TWI233491B - A shorten distance field patterns measurement device for reflector antenna without microwave anechoic chamber - Google Patents

Description

1233491 玖、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種不具微浊 仪/反暗至之纟倍距反射面天線場 型量測裝置，特別是指一種姓人卩主p 裡、、'。合時域脈衝系統而不具微波暗 室之縮距反射面天線場型量測裂置。 【先前技術】 傳統天線量測方式分兔-絲 .αϊ ^ j刀八刀馮二種，分別為近場量測裝置丄i 「如附件一所示」、縮距場量測裝置i2「如附件二所示」，及 遠場量測裝置13「如附件二所- 乂、+、^曰 干一所不」，刖述的量測方式通常都 是屬於高成本’因為它需要在射頻的微波暗室内，微波暗室 内有高精確性的掃描裝置及邊緣處理之高精密縮距反射面 天線及微波吸收體15,而且還需要考慮到微波暗室的大小， 若微波暗室越大（像是遠場所需要的空間）則微波吸收體Η 的里就多成本也就越多了。 -般天線量測都需要考慮到距離、頻率及天線大小等條 件來決定用哪一種天線量測方式，如量測一 6〇公分的衛星 直播偏焦反射面天線’其工作頻率為12GHz，在一般傳統的 ΐ測空間’長、寬、高之邊長至少需要有29公尺（n2Z^)， 若微波暗室需要這麼大’微波吸收體15之量也就要很多， 相對的成本也就大大的提高了，若是使用室外遠場’需要考 慮到天候、多重路徑的影響，和外部其他射頻干擾之影響。 傳統的縮距場量測方法都是使用反射面天線，因為它可 1233491 、產生近似运j；琢距離之平面波，一般反射面天線有三種結 構 77別為單一偏焦拋物反射面，拋物面及圓柱面雙反射 面及雙形反射面「如附件四所示」，由於反射面天線會有 邊緣、170射’ 一般採用据齒狀邊緣14 (serrated edge)、捲邊 (roll edge)、電阻隔板16(R—card)及微波吸收體15當擋板

