TWI313809B - System and method for testing an input/output board - Google Patents

Description

1313809 一 ... ： ...” 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明涉及-種印織喊啸的峨祕及方法，尤其涉及— 種輸入輸出板的測試系統及方法。 【先前技術】 、"二ή服态疋一種尚岔度的新型伺服器，它由多個獨立處理元件 構成、些處理兀件外形纖薄，可以熱插撥，解人們形象的稱這種 ，服器爲“刀片舰器，，。刀片伺服器在當前的企業資料中心正被快 ^的應用’和傳統機座式安裝方式相比，刀片舰器能大幅較少、 工間、功率消耗與管理費用。 、 應用於刀片飼服器中的輪入輸出板是一種印刷電路裝配㈤福 =rcmtBoardAssembly，簡稱pcBA)板，用於爲刀片饲服器提供 ，’如USB 4、光碟機埠、軟碟機埠等，同時爲系統提供一些指示 系統出錯’溫度超高報警等。PCBA板是依電路設計，將連接 工=件^電_雜製成佈線_，織再錢計所指定的機械加 此電方式，在絕緣體上使電氣導體重現構成電路板，並在 此電路板上裝貼所需的設備元件。 人故由=線生産出來的輸人輸出板會因爲某些原因而導致其品質不 二==進行測試，以保證其品質。在以前的測試方法〜 =_作來檢驗其功能的好壞，這樣一來，當大^ 完全是壞，無形中增加了測試成本，而且，測試過程 【發她行，姐率祕，且增加了人力成本。 甘; 乂上内备，有必要提供一種輸人輸出板的測試系统及方法， ，、利用-電腦提供的控制信 卜、 連接的設備元件舰。 «板及其所 供二= 出，試系統，其運行於—電腦中，利用該電腦提 、 …、°式輪入輪出板的功能是否良好，其中所述電腦透過 /1 /1 1313809 1試治具麟錢讀恤树，雜从峰·^ 一獲取模組，用於獲取所述電腦的控制信號 取=獲Γ技制信號對所述待測輸人輪出=其連 存儲:板的測試系統還包括:-存儲模組· 存儲2絲，及-結練告触，驗報告上侧試結果。用於 ”中，s亥電腦包括-通用輸入輸出（Ge⑽ 簡稱GPIO)埠、一全系統管理 nput/Output > _、垃 匯机排（Management Bus，簡 SMBus)埠及-通物___㈣ 冉 其中’所述的控制信號包括：USB仲 = USB)璋。 - =^出板_試方法，其_ —電職 ^ 二輸入輸出板的功能是否良好，其中所述電腦透過—測 輸入__連L輸出板的測試方 步 ===取的控制信號對所述待:輸 號。其中，所述的控制信號包括：聰信號、GPI0信號及I2C Bus信

其中，利用控制信號對待測輸人輸出板進行功能測試的步驟包 r 號打開待測輸入輸出板的I2C設備的電源，使此I2C 儲 =於Γΐ作狀悲，利用USB信號測試待測輸人輸出板連接的資料存 SB '=B:信Γ GPI°錢測試輸入輸出板的晶片：及利 用I2C Bus k唬測试輸入輸出板的指示燈。 果透Ϊ;=:Γ步驟:存儲測試結果;及將上述測試結 t 輸入輸出板的晶片的步驟包括：讀取電腦的環境 >皿度值T1; t貝取待測輪入輪出板上晶片的環境溫度值T2;判斷T1、 7 1313809 年月日修正瞥換頁 匕的差值疋否在-μ的溫度範圍内；若差值在設定的 則檢測晶片的中斷引腳狀態；改變晶片的極限溫度值 斷引腳狀態改變；若帽引腳狀態改變，則確定其功能 引腳狀態沒有改變，則確定其功能異常。 ，右中斷 功能=步的，若纖T1、T2的錄超出設定的溫_，則確定其 電平及中 其中，所述晶片的中斷引腳狀態包括：中斷引腳輸出低 斷引腳輸出高電平。

