TWI261663B - Measuring apparatus for measuring the error of roundness meter on-line and its compensation method - Google Patents
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Description
1261663 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種即時量測直圓 、/ 一圓度里,則儀誤差之量測裝置 及補ίΜ方法’特別是指一種不需;+ 而挺相有真圓度量測儀硬體本 身精度的情況下,即可利用雷射 四象儀’即時量測真《I度儀所 量測之結果分離出真圓度量測儀旋轉盤誤差之創新設計。 【先前技術】 按,就目前一般真圓度量測儀有兩種不同設計:一為旋轉 感測器式⑽atlng sen财type);—為旋轉工作台式 (Rotatlng table type),即工件旋轉,探頭固定。不論使用那 -種真圓度量測儀’該真圓度量測儀之機構必包含一旋轉軸。 在使用真圓度量測儀時,我們希望真圓度量測儀所量測到 的真圓度不包含真圓度量測儀的旋轉軸誤差。因此,一台高精 度的真圓度量測儀,會盡量減少旋轉軸誤差,但是旋轉轴誤差 越小的真圓度量測儀,代表其價格越昂貴。 為了使在里測真圓度時,能將工件的真圓度與真圓度量測 儀的旋轉軸誤差分離’本發明提出一種方法,透過此方法可將 真圓度量測儀的旋轉軸誤差與待測工件本身的真圓度分離,使 得廉價的真圓度量測儀亦有高精度量測能力。 【發明内容】 本兔明之主要目的即在於提供一種即時量測真圓度量測儀 吳差之畺測衷置,其真圓度量測儀的精度不需要求很高,即可 1261663 透過本發明直接量測、補償真圓度量測儀的誤差。 一本發明之其一目的係在於提供-種即時量測真圓度量測儀 决差之!測裝置,利用雷射二極體配合四象位位置感測器測量 旋轉軸誤差’為一非接觸式量測,其量測精度可達到微米(,, 具有單獨量測真圓度量測儀誤差之能力。 本發明之次要目的係在於提供—種即時量測真圓度量判儀 系差之量測裝置’除了具有單獨量測真圓度量測儀旋轉軸誤差 之此力以外,而且可針對待測工件(如中空工件、大實心工件 小實心工件)之樣式而提供雷射二極體最佳擺設之量測方式, 使^己合真圓度量測儀測得真圓度’並透過上述雷射二極體及 四象位位置感測器,測得真圓度量測儀之旋轉軸 出待測工件之真圓度。 十异 本舍明之另一主要日沾乂么各 、係在於提供一種即時量測直 測儀誤差之補償方法, 一圓度里 八有早獨量測真圓度量測儀旋轉軸 充產之月匕力以外,可认和人士 ^ 。”圓度量測儀測得真圓度得同時,
透過雷射二極體及条 、 T Μ σ 位置感測器,測得真圓度量測儀之旋 轉軸誤差,而量測ψ诂# ^ 隅又万疋 择 、 一待測工件的真圓度(待測工件的直圓 的真圓度量測儀旋_誤差^法四象位位置感測_得 对、、、述I明目的之即時量測真圓度量測儀等差之曰、, 裝置及補償方法,係包括有· 又里㈣决差之!測 1261663 一真圓度量測儀基座; 一真圓度量測儀轉盤,設置於真圓度量測儀基座上; 一真圓度量測儀探頭,架設於真圓度量測儀基座及轉盤之 側方; 一四象位位置感測器,設立於真圓度量測儀轉盤之上方; 一雷射二極體,係置於真圓度量測儀轉盤上,並與四象位 位置感測H相對應;亦可置於待測工件之中空或上方,而與四 象位位置感測器相對應;或者,可置於真圓度量測儀轉盤上, 且位於待心狀旁侧,調整其❹彳端與四象錄置感測器相 對應; 以及,連接真圓度量測儀、四象位位置感測器及雷射二極 體之電腦及類比/數位轉換卡(A / D卡)· 當真圓度量測儀進行量測時’真圓度量測儀轉盤(或包括 待測工件)開始旋轉,此時個人電腦(p〇透過類比綠位轉換 卡(A/D卡)同步擷取真圓度量測儀探頭、四象位位置感測器 腦再將記憶體資料取出,並 四象位位置感測器=待測 工件的真圓度,最後輸出結 的資料,並將資料存入記憶體,電 以真圓度3:測儀測得的真圓度— 工件的真圓度,來計算出測得待測 果。 