Cmiefowave absorber)等方式解決邊緣繞射的問題，上述幾 種方法由於涉及精密度要求，製作相對不容易致使設置成本 提高。 傳統近場量測系統天線場型量測系統沒有很廣泛被使用 的原因是它需要很大的成本花費在很大的微波暗室空間、及 該空間内部之微波吸收體15和精確複雜的近場的掃描設備 或间精岔度的縮距反射面天線，其設備及維護成本均相當驚 人’實非一般企業或研究機構所能負擔。 再者若不採用上述近場量測系統而採用縮距場量測天線 %型，仍然需要相當大空間及微波吸收體15，同時還需需要 高精密度的縮距反射面天線，及反射面還需邊緣處理。 由此可見，上述習用天線量測裝置仍有諸多缺失，實非 一良善之设計者，而亟待加以改良。 本案發明人鑑於上述習用天線量測裝置所衍生的各項缺 點’乃亟思加以改良創冑，並經多年苦心孤詣潛心研究後， 終於成功研發完成本件不需微波暗室及不需反射面邊緣處 1233491 理之縮距反射面天線場型量測裝置。 【發明目的】 本發明之目的即在於提供一種縮距反射面天線場型量測 裝置，係提供一種增益高、低成本和結構簡單的縮距場量測 方式。 本舍明之-人一目的係在於提供一種縮距反射面天線場型 量測裝置，採用不須作任何邊緣處理之反射面天線，結合了 時域量測系統可以移除邊緣繞射所造成的多重路徑之散射 場’相對的成本也就降低了很多。 本發明之另一目的係在於提供一種縮距反射面天線場型 i測裝置’係結合了時域量測系統，該系統可移除反射面天 線所產生之反射、散射和繞射等現象，並可在時域中截取訊 號’因此不需要微波暗室。 本發明之又一目的係在於提供一種縮距反射面天線場型 量測裝置，係提供天線大小場型及相位場型量測時其使用空 間需求較小且不需微波吸收體也能量測。 【發明内容】 可達成上述發明目的之縮距反射面天線場型量測裝 置’包括有： 一天線座架，提供支撐反射面天線結構之裝置； 一反射面天線，係連結於該天線座架上緣，由一偏焦拋 1233491 物面和一饋源組成，該饋源係為一環形皺面天線其所發出的 球面波會經偏焦拋物面反射後會變換成一平面波； 一喇u八天線，係與訊號擷取接收裝置相連，以便測得離 反射面天線靜態區的大小場型及相位場型；以及 一訊號擷取接收裝置，具有一輸出端與輸入端，該輪出 端以傳輸線相連接饋源提供輸出訊號，而該輸入端以傳輸線 與喇σ八天線連接以接收輸入訊號，再利用時域量測系統把輪 出與輸入訊號之多重路徑所產生的邊緣繞射場移除後，再截 取時域中輸出與輸入訊號相互比較而求得的傳遞函數。 【較佳實施例】 請參閱圖一，本發明所提供之縮距反射面天線場型量測 裝置，主要包括有：一天線座架21,提供支撐反射面天線 22結構之裝置；一反射面天線22，係連結於該天線座架2ι 上緣，由一偏焦拋物面和一饋源2 3組成，該饋源2 3係為一 ¥形皺面天線其所發出的球面波會經偏焦拋物面反射後會 變換成一平面波；一喇B八天線24，係與訊號擷取接收裝置 25相連，以便測得離反射面天線22靜態區的大小場型及相 位場型；以及一訊號擷取接收裝置25，具有一輸出端與輸入 端’該輸出端以傳輸線相連接饋源23提供輸出訊號，而該 輪入端以傳輸線與喇叭天線24連接以接收輸入訊號，再利 用時域量測系統把輸出與輸人訊號之多重路徑所產生的邊 1233491 緣繞射場移除後，再截取時域中輸出與輸入訊號相互比較而 求得的傳遞函數訊號。 本發明係使用16〇cm商業界所使用之衛星直播偏焦反射 面天線，材質是鍍鋅鋼板當作反射面天線22，選擇饋源23 的天線疋％形皺面天線，當作反射面天線22的饋源23。理 淪上靜態區是反射面天線22盤面大小的三分之一，所以靜 心區大小應該會約有53cm，傳統的縮距反射面測試靜態區 (Quiet zone)性能約有大小（magnitude)正負〇 5dB的波紋 漣漪，以及正負5度的相位波紋漣漪，將根據以上所有之特 性作參考，再係結合訊號擷取接收裝置25之時域量測系統， /、日寸域里測系統工作脈衝寬度為3〇ps，脈衝重覆率為 25OKHz，輸出電壓為3〇伏特，由於此時域量測系統可以截 取時域中主要訊號，i可以移除多重路徑所產生的邊緣繞射 ^而使用時域脈衝訊號平均值的功能也可以減少室外射頻 之干擾。 本發明使用的天線量測系統有（丨）頻域近場量測系統 及（2 ) t外天線量測系統，近場之微波暗室長寬高大小分 別為9公尺χ4· 4公尺χ3· 8公尺，訊號擷取接收裝置25(8卿嶋 an_為HP8722E，軟體為Α_Μ公司設計提供，測試頻率 範圍從50Μίίζ到4GGHZ，而時域量測系統有兩個發射站，距 離刀別為115公尺及236公尺，測試頻率範圍從1〇〇MHz到 1233491 26GHz，脈衝寬度為30ps，脈衝重覆率為l25KHz，輸出電壓 為30伏特，軟體為GE0Z0NDAS公司設計提供，反射面天線 22大小為16〇公分，環形皺面天線頻段為12到i8GHz。 本發明量測分為兩個階段，第—階段是本發明之反射面 在近場天線量測系統裡調校，調校後在近場的微波暗室内再 作靜態區的量測，並作「頻域量測」和「時域量測」的靜態 區結果比較，第二階段使用兩種形式的驗證天線來作本發 明、近場以及室外遠場的結果比較。 ※第一階段：在近場調校反射面天線22 本階段係使用大葉大學之多功能近場量測裝置丨丨，其微 波暗室之長寬高大小為9公尺χ4_ 4公尺χ3· 6公尺，使用的 s測方法為平面極形（plane p〇lar)，它是屬於頻域量測的 方式’量測的頻率點為12GHz，量測此反射面天線22的靜態 區大小場型及相位場型，其量測結果如r如圖二、三所示」； 另里測係使用導波管（6 2)當作發射源來作量測，由於此 天線之場型比較胖（6 dB i低指向性），因此邊緣繞射場會比 較明顯’所以它的波紋漣漪會比較大，而它的大小 (magnitude)及相位（phase)之波紋漣漪分別為正負5dB及正 負1 〇度，之後再使用時域量測系統作靜態區之量測，量測 的頻率點也為12GHz，量測結果「如圖四、五所示」，靜態區 大小及相位之波紋漣漪分別為正負ldB及正負1〇度，由以 1233491 上之量測結果中比較，時域量測的大小（晴伽㈣及相位 (Phase)之波紋漣漪，都比頻域還要小，在本發明中結合時 域量測系統沒有作任何邊緣處理，它的波紋漣漪就相當很小 了，由量測結果可以看出反射面之靜態區的性能如下： 寬度大小：55公分 南度大小：5 0公分 深度大小：5 0公分