其中’若檢測到晶片的中斷引腳輸出低電平，則系統降似極限 溫度值，使其減溫度值低於環境溫度值；若檢泰u片的 輸出高電平，則祕升高其極限溫度值，使其嫌溫度值高於 度值。 、皿 相較于習知技術，所述之輸入輸出板的測試系統及方法利用工控 PC (pers0nal Computer)提供的I2C Bus以及Gpi〇等特殊功铲直^ 從pc中引出與制産品對應的USB'I2C等匯流排信號以及控b制作號 對待測産品進行控制’再配合使料㈣治具及軟觀可崎待測產 品進行功能性測試，該方法成本低，且簡單、實用。 【實施方式】

爲了便於理解，針對本發明涉及的專業術語作如下解釋： GPIO: General Purpose Input/Output，通用輸入輸出； I2C Bus: Inter-Integrated Circuit Bus，内部積體電路匯流排； SMBus: System Management Bus，全系統管理匯流排，係 I2C Bus 的子集； ~ SFC: Shopping Floor Contro卜一種生産管理伺服器； USB: Universal Serial Bus，通用串列匯流排； LED: Light-emitting Diode，發光二極體； PCB: Printed Circuit Board，印刷電路板。 參閱弟一圖所示’係本發明輸入輸出板的測試系統較佳實施方式 的硬體架構圖，該架構圖包括：一電腦1，一測試治具2、一待測的 1313809 輸入輸出板3及-SFC値器4。其中，電腦i用於向待測的輪入 出板3提供控制以及㈣試絲透賴錢幕（未胃示）顯= 出來，測试治具2用於將電腦1與待測的輸人輸出板3連接起來^ 測試治具卜嫩《 i的各辦相連接，另—側與待_輪入^ 板3相連’將電腦i中的控制信號傳送到待測的輸入輸出板3中；_ 伺服器4是透過一區域網路適配器14與電腦i相連，用於檢測产 路由，以確賴待測的輸人輸出板3是否已經完成_，= 後的結果導入到該SFC伺服器4的資料庫中。 " 其中，所述的電腦i包括：至少一個聰蟑1〇，用於提供_ «’以讀取待測輸人輸出板3上連接㈣料存 軟碟機43、U碟42等；-S職8埠u，用於向待測的輸 提供I2C信號，用來控制待測輸入輸出板3上的I2c設備， 晶片30、LED指示燈34等；- GPI〇埠12，用於提供 來對待_輸人輸出板3進行控制，如制制輪人輪恤3。的存^ 性、打開制輸讀出板3的I2C設備f源、檢嚼曝 =Μ75晶片30的中斷引腳狀態等；一電源璋13，用於向待測輸入輸 $板3提供電源，此電源最佳值爲12V ;區域網路適配器μ，用於連 測言Γ⑽艮器4; 一測試系統15，用於對待測輸入輸出板3進行功能 其中，所述的測試治具2採用4層pcB設計，其包括一刪 一 SMBus埠、- GPI0埠、一電源埠及—輪入輸出 過-電纜線與電m中的USB埠10、SMBus埠u、GPI/刀21 源埠13及輸人輸£tj板3相連接，以將電組巾的 入 輸出板3麟應的錢。 I 轉換成輸 曰片輸t板3所包括的需要測試的元件有：應 曰曰片30，職神减溫度，#環境溫度過高或過辦 並使相應的指捕閃_提岭告；—柄機埠Μ^ 碟機41;—聰埠32，用於連接所述u碟42 .及一 f斤ί 於連接所述軟碟機43 ;及五個LED指干产 軟碟機埠33，用 知不燈34，該LED指示燈34包 1313809 Ο 括：電源指示燈、溫度絲燈等，用於提^s ： 統出錯等資訊，如通電時，雷湃沪—吟奋#^恤度h况及系 度過高《統出錯時，相應的^燈 圖。=二括係=系統的功能— 獲取杈組151，用於獲取電腦1的抑击,丨产 =，包括USB信號，I2CBus信號及gpiq_^== ’用於利用所述細飯151獲取到的控制信號對輪入輸出板= 八所連接的稍讀進行魏測試，其巾，需測 述LM75晶片30、所述光碟機41、所述u碟42、所述軟碟== ΐΓ二f不燈34 :及Γ判斷模組153，用於判斷輸入輸出板3及其所 連接的讀70件功能是紅f ;—存腿組154， 存 到糊服器化·及-結果報告模組155，用於報告測;^果果存儲 進步的’所述的判斷模組153還用於判斷是否所有通道都 =完畢，判斷是否從SFC伺服器4中得到確認資訊，判斷電腦产 境溫度與LM75晶# 3G的環境溫度值是否小於—設定的溫产= 圍’以及觸LM75晶片3G的巾斷引腳狀態是否發纽變。又& 其中，所述的通道是指各種設備之間進行資料傳輸的電路，兑八 爲A通道及B通道。