經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明（「） 〔發明所羼之技術領域〕 •本發明俗有關織布的反常檢査裝置，尤其有關，將鏰 製中之織物或已織成之織物有無缺陷而自動進行檢査所 用之織布驗布的反常檢査裝置。 〔先行技術〕 , 先行技.術，做為檢寧織物外觀之裝置或方法，係使用 I照相機拍攝織物表面之圖像，從其所拍攝結果所獲得之 画像濃淡資料與閾值做比較來檢測外觀異常之反常檢査 裝置，或將雷射光照射於織物，其反射光或透過光由受 光元件加以受光，將其受光量之位準與閾值做比較來檢 測異常之自動反常檢査方法等偽為人所知曉。但是，此 反常檢査裝置或反常檢査方法可檢測之缺陷傺具有只限 於人用目視簡單地做判斷之脫纱等較大缺陷之問題。又 ，由於振動或干擾（disturbance)等也具有檢測精度大為 降低之問題。 „ 為了提升檢測精確度之方法，例如，有日本特開平 4-148852號公報所掲示之發明。在此發明，傜掲示有將 從光源照射於織物而透過之光，經由配置於檢查對象之 纱方向之光學光柵從受光元件受光，而從受光波形與基 準波形之比較檢測異常之方法。此方法傺，透過光線之 部分，亦即依據所抽出之織物開口部之特徵量來判斷有 無缺陷者。 又，於日本特開平3 - 2 4 9243號公報，掲示以受光感測 器作成兩對習知梳形，從兩者輸出之差異值與預先設定 本紙張尺度適用中國國家標亊（CNS ) A4規格（210 X 297公釐） (請先閲讀背面之注意事項再m';寫本頁) 訂 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 —_ B7 _：_ '發明説明（> ) 之陶值之比較來檢測異常之方法》在此方法傜對於兩對 梳形受光感測器將鏰物狹區域分割為兩而反映濃淡資訊 *所以，即使有振動或干擾光，也具由於兩者之差異值 #出而加以抵消之效果。 為了確保以目視所進行之檢査具同等精確度，先行技 術之織物開口部之特徵檢査之外.，也必須坤出纱成分本 身之特激。例如，辑於绿施衆入岸族降 ..·' · ··.； - -；； ；·..·.· ：·； · ' *.· 從纱交絡點上之檢査對象方向纱之上下關俗之周期性之 系亂就可判斷有無缺陷。所以，若欲將此缺陷以機械性 檢_時，在纱交絡點座標上只抽出位於經纱在緯纱之上 或下之钞成分就可以/將此缺陷為圖像處理檢測所需， 雖然濃淡圖像之2值化處理為不可或缺者，但是，若先 行技術之固定2值化法，只有抽出位於緯纱之上或下之 經纱成分由於對象部之濃度為不均勻所以不能做到良好 檢査。 _ 本申請人係將改善上述問題之織布的反常檢査裝置掲 示於日本特願平7-198171號。本發明像由透光手段照射 於織物之光線抬攝CCD (Charge Coupled Device ) 元 件，藉此所獲得之圖像資料為依據計算織物資訊（纱之 •密度，纱之傾斜，编織組織等），具有從此織物資訊所 獲得之纱節距寬之區域，與離開對於從此紗節距寬之整 數倍位置之其他區域之金髏圖像資料之相關值，藉與所 設定之閾值做比較，將编鎌組織相異之區域不區別經纱 ，緯纱，以同一光學條件對於織布之總寬進行高精確度 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） 1,-------lct------IT---- I 1/ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 五、發明説明（ 4 ) '1 檢 m 〇 C 發 明 所 欲 解 決 之 問 題 ] 於 上 述 曰 本 特 開 平 4- 148852 號 公 報 所 掲 示 之 發 明 9 例 如 f 經 纱 之 流 入 缺 陷 之 餓 物 開 η 部 與 良 品 不 太 有 變 化 時 就 不 能 檢 測 缺 陷 而 具 有 檢 測 精 確 度 明 顯 降 低 之 問 題 〇 又 9 於 此 方 法 » 编 織 '密 度 為 一 定 並 且 光 學 光 柵 與 檢 査 對 .