大小 taper : 1 dB

大小波紋漣漪：+-ldB 相位波紋漣漪：+-l〇deg ※弟二階段：天線場型量測結果及增益之比較 本階段係提供兩種天線型式之驗證量測，第一種是量測 寬頻喇<低指向性天線31(指向性約12. 5dBi)，第二種是一 個12GHz的60公分高指向性衛星直播反射面天線32(指向性 約3 5 · 5 dB i)’這兩種天線將會作本發明量測場和傳統遠場 之量測，並作一個比較。 ◎天線一：低指向性天線31 (寬頻喇队天線）量測 量測低指向性天線31主要驗證反射面天線2 2的邊緣、繞 射場之移除功能。首先將此低指向性天線31在頻域量測的 近場微波暗室内作場型量測「如附件五所示」，此低指向性 12 1233491 天線31係使用球形近場量測 八里，則的頻率點為12GHz， 於咼頻時其功率大小不夠，所 所以在發射端及接收端都加了放 大器，總共放大了 60dB，在近場 ⑺馬了要減少多重路徑所以 在待測天線前面加了-面檔牆，它是使用微波吸收體15及 電阻隔板16所組成，先在微波暗室採用近場球形掃描量測 方式’進仃场強量測蒐集量測資料，之後將此低指向性天線 31分別使用使用本發明之反射面天線以場型量測裝置「如 附件六」與傳統遠場量測裝置13「如附件七所示」進行場強 里測’於「附件六」中可得知本發明之量測場的深度距離只 有2公尺，而傳統遠場距離需要6· 27公尺，另外將上述三 種里測方式得出之量測場形資料加以歸納整理，其中「圖六」 為本發明量測低指向性天線E—plane場型和近場場型之比較 圖、「圖七」為本發明量測低指向性天線E—plane場型和遠 場場型之比較圖、「圖八」為本發明量測低指向性天線 H-plane場型和近場場型之比較圖、而「圖九」為本發明量 測低指向性天線H-plane場型和遠場場型之比較圖，由以上 之量測結果可以證明本發明和近場量測裝置n及遠場量測 裝置13等測試場都相當的接近。 ◎天線二：高指向性衛星直播反射面天線量測 里測南指向性衛星直播（DBS: direct broadcast system) 反射面天線32 ’主要驗證反射面天線22之表面誤差度。首 13 1233491 先先使用頻域近場量測裝置1丨，量測高指向性衛星直播反射 面天線32場型，由於它是屬於高指向性天線，所以使用的 里測方式是平面極形（plane p〇lar)近場量測系統方式「如 附件八所示」，頻率也是12GHz，由於是高頻它的功率大小不 夠’所以在發射端及接收端都加了放大器，總共放大了 6OdB，之後再把咼指向性衛星直播反射面天線使用本發 明反射面天線22場型量測裝置與室外遠場量測裝置丨3量測 「如附件九、十所示」，本發明量測場的距離總深度約為2 a尺，增盈的ϊ測結果約為36· 385dBi，而室外遠場之距離 為115公尺（因為該高指向性衛星直播反射面天線犯本身所 需的遠場距離為29公尺，所以是足夠的），增益的量測結果 約為35.533dBi，本發明和近場還有室外遠場的H—piane場 型ΐ測結果，比較如圖十、十一所示，其近場及本發明的場 型相當接近。 由以上兩個天線之量測結果發現所設計的反射面天線 22 ’又有經過任何邊緣處理，並且結合了時域量測系統，量測 場的距離總深度約$ 2公尺相較於傳統室外遠場之距離為 公尺是—個低成本，並具有遠場量測系統13之天線量測 最佳選擇。 t參考文獻】