所述A通道與B通道功能相同，各自獨立工作刀， ::個:寺定:時刻’只有一個通道在工作，另一通道作爲備用通道， ^: 現故障的時候，系統會自動切換到另外—個通道進行 貢科傳輸。 參閱第二圖所示，係本發明輸入輸出板的測試方法較佳實 的流程圖L在職之前，需要做—些準齡驟：首先設置^腦^ 作業系統爲Win2000或Win χρ，設置其主機板爲歸吵公司的 BamtGreen或Kapok型號’不能安裝軟碟機及光碟機，且禁止 的資料存齡置自動運行，如光碟機及U ，紐，將測試的相 設備利用電魏進行連接，包括電腦！與測試治具2進行連接，測^ 治具2與輸人輪出板3進行連接，以及雜人輸出板3 各痒連ς 上相關的設備，包括光碟機41、軟碟機43及ϋ碟42等。於步驟S11 1313809 fts y i. _ 年月日修正替換 中，电腦1透過網路與SFC伺服器4通信，用戶將待測輸入輸出板3 的序列號傳送到SFC伺服器4，接受路由檢測，以確^該待測的輸入 輸出板^是把經完試，若已經完成觀，败換下-輸入輸出 板3進仃測試；於步驟S12中，獲取模組151獲取電腦丄的Gpi〇控 ，信號以檢測待測輸人輸出板3是否存在，若不存在，則結束流程； 右存在，則於步驟S13中，利用所述獲取的Gpi〇控制信號打開待測 輸入輸出板3的I2C設備的電源，使I2C Bus處於工作狀態，所述I2C S又備包括LM75晶片30、LED指示燈34等；於步驟S14中，選擇一 個通道’該通道是指各種設備之間進行資料傳輸的電路，其分爲A通 道或B通道，所述A通道與B通道功能相同，各自獨立工作，在一個 特定的_，只有—個通道在U—通道作爲_通道，而當一 個通道出現故障的時候，祕會自動切制另外—個通道進行資料傳 ^ ;於步驟S15 +，獲取模·組151獲取電腦i的聰信號傳送給測試 核組I52，對待測輸入輸出板3連接的光碟機41、軟碟機43及u碟 42進行功_試，在此步射，職模組152會自動檢測光碟機41、 =機43及U碟42是聽在，並且向其巾讀寫資料及驗證資料的正 並且打開及關閉光碟機Μ的門以供判斷模組153判斷其功能是 ^於步驟S16中，獲取模組151獲取電腦1的I2C信號及GPI〇 仏娩專祕測試模組m，測試⑽5晶片％，其中，所述如信號 可以喿作LM75晶>；30，讀取其環境溫度值以及設置溫度的極限值， =述GPI0信號可以檢測歸5晶片3〇的中斷引腳狀態等；於步驟阳 ^測試模組152利用所述獲取的I2C信號，測試咖指示燈34，在 Hi的輪中，測試模組152首先測試控制電源的指示燈，若在上 燈亮的!態，則判斷模請判斷其功能良好，否則 、#二节，測δ式她152測試其餘四燈時，若其_和炮滅狀 训组153確定其功能正常，否則其功能異常；於步驟 、轉1組153靖是^财的通道_擇完畢；若所有通道都 二二於步驟⑽中’將測試結果保存到電腦1 一日誌、文件中； 中，將測試結果傳送到SFC伺服器4中；於步驟⑵中， 11 1313809 ... .'.Ί.. 服114中獲取物麵，_認存错 1C _、孚，、J忒、、'°果存儲到SFC伺服器4的資料庫中；若在 社、且4已經將測試結果存儲到sfc伺 ，^ 結果報告模組155顯示測試結果。 T貝!於步驟S22中， 繼續i;=::S18中’若有通道沒有選擇’則轉入步職， 進一步的，於步驟S21中 則於步驟S23中顯示網路連接4的確認資訊， 模組说顯示測試結果。連接錯誤貝訊’並於步驟S22中由結果報告 中測試方法較佳實施方式 :Τ==板：_ 晶片 3。_^ ==:=獲取上; 的環境溫度值低於盆極限i产值中::的狀‘態’通常在應晶片洲 出低電平，當其環’说75晶片3〇的中斷引腳輸 輸出高電平，所以，其中斷引腳會 其極限溫度值來改敎餘?腳^正常王作，就需要藉由改變 晶片30在上電的時候、腳f態的方式，例如，一般情況下，LM75 伽1中’獲取模組151獲取===!氏度，此時，若於步驟 則中斷引腳會輸出低電平；於步溫度值爲25攝氏度， 判_5 晶片 3。 153判斷LM75晶片3〇 T a, /欠，於步驟S166中，判斷板組 出低電平，·牛驟Sli，右於步驟S164中，中斷引腳仍然輸 j於步驟咖中，判斷模组153判斷LM75晶片30的中 12 1313809 r.\ 斷引腳狀態沒有改變；於步驟伽 30功能異常。 τ棋.，且判斷LM75晶片 其中’右於步驟S101中，择取j堇έΒ 1ςι從取从 攝氏度，其高於上電時的極^==51^取_境溫度值為觸 出高電平；於步驟nr 攝氏度，則此時中斷引腳會輸 於wt、步驟中，糸統設置極限溫度值爲120攝氏度， 度值1〇0攝氏度，若此時中斷引聊輸出低電

