〇1包括一緩衝凸塊層 110、多個導電接合部120以及一密封接合部13〇。其中,^ 衝凸塊層110例如以圖案化的製程形成多個第_部分、丨丨〇 a以 及一環繞於這些第一部分ll〇a的外圍的第二部分n〇b (環狀 部分)。缓衝凸塊層110的材質可為高分子材料的聚合物广例 如是環氧樹脂或聚醯亞胺樹脂等,其作法是將高分 在預定形成元件U)㈣基材(例如是石夕晶圓)上,再進行曝光佈 φ 顯影製程或光蝕刻、乾蝕刻等製程,以使高分子材料形成預定 的圖案(多個第一部分110a以及環繞於這些第—部分i 1〇a的 外圍的第二部分110b)。 有關缓衝凸塊層110的圖案化製程及詳細的結構,請參考 圖2A〜圖2D。首先,提供一基材w,例如是半導體基材,用 以形成一個或多個積體電路元件100 (僅繪示其一)^此元件 100具有一主動表面100S以及一保護層1〇〇p,而接墊1〇2(僅 緣示其一)配置於主動表面100S上,且保護層1〇〇1>覆蓋主動 表面100S並顯露出接墊102。接著,請參考圖2B及圖2C, • 以濺鍍或蒸鍍方式全面性形成—金屬層104於保護芦1〇〇p ^ 及接墊1〇2上,並形成一缓衝材料110,(高分子材料3或感光型 的高分子材料)於元件100上。接著,請參考圖2D,圖案化 緩衝材料110’,例如是進行曝光、顯影製程或光蝕刻、乾蝕刻 製程,以形成包括多個第一部分U〇a (僅繪示其一)以及二 第二部分ii〇b的緩衝凸塊層110’其中第二部分、n〇b環繞於 這些第一部分ll〇a的外圍’因此,第二部分11%也就是將多 個第-部分UOa完整包覆於其中的一環狀凸起結構,同時具 有緩衝及密封的功效。之後,請參考圖2E,以減鑛或蒸錢^ 6 1374524 P51970121TW 29474twf.doc/d =式形成-第-電極S1 (其材質 第一部分11叫例如_—部分個 ,屬層104經過_之後成為凸塊底金屬層^a H)步 盍於各個第一部份11〇a的第一電極S1電性 ,、復 封製程以及元件封裳步驟能同^^ 、、,。構上相互为離。但在另一實施例中,這些 ==服之間在結構上相互連接,心具^衝及密; =m所示的另—實施例,元件密封接合結構麵包 緩衝凸塊層11G、多個導電接合部12G以及—密封接合部
-1。八其]!V缓衝凸塊層11G例如關案化的製程形成多個第 八。及—環繞於這些第—部分咖的外圍的第二部 刀騰。有關缓衝凸塊層110的製作方法請參考圖2A〜圖2D 的步驟’在此不再詳述。本實施織目1A的元件密封結合结 構及圖2A〜圖2D的製程不同的是,這些第一部分u〇a^ 二部分lib之間具有一第三部分(連接部)u〇c,且在結構上 相互連接為一體(材質相同),未經由蝕刻而形成間距,故能 加強控封的接合強度,並同時達到元件密封及封裝的效果。 接著,請參考圖1A及圖1B,導電接合部12〇電性連接 於元件100與基板140 (例如是印刷電路板)之間,用以將電 訊號經由基板140輸入到元件100或經由基板14〇輸出到外 部,而各個導電接合部120包括覆蓋於各個第一部分u〇a的 一第一電極S1以及基板140上的一第二電極S2,且各個第一 7 1374524 P51970121TW 29474tw£doc/d 與各個第二電極幻例如藉由第一黏著金屬層HI (錄 二:3鎢合金)電性連接。此外,密封接合部⑽環繞於 合部120的外圍。密封接合部包括基板M0上 n Q&R1(其材質例如是銅、喊金),環繞於這些第 二外圍且接合環ri與第二部分應例如藉由第 屬層H2 (錄金合金或鈦鶫合金)以及第三黏著金屬 ^ H3 (鎳金合金或鈦鶴合金)相互接合而形成一氣閉密封結 構’以使讀1〇〇與基板14〇之間形成一密封空間c。