象 方 向 之 纱 變 成 平 行 為 其 刖 提 0 然 而 J 實 際 繊 物 之 編 Ζίΐϊ 織 密 度 有 多 種 9 每 當 其 時 就 需 要 更 換 光 學 光 柵 之 問 題 0 又 » 實 際 已 /Af* 繊 成 之 紗 9 尤 其 經 纱 係 在 //Λ> m 物 之 側部 彎 曲 而 不 能 雄 持 上 述 條 件 9 也 有 減 低 檢 測 精 確 度 之 問 題 0 又 9 於 曰 本 特 開 平 3- 2 4 9 2 4 3 號 公 報 所 掲 示 之 發 明 f 與 曰 本 特 開 平 4 - 148852 號 公 報 所 掲 示 之 發 明 同 樣 9 可JS 出 之 缺 陷 有 '限 制 之 點 或 編 £6b 繊 密 度 改 變 * 梳 形 受 光 感 測 器 與 檢 査 對 象 之 布 纱 的 平 行 度 若 不 能 維 持 時 就 有 檢 測 精 確 度 減 低 之 問 題 〇 又 9 上 述 發 明 9 都 有 不 能 以 相 同 '戲 測 器 同 時 檢 測 經 纱 及 緯 纱 異 常 之 問 題 〇 並 且 9 於 曰 本 特 願 平 7- 1 S 8 1 7 1 號 所 掲 示 之 發 明 1 對 於 平 紋 組 ££di 織 9 緞 紋 組 織 或 斜 紋 組 織 之 编 織 組 Ztii 繊 相 異 έ Ζήίί 織 物 之 缺 陷 發 現 不 太 有 效 果 0 : 本 發 明 9 % 解 決 上 述 問 題 所 實 施 者 9 在 Φ 請 專 利 範 圍 所 記 載 之 發 明 百 的 偽 提 供 一 種 不 τίίΐ& 受 到 编 織 組 ΖΔΙί 繊 之 影 礬 9 在 同 一 光 學 條 件 而 將 經 纱 異 常 及 緯 纱 異 常 同 時 可 用 高 精 確 度 檢 測 9 並 且 9 以 低 5 成 本 可 白 動 地 檢 査 之 /Af> 繊 布 的 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（2丨Ο X 297公釐） 經濟部中央橾準局員工消費合作社印製 A7 _ B7__ 五、發明説明（4 ) 反常檢査裝置。 於申請專利範圍第1項之發明，像拍攝織物，依據所 拍攝織物之圔像資料進行織物檢査所用織布的反常檢査 裝置，包含從織物之圖像資料計算織布之組織周期所需 之組織周期計算裝置，與依據組織周期欲設定圓像資料 之比較區域所需之比較區域設定，裝置，與從比較區域内 I之圖像資料抽出統計量，依據統計量:來抽。出缺V陷所霜之 缺陷抽出裝置。 計算織布周期，偽依據此組織藉設定圖像資料之比較 區域，將编織密度，编織組織等之相異複數種類織物之 異常不區別經纱或緯纱，對於織布之總寬可進行高精確 度之異常檢測。 〔發明之實施〕 第1圖像於本發明實施之反常檢査裝置之概略方塊圖 。反常檢査裝置像包括；照相機透鏡3 ，CCD照相機4 , A / D變換器5 ,幀記憶體（f. rmjH〇_._.r—y) 6 ,徹分強 調等進行前處理加工所用之前處理電路7, FFT (Fast Fourier Trasform )電路8 ,將檢査對象纱在檢査對 象纱方向座標進行濃度投影所需之濃度投影電路9 ,1 濃淡圖像進行2值化所需之2值化電路1 0，在矩形領域 内之2值圖像進行標示所用之結合資訊統合化電路11， 抽出標示了標籤之2值圖像之各種特徵f所用之特徽量 抽出電路1 2，切斷中間頻率區域所需之濾g電路^ 1 3 ,對 於圔像資料進行邏輯演算所用之圖像邏輯演算電路14, 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（2丨0〆297公釐）