【實施方式】 個自由度之誤差,在不 誤差心⑻,為了即時量測 請參閱第一圖,一個旋轉軸具有6 考慮Z軸位移誤差A⑹及z軸角度位置 1261663 =四個誤差料絲響,本發料別設計 度㈣儀誤差之量測裳置及補償方法: 真圓 之量測裝置,係包括有: 而對該即時量測真圓度量測儀誤差 —真圓度量測儀基座1; 一 設置於真圓度量測儀基座丨上; 真圓度量測儀探頭3,架設於真 盤2之側方; 一真圓度量測儀轉盤2, 圓度里測儀基座1及轉 方; 四象位位置感測器4,設立於真圓度量 測儀轉盤2 之上 一雷射二極體5,係置於真圓度量測儀轉盤2上,並與四象 位位置感測器4相對應;以及, 連接真圓度量測儀(基座1、轉盤2及探頭3)、四象位位 置感測$ 4及雷射二極體5之電腦6及類比/數位轉換卡(A/ D卡)61 ,可將接收四象位位置感測器4、雷射二極體5之資料 進行項取、儲存及計算,使之產生在量測真圓度的同時,可有 效分離出真圓度量測儀旋轉軸誤差,求得真圓度量測儀旋轉盤 誤差。 再者’由於上述真圓度量測儀基座1、真圓度量測儀轉盤2 及真圓度量測儀探頭3為真圓度量測儀之既知構造,故對其技 術内容,在此不予贅述;是以,本發明只針對真圓度量測儀(基 座1、轉盤2及探頭3)搭配結合四象位位置感測器4、雷射二 1261663 極體5所組成之量測裝置,於進行單獨量測中,而在產生量測 真圓度的同時,可有效分離出真圓度量測儀旋轉盤誤差之補償 方法,如下: 進行真圓度量測儀量測時,該真圓度量測儀轉盤2即於真 圓度量測儀基座1上開始旋轉,此時個人電腦(pc) 6透過類比 /數位轉換卡(A//D卡)61同步掏取真圓度量測儀探頭3、四象 位位置感測器4的資料,並將資料存人記憶體内,待真圓度量 測儀量測結束後,電腦6再將記憶體資料取出,即可單獨= 真圓度量測儀旋轉軸誤差。 據此,藉由上述之組成設計,本發明之即時量測真圓度量 測儀誤差之量測裝置及補償方法,利用雷射二極體5結合= 位位置感測器4測#_軸誤差,為—非接觸式量測,其量測 精度可達到微米(,,具有單獨量測真圓度量測儀旋轉轴誤差 之能力’因此可在不提昇錢度量測儀必要構造的精度下,即 可透過本發明結合雷射二極體5、四象位位置
接量測真圓度量測儀的旋轉軸誤差,而達到不需提升直圓产旦 測儀硬體本純度㈣況下,有效提高_度_儀精度Z 另外,树明所設計即時量測真圓度量測儀誤差之量測袭 置:除了具有早獨量測真圓度量測儀誤差之能力以外, 對欲置於真圓度量測儀轉盤2之待測工件 τ工工件7、大實 1261663 心工件8、小實心工件9 )的樣式,而提供最佳量測之設立方位, 再藉電腦6 (包括類比/數位轉換卡61)擷取、儲存,並以『真 圓度量測儀測得的真圓度-四象位位置感測器測得真圓度量 測儀旋轉盤誤差=待測工件的真圓度』之補償方法,來計算出 測得待測工件的真圓度,最後輸出結果。 