—在上述的二實施例t,第一黏著金屬層m <列如以賴或 洛鑛的方式形成於各個第—電極81上(參見圖況),而第二 黏^金屬層H2(可與第一電極S1同一道步驟形成)以及第三 黏著金屬層H3例如分別形成於第二部分職以及接合環幻 上,而當元件100配置於基板14〇上時,更可進行—熱壓合步 驟’以使各個第一黏著金屬層H1電性接合於各個第一電極W 與各個第二電極S2之間’而第二黏著金屬層H2與第三黏 金屬層H3緊检地接合(共晶接合)於接合環幻與第二部分 lJOb之間’以加強密封的接合強度。但第一黏著金屬層出: 第二黏著金屬層H2與第三黏著金屬層出僅為本發明的實施 例,並非用以限制本發明。 、 圖3A及圖3B為本發明另二實施例之元件密封接合結構 的剖面不意圖。請參考圖3A及圖3B,此元件密封接合結構 1003、1004用以將一元件100封裝於一基板15〇 (例如是軟性 電路板)上,而基板150的第一表面上除了具有多個第二電極 S2以及一接合環R1之外,基板15〇的第二表面更包括多個第 二電極S3。這些第三電極S3通過基板150的導通孔152分 與這些第二電極S2電性連接。此外,各個第三電極%上更包 8 1374524 P51970121TW 29474twf.doc/d 括一神經刺激電極S4(或導電貼片),可用於經皮電神經刺 激器(TENS,Transcutaneous Electro Nerve Stimulator)中。各個 神經刺激電極S4可經由其尖端放電,以提供電治療或肌肉復 健所需的刺激電流。 人另外,圖4A及圖4]B為本發明另二實施例之元件密封接 合結構的剖面示意圖,其中圖4A為具有生物相容性塗層17〇 的元件岔封接合結構1005的剖面示意圖,而圖4B為堆疊型封 裝的元件费封接合結構1〇〇6的剖面示意圖。請先參考圖, 以心律調整器、神經刺激器或血糖監測器等植入式生醫元件為 例,此元件密封接合結構1005用以將元件1〇〇 (例如單晶片、 =)封裝於-基板150上’而基板15〇可藉由多個導電體 號鮮球)與一承載器160的接塾162電性連接,以將訊 虎傳遞到活體的外部,且基板15()上更包括—生物相容性塗層 的= 列如是石夕膠等無毒性高分子聚合物),其覆蓋於元件⑽ 的組織產強70件100的覆蓋率及密封性,更不會對活體 用以^彳’請參考圖犯,堆疊型封裝的元件密封接合結構祕 片元件^兀件⑽(例如植人式生W元件或其他用途的單晶 件,裝在各個基板150上,以形成堆疊型多晶片封裝元 二電極Λ件驗的第一電極S1與第^板15〇a的第 多個導電體S ^接如^f、第一基板15〇&的第三電極S3經由 穿孔% f (一 ㈣)及穿過第二元件100b的多個導電 - /、第二元件100b的金屬接墊102電性連接,接著笛一 ΐ接=si與第二基板15%的第二電㈣紐 (你丨日、—土板15〇t>的第二電極S3經由多個導電髀 •早球)與承載器160的接㈣2電性連接,以將訊號傳 9 1374524 P51970121TW 29474twf.doc/d 到外部。如同圖4A所述,各個基板150上更包括一生物相容 性塗層170 (例如是石夕膠荨無毒性高分子聚合物),其覆罢於 各個元件100的周圍,除了加強各個元件100的覆蓋率及密封 性,更不會對活體的組織產生危害。當然,生物相容性&層 170亦可以其他高分子塗層(例如環氧樹脂)取代,並非用二 限制本發明。 再者’圖5A及圖5B為本發明另二實施例之元件密封接 合結構的剖面示意圖。請參考圖5A及圖5B,此元件密封接人 _ 結構1007、1008用以將一元件1〇〇封裝於一基板14〇、15〇上3, 而基板14〇、15〇的第一表面上具有多個第二電極S1以及—接 合環R1。此外,基板150的第二表面更包括多個第三電極S3。 各個第三電極S3通過基板150的導通孔152分別與各個第二 電極S2電性連接。此外,在圖5B中,各個第三電極幻上更 包括二神經刺激電極S4 (或導電貼片),可用於經皮電神經 刺激益(TENS)中。各個神經刺激電極S4可經由其尖端放♦ 以提供電治療或肌肉復健所需的刺激電流。然而,圖5a^圖 5B的實施例與上述二實施例(參見圖1A、3A)不同的是,ς •衝凸塊層110的第一部分110a不是、經由凸塊底金屬層104a形 成,接墊102的上方,而是形成在接墊1〇2附近的保護層上二 接著再經由濺鍍或蒸鍍的方式形成第—電極S1於各個θ接墊 10^與各個第一部分110a之間(例如覆蓋各個接墊1⑽與各 個第一部分110a的側壁及上表面),以使各個接墊丄⑽藉由 各個第一電極S1與各個第二電極S2電性連接。 曰 有關圖5A及圖5B的緩衝凸塊層11〇的製程與上述的圖 2D及圖2E的缓衝凸塊層110的製程類似,不同之處在於省略 圖2B的凸塊底金屬層104的製程,且於圖案化緩衝凸塊層 1374524 P51970121TW 29474twf.d〇〇/d 之後’再以着或蒸鑛的方式形成—第—電極幻,以電 接各#1接塾1G2。