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經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 __B7__ 五、發明説明（r ) 圖像匯流排1 5，C Ρ.ϋ匯流排1 6 , CPU (Central Preoccessing Unit)17, ROM (Read Only Meiory)18, RAM (Random Access Mefflory) 19及鍵盤或顯示器等之 輸出人裝置20。 從光源1所照射之光線，俗透過織物2之間隙，而由 照相機透鏡3聚光成像於照相機4内之CCD元.件。光源1 :以|雖然:以透過方式或反射方式之任一都可以，但是，為 布纱交絡點的上下像可鮮明抬攝，與可將缺陷之特徽顯 箸地觀察之織物開口部拍攝容易之透過方式較佳。又， 光源1係若使用面積型之C CD照相機時，面照度之均勻 之散亂光為較佳。若使用線型照相機時，做為光源1之 種類傺使用半導體雷射，氦氖雷射等使用透鏡擴大成栖 狀所照射之光源，或可使用從桿透鏡（rod lens)側面 射入鹵光，而由設在桿之特殊光柵狀散亂塗料照射成光 柵狀之光源，或光柵狀之光纖照用。此中，使用桿之光 源係寬度方向之定向特性為均匀並且可獲得高亮度之點 來說也最佳。本實施例僳，表示使用面積型之CCD照相 機之例。假如，織物以低速度移動之前提下使用線型C CD 照相機時，就如第1圓所示，只要在A/D轉換器5與幀 記億髏6之間追加一次元圖像資料變換為二次元圖像貪 料所用之一次元/二次元_換器30就可以β 透過織物之光量雖然没有特別限制，但是，在CCD之 更新周期内可儲存充分電荷位準之光量就並沒有問題。 照相機透鏡3之放大倍率，傺以製品之编織密度中最細 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) n 11 , 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明（fe ) 之编織密度做為基準加以決定。一般，織物像放大率愈 -———.... j 高之圖像缺陷之抽出具有容易之傾向。但是，如後述， 統計量所抽出之矩形區域之尺寸係由於必須配合p織組 織周期，所以，其前提為所拍攝之圖像内若檢査對象方 向之紗至少為組織周期之纱數之成倍支數以上。 . 由CCD照相機4所拍攝之濃淡圓像資料，係由A/ D轉 ‘換器5轉換為8位元之數位圖像資料之锋、歸穿紙翁:|己Λ 億體6 。如上述若CCD照相機4為線型時，一次元/二 次元轉換器30就將一次元圔像資料轉換為二次元圖像資 料而儲存於幀記億體6»所儲存之圖像資料，傺為了由 前處理電路7有效地抽出缺陷，進行強調輪廓所需之微 分強調等之前處理加工》從進行前處理加工之圖像，為 了設定後逑之統計量所抽出之矩形區域之尺寸必須求取 编織組織周期。此係可由以下方式來加以實現〇 矩形區域之短軸傺對於做為檢查對象之纱向垂直方向 設定。將此短軸之寬度從最小值（在同一光學條件下所 怕攝之織物圖像之中，相當於檢査對象纱密度最高之纱 之節距尺寸之像素數）依序邊増加比較區域之短軸方向 I像素數，來求取1對比較區域（設定於/相異區域之相 同大小之2値比較區域）内之圖像資斯之相關值。曉得 了所求取到之相關值之中變成最大值之短軸之寬度將與 編織組織周期相同。將此短軸之寬度做為比較區域之短 軸尺寸。按，欲求取組織周期之方式偽並非濃淡圓像也 可以在轉換為2值圖像之後進行。又，例如，抽出檢査 -8 - 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X 297公釐） (請先閱讀背面之注意事項#填寫本頁) 訂 A7 B7 五、發明説明（？） 對象纱與垂直方向之濃度波形之特激來求取周期性之方 式，或求取在FFT之周期性之方式雖然也可算出编織組 織周期，但是其方式並非特別加以限制者》 接著，為了自動地計算檢査對象纱方向之平均纱節距 與平均纱傾量，於濃度投影電路9對於檢査對象纱方向 座標進行濃度投影（濃度加算處理），以生成一次元之. Λ濃度，資::料i對於此濃度資料由FFT電路8進行傅里葉變 • '· . ' ：· ' ' ' · 〆 . .. 換（Fourier trasforiaatioii ),而求取頻譜最頻值之 實數資料與虛數資料。從此實數資料與虛數資料來求取 檢査對象纱方向之纱平均節距（编織密度）及傾斜量。 