TWD170653S - 插入件內框之部分 - Google Patents
插入件內框之部分Info
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract 5
Abstract
【物品用途】;本設計物品係一種插入件內框。插入件，係在一檢測待測試電子零件性能或機能之電子零件處理裝置中，用以收納待測試電子零件(Device Under Test，DUT)，並使得DUT被測試頭所接觸。;【設計說明】;各視圖中之虛線部分，為本案不主張設計之部分。各視圖中之一點鏈線，為表示本案主張設計之部分的邊界。立體圖1、立體圖2、左側視圖、右側視圖以及仰視圖中之兩點鏈線，為表示A至F部分放大圖的局部範圍，為本案不主張設計之部分。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR20140008444 | 2014-02-19 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TWD170653S true TWD170653S (zh) | 2015-09-21 |
Family
ID=89708296
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW103304782F TWD170653S (zh) | 2014-02-19 | 2014-08-14 | 插入件內框之部分 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| TW (1) | TWD170653S (zh) |
-
2014
- 2014-08-14 TW TW103304782F patent/TWD170653S/zh unknown
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