因此,緩衝凸塊層11〇的第 位置不蚊位於接塾1G2的上方,亦可經由重 = S1往内,伸’以適合抑需杨接點設計。 接著® 6A及圖6B為本發明另二實施例之元件 合結構的剖面示意圖。請參考圖6A及圖6B,元件密封接合許 構1009—、1〇1〇包括—緩衝&塊層11〇、多個導電接合部^ 以及-密封接合部13〇。其中,緩衝凸塊層削是以高分 料的聚合物來製作環狀部分譲(圖6B中),並採用導電材 質來製作多個金屬凸塊S3 (取代原先的第—部分iiQa),且 金屬凸塊S3可藉由凸塊底金屬層1()4a與各個接塾搬電性連 接’以使第-電極S卜金屬凸塊S3以及第二電極S2構成— 具有電性連接功能的導電接合部12〇,而環繞於這些金屬凸塊 S3周圍的環狀部分11〇(1與密封接合部13〇接合,同時具有密 封及緩衝的功政,以使元件1〇〇與基板14〇之間形二二 間C。 山 有關圖6A及圖6B的金屬凸塊S3的製程與上述的圖2D •及圖2E的緩衝凸塊層110的製程類似,不同之處在於以電鍵 方式形成金屬凸塊S3於接墊1〇2上,且於形成金屬凸塊S3 之後,再以濺鍍或蒸鍍的方式形成一第一電極S1,以覆蓋各 個金屬凸塊S3。 皿 在本實施例中,上述的金屬凸塊S3的材質若為金時,可 直接藉由第一黏著金屬層H1與第二電極S2電性連接,而不 需先形成第一電極S1於金屬凸塊S3上。另外,金屬凸塊S3 之材質若為銅或銅合金時,可藉由金屬凸塊S3上的第一電極 Sl做為抗氧化層(例如鎳/金層),以避免銅表面的氧化。 11 1374524 P51970121TW 29474^^ 綜上所述,本發明提出録元件密封接 ^用^各式各樣的微型封裝元件上,例如基因晶^蛋^質 =㈣處理W及生物感測晶片等或者是植人式生醫元 =藉由緩衝凸塊層來加強密封的接合強度,更可同時 # 1二③封及封I的效果,避免有毒物質侵人活體内。此 :罩同一道圖案化製程完成,不需額外製作多個 封制栽汉光罩製程’以減少製程的步驟,並使後續的密 以及元件封裝步驟能同時進行,進 裝製程及降低生產成本。 W訂 雖然本發明已以實施例揭露如上,然其並非用以限定本發 j、’任何關技觸域巾具有通常知識者,在賴離本發明之 ^和㈣内’當可作些許之更動與潤飾,故本發明之保護範 圍备視後附之申請專利範圍所界定者為準。 【圖式簡單說明】 實施例之元件密封接合結構的 圖1A及圖1B 剖面示意圖。 ★圖2A〜圖2E為圖.1A之元件密封接合結構的製作方法的 程示意圖。 圖3A及圖3B為本發明另二實施例之元件密封接合 的剖面示意圖。 ^ 圖_4A及圖4B為本發明另二實施例之元件密封接合結構 的剖面示意圖。 圖5A及圖SB為本發明另二實施例之元件密封接合 的剖面示意圖。 圖6A及圖6B為本發明另二實施例之元件密封接合結構 12 1374524 P51970121TW 29474twf.doc/d 的剖面示意圖。 【主要元件符號說明】 1001〜1010 ··元件密封接合結構 100 :元件 100S :主動表面 100P :保護層 102 :接墊 104 :金屬層 104a :凸塊底金屬層 110’ :緩衝材料 110 :缓衝凸塊層 110a :第一部分 110b :第二部分 110c :第三部分 110d :環狀部分 120 :導電接合部 130 :密封接合部 140 :基板 W :基材 51 :第一電極 52 :第二電極 53 :金屬凸塊 H1 :第一黏著金屬層 H2 :第二黏著金屬層 H3 :第三黏著金屬層 R1 :接合環 13 1374524 P51970121TW 29474twf.doc/d C:密封空間 150 :基板 152 :導通孔 53 :第三電極 54 :神經刺激電極 160 :承載器 162 :接墊 170 :生物相容性塗層 100a :第一元件 150a :第一基板 100b :第二元件 150b :第二基板
14

Claims (1)