Chang D.-C. , "ANTENNA ENGINEERING" Da-Yeh 1233491

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[4] Geozondas， ”Antenna Test Area”Vilnius 2002. 【特點及功效】 本發明所提供之縮距反射面天線場型量測裝置，不但不 需要微波暗室及微波吸收體，而且反射面天線又沒有作任何 邊緣處理，又於量測結果中得知本發明與傳統近場量測與遠 場量測結果都相當接近，使本發明的大大降低了成本及量測 空間。 上列詳細說明係針對本發明之一可行實施例之具體說 明，惟該實施例並非用以限制本發明之專利範圍，凡未脫離 1233491 本發明技藝精神所為之等效實施或變更，均應包含於本案之 專利範圍中。 、、不上所述，本案不但在技術思想上確屬創新，並能較習 用物增進上述多項功效，應已充分符合新穎性及進步性之 法疋毛明專利要件，爰依法提出中請，懇冑貴局核准本件 發明專利申請案，以勵發明，至感德便。 【圖式簡單說明】 明參閱以下有關本發明一較佳實施例之詳細說明及其附 圖’將可進-步瞭解本發明之技術内容及其目的功效；有關 該實施例之附圖為： 圖一為該縮距反射面天線場型量測裝置之立體視圖； 圖二為反射面天線在近場内調校於12GHz頻域量測之大 小場型圖； 圖三為反射面天線在近場内調校於12GHz時域量測之相 位場型圖； 圖四為該縮距反射面在近場使用時域量測於12GHz時域 量測之大小場型圖； 圖五為該縮距反射面在近場使用時域量測於12GHz時域 量測之相位場型圖； 圖六為該反射面天線場型量測低指向性天線E—pianej# 型和近場場型之比較圖； 16 1233491 圖七為該反射面天線場型量測低指向性天線E-p 1 ane場 型和遠場場型之比較圖； 圖八為該反射面天線場型量測低指向性天線H-p 1 ane場 型和近場場型之比較圖； 圖九為該反射面天線場型量測低指向性天線H-p 1 ane場 型和遠場場型之比較圖； 圖十為該反射面天線場型量測高指向性衛星直播反射面 天線H-pi ane場型和近場場型之比較圖； 圖十一為該反射面天線場型量測高指向性衛星直播反射 面天線H-pi ane場型和遠場場型之比較圖； 附件一為習用之近場量測系統實體示意圖； 附件二為習用之縮距場量測系統實體示意圖； 附件三為習用之室外遠場量測系統實體示意圖； 附件四為習用之雙縮距反射面天線量測系統實體示意 圖； 附件五為低指向性天線在頻域量測的近場微波暗室内作 場型量測示意圖； 附件/、為該反射面天線場型量測低指向性天線場型圖· 附件七為傳統遠場距離量測低指向性天線場型圖； 附件八為該高指向性衛星直播反射面天線在近場量測場 型之示意圖； 17 1233491 附件九為該反射面天線場型量測高指向性衛星直播反射 面天線之示意圖；以及 附件十為室外遠場量測該高指向性衛星直播反射面天線 場型之示意圖。 【主要部分代表符號】 11近場量測裝置 12縮距場量測裝置 13遠場量測裝置 14鋸齒狀邊緣 15微波吸收體 16電阻隔板 21天線座架 22反射面天線 23饋源 24 11 刺σ八天線 25訊號擷取接收裝置 31低指向性天線 3 2高指向性衛星直播反射面天線

Claims (1)

1233491ί

口

拾、申請專利範圍 I 一種縮距反射面天線場型量測裝置，包括·· 一天線座架’提供支撐反射面天線結構之裝置； 一反射面天線，係連結於該天線座架上緣，由一偏焦拋 物面和一饋源組成，該饋源係為一環形皺面天線其所發出的 球面波會經偏焦拋物面反射後會變換成一平面波； 一喇^天線，係與訊號擷取接收裝置相連，以便測得離 反射面天線靜態區的大小場型及相位場型；以及 一汛號擷取接收裝置，具有一輸出端與輸入端，該輸出 端以傳輸線相連接饋源提供輸出訊號，㈣輸人端以傳輸線 與剩σΛ天線連接以接收輸入訊號。

2. 3. 4. 如申請專利範圍第1項所述之縮距反射面天線場型量 裝置，其中該反射面天線係為一金屬反射面。 申明專利範圍第2項所述之縮距反射面天線場型量 装置’其中該反射面天線係具有平滑邊緣。 如申請專利範圍第1項所述之縮距反射面天線場型量 裝置，其中該饋源到反射面天線盤面的距離和反射面 線盤面直徑大小之比為〇· 6。 如申請專利範圍第！項所述之縮距反射面天線場型量 裝置，其中該訊號擷取接收裝置之時域量測系統，係 截取時域中輸出與輸入訊號相互比較而求得的傳遞 數0

19 5. 12¾ 柳 ^ 6. 如申請專利範圍第1項所述之縮距反射面天線場型量測 裝置，其中該時域量測系統可移除反射面天線多重路徑 所產生的邊緣繞射場。

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