按，為了求取傾斜量，將上述處理對於檢査對象方向之 纱將圖像領域至少設定2分割以上Μ行，而依據所獲得 . 之各帼虛數資料，亦即相位成分之資料使用平均法，或 最小二次方法等來求取傾斜量。 按，傅里葉變換由於不必經常_進行，所以也可由C PU 1 7 .進行軟體處理。又，本方式偽即使脱纱等之缺陷資訊包 含於圖像資料時也可具有高精確度地求得之益處。 經濟部中央標準局肩工消費合作社印製 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 做為纱方向之計算法之其他方式，例如，將檢査對象 纱垂直方向加以微分而強調其輪廓之後，追蹤其軸波形 之突、峰值之方法，或有從約略直線上排列之多數點列， 決定通過儘量其等多數之直線之Η 〇 u g h變換來求取纱方 向之手法等，但是其方式並非特別受到限制者。 接箸，對於圖像資料由2值法電路1 0進行2值化處理 。2值化僳為了抽出檢査方向之纱成分之特徽量所進行。 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明（ 8 ) 尤 其 9 經 纱 時 $ 只 要 抽 出 位 於 緯 纱 與 交 絡 點 上 Z 上 或 下 就 可 以 Ο 玆 將 此 處 理 參 照 第 2 圔 說 明 如 下 Ο 首 先 9 將 於 織 物 切 斷 部 之 圖 像 資 料 之 X 軸 方 向 之 ijflL 痕 淡 資 料 依 序 抽 出 來 成 生 波 形 Ο 並 且 將 生 波 形 藉 通 過 濾 波 電 路 1 3 9 而 生 成 濾 波 波 形 Ο 濾 波 電 路 13傺 為 了 截 斷 包 含 事 先 所 求 取 之 檢 査 對 象 之 纱 方 向 之 周 期 成 分 之 中 間 頻 率 領 域 所 用 之 頻 帶 消 除 濾 波 器 0 通 過 濾 波 電 路 1 3所 獲 得 濾 波 波 形 加 上 些 許 偏 移 值 來 求 取 閾 值 〇 並 且 9 依 據 生 彼 形 是 否 較 閾 值 大 將 切 斷 部 之 画 像 資 料 被 2 值 化 Ο 藉 將 此 處 理 把 切 斷 部 邊 向 Y 軸 方 向 反 復 掃 描 來 生 成 第 一 之 2 值 圔 像 〇 同 樣 地 9 將 切 斷 部 取 於 Y 軸 方 向 $ 將 在 切 Mar 斷 部 之 圖 像 資 料 加 以 2 值 化 藉 邊 向 X 軸 方 向 反 復 掃 描 來 生 成 第 二 之 2 值 圔 像 0 第 一 之 2 值 圖 像 係 在 經 纱 方 向 與 垂 直 方 向 被 濾 波 處 理 者 所 以 * 第 一 之 2 值 圖 像 傜 只。生 成 位 於 交 絡 點 上 之 緯 纱 上 之 經 纱 成 分 之 2 值 圖 像 〇 又 » 第 二 之 2 值 圔 像 » 偽 只 生 成 包 含 交 絡 點 上 之 經 纱 上 下 之 緯 纱 成 分 之 2 值 画 像 〇 上 述 之 2 值 法 9 且 9 即 使 有 照 明 之 變 動 9 照 度 不 均 勻 9 織 布 之 局 部 性 之 编 織 密 度 不 均 勻 9 或 纱 之 光 澤 相 異 等 更 能 具 有 可 確 實 地 只 抽 出 纱 資 訊 之 益 處 Ο V» 玆 將 2 值 化 後 之 画 像 之 一 例 表 示 於 第 3 ( a) 及 (t )圖〇 依 據 上 逑 之 第 一 之 2 值 匿 像 及 第 二 之 2 值 画 像 j 若 進 行 後 述 之 矩 形 區 域 處 理 時 > 雖 然 可 求 取 繊 物 之 缺 陷 資 訊 9 但 是 9 經 纱 方 向 之 2 、广 螓 圖 像 也 包 經 纱 從 緯 纱 之 上 潛 入 -1 0 - 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） 請 先 閲 背 面 之 注 意 事 項 其 填' 寫 本 頁 訂 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明（？） 