TWI299086B - Detecting device - Google Patents

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TWI299086B TW94144822A TW94144822A TWI299086B TW I299086 B TWI299086 B TW I299086B TW 94144822 A TW94144822 A TW 94144822A TW 94144822 A TW94144822 A TW 94144822A TW I299086 B TWI299086 B TW I299086B
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Tong Zhou
Hua Xiao
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Ι2_86 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種檢測裝置,特別係一種冷陰極射線管檢測 置。 【先前技術】 隨著科學技術的飛速發展,液晶顯示器逐漸成為顯示領 的主流,但這也對液晶顯示器的可靠性也提出了更高的要求:二 冷陰極射線管(Cold Cathode Fluorescent Lamp,CCFL)通常為液曰 顯不器的重要元件,特別是冷陰極射線管的點燈電壓對液 器=可靠性影響較大,所以對冷陰極射線管進行可#性檢測顯^ 十分必要。 _ 、 ' 請參閱第一圖,係先前技術之一種冷陰極射線管檢測系 檢測示意圖。該檢測系統100包括直流電壓源120、逆變電^單_ 130及不波器150。該直流電壓源12〇連接至該逆變電路 = 之輸入端,該示波器15〇連接至該逆變電路單元13〇之 該直流電槪120具輸出及電_示魏。 叫 雷跋時’料陰極射線管180連接至該逆變 電路早兀130之輸出端,開啟該直流電壓源丨 ^高/上t直流電壓源120之輸出電壓點亮該冷陰二線Ϊ 夕蛉山丢極射線官180點亮的過程中,該逆變電路單元130 最高輸_,該最高輸_為=^ ⑽‘擔電壓,該雜賴值及對應之電流值砂干波哭
電料元13G ϋ ί 之輸出電壓即為該冷陰極射線管180之二次點 ^示。次點燈電壓值及對應之電流值由該直流電壓源120 120' 150 6 1299086 性較差’進而導致該檢測系統100檢測時較不方便。 【發明内容】 有鑑於此,有必要提供一種檢測較方便之檢測裝置。 一種檢測裝置,其包括一輸入端,其用於輸入交流電;一電 源電路,其用於將交流電降壓並整流為直流電;一逆變電路單元, 其將直流電逆變為交流電並升壓;一電壓調節單元,其用於調節 該逆、交電路單元之輸入電壓;一輸出端,其用於將該升壓後之交 流,輸出;一檢測單元,其包括第一電壓檢測單元及第二電壓檢 測單,該第一電壓檢測單元用於測量該逆變電路單元之輸入電 壓,第一電壓檢測單元用於測量該逆變電路單元之輸出電壓。 相較於先前技術,該檢測裝置藉由該最壓調節單元調節該逆 讚變:電路單元之輸人電壓,且藉由該檢測單元檢職逆變電路單元 之輸入電壓及輸出電壓,且將電壓調節單元與該逆變電路單元及 檢測單元整合,並建立持久連接,使得該檢·置之穩定性較高, 因此該檢測系統檢測較方便。 【實施方式】 巧參閱第二圖,係本發明檢測裝置一較佳實施方式之示意 圖。違檢測裝置2包括-輸入端22、-開關23、-電源電路24、 -電壓調節單元Μ、-逆變電路單元26、_檢測單元烈及一輸 出端29。該檢測皁το 28包括第一檢測單元281及第二檢測單元 282。 _、_入端22經由導線連接至220V或ιι〇ν之交流電源。該 交流電源經由雜人端22及開關23提供給該電源電路24,該電 源電路24可將220V或110V之交流電源降壓並整流為撕直流 電輸出至該電壓調節單元25之輸入端25卜該電壓調節單元25 可對該18V直流電進行調節,然後經由輪出端257輸出至該逆變 電路單元26之輸入端261。