度值Γ的魏溫度是唯讀的，即只能讀取其環境溫 極限溫度值的方歧行収LM75¥30時只能藉由改變其 步的’於步驟S162中’若判斷模組153判斷τι、τ2的 ==等於5，則於步驟S167中判斷概153較LM75晶片3〇的功 jt。因為在正常的情況下’電腦1的環境溫度值T1與LM75晶片 一、=境溫度值T2應該為-接近的值，而賴⑽環境溫度值打為 = 2、’若11、T2的差值過大，則表示L廳晶片30的環境溫度 同5過低，而環境溫度值過高或過低都表示LM75晶片30功能異 常0 、

本發明輸入輸出板的測試系統及方法，雖以較佳實施方式揭露如 上’然其並_以限定本發明。任何熟悉此項技藝之人士，在不脫離 本發明之精神和細A ’當可做更麟卿，0此本發明之保護範圍 當視後附之申請專利範圍所界定者為準。 【圖式簡單說明】 第一圖係本發明輸入輸出板的測試系統的硬體架構圖。 第二圖係本發明輸入輸出板的測試系統的功能模組圖。 第二圖係本發明輸入輸出板的測試方法的作業流程圖。 第四圖係本發明輸入輸出板的測試方法中測試LM75晶片的流程 圖。 13 1313809 年月日修正替換 【主要元件符號說明】 電腦 1 測試治具 2 輸入輸出板 3 USB埠 10 全系統管理匯流排埠 11 通用輸入輸出琿 12 電源埠 13 區域網路適配器 14 測試糸統 15

14

Claims (1)