  1. 丄 j/4y24 P51970121TW 29474twf.doc/d 七、申請專利範圍: I·,·^ ⑧封接合結構,用以將—元件封裝於一基板 上,該7〇件在、封結合結構包括. 層包二m二配置於該元件與該基板之間,該缓衝凸塊 些第-部分的外圍^以及―第二部分’且該第二部分環繞於該 久個ίΐ導電接合部’電性連接於該元件盘节美板之門,4 Φ 連接;以及 電極與各該第二攀知乂及 岔封接合部,環繞於該些導雷人 =包括該基板上的—接合環,且該接合口環^^, 接合,使就件與職板之_成 2. 如申請專利範圍第i項所述之元件及 該-部分_第二部分之間形财攝 互分離。 間距’且在%攝上中 3. 如申請專利範圍第丨項所述之元件 該些第-部分與該第二部分之間具有 1。 相互連接。 分,且在結辑 4. 如申請專利範圍第丨項所述之元件 中該緩衝凸塊層之材質包括高分子材料。、接。麵攝,其 各,itt請專利範圍第1項所述之元件密封接合綠裰’、 谷Μ弟一電極與各該第二電極之間更包括—第一黏S袴,爲中 6·如申睛專利範圍第1項所述之元件密人參屬層。 該接合環與該第二部分之間更包括—第、^屬’,其 15 1374524 P51970121TW 29474twf.doc/d 7.如申請專利範圍第丨項所述之元件密封接合 其中 包括多個第三電極’而該些第三電極通過該基板分別 與该些弟二電極電性連接。 久^如t請專利範圍第7項所述之元4密封接合結構,其中 各〜第二电極上更包括一神經刺激電極。 兮其it申請專鄉_ 1項所述之元件密封接合結構,其中 〜更包括-生物相容性塗層,覆蓋於該元件的周圍。 中今元#2請專利範圍第9項所述之元件密封接合結構,其 肀"亥兀件為植入式生醫元件。 中兮專利範圍第1項所述之元件密封接合結構,其 配^個接塾’而各該第—部分經由—凸塊底金屬層 該第二電:=凸塊底金屬層與覆蓋於各該第-部份的 星申^專利範圍第1項所述之元件密封接合結構,其 第-部分^夕=塾’而該第一電極形成於各該接塾與各該 電性連接。 触齡各該第1極與各該第二電極 中該㈣之元㈣封接合結構,其 14 Λ 片7°件或堆豐型多晶叫H :種元件密封接合製程,包括: 提供—預定形成一元件的基材; 形成—緩衝層於該元件上; 分的::::衝包二=1分以及-第二部 園; ,、巾料—部分;讀於該些第-部分的外 形成—第—電極於各該第一部分上; 16 1374524 P51970121TW 29474twf.doc/d 提供-基板’該基板形成有多㈣二電極以及 該接合環圍繞於該些第二電極的外圍;以及 接5 %’ -配魏耕於雌板上,其巾各^ —電極對應於各該當 二,極亚與各該第二電極電性連接,且該接合輯應與該^ _ 七刀相互接合’以使該元件與該基板之間形成—密空二-15.如申請專利範圍f 14項所狀元件密封接合^,甘 妹^案化該緩衝層之步驟中,該些第—部分與該第:部分之^ 、!蝕刻而形成有一間距,且在結構上相互分離。 B 16·如申請專利範圍第M項所述之元件密封接合製 =圖案化該缓衝層之步驟中,該些第—部分與該第二部分之 为別形成有一第三部分,且在結構上相互連接。 日 17·如中請專利範圍第14項所述之科密封接 /、中形成一第一電極於各該第—部份之後,更包括: 形成一第一黏著金屬層於各該第一電極上; 形成一第二黏著金屬層於該第二部分上; 形成一第二黏者金屬層於該接合環上;以及 將該元件配置於該基板時,更進行—熱壓合步驟,以使 該第一黏著金屬層電性接合於各該第一電極與各該第二 ^間,而該第二黏著金屬層與該第三勃著金屬層接合於誃 環與該第二部分之間。 、σ 18.如申請專利範圍第項所述之元件密封接合製程,复 中提供該基板的步驟中,該基板更包括多個第三電極該些^ 二電極通過該基板分別與該些第二電極電性連接。 — 19·如申請專利範圍第18項所述之元件密封接合製程,其 1提供該基板的步驟中,更包括形成一神經刺激電極於各該^ 二電極上0 17 1374524 P51970121TW 29474twf.doc/d 覆蓋於紅件關圍。成—生物相容性塗層, 上,:1元構’用以將,封裝於-麵 夕個^衝凸塊層,配置於該元件與該基板之間,該元件思者 二ΪΪ接Γ的=凸塊層具有-環狀部分,且該環狀部二 各 二 =-第,,且二=:以 合部包—===的環些導電接合部的外圍,該密封每 接合,《使該元件部分相互 構, 封接合結構,其 —第三黏著金屬層。 ]更包括一第二黏著金屬層以及 中該^項:接合結構,其 別與該些第二電極電性連接。而5亥些弟二電極通過該基板分 18 1374524 P51970121TW 29474twf.doc/d 中各第25項所述之蝴封接合結構,其 T谷S弟一甩極上更包括一神經刺激電極。 