該逆變電路單元%可對該電壓調節單 元25提供之直流fie變並升壓為紐交流電,並經由出端四 輸出。 7 1299086 时一该第一檢測單元281設置於該電壓調節單元25與該逆變電路 %之間,其包括一第一電壓檢測單元2811及一第一電流檢 二=几281。2。該第一電壓檢測單元2811為一電壓表,其連接於該 電路單元26之輸入端261與接地線之間,用於檢測該逆變電 26之輸入電壓。該第一電流檢測單元2812為一電流表, ,、連接於該電壓調節單元25之輸出端257與該逆變電路單元26 之輪261之間,用於檢測該逆變電路單元26之輸入電流。 该第二檢測單元282設置於該逆變電路單元26與輸出端29 =間,,包括一第二電壓檢測單元2821及一第二電流檢測單元 矣22。第二電壓檢測單元2821包括二電阻28幻、及一電壓 藝、2825。該電阻2823之阻值遠大於該電阻2824,該電阻2823之 =值為3ΜΩ,該電阻2824之阻值為30ΚΩ。該二電阻2823、2824 、,聯連接於該逆變電路單元26之高壓端262與低壓端263之間, ^對该逆變f路單元26輸出之高壓交流電進行分壓,該電壓表 2825與該電阻2824並聯連接,其用於測量該電阻28料的分壓。 ,據該電阻2824的分壓和該二電阻2823、2824之阻值可計算出 該高,交流電的電壓。且藉由設定該二電阻2823、2824之阻&, 使該兩壓父々IL電的電壓為该電阻2324分壓的整數倍,該高壓交流 電的電壓則為4電壓表2825讀數的整數倍,以方便讀取該高壓交 流電的電壓值。 • 該第二電流檢測單元2822為一電流表,其設置於該逆變電路 :兀26之低壓端263與該輸出端29之間,用於檢測該逆變電 早元26之輸出電流。 一請一併參閱第三圖,係該檢測裝置2之電壓調節單元25之電 路示意圖。該電壓調節單元25包括一輸入端25卜一輸入減波單 兀252、一調節單元253、一輸出濾波單元254、一 元“ —控制單元256及一輸出端257。 該輸入端251輸入之直流電經由該輸入濾波單元252 調節單元253調節、輸出渡波單元25續波,輸出至該輸出端^ 8 1299086 該^饋單元255可對該輸出端257之輸出電壓取樣並 制早7L 256,該控制單元256可依據反饋電壓 ^ 253,以調節該輸出端257之輸出電壓。 即早兀 入端Γ f包括二電容2521、2522,轉接於該輸 入知251與接地線之間用於遽波。 該,制單元256包括一積體電路2561、二電阻2兄2、乃63 及一電容2564。該積體電路2561具8個接腳,該積體電路2561 之接腳6為電源輸入端,其連接至該輸入端25卜為該積體電路 2561提供電源;該積體電路2561之接腳2及4連接至接地線;該 積體電路2561之接腳3經由該電容2564連接至接地線,該電容 2564為紐電容,其震驗產生之震細輪提供麵積體電路 25H:,電阻2562之輸入端連接至該輸入端251,其輸出端連接 至該,節單元253及該積體電路之接腳7。該電阻2563之一端連 接至該接腳7,另一端連接至該接腳1及8。 该调節單元253包括一電晶體253卜一二極體2532及一電感 2533。該電晶體2531之源極連接至該電阻2562之輸出端,該電 晶體2531之閘極連接至該積體電路2561之接腳1及8,該電晶體 2531之及極經由該二極體2532連接至接地線,且經由該電感2533 連接至該輸出端257。 〜 該輸出濾波單元254包括二電容2541、2542,皆連接於該輸 出端257與接地線之間用於濾波。 該反饋單元255包括二可調電阻2551、2552及一電容2553。 該二可調電阻2551、2552串聯連接於該輸出端257與接地線之 間’該電容2553與該電阻2551並聯連接。 5亥積體電路2561之接腳7為電流感應端,其連接至該電晶體 2531之源極與該電阻2562之連接處,當該電晶體2531之輸入電 流增大時,該電阻2562之壓降增大,該積體電路2561之接腳7 之電壓降低則表示該電晶體2531之輸入電流增大;該積體電路 2561可藉由降低其接腳1及8之開關頻率,以減小該電晶體2531