到兩鄰緯纱下之中間圔像。由於此資訊俗對於織物之缺 陷抽出為不需要者，所以，若經.纱之檢査時，將第1之 2值圖像與第2之2值圓像由圔像邏輯演算電1 4進行 AND邏輯演算就可變換為只位於完全交絡點上之緯纱上 之經纱圖像》玆將變換後之2值.圖像之一例表示於第 3 ( c )圖 ' 坷自動生成D家玫之檢聋對象紗方向之組鎌周期與 ................ ' -' · 從纱方向抽出統計量所需之矩形領域。玆將编織組織為 平紋組織時之矩形領域之一例表示於第4(a)及（b)麗。 矩形領域長軸方向之長度雖然並非特別加以限制，但是 ，對於脱纱等連續發生之缺陷愈設定長時缺陷檢測之精 度有提升之傾向。又，對於局部性地發生之絨毛等所引 起之缺陷則愈短其精度會提升。長軸方向之長度傜配合 成為檢査對象之織布之特徴決定就可以，而也可以在檢 査中將長度變成可變複數次進行凋一處理。 矩形區域之設定方法偽如第4(a)及（b)圖所示並非限‘ 定於鄰接之1對矩形區域（區域1=A XH ，區域2 = B XH )。亦即，如第4(c)圖所示，也可以將欲比較之 矩形區域做交替（區域1=A XH + C XH ，區域2 = B X H + D X Η)加以設定。但是，矩形領域之短軸方向 之尺寸（像素數），其前提為檢査對象纱方向之纱之编 織組織周期為相同。像這樣由於設定矩形區域，即使纈 物之組·織画案為甚麼形狀也可進行同樣之檢査。但是， 若矩形區域之長軸方向與檢査對象纱方向發生相位偏差 -1 1 - (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 、1Τ 本紙張尺度適用中國國家標隼（CNS ) A4規格（210X297公釐） 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明（1。） 時，缺陷之檢測資訊就會降低。為了避免這種問題，如 上述自動計算檢査對象纱方向，將矩形區域之長軸方向 追蹤對象纱方向，或將圔像只迴轉對象纱之傾斜量，而 對準矩形區域之長軸與檢査對象纱方向。藉此，例如， 可避免發生於織製中織物兩側之經纱之傾斜或固定感測 器時之對準軸心錯誤引起之缺陷檢測精確度之降低。 ‘ 又，算出檢査對象纱之平均密度，由於將欲計算統計 • · . 值所需之矩形區域之長軸自動地加以最佳化，具有即使 欲檢査编織密度相異之織物時也不需要將光學條件做任 何調整就可進行同一檢査之益處。並且，在相鄰接之矩 形區域間之統計量之比較處理之途中，例如，即使在檢 査中光源之光量相對性地降低或上升時，具有這些影遒 會被抵消之益處。但是，若會發生暈光現象（halation) 之光線存在於附近時，設置第1圖所示之遮蔽壁21$可以。 結合資訊統合化電路11俗進行-矩形區域内之2值圖像 之標^"標籤。例如，第3(c)圖所示之2值圖像時，對於 位於交絡點上之緯纱上做為經纱成分&抽出之2值圖像 之各個標示標籤。並且，特激量抽出電路12俗抽出矩形 區域内之2值圖像之特徴量（統計量）。 做為矩形區域内之統計量，f黑或白之總像素 總標籤數，標示標籤之各2值圔像之特徽量之面積，方 網眼花徑（fillet diameter ),形狀比，主軸角，周 圍長，或靠近標籤種心間距等之最大值，平均值或最小 值，缺陷之抽出，係由這些統計量之差值，圔像圖案相 -1 2 - 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X 297公釐） (請先閲讀背面之注意事項.再填寫本頁) i.------1------ 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明（u ) 關性或統計量與基準資料之比較進行。但是，關於圔像 圔案相關性傺並非只是2值函像而也可由原本之濃淡圖 像進行。又，所謂方網眼花徑係表示標示標籤之一塊之 2值圖像之X軸方向之投影部長度與對於Y軸方向之投 影部長度。 第5 ( a )及（b )圖係，表示缺陷抽出之一例之圖。