關於欲求得待測工件為中空工件7、大實心工件8或小實心 工件9之真圓度時,如第三圖至第五圖所示: (1) ·中空工件7:如第三圖所示,該雷射二極體5置於真圓 度量測儀旋轉盤3之中心位置上,四象位位置感測器4置於雷 射二極體5的正上方,中空工件7設立於雷射二極體5之外侧、 真圓度量測儀旋轉盤3上,真圓度量測儀探頭3架設於中空工 件7外側;此時雷射二極體5之雷射光發射方位正好與雷射二 極體5相對應,可供當真圓度量測儀開始量測,真圓度量測儀 的旋轉盤4開始旋轉’此時個人電腦⑽6透過類比/數位轉換 卡(A/D卡)61透過同步操取真圓度量測儀探頭3的資料,以 及四象位位置感測器4的資料,並將資料先存入記憶體中,告 真圓度量測儀測量結束,電腦再將記憶體内的資料取出,計算 待測中空工件7的真圓度,並輪出其結果。 (2) ·大貫心工件8 ·如第四圖所示,將大實心工件8置於真 圓度量測儀旋轉盤3上,該雷射二極體5透過固定架51,將雷 射二極體5架設於大實心工件8±’該四象位位置感測器二 !261663 於雷射—極體5正上方,真圓度量測儀探頭3置於實心大工件8 的外側;當真圓度量測儀開始量測,真圓度量測儀的旋轉盤‘ 開始旋轉’此時個人電腦⑽6透過類比/數位轉換卡(VO 卡)61透過同步擷取真圓度量測儀探頭3的資料,以及四象位位 置感測器4的資料,並將資料先存入記憶體61中,當真圓度量 測儀測量結束,電腦在將記憶體㈣資料取出,計算待測大實 心工件8的真圓度,並輸出其結果。 ⑻·小實心卫件9:如第五圖所示,將小實心卫件9置於直 圓度量測儀旋轉盤3上,雷射二極體5透過可調整角度之另一 固定=52,架設於真圓度量測儀旋轉盤3的邊緣,四象位位置 感測為4置於真圓度量測儀旋轉盤3的正上方,調整雷射二極 體5的雷射光發射角度,使雷射光能打在四象位位置感測器4 中央位置,接著將小實心工件9置於真圓度量測儀旋轉盤3上, 真圓度量測儀探頭3置於小實心工件9的外侧;當真圓度量測 制始量測’真圓度量測儀的旋轉盤4開純轉,此時個人電 細(PC)6透過類tb/數位轉換卡(A/d + )6i透過同步擁取真圓 度量測儀探頭3的資料’以及四象位位置感測器4的資料,並 將資料先存入記情辦中 己^體中,*真圓度量測儀探頭3測量結束,電 腦6在將記憶體内的|判_ 、取出’計算待測小實心工件9的真圓 度’並輸出其結果。 、不上所、‘ ’本發明一種即時量測真圓度量測儀誤差之補償 1261663 方法,其步驟如下·· 1 ·取一包括有真圓度量測儀基座1、真圓度量測儀轉盤2 及真圓度量測儀探頭3之真圓度量測儀; 2·並於該真圓度量測儀基座卜轉盤2之上方架設一四象位 位置感測器4 ; •且於该真圓度量測儀轉盤2上置設一雷射二極體4,此雷 射二極體4正與四象位位置感測器4相對應;以及, 4.連接真圓度量測儀、雷射二極體及四象位位置感測器之 電腦6及類比/數位轉換卡(A/D卡)61 ; 5·可利用電腦6及類比/數位轉換卡(A/D卡)61擷取真 圓度量測儀、四象位位置感測器4及雷射二極體5之資料,並 儲存、運异,將真圓度量測儀所量測之結果分離出真圓度量測 儀之旋轉滅差,而可單獨求得真圓度量測儀_軸本身誤差; 6.將待測工件置於真圓度量測儀轉盤2上而欲量測待測工 件真圓度時’配合真圓度量測儀探頭3位於待測工件之外側, 並依據待測工件有中空卫件7、大實心卫件8及小實心工件9 之不同,可改變雷射二極體之架設方位,如: 6-1.當欲求得待測工件為中空件 幵(之真®度,係將雷射 二極體5設置於中空工件7之中 7田射一極體5與其 上方之四象位位置感測器4正對廡; 6〜2.當欲求得待測工件為大實 心工件8之真圓度 係將雷 12 1261663 射一極體5藉固定架51架设於大實心工件8上,亦令雷射二極 體5與其上方之四象位位置感測器4正對應; 6-3.當欲求得待測工件為小實心工件9之真圓度,係將雷 射一極體5藉另一固疋架52架設於真圓度量測儀轉盤2之邊 緣,此時四象位位置感測器4正對應真圓度量測儀轉盤2上方, 調整雷射二極體5之雷射光發射角度正好可打在四象位位置感 測器4 ; 8.