1313809 十、申請專利範圍： 提供輸人輸出板_竭統，其運行於中，顧該電腦 過輸人輸出板的功能是否良好，其中所述電腦透 ° 具與職L板姆，該輸人輸恤制齡統包括： 二獲取模組，用於獲取所述電腦的控制信號； 正常 、》1如巾凊專她15第1項所述之輸人輸出板的測試系統， 還包括： —存儲模組，用於存儲測試結果；及 —結果報告模組，用於報告上述測試結果。 ^如申请專利範圍第1項所述之輸入輸出板的測試系統，其中所 ίΐ,包括—通崎人輸出埠、—全系統管職流排埠及一通用串 夕1(匯}^排辞_。 輪八輸對所述待測 -判斷歡，胁_騎輪人輸出板及其連制設備功能是否

該系統 4.如申凊專利|巳圍第i項所述之輸入輸出板的測試系、统，其中 制信號包括：_串舰流難號、_輸人輸出信號及内部 積體電路匯流排信號。 ^如申請專利範圍帛1項所述之輸入輸出板的測試系統，其中所 2趣組顧控制信制試的設備元件包括··所述輸人輸出板的資 料存儲裝置，晶片及指示燈。 、 .如巾請專利範圍第i項所述之輸人輸出板的測試系統，其中所 述測試治具採用四層印刷電路板設計，其包括—通财顺流排璋、 一全系統管繩排埠、-_輸人輸料、—電科及—輸入輸出 ^連接埠’分別透過一電瘦線與電腦中的通用串列匯流排璋、全系統 管理匯流解、通用輸人輸出埠、電鱗及輸人輸出板相連接，以將 電腦中的控制信號轉換成輸入輸出板所對應的信號。 7·—種輸入輸出板的測試方法，其利用一電腦提供的控制信號測試 15 1313809 年月 r-γ---- ...V —輪入輸綠的德是否良好， _ π — —―- 輪入f板相連，該輸入輸出板的測試方法台具與所述 獲取該電腦的控制信號. 下^驟· 常 元件，板及其連接的設傅 根據上刺試’觸料ι輸出缺錢接的賴功能是否正 積體電路匯流排信號。 ，il 。，u通用輸入輸出信號及内部 9.如申請專利範圍第7項 :::信號對待測輸一、“==: 排設備的電幅 利用通用争列匯流排信笋、，丨 月心’ 置； 、-待測輸入輪出板連接的資料存儲裝 利用内部積體電路匯流排作跋 板的晶片；及 13〜、輸入輸出信號測試輸入輸出 mf桃歸漏齡憤“__指示燈。 還包括步i專利觸7項所述之輪人輸出板峨方法，該方法 存儲測試結果； 將上述測試結果透過電腦螢幕顯示出來。 述測試輸入輸出入輸出板的測試方法，其中所 讀取電腦的環境溫度T1 ; 讀取待测輸入輸出板上晶片的環 觸 T1、T2^蚊衫-歡; 16 X3l38〇9 ’ $修正替换' 若差值在設定的溫度範圍内’則檢測晶片的中斷引 改變晶片的極限溫度值，迫使晶片的中斷引腳狀態改變； 右中斷引腳狀態改變，則確定其功能正常； 若中斷引腳狀態沒有改變，則確定其功能異常。 12.如申凊專利範圍第u項所述之輸入輸出板的測試方法，其 袭刻斷ΤΙ、T2的差值超出設找溫度綱，射定其功能異常。 1 曰3·Λ!^專利範圍第U項所述之輸人輸出板_試方法，其中 户 的情__包括：中斷⑽輸出低電平及中斷引腳輸出

若檢_之輸繼議紐，其中 其極限溫度值低於平，齡紐贴極限溫度值，使 15.如申請專利範 若檢測到晶片的中斷弓丨罘13項所述之輸入輸出板的測試方法，其中 其極限溫度值高於環境出尚電平，則系統升高其極限溫度值’使

17 1313809 十一、圖式： ^—―…9-8.2— i .....

18 1313809 年月日修正替换頁 七、指定代表圖·· (一） 本案指定代表圖為：第（三）圖。 (二） 本代表圖之元件符號簡單說明： 鉦 八、本案若有化學式時，請揭示最能顯示發明特徵的化學 式：

無

5