TWI354769B - - Google Patents

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TWI354769B TW97109326A TW97109326A TWI354769B TW I354769 B TWI354769 B TW I354769B TW 97109326 A TW97109326 A TW 97109326A TW 97109326 A TW97109326 A TW 97109326A TW I354769 B TWI354769 B TW I354769B
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1354769 - - 100年10月12日修正替換頁 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明屬於座標測量技術領域,具體涉及關節式彈性 座標測量機的校正方法。 關節式彈性座標測量機高精度校正方法,通常是由各 測量臂串聯各旋轉關節(簡稱關節)構成開鏈結構,該開 鏈結構的末端是測量機的測頭,各關節可以繞其自身的軸 線進行轉動,為記錄關節轉動的角度,需要在關節上安裝 ® 角度感測器,作為角度感測器,高精度的圓光柵是選擇之 一。每個關節有一個自由度,六自由度的關節式彈性座標 測量機則有六個關節,在使用測量機進行座標量測時,測 量機測頭的座標是測量機結構參數與其六個關節角度的函 數。 未經校正的關節式彈性座標測量機測頭位置誤差往往 很大,不能滿足使用要求,為了保障測量機的整體精度, 一項重要的工作是對測量機進行校正並進行修正。其中, — 校正的過程是獲得測量機精確幾何參數的過程,修正是將 校正的結構應用於測量機系統以獲得更精確座標,彈性座 標測量機的誤差主要包括結構幾何誤差(geometric errors) 與非幾何誤差(non-geometric errors),前者是指測量機基 於測量方程的結構參數誤差,而後者主要是指測量機關節 間隙、變形等引起的誤差。 【先前技術】 一種已有的校正方法,是將待校正機置於更高精度座 097109326 1003374569-0 5 iOO年10月12日修正替換頁 座標測量機、雷射跟_的量 =標:成個=:二:是高精度座標測量儀器 件-樣在待校正關節式系。首先像量測工 待校正機的空間擺放姿態,機:關節角度以調整 通在μ❹每—擺放姿態,獲得測 頭在標準座標Ή的錢值,以及測頭在待校正座標系中 右以標準座標和測量座標作為採樣資料,對於 ^付的所有採樣資料,通過計算獲得待校正機的誤差參 數。 上述已有的校正方法雖然能夠實現參數識別,但是它 們在採樣策略上存在缺陷:《彈性三次元座標測量臂的校 正技術研究》(西安交通大學學報,雇·3,ρρ284_286) (以下簡稱為文獻1)中採取的採樣策略是“在測量臂 作㈣中均㈣取12㈣”;《彈性三座標測量機的結 構系統及誤差修正校正分析》(卫具技術,細64(),_ -78)(以下簡稱為文獻2)中沒有給出具體的採樣策略 ;而《關節式彈性座標測量機參數辨識方法》(農業機械 學報,2007.7 ’ PP129-132 )(以下簡稱為文獻3 )則採用 了單點錐窩的校正方法,將—個錐离岐在量測空間的一 個位置,使關節式彈性座標測量機對錐窩頂點連續採樣 200點。这些校正方法無-例外地忽略了這種形式的座標 測量機空間誤差分佈規律。從測量方程分析,在測量機所 能達到的球形量測^間内的不同位置測量機的誤差大小不 097109326 1003374569-0 6 1354769 - 100年10月12日修正替換頁 同,相應各參數的傳遞函數也不同。誤差區間是一個球體 ,在空間不同量測點誤差球的直徑也不同。測量機的主要 誤差因素在於編碼器的精度,編碼器使用的分度位置的不 同編碼器的誤差變化決定了空間任何一點的誤差不同,這 決定了量測空間任何一點誤差球體的大小不同。在實際校 正過程中也發現了校正時在空間某一區間内效果較好,可 使整機達到較高精度,在另一區間内整機效果則較差。這 樣一來,如果量測區間與校正區間不一致,最終造成了測 ^ 量機實際精度不高。 此外,現有的校正方式由於採樣時的隨意性大,採樣 密度不夠,比如在文獻1中記載的是“在量測臂工作空間 中均勻選取12個點”,但這是遠遠不夠的;文獻3是將一 個錐窩固定在量測空間的一個位置,使用關節式彈性座標 測量機對錐窩頂點連續採樣200點,這樣的一個點並不能 代表關節式座標測量機在整個量測空間内的表現;這一原 因導致校正效果不理想,突出的問題是某一空間區域内的 ® 校正不能保證其他空間區域中實際量測時的精度。 【發明内容】