開始進行真圓度量測儀、四象位位置感測器4及雷射二 極體5之量測與補償; 9·該真圓度量測儀轉盤2開始旋轉中,此時電腦6透過類 比/數位轉換卡(A/D卡)61同步擷取真圓度量測儀探頭3、四 “位置感測器4的資料’並將資料存入記憶體,直至真圓度 量測儀量測結束,電腦再將記憶體資料取出,並以直圓度㈣ _得的真圓度-象位位置感 直4列裔4測仵真圓度量測儀旋 -差--待測工件的真圓度,來計算及輸出待 之結果。 I、圆/又 由上可知,當真圓度量測儀探 感剛器‘量測出的直圓产不… 四象位位置 置4、… 』度不會為零。所以,只要將四象位位 置感/貝J态4所测量屮&吉m ώ田 令” 0度置測儀旋轉軸誤差,鱼直 測儀探頭3測量出的直圓产 〜、0度 〆、因度做運异,即可精確得到待測實心工 13 I261663 件的真圓度。 惟係針對本發明之一可行實施例之具雜說明, 制本發明之專利範圍,凡未脫離本發明 中。 為之4效貫施或變更’均應包含於本案之專利範圍 ⑽上所述’本案不但在方法上確 方法增進上述多項功效,應已充分符合新穎性及進=== 發明專利要件,矣价/任之去疋 利申請宰,卩勵d ”請,麟#局核准本件發明專 甲月案以勵發明,至感德便。
14 1261663 【圖式簡單說明】 第一圖··一般旋轉軸之6個自由度之誤差參數 第二圖··本發明真圓度量測儀旋轉軸誤差量測裝置圖 弟三圖··本發明針對中空工件真圓度量測方法示意圖 第四圖:本發明針對實心、大工件真圓度量測方法示意圖 第五圖··本發明針對實心小杜亩 TX j件真®度量測方法示意圖 【主要元件符號說明】
1真圓度1測儀基座 2真圓度量測儀轉盤 3真圓度量測儀探頭 4真圓度量測儀轉盤 5雷射二極體 51固定架 52另一固定架 6電腦(PC) 61類比/數位轉換卡(A/D卡) 7中空工件 8大實心工件 9小實心工件 15
Claims (1)
1261663 十、申請專利範圍: 1 _ 一種即時量測真圓度量測儀誤差之量測裝置,係包括有: 一真圓度量測儀基座; 一真圓度量測儀轉盤,設置於真圓度量測儀基座上; 一真圓度量測儀探頭,架設於真圓度量測儀基座及轉盤 之側方; 一四象位位置感測器,設立於真圓度量測儀轉盤之上方; 一雷射二極體,係置於真圓度量測儀轉盤上,並與四象 0 位位置感測器相對應;以及, 連接真圓度量測儀、四象位位置感測器及真圓度量測儀 探頭之電腦及類比/數位轉換卡(A/D卡),可將接收四象位 位置感測器、真圓度量測儀探頭之資料進行讀取、儲存及計 π,使之產生在S測真圓度的同時,可有效分離出真圓度量 測儀旋轉軸誤差; 據上組成’俾形成一種具有單獨即時量測真圓度量測儀鲁 之旋轉軸誤差的高精度量測裝置。 2.如申請專利範圍第i項所述一種即時量測真圓度量測儀誤差 之量測裝置’其中,該真圓度量測儀轉盤上可放置待測卫件, 以供當真圓度量測儀開始量測,真圓度量測儀的旋轉盤開始 方疋轉,此時電腦透過記憶體同步擷取真圓度量 料,以及雷射二極體、四象位位置感測器的資料,== 先存入記憶體中,當真圓度量測儀測量結束,電腦在將記憶 16 I26l663 體内的資料取出’並藉測得真圓度量測儀之真圓度扣除旋轉 轴誤差’即可計算求得㈣工件的真,並輸出其結果。 申明專利犯圍第2項所述_種即時量測真圓度量測儀誤差 之量測裝置,其中,楫、、目丨丨丁此1 i 、T得測工件可為中空工件,配合該雷射二 極體置於中空工件之中处 千之中工内,並與四象位位置感測器相對 應’以供求得中空工株 > 亩m _ 件之真0度,真圓度量測儀探頭則位於 實心大工件的外側。 項所述一種即時量測真圓度量測儀誤差 待測工件可為大實心工件,配合該雷射