中談21項所叙元件料接合結構,1 :如二覆蓋於該元件的周圍二 其中該元件醫^項所述之元件密封接合結構, Φ夂申料鄉圍第21項所述之元件密封接料構,1 Ι3ί 4經由一凸塊底金屬層配置於各該接“ % 於各該金屬凸塊上H 中哕元件範圍第21項所叙元件密封接合結構,並 中該疋件包括Μ片元件或堆疊型多晶片封裝元件。 '、 31· —種元件密封接合製程,包括: =-預定形成-元件的基材,該元件具有多個接塾. 形成一緩衝層於該元件上; ’ 圖案化該缓衝層,以形成具有一環狀部分的 其中該環狀部分環繞於該些接墊的外圍; 、” 鬼層, 塾電個金屬凸塊於該元件上,且各該金屬凸塊與各該接 該接板形成有多㈣二電極以及—接合環, 钱σ%圍繞於該些第二電極的外圍;以及 配置該元件於該基板上,其令各該金 二電極並與各該第二電極電性連接,且該 元件與該基板之間軸 形成一第一黏著金屬層於各該金屬凸塊=; 19 1374524 P51970121TW 29474twfdoc/d 形成一第二黏著金屬層於該環狀部分上; 形成一第三點著金屬層於該接合環上;以及 將該元件配置於該基板時,更進行—熱磨合 之間,而該弟二黏著金屬層與該第三 又 .環與該環狀部分之間。 獨嘴後合於該接合 . 33.如申請專利範圍第31項所述之— 中提供該基板的步驟中,該基板更包^ 合製程,其 • 34.如申請專利範圍第3二=電, 中提供該基板的步驟中,更包括形 7^件密封接合製程,其 三電極上。 /砷經刺激電極於各該第 35.如申請專利範圍第31項所 中配置該元件於該基板上時,更包括;件狯封接合製程,其 覆蓋於該元件的周圍。 形成一生物相容性塗層,
    20
TW097151881A 2008-12-31 2008-12-31 Sealed joint structure of device and process using the same TWI374524B (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW097151881A TWI374524B (en) 2008-12-31 2008-12-31 Sealed joint structure of device and process using the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW097151881A TWI374524B (en) 2008-12-31 2008-12-31 Sealed joint structure of device and process using the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201025519A TW201025519A (en) 2010-07-01
TWI374524B true TWI374524B (en) 2012-10-11

Family

ID=44852636

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW097151881A TWI374524B (en) 2008-12-31 2008-12-31 Sealed joint structure of device and process using the same

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TWI374524B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10937762B2 (en) * 2018-10-04 2021-03-02 iCometrue Company Ltd. Logic drive based on multichip package using interconnection bridge

Also Published As

Publication number Publication date
TW201025519A (en) 2010-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11963796B1 (en) Heterogeneous integration of silicon-fabricated solid microneedle sensors and CMOS circuitry