1299086 Ϊί2ί巧Ϊ到過流保護之功能,反^然。該積體電路2561 之接腳5献饋雙讀人端,魏接錢二 5=墟,可調電阻2552之電壓為反饋《,該積體。 5之反饋電壓’藉由接腳1及8來控制該電晶體 253ΐ之開關頻率,以調節該輸出端π之輸出電壓。 3 Γ 電流將經由該電感2533輸出至該輪出端^57,此i ’ S亥電感A25f將儲存能量;當該電晶體2531關閉時,該電感2533 儲存之月b里將經由该一極體2532續流,繼續輸出電壓至該輸出 f晶體2531之開關頻率變低時,該輸 電壓將、交低,反之亦然。因此,藉由調節該二可調電阻2551、2552 之阻值了&制该輸出端257之輸出電壓。該可調電阻2551之阻 值遠大於該可調餘2552,所以,藉㈣可_阻2551可粗調該 出7ίί出而藉由該可調電阻2552可細調該輸出端 257之輸出電壓,精由該二可調電阻255卜2552可精確控制該 出端257之輸出電壓。 該二電容2521、2522之電容值分別為〇.1|iF及47〇μΡ。該電 晶體2531為一金屬氧化物半導體(Metal 〇xide SemicQndu&^ MOS)電晶體。該二極體2532之型號為SKS-20-04。該電感2533’ 之電感量為ΙΟΟμΗ。該積體電路2561之型號為GM34〇63\該電 阻2562之阻值為〇·1Ω。該電阻2563之阻值為27〇Ω。該電容之電 容值為InF。該可調電阻2551之阻值為200ΚΩ。該可調電阻2552 之阻值為2ΚΩ。該電容2553之電容值為i〇nF。該二電容2541、 2542之電容值分別為〇.1|iF及47〇μ]ρ。 請一併參閱第四圖,該檢測裝置2可進一步包括一外殼3〇, 該外殼30可收容及保護該檢測裝置2之各元件,使得該檢測裝置 2之穩定性及安全性較高。且該輸入端22、開關23、二可調電阻 2551及2552、第一電壓檢測單元2811、第一電流檢測單元2812、 第二電壓檢測單元2821、第二電流檢測單元2822及輪出端29皆 設置於該外殼表面,使得檢測時連接、調節及讀取檢測資料較方 1299086 便。 置2^=1裝5Ϊ測時’將冷陰極射線管連接至該檢測裝 經由該電_節單元25供給該逆變電路單元26,該逆 =字直流電讀並升麼為高敎流電,再經由該輸出端將 父k電供給冷陰極射線管。調節該二可_阻255 ’ = 該逆變電路單元26之輸人·箱,親變單元f= 電壓亦升高,並點亮該冷陰極射線管。 輪出 曰土,最同輸出黾壓,該最高輸出電壓為該冷陰極射線點 燈笔壓,該雜電驗及龍之錢值可_ 元 ===檢ί單元顯示。該第二電壓檢 == 輸出電壓時’該逆變電路單元26之輸人電壓為該冷陰極 ίίίί^ί,?電壓’該二:欠點燈電壓值及職之電流值可由 違弟一電壓檢測早元2811及第-電流檢測單元2812顯示。 Μ ί 前技術’該檢職置2藉賴電壓單元25調節 ί之輸人電屋,且藉由該檢測單元28檢測該逆 路26之輸入電壓與電流及輸出電壓及電流,且將電壓調 即早π 25與該逆變電路單元26及檢測單元烈整合,並建立 職職£ 2之歡性較高,錢由輸人22及輸出端 1二、父!,原及5陰極射線管連接,進而使得該檢測系統2連接 間早且穩定性較兩,因此該檢測系統2檢測較方便。 該第二電流檢測單元2822亦可設置於 高壓端262與該輸出端29之間。 把支电路早心6之 —該第二電壓檢測單元2821之電壓表2825及第一電壓檢測單 f 811可為電壓儀表,該二電流檢測單元2812、觀可為電流 ’錢壓及電流值可由該電壓儀表及電流儀表之表盤讀出; 可為數子電壓表及數字電流表,該電壓及電流值可由該數字 電壓表及數字電流表之顯示屏讀出。該第二電壓檢測單元2821亦 1299086 可僅為一電壓表。
惟,明符合發明專利要件,爰依法提出專利申請。 以上述實: 陰管檢測系統之檢測示意圖。 第三=i=置一較佳實施方式之連接示意圖。 弟四圖係第二圖所示檢測裝置之示意圖。魏不心圖 【主要元件符號說明】 、 檢測裝置 輸入端 開關
