TW579565B - Vacuum absorbing device with hydraulic static supporting element - Google Patents

Vacuum absorbing device with hydraulic static supporting element Download PDF

Info

Publication number
TW579565B
TW579565B TW91125141A TW91125141A TW579565B TW 579565 B TW579565 B TW 579565B TW 91125141 A TW91125141 A TW 91125141A TW 91125141 A TW91125141 A TW 91125141A TW 579565 B TW579565 B TW 579565B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
hydraulic support
support element
static hydraulic
closed end
holding device
Prior art date
Application number
TW91125141A
Other languages
English (en)
Inventor
De-En Pan
Shiue-Hung Lin
Original Assignee
Promatic Technology Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Promatic Technology Corp filed Critical Promatic Technology Corp
Priority to TW91125141A priority Critical patent/TW579565B/zh
Application granted granted Critical
Publication of TW579565B publication Critical patent/TW579565B/zh

Links

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Description

五、發明説明(l ) 【創作領域】 (請先閲讀背面之注意事項再填窝本頁) 本發明是有關於一種吸持裝置,特別是指一種利用液 壓柔性支撐半導體元件之可提供靜態液壓支撐(Hydraulic Static Supporting )的真空吸持裝置。 【習知技藝說明】 目前半導體製程的某些步驟(例如化學機械研磨, CMP )必須將晶圓吸附定位後,方能進行相關的加工成型 動作,因此,為將晶圓吸附定位,現今業者一般是藉由一 真空多孔陶瓷盤來吸附晶圓,其操作時,是將晶圓置放於 該真空多孔陶瓷盤的一吸附支撐盤面上,而該真空多孔陶 瓷盤相反於該吸附支撐盤面的另一盤面則與一真空吸引源 連接,如此’當該真空吸引源啟動後,該真空吸引源即可 經由該真空多孔陶瓷盤上的多數孔隙,而將晶圓吸附定位 於該吸附支撐盤面上。 雖然’藉由該真空多孔陶竟盤’可達到吸附定位晶圓 的目的,但,在實際使用時,該真空多孔陶瓷盤卻具有以 下之缺失:. 由於該真空多孔陶瓷盤是以陶瓷材料製成,因此,當 晶圓被吸附定位後’該真空多孔陶竟盤的吸附支撐盤面會 對晶圓的被吸附面產生剛性支撐的作用,因此,在加工的 過程中’晶圓的被吸附面會極易被該吸附支撐盤面所磨耗 損傷’所以,業者僅能以晶圓較粗糙:的非加工面當作被吸 附面’而不能以晶圓精細的加工面(例如,晶圓凸役有锡 球的一面)當作被吸附面’藉以避免晶圓的加工面因與該 尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210^^97#釐) 579565 ^— B7 五、發明説明 _ , 吸附支撐盤面I魎而扣治 # 貝傷,但,如此一來卻導致a圓僅能 藉由兩面中的其中一;。、 冬丨等致日日圓僅月b 面§作被吸附面,而如 的變化性及應用性。 而拘限了晶a加工 【創作概要】 因此,本發明 性t H 、,即在於提供一種可利用液壓柔 磨千面,且不會對半導體元件造成 w耗和知之具有靜態液犀 土叉撑7G件的真空吸持裝置。 於是,本發明+ 置,是可定:具有靜態液壓支撐元件的真空吸持裝 裝置包含有:有—定位面的半導體元件,該真空吸持 土座、-靜態液壓支撑元件,及一真空吸引 源。該基座具有一聞妨^ 、 Μ &胃、 ^、一沿一軸向而相反於該開放端 的封閉端、一沿号γ紅a 卜 軸向而從該開放端朝該封閉端延伸形成 的第一容室,及_ ,';L ^ a 及石该軸向而從該開放端朝該封閉端延伸 形成的第二容室,贫主i — 該+ V體7G件是可置放於該開放端上。 該靜態液壓支標元# 4 7、+ ,牙几件疋可被擠壓變形,該靜態液壓支撐元