US7706887B2 (en) Method for integrating pre-fabricated chip structures into functional electronic systems
JP5254622B2 (ja) インプラント可能なハーメチックシールされた構造
Kim et al. Integrated wireless neural interface based on the Utah electrode array
EP3030212B1 (en) Long-term packaging for the protection of implant electronics
US20100262208A1 (en) Electronics package for an active implantable medical device
US7211103B2 (en) Biocompatible bonding method and electronics package suitable for implantation
AU2008282451B2 (en) Implantable device for the brain
US8349727B2 (en) Integrated method for high-density interconnection of electronic components through stretchable interconnects
CN104271165B (zh) 高引脚数植入物器件及其制造方法
US9330944B2 (en) Bio-implantable hermetic integrated ultra high density device
WO2010117383A1 (en) Bonded hermetic feed through for an active implantable medical device
US9773715B2 (en) Multi-layer packaging scheme for implant electronics
US8134230B2 (en) Sealed joint structure of device and process using the same
TWI374524B (en) Sealed joint structure of device and process using the same
CN101807558B (zh) 元件密封接合结构及其工艺
Baek et al. Interconnection of multichannel polyimide electrodes using anisotropic conductive films (ACFs) for biomedical applications
Sundaram et al. High density electrical interconnections in liquid crystal polymer (LCP) substrates for retinal and neural prosthesis applications
JP2022511413A (ja) 電子部品の気密パッケージ
JP2010172667A (ja) 電子素子のハーメチックシール方法、及び該方法を用いた生体埋植用機能デバイスユニット,視覚再生補助装置
CN108024851A (zh) 植入装置及其制造方法
JP2011160984A (ja) 視覚再生補助装置
Bleck et al. Silicone-based Chip-in-Foil System
CN115662681A (zh) 一种集成馈通基板的柔性电极及其制备方法和电极器件
Van Hoof et al. Design and integration technology for miniature medical microsystems