TWD239461S - Ic測試用探針 - Google Patents

Ic測試用探針

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TWD239461S TW113303703D01F TW113303703D01F TWD239461S TW D239461 S TWD239461 S TW D239461S TW 113303703D01 F TW113303703D01 F TW 113303703D01F TW 113303703D01 F TW113303703D01 F TW 113303703D01F TW D239461 S TWD239461 S TW D239461S
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黃東源
黃裁白
裁白 黃
黃路建載
路建載 黃
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韓商惠康有限公司 (南韓)
韓商惠康有限公司
黃東源 (南韓)
黃東源
黃 裁白 (美國)
裁白 黃
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Abstract

【物品用途】;本設計係關於一種IC測試用探針，特別是有關於一種用於檢查電子元件之IC測試用探針。;【設計說明】;本設計係與待檢查物體的電極、端子或焊盤接觸的探針，例如半導體裝置、半導體封裝、積體電路、印刷電路板等。其頂部為冠狀形狀用來接觸端子，以增加與 IC端子的接觸穩定性。在檢查過程中，偵測時透過接觸基板和IC的上探針和下探針電信號。電訊號在最大壓縮下，上探針和下探針可同時直接接觸IC和基板以流動電流。

Description

IC測試用探針
本設計係關於一種IC測試用探針，特別是有關於一種用於檢查電子元件之IC測試用探針。
本設計係與待檢查物體的電極、端子或焊盤接觸的探針，例如半導體裝置、半導體封裝、積體電路、印刷電路板等。其頂部為冠狀形狀用來接觸端子，以增加與 IC端子的接觸穩定性。在檢查過程中，偵測時透過接觸基板和IC的上探針和下探針電信號。電訊號在最大壓縮下，上探針和下探針可同時直接接觸IC和基板以流動電流。
TW113303703D01F 2024-01-18 2024-07-18 Ic測試用探針 TWD239461S (zh)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW201905468A (zh) 2017-06-28 2019-02-01 南韓商Ｉｓｃ股份有限公司 彈簧針連接器用的探針組件、其製造方法及包含其的彈簧針連接器

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW201905468A (zh) 2017-06-28 2019-02-01 南韓商Ｉｓｃ股份有限公司 彈簧針連接器用的探針組件、其製造方法及包含其的彈簧針連接器

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