件具有一囊袋,及_右+古& # A W 真於戎囊鈦内的液體,該靜態液壓 支樓元件是可置入該第一、二容室的其中一者内,以使該 囊袋形成一朝向該開放端的支撐面,該支撐面是可朝該開 放端支撑該定位面的一部份。該真空吸引源是與該第一、 一容室的另一者連接,而可朝該封閉端吸引該定位面的其 他部份。 【圖式之簡單說明】 本發明之其他特徵及優點,在以下配合參考圖式之較 佳實施例的詳細說明中,將可清楚的明白,在圖 ----------- ------------ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210爹2497貧釐)— '—^ --- (請先閲讀背面之注意事項再樣寫本頁) .、τ 579565 五、發明説明(3 ) ^第一圖是本發明之具有靜態液壓支撐元件的真空吸持 破置一第一較佳實施例與一晶圓的分解剖視圖; 、 第二圖是該第一較佳實施例的一靜態液壓支撐元件的 立體外觀示意圖; ' 第二圖是該第一較佳實施例的使用示意圖; 第四圖是本發明之具有靜態液壓支撐元件的真空吸持 裝置一第二較佳實施例的使用示意圖; 、 第五圖是本發明之具有靜態液壓支撐元件的真空吸持 裝置一第三較佳實施例的使用示意圖;及 第六圖是本發明之具有靜態液壓支撐元件的真空吸持 裝置一第四較佳實施例的使用示意圖。 、 【較佳實施例之詳細說明】 在提出詳細說明之前,要注意的是,在以下的說明中, 類似的元件是以相同的編號來表示。 參閱第一、二、三圖,本發明之具有靜態液壓支撐元 件的真空吸持裝置的一第一較佳實施例,是可定位一具有 一定位面1 1 0的半導體元件i 〇〇,在本實施例中該半導體 元件100是為-晶圓,且,該定位面11〇具有多數凸出的 錫球m,該真空吸持裝置包含:一基座1〇、一靜態液壓 支撐 το 件 20 (Hydraulic Static Supporting Element),及 一真空吸引源30。 3基座1 0具有一開放端1丨、一沿一軸向而相反於該 開放端1 1的封閉端12、一沿該軸向而從該封閉端12朝該 欠端11圍繞設置的内環壁13、一沿該軸向而從該封閉 579565 五、發明説明(4) (請先閲讀背面之注意事項再奏寫本頁) 端12朝該開放端U圍繞設置且環繞該内環壁^的外環壁 14、一由該内環壁13的内周面與該封閉端12配合界定形 的第-容室15,及一由該内環壁13的外周面、該外環壁 1 4的内周面與該封閉端1 2配合界定形的第二容室丨6。且 該外環壁1 4的開放端具有一環設的第一環階部} 4 1,及一 環設形成於該第一環階部141之下的第二環階部142,該 半導體元件100的定位面110的外圍周緣是可置放於該第 一環階部141上。 該靜態液壓支撐元件20,是可被擠壓變形,且,該靜 態液壓支撑元件20具有一囊袋21,及一充填於該囊袋21 内的液體22。該靜態液壓支撐元件2〇是可置入該第一容 室15内,以使該囊袋21形成一朝向該開放端u的支撐面 211,該支撐面211是可朝該開放端n支撐該定位面11〇 在該内環壁13之内的中央部份,且,該囊袋21更具有數 連接點212,該囊袋21的支撐面211與該囊袋21朝向該 封閉端12的底面,在該等連接點212的對應位置處是亙相 連接在一起·,以使該支撐面2 1 1可形成較平坦的狀態,而, 在本實施例中’該液體22是可採用水或油。 该真空吸引源30是與該第二容室16連接,而可朝該 封閉端12吸引該定位面1 1 〇在該内環壁1 3之外的外圍部 份,在本實施例中,該真空吸引源30是為一真空幫浦。此 外’雖然在本貫%例中该靜態液壓支樓元件2 〇是容置於該 第一容室15内,而,該真空吸引源30則是與該第二容室 1 6連接,但,亦可改將該靜態液壓支撐元件2〇製成環狀 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210X297公爱) 第6頁 579565 五、發明説明(δ ) 亚容置於該第二容室16内,而將該真空吸引源3〇與該第 一容室1 5連接。 人 藉此,參閱第三圖,當該半導體元件1〇〇的定位面ιι〇 的外圍周緣置放於該第一環階部141上,且該真空吸引源 3〇啟動後,該真空吸引源3〇可對該定位面ιι〇在該内環 壁13之外的外圍部份產生一朝下的吸引力,而,該支撐面 211則可對該定位面110在該内環壁13之内的中央部份產 生一朝上的支樓力,如此,即可將該半導體元件ι〇〇吸附 定位於該基座1 〇上。 經由以上的說明,可再將本發明的優點歸納如下: 本發明是利用該靜態液壓支撐元件20對該半導體元件 100的定位面110產生柔性液壓支撐的效果,且該支撐面 211更可因應該定位面110因該等錫球lu所形成的凹2形 狀而擠麼變形(見第三圖),因&,在加工的過程中,: 發明完全不會磨耗損傷該定位面i 10及該等錫球i i丨,所 以,該半導體元件100不僅可藉由本發明吸附定位其較粗糙 的非加工面來進行加工,更可藉由本發明吸附定位其精細 的加工面(在本實例中,即為凸設有該等錫球i i i的定位面 no)來進行加王’因此,本發明完全不會拘限該半導體元 件1〇〇的加工變化性及應用性,而可視業者需要來對該半導 體元件100的任-平面進行吸附定位,故,本發明的適用性 佳且應用性廣。 