電源電路 電壓調節單元 逆變電路單元 檢測單元 輸出端 外殼 第一濾波單元 調節單元 第二濾波單元 反饋單元 控制單元 2二極體 22、251、261 電感 23可調電阻 247積體電路 25電阻 26高壓端 28低壓端 29、257第一檢測單元 30第二檢測單元 252第一電壓檢测單元 253第一電流檢測單元 254第二電壓檢測單元 255第二電流檢測單元 256電阻 2532 2533 2551、2552 2561 2562、2563 262 263 281 282 2811 2812 柳 2822 電容2521、2522、254卜2542電壓表 電晶體 2531接腳i、2、3、4 2823 、 2824
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Claims (1)

  1. 1299086 十、申請專利範圍: 1· 一種檢測裝置,其包括·· 一輸入端’其用於輸入交流電; 一,源電路,其用於將交流電降壓並整流為直流電; ,交電路單元,其將直流電逆變為交流電並升壓; 一電壓調節單元,其用於調節該逆變電路單元之輸入電壓; 輸出5¾ ’其用於將該升壓後之交流電輸出;及 一檢測單元,其包括第一電壓檢測單元及第二電壓檢測單元, 該,一電壓檢測單元用於測量該逆變電路單元之輸入電壓, ^第二電壓檢測單元用於測量該逆變電路單元之輸出電壓。 2·如申請專利範圍第i項所述之檢測裝置 :步包括-第-電流檢測單元及-第二電流檢測單 電流檢測單元用於測量該逆變電路單元之輸入電流,第二電产 檢測單元用於測量該逆變電路單元之輸出電流。 机 3· ^申請專利範圍f 2項所述之檢測裝置,其中,該二電流 皁元皆為電流表。 4·如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置,其中,該電壓調節單 凡包括一輸入端、一輸入濾波單元、一調節單元、一輸出濾 單元、-反饋單元、-控制單元及-輸出端,該輸人端用^輸 ^電壓,該輸人舰單元及輸域波單元用於纽,該調 元用於調節該輸入電壓並輸出至輸出端,該反饋單元用於為兮 控制單元提供反饋,該控制單元用於控制該調節單元,該輪= 端用於輸出電壓。 出 5·如申請專利範圍第4項所述之檢測裝置,其中,該輸入濾波 元包括二電容,該二電容之電容值不等。 6·如申請專利範圍第4項所述之檢測裝置,其中,該反饋單元勺 括-第-可調電阻及-第二可調電阻,該2可調電V為該積i 電路提供反饋電壓。 、~ 7·如申請專利範圍第6項所述之檢測裝置,其中,該第一可,電 13 1299086 阻之阻值大於該第二可調電阻,該第一可調電阻為粗調,該第 二可調電阻為細調,該第二可調電阻之電壓反饋至該積體電路。 8·如申請專利範圍第6項所述之檢測裝置,其中,該第一可調電 阻之阻值為200ΚΩ,該第二可調電阻之阻值為2ΚΩ。 9.如申請專利範圍第6項所述之檢測裝置,其中,該第一可調電 阻進一步並聯一電容。 10·如申請專利範圍第4項所述之檢測裝置,其中,該控制單元包 括一積體電路,該積體電路之型號為GM34063。 11·如申請專利範圍第10項所述之檢測裝置,其中,該控制單元進 /一步包括一電容,該電容為該積體電路提供震盪頻率。 12·如申請專利範圍第u項所述之檢測裝置,其中,該電容之 > 值為InF。 13·如申請專利範圍第4項所述之檢測裝置,其中,該輪出渡 元包括二電容,該二電容之電容值不等。 早 14·如^請專利範圍第1項所述之檢測裝置,其中,該第二電 測單元包括二電阻及一電壓表,該二電阻串聯,―電卜且之取 值大於另一個,該電壓表與電阻值較小的電阻並聯。 ” P且 15·如申請專利範圍第1項所述之檢測裝置,其中,該二 單元皆為電壓表。 壓檢剩 16·,申請專利範圍第丨項所述之檢測裝置,其進一步包括一 殼’該外殼用於收容該檢測裝置之元件。—外 14
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