I 本發明是為避免上述現有技術所存在的問題,提供一 種關節式彈性座標測量機高精度校正方法,以進一步提高 參數識別精度,進而提高測量機的整體精度。 本發明解決技術問題所採用的技術方案是: 本發明六自由度關節式彈性座標測量機高精度校正方 法是以關節式座標測量機為待校正機,選擇使用具有更高 097109326 1003374569-0 7 1354769 100年1M 12日修正替換頁 精度的二-人元座標測量機為標準機,將所述待校正機 標準機的測量空間内,形成兩個緒系,—個是三应 標測量機的標準座標系,另—個是在關節式座標測量機的 原點建立待校正機座標系,改變待校正機的關節角度 整待校正_^間擺放錢,對應騎-擺放姿態,分別 獲得測頭在標準座標Ή的標準座標,以及測頭在待校正 座標系中_量座標,以所述標準座標和測㈣標 樣資料,對於所獲得的所有採㈣料,使用最小二乘法 到待校正機的誤差參數; 本發明方法的特點是: 。又疋採樣:貝料的採樣密度是待校正機的每個關節至少 在每週度内等分的兩個角度位置上,由六個關節以不 同的角度位置組合所形成的待校正機的不同擺放姿態至少 為64種; 旦對於採樣所得到的至少64個測頭位置的標準座標和測 二座標,分別取其中任意兩個點的座標值,計算兩點間距 獲得兩組表徵兩點間距離的線值,每組至少為個# 、·值,對應線值之差即為校正誤差值。 本發明方法的特點也在於: 所述採樣密度為每個關節在每週中相隔18〇度的兩個 角度位置上’由六個關節以各自兩個角度位置組合所形成 的待校正機的不同的擺放姿態為r即以種。 所述採樣密度為每個關節在每週中相隔12〇度三個角 度位置上’由六個關節以各自三個角度位置組合所形成的 $ 097109326 1003374569-0 1354769 — .-100年10月12日修正替換頁 待校正機的不同的擺放姿態為$即729種。 所述採樣密度為每個關節在每週中相隔9〇度的四個角 度位置上,由六個關節以各自四個角度位置組合所形成的 待校正機的不同的擺放姿態為46即4096種。 與已有技術相比,本發明的有益效果顯示在·· 1、 本發明採樣點近似均勻分佈整個量測空間,能充 分提取關節測量機在有效量測空間内的誤差資訊,使待校 ^ 正機的整體精度得到保證。 2、 本發明在資料處理時實際使用的是任意兩點的距 離的資料量,該資料量遠遠大於採樣點本身的資料量約 為原採樣點數量η的(n — !) /2倍,如此大量的採樣資 料使校正工作更為準確。 —3、本發明可以通過採用座標測量機觸發測頭自動採 集k號,保證在所有採樣點的穩定性。 【實施方式】
」:校正=六自由度關節式彈性座標測量機〔請參閱 土座(1 )上,由兩段測量臂(4 個可旋轉_節(5)構朗鏈結構,該_結構的末端 是測量機_頭(6)。各關節(5)可以繞其自身的抽 線進仃轉動’為記錄關節轉動的角度,關節上安
度的圓光㈣度感測器’測量機的姿態是由 )通過夾具(3)進行定位。 叉和·( Z 理論和實踐都表明,對於待於 在較大區間進行校正,有比較可靠地 八只際使用時才能更為可靠,因此 9 097109326 1003374569-0 1354769 100年10月12曰修正替換頁 選擇測量機誤差從小到大區間,提取全場誤差資訊,同時 ,利用最小二乘原理對提取的資訊進行資料處理,從而使 整機誤差與最λΙ、最大誤差都比較接近,實現高精度校正。 對於選擇光柵測量角度感測器,光柵分度誤差不可忽 視’根據光栅分度誤差的規律’它的一次分量是主要分量 ,是分度誤差的主要因素。它是一個週期為2?r正弦函數。 根據奈奎斯特採樣定理,為了提取分度誤差的一次分量資 訊,最少需要在一周内對光柵的兩個位置進行採樣。本實 施例利用這一原理進行設置,將關節式三次元座標測量機 在空間擺放成不同的姿態來提取各個光桃分度誤差的一次 分量資訊’至少需要將待校正機擺放成2δ即64種不同的姿 態〔請參閱第二圖〕’如此可以完成對全部六個角度感測 器光柵信號分度誤差一次分量的採樣。 如果增加採樣密度可以每週等分採樣三點或四點,這 樣待校正機共需擺放36即729或46即4096種不同的姿態。 校正過程如下: 1、 設定對應於關節旋轉角度的每個光柵的採樣位置 〔請參閱第二圖〕,1—6的光栅序號分別對應於六個關 節上的各角度感測器序號: 2、 〔請參閱第一圖〕所示的由基座(1 )支撐的六 自由度關節式彈性座標測量機即待校正機安放在具有更高 量測精度的正交座標測量機的工作臺上,使校正機置於正 交座標測量機的量測空間中。 3、 使用由可調支桿(2)支撐的夹具(3),將待 097109326 1003374569-0 10 100年10月12曰修正替換頁 权正機定位於指定角度對應的姿離 各關節通㈣度制H的光栅示;卩轉動各關節,使 -国ί α 出的角度位置〔請來閱筮 二圖〕所列第-糊陣列(〇,〇,〇 , 〇,。,0;閱: 固夾具保持這一待校正機姿態。 、 座標測量機測量這-姿態下的測頭座標 為標準座標,同時記錄