如第四圖所示,為本創作的一第二較佳實施例,該第 較佳實施例是類似於該第一較佳實施例,其差異之處在 (請先閲讀背面之注意事項再填窝本頁) 、?τ— :線— 579565 B7 五、發明説明(3 ) 於··該第二較佳實施例更包含一第一輔助液壓支撐元件 40、一第二辅助液壓支撐元件50,及一裝設於該基座1〇 上的調整單元60。該第一輔助液壓支撐元件4〇是設置於 該靜態液壓支撐元件2〇的底面與該封閉端12之間,該第 二輔助液壓支撐元件5〇是設置於第一辅助液壓支撐元件 40的底面與該封閉端12之間,而,該調整單元6〇具有一 裝設於該基座1〇上的螺筒61,及一與該螺筒61螺接的螺 桿62·,該螺桿62的前端可螺進推抵該第二輔助液壓支撐 元件5 0,使該第二輔助液壓支撐元件$ 〇的頂面向上推抵 該第一辅助液壓支撐元件40,進而使該第一輔助液壓支撐 元件40的頂面向上推抵該靜態液壓支撐元件2〇,如此, 可調整改變該支撐面211與該封閉端12之間的相對距離, 使該支撐面211可充分地支撐該半導體元件1〇〇的定位面 而,在本實施例中,該第一、二辅助液壓支撐元件 4〇、50是類似於該靜態液壓支撐元件2〇,而均為内部充填 有液體的囊袋,A,該靜態液壓支撐元件2〇與該第一、二 輔助㈣支撐元件40、50内部可視所需要的支#效果而充 填不同密度的液體。如此,亦可達到與上述第一較佳實施 例相同的目的與功效。 如第五圖所示,為本創作的—第三較佳實施例,該第 三較佳實施例是類似於該第二較佳實施例,其差異之處在 於:該第三較佳實施例更包含—第-夾板70,及-第二夾 板8〇。該第一夾板7〇是以剛性材質製成,且夾設於该靜 怨液壓支撐元件20與該第一辅助 ---— _助及壓支撐兀件40之間· 本紙張尺度翻巾_緖準_ A4規格 (請先閲讀背面之注意事項再爆窝本頁) ’訂· #
本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) M規格(21〇条2爹7貧釐) 579565 五、發明説明(7 該第二夾板80亦是以剛性材質製成,且夾設於該第一、二 輔助液壓支禮it件40、5G之間。則,當該調整單元6〇推 抵該第二輔助液壓支撐元件5〇時,藉由該第二夾板8〇剛 性支撐推抵該該第一輔助〉夜壓支撐元件4〇㈤底&,及藉由 該第一夾板70剛性支撐推抵該靜態液壓支撐元件2〇的底 面,該第一、二夾板70、80可使該支撐面211全面平坦岣 勻地朝上移動,以充分地支撐該半導體元件1〇〇的定位面 110。如此,亦可達到與上述第一較佳實施例相同的目的與 功效。 如第六圖所示,為本創作的一第四較佳實施例,該第 四較佳實施例是類似於該第二較佳實施例,其差異之處在 於.該第四較佳實施例更包含一支撐環9〇。該支撐環 的内孔徑是界於該内環壁13的外周徑與該外環壁14的内 周徑之間,且,該支撐環90具有一外環緣91,及—形成 於其内環緣上的内環階部92,該外環緣91是與該外環壁 14的第一、二環階部141、142的形狀互補,而呈可拆卸 地嵌裝於第一、二環階部141、142上,而,該内環階部 92則是可供該半導體元件i 〇〇的定位面【丨〇的外圍周緣置 放,藉此,利用更換具有不同内孔徑的支撐環9〇,本發明 即可供不同直徑大小的半導體元件1〇〇 (例如直徑分別為 6、8、12叶的不同晶圓)置放,如此,亦可達到與上述第 一較佳實施例相同的目的與功效。 歸納上述,本發明之具有靜態液壓支撐元件的真空吸 持裳置’不僅可利用液壓柔性支撐半導體元件的任—平 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) •、可· -線丨 579565 A7 ____ B7五、發明説明(8 ) 面,且不會對半導體元件造成磨耗損傷,更可適用於不同 直徑大小的半導體元件,故確實能達到發明之目的。 惟以上所述者,僅為本發明之較佳實施例而已,當不 能以此限定本發明實施之範圍,即大凡依本發明申請專利 範圍及創作說明書内容所作之簡單的等效變化與修飾,皆 仍屬本發明專利涵蓋之範圍内。 請 先 閲 if 背 意 事 項 再 填、 寫 本 頁 訂 舊 本紙張尺度適用^ΐ票準(CNS) A4規格 579565 % A7 B7 五、發明説明(9 ) 【元件標號對照】 本發明圖式中之元件標號: 100…半導體元件 1 1 0…定位面 1 1 1…錫球 1 0…基座 1 1…開放端 12…封閉端 1 3…内環壁 14…外環壁 14卜··第一環階部 142…第二環階部 15…第一容室 16···第二容室 2 0…靜態液壓支撐元件 2 1…囊袋 211···支撐面 2 12…連接點 22…液體 30···真空吸弓1源 4 0…第一輔助液壓支樓元件 50…第二輔助液壓支撐元件 60…調整單元 61…螺筒 62…螺桿 7 0…第一夾板 80…第二夾板 90…支撐環 91.··外環緣 92···内環階部 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(21(^^9/釐)