如申請專利範圍第2 之量測裝置,其中, —極體透過固定架,將雷射二極體架設於大實心工件上,使 該雷射二極體位於四象位位置感測器之正上方,真圓度量測 儀探頭則位於實心大工件的外側。
•如申凊專利範圍第2項所述—種即時量測真圓度量測儀誤差 之量測裝置’其中’待測工件可為小實心工件,將小實心工 件置於真圓度量測儀旋轉盤上,雷射二極體透過可調整角度 之另一固定架’架設於真圓度量測儀旋轉盤的邊緣,四象位 位置感測器置於真圓度量測儀旋轉盤的正上方,調整雷射二 極體的雷射光發射角度’使雷射光能打在四象位位置感測器 中央位置’接著將小實心工件置於真圓度量測儀旋轉盤上, 真圓度量測儀探頭置於小實心工件的外側。 -種即時量測真圓度量測儀誤差之補償方法,其步驟如下·· 17 1261663 取一包括有真圓度量測儀基座、真圓度量測儀轉盤及真圓 度量測儀探頭之真圓度量測儀; 並於該真圓度量測儀基座、轉盤之上方架設一四象位位置 感測器; 且於該真圓度量測儀轉盤上置設一雷射二極體,此雷射二 極體JL與四象位位置感測器相對應;以及, 連接真圓度量測儀、四象位位置感測器及雷射二極體之電 腦及類比/數位轉換卡(A/D卡); 可利用電腦及類比/數位轉換卡(A / d卡)擷取真圓度量 測儀、雷射二極體及四象位位置感測器之資料,並儲存、運算, 將真圓度$測儀所量測之結果分離出真圓度量測儀之旋轉軸誤 差,而可單獨求得真圓度量測儀旋轉軸本身誤差·,
改變雷射二極體之架設方位,如:
位置感測器正對應;
“工件之真圓度,係將雷射二極 h ’亦令雷射二極體與其上方之 1261663 四象位位置感測器正對應 體藉件為小實心工件之真圓度,係將雷射二極 :曰 n卞叹於真圓度量測儀轉盤之邊緣,此時四象位 位置感測器正對應真圓度量測儀轉盤上: 雷射光發射角度正好可打/ 田ί-極體之 好了打在四象位位置感測器; 圓度量測儀轉盤上之後,接著, 、雷射二極體及四象位位置感測器 俟待測工件完成置於真 開始進行真圓度量測儀 之量測與補償;
該真圓度量測儀轉盤開始旋轉中’此時電腦透過類比/數位 轉換卡(A/D卡)同步擷取真圓度量測儀探頭、四象位位置感 測器的資料’並將資料存入記憶體,直至真圓度量測儀量測結 束’電腦再將記憶體資料取出’並以真圓度量測儀測得的真圓 度-四象位位置感測器測得真圓度量測儀旋轉誤差=待測 工件的真圓度,來計算及輸出待測工件的真圓度之結果。
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI739693B (zh) * | 2020-12-14 | 2021-09-11 | 財團法人工業技術研究院 | 量測設備 |
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2001
- 2001-07-11 TW TW90117131A patent/TWI261663B/zh not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
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| TWI739693B (zh) * | 2020-12-14 | 2021-09-11 | 財團法人工業技術研究院 | 量測設備 |
| US11808560B2 (en) | 2020-12-14 | 2023-11-07 | Industrial Technology Research Institute | Dimension measurement apparatus |
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