與其六個關節角度的函數所決定…::正機、。構參數 里座私及其六個關節角度構成的角度向量; 、4 〔叫 > 閱第二圖〕所列順序,依次變化第6、5 F央固」2、1號光柵的角度’並將關節式座標測量機 二座==校正機每-不同姿態下的標準座 採樣。 角i ’直至完成表2所列的全部64次 J:由i對於&樣所得到的64個朗位置的鮮座標,取 料〜兩個點的;^準座標值,計算兩關距離,獲得表 ;間距離的標準線值’由此得到綱(2 p,^準線值’對於採樣所得到的64個測頭位置的測量座 獾π取'、中任思兩個點的測量座標值’計算兩點間距離, 二得兩組表徵兩點間距離的測量線值,每組為2G16個量測 綠值。 7,、對應標準線值與測量線值之差即為校正誤差值。 …通過以上過程獲得的校正誤差值即可得出 關節式座標 測I機的幾何參數修正值。 為料處理過程: 11 097109326 1003374569-0 100年10月12日修正替換頁 點標i座=三測量機量測得到的64個測頭位置 τ ’冲异任思兩點1與J之間的距離作為標準 值,共有2016個標準距離值lh ; 2、已有技術表明,測頭在關節式彈性座標測量機中 數=座標是對應姿態的角度向量值與待校正機的結構參 ^的崎,因此,由關節式彈性座標測量機所測得的 :、任意兩點i與j之間距離也是這兩點角度向量值“ 、J與待校正機的結構參數向量A的函數, 計為:Pi-』=F ( Θ i,θ j,A )。 3求角被权正的待校正機的結構參數向量a 設定 Pi_i = Lh,即有:F ( Θ i,Θ j,A) = Li-j ⑴ ⑵ (β 63,θ 64,A ) = L63-64 (2016) 針對〔請參閱第三圖〕所列各姿態,的不同取 中,得具錢16財㈣Ml·,在錢方程組 一^有待校正機的結構參數向量A是不確定的,也是唯 方味參數’對這個大型的方程組利用非線性最優化 測斯牛頓法進行求解,即可得到關節式彈性座標 “向量“精確值’從而對它實現校正,提高 12 097109326 1003374569-0 1354769 - 100年10月12日修正替換頁 【圖式簡單說明】 第一圖:為本發明之待校正機定於某一待測姿態示意 圖。 第二圖:六個關節光柵及對應光柵的二分角度。 第三圖:64個採樣姿態所對應的六個關節角度。 【主要元件符號說明】 1 基座 2 可調支桿 3 夾具 4 測量臂 5 關節 6 測頭 097109326 1003374569-0 13

Claims (1)

1354769 _ 100年10月12日修正替換頁 十、申請專利範圍: 1、 一種關節式彈性座標測量機高精度校正方法,是 以關節式座標測量機為待校正機,選擇使用具有更高精度 的三次元座標測量機為標準機,將所述待校正機置於標準 機的量測空間内,形成兩個座標系,一個是三次元座標測 量機的標準座標系,另一個是在關節式座標測量機的原點 建立待校正機座標系,改變待校正機的關節角度以調整待 校正機的空間擺放姿態,對應於每一擺放姿態,分別獲得 測頭在標準座標系中的標準座標,以及測頭在待校正座標 系中的測量座標,以所述標準座標和測量座標作為採樣資 料,對於所獲得的所有採樣資料,使用最小二乘法得到待 校正機的誤差參數; 其改良在於: 設定採樣資料的採樣密度是待校正機的每個關節至少 在每週360度内等分的兩個角度位置上,由六個關節以不 同的角度位置組合所形成的待校正機的不同擺放姿態至少 為64種,對於採樣所得到的至少64個測頭位置的標準座標 和測量座標,分別取其中任意兩個點的座標值,計算兩點 間距離,獲得兩組表徵兩點間距離的線值,每組至少為 2016個線值,對應線值之差即為校正誤差值。 2、 如申請專利範圍第1項所述關節式彈性座標測量 機高精度校正方法,其中,採樣密度為每個關節在每週中 相隔180度的兩個角度位置上,由六個關節以各自兩個角 度位置組合所形成的待校正機的不同的擺放姿態為26即64 097109326 1003374569-0 14 丄 J JH·
100年10月12日修正替換頁 種0 3 機高精;請專利範圍第1項所述關節式彈性座標測量 相隔法,其中,採樣密度為每個關節在每週中 位置組合;;::角度位置上’由六個關節以各自三個角度 種。所形成的待校正機的不同的擺放姿態為即729 機高二t!=專利範圍第1項所述關節式彈性座標測量 相其中,採樣密度為每個關節在每週中 位置組:Γ四個角度位置上’由六個關節以各自四個角度 ,、口斤形成的待校正機的不同的擺放姿態為 < 即4096 種。
15 097109326 1003374569-0
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