Claims (1)

  1. 579565 、申請專利範圍 1. 一種具有靜態液壓支撐元件的真空吸持襄置. 一具有-定位面的半導體元件,該真空吸持裝:包可含定也 -基座’具有-開放端、一沿一勒向而相反於 放端的封閉端、一.沿該轴向而從該開放端朝該封閉:』 伸形成的第一容室,及一沿咭舳闩而〜# 亥軸向而從該開玫端朝該封 閉端延伸形成的第二容室,該丰導贈开 千等體兀件是可置放於該 開放端上; 一靜態液壓支撐元件, 壓支撐元件具有一囊袋,及 是可被擠壓變形,該靜態液 一充填於該囊袋内的液體, 該靜態液壓支撐元件是可置入該第一、二容室的其令一 者内,以使該囊袋形成一朝向該開放端的支撐面,該支 撐面是可朝該開放端支撐該定位面的一部份; 一真空吸引源,是與該第一、二容室的另一者連接, 而可朝該封閉端吸引該定位面的其他部份。 2·依據申請專利範圍第丨項所述之具有靜態液壓支撐元件 的真空吸持裝置,其中,該基座更具有一概沿該軸向而 從該封閉端朝該開放端圍繞設置的内環壁,及一概沿該 軸向而從該封閉端朝該開放端圍繞設置且環繞該内環壁 的外環壁,該内環壁的内周面與該封閉端配合可界定形 成該第一容室,該内環壁的外周面、該外環壁的内周面 與該封閉端配合可界定形成該第二容室,且,該靜態液 壓支樓元件是容置於該第/容室内,該真空吸引源是與 該第二容室連接。 3 ·依據申請專利範圍第2頊所述之具有靜態液壓支撐元件 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) Α4規格(210|2沒¥) 579565 鷂 罾 B8 C8 D8 ▽、申請專利範圍 的真空吸持裝置,更包含一第一輔助液壓支撐元件,該 第一輔助液壓支撐元件是設置於該靜態液壓支撐元件與 該封閉端之間。 4·依據申請專利範圍.第3項所述之具有靜態液壓支撐元件 的真空吸持裝置,更包含一第二輔助液壓文撐元件,該 第二輔助液壓支撐元件是設置於第一輔助液壓支撐元件 與該封閉端之間。 5·依據申請專利範圍第4項所述之具有靜態液壓支撐元件 的真空吸持裝置,更包含一裝設於該基座上的調整單 元忒5周整單元是可推抵該第一、二輔助液壓,支撐元件 的其中一者’以調整改變該支撐面與該封閉端之間的相 對距離。 6 ·依據申明專利範圍第· 3項所述之具有靜態液壓支撐元件 的真空吸持裝置’更包含一第一夾板,該第一夾板是夾 設於該靜態液壓支撐元件與該第一輔助液壓支撐元件之 7 ·依據申清專利鈴_ # 圍第4項所述之具有靜態液壓支撐元件 的真空吸持裝詈, —第二夾板,該第二夾板是夾 设於该第一、-姑★ r 一輔助液壓支撐元件之間。 8 ·依據申睛專利範圍笛 ^ ^ 弟2項所述之具有靜態液壓支撐元件 的真空吸持裝置, 0 .匕S 一支撐環,該支撐環的内孔徑 疋界於該内環壁的 々 门仏與該外%壁的内周徑之間, 且,戎支撐環的外環 放端上,該支卜疋可拆钟地裝設於該外環壁的開 -— ----—一 $的内環緣是可供該半導體元件置放。 (請先閲讀背面之注意事項再填窝本頁) 、!!_ 579565 ϊ2ηψ) A8 B8 C8 D8 六、申請專利範園 9 ·依據申請專利範圍第i 你:、+、七θ丄 固乐i項所述之具有靜態液壓支撐元件 的真空吸持裝置,其中,該 ^ Α . _ 、更具有數連接點,該囊 裒的支撐面與該囊袋朝向該封閉 、的另一面在該箄造垃 點的對應位置處是互相連接在一起。 甶在/寻連接 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS) A4規格(210 ...............!「:祕.................訂......…丨…·「:* (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ·
TW91125141A 2002-10-25 2002-10-25 Vacuum absorbing device with hydraulic static supporting element TW579565B (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW91125141A TW579565B (en) 2002-10-25 2002-10-25 Vacuum absorbing device with hydraulic static supporting element

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW91125141A TW579565B (en) 2002-10-25 2002-10-25 Vacuum absorbing device with hydraulic static supporting element

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW579565B true TW579565B (en) 2004-03-11

Family

ID=32924134

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW91125141A TW579565B (en) 2002-10-25 2002-10-25 Vacuum absorbing device with hydraulic static supporting element

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TW579565B (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW480206B (en) Wafer carrier head assembly
TW553799B (en) System and method for pneumatic diaphragm cmp head having separate retaining ring and multi-region wafer pressure control
US5906532A (en) Method for polishing semiconductor substrate and apparatus for the same
TW510842B (en) Workpiece carrier and polishing apparatus having workpiece carrier
TW516991B (en) Substrate holding apparatus and substrate polishing apparatus
TW415872B (en) A carrier head including a flexible membrane and a compliant backing member for a chemical mechanical polishing apparatus
TW466152B (en) Polishing media stabilizer
US7470169B2 (en) Method of polishing semiconductor wafers by using double-sided polisher
KR910009320B1 (ko) 연마장치
TW432583B (en) Process and device for handling disk-like objects, especially silicon wafers
US7717769B2 (en) Manufacture of lapping board
WO2009107333A1 (ja) 両面研磨装置用キャリア及びこれを用いた両面研磨装置並びに両面研磨方法
JP2005123485A5 (zh)
JP2007307623A (ja) 研磨装置
JPH0615564A (ja) ウエハ研磨治具及びウエハ担持方法
TW522077B (en) Wafer planarization apparatus and planarization method thereof
TW579565B (en) Vacuum absorbing device with hydraulic static supporting element
TW574731B (en) Method and device for producing an adhesive-bonded join between a semiconductor wafer and a carrier plate
JP2534196B2 (ja) ウエ−ハ貼付方法
TW426586B (en) Abrasive machine
TW436349B (en) Solder paste containment device
JPS5932135A (ja) 半導体ウエハの接着装置
JP2588060B2 (ja) 半導体ウェーハの研磨用チャック
TW543111B (en) Polishing method, polishing device, and semiconductor device producing method
TW402546B (en) Polish device