（a)係 '表示正常之編織租織,:(b)春掌炎资錯爲 這種缺陷，傜在先行技術之織布開口部之比較其抽出較 困難，但是，如第5圖所示，由於將上述2值化處理之 2值圖像在矩形區域内比較時，在（b)之左右矩形區域 内之位置圖案整合性就完全不同。亦卽，位於交絡點上 之緯紗上之經纱成分（在第5圖中以黑四角形表示）之 位置圖案為完全不同《因此，蹺得藉演算1對矩形區域 間之圖案整合性，就可簡單地抽出編織組織之缺陷。按 ，缺陷之抽出，係依據上述統計~量由C P U 1 7進行。演算 結果偽由輸出入裝置20之顯示器等輸出。 若欲將織製中之織物在生産線上檢査時，有時風棉等 之異物會附著於織物表面。如於先行技術所說明，依據 織物開口部之特徵量來比較f g缺陷時，或只以2對附 近區域内之濃度資料之比較欲抽出缺陷時，就會只將這 些異物做為缺陷做錯誤判斷。為了回避這些問題，進行 上述統計量之總合比較，統計量與基準值之比較。例如 ，在透過方式之檢査，有異物時，將弓丨導穿通錯誤之經 纱缺陷與由於異物之缺陷在上述矩形區域間比較時，矩 -1 3- 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X 297公釐） (請先閲讀背面之注*·事項再填寫本頁)
經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明（^ ) 形區域内之濃淡資料之平均值之平均濃度值將明顯地相 異。因此，除了先行技術之演算方式之外，加上這種統 計量之比較判斷，就可將與缺陷與異物等之干擾要件加 以分離。按，變成在此所判定時之參數之統計量，並非 特別加以限定者，在對象缺陷呈現特異待徽之統計量事 先以實驗等加以求取，或在生産線上製作矩形圖 1 ( histogram )，藉此矩形圖求取對象缺陷之特徽，或 .·.'·· ..... · 將其等組合處理就可以。又，本方式俗由於同時可抽出 豐富之統計量，所以，也可進行模糊（fuzzy)推論或 重回歸分析等進行缺陷之識別。 第6圔僳表示本實施形態之織物處理步驟之流程圖。 首先，由CCD照相機4所拍攝之濃淡圖像資料，為由A/D 轉換器5轉換為8位元之數位画像資料之後，儲存於幀 記億體6 。此際，若CCD照相機4為線型時，就由一次 元/二次元轉換器3D將一次元圖.像資料轉換為二次元圔 像資料之後，儲存於幀記億體6 ( S 1 )。 之後，前處理電路7就t出儲存於幀記億體6之濃淡 圔像資料而進行為了進行強調圖像輪廓所用之微分強調 等之前處理加工（S2)。CPU17傜依據前處理加工之濃淡 画像資料，由上述方式抽出檢査對象纱之組織周期。又 ，由濃度投影電路9而濃淡圖像資料進行濃度投影後， F FT電路8為對於濃度投影之圖像資料藉進行傅里葉轉 換計算出纱方向（S3)。 2值化電路1 Q樣對於濃淡画像資料藉進行濾波處理， -1 4 - 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) Α4規格（210X 297公釐） (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) nn ml m« —·ϋ·-~> ml ml« 、τ A7 B7 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明（g) 生成（S4)只位於交絡點上之組纱成分之2值圖像（第 —之2值圖像），並且，生成包含只有交絡點上上下之 緯纱成分之2值圖像（第二之2值画像）（S5)e 圖像邏輯演算電路14傺進行第1之2值圖像與第2之 2值圖像之演算，生成位於交絡點上之緯纱上只有經纱 成分之2值圖像，或位於交絡點上只有經纱上之緯纱部 分之2值圖像之第3之2搶:圖::敢你好》^ ^ • · . '· - ... 接箸，CPU17傺從檢査對象纱方向之組織周期與纱方 向，在第3之2值圔像設定矩形區域（S 7)。特擞量抽 出電路12傜從所設定之矩形區域内之2值圖像資料抽出 各種统計量（S8)。若設定一對矩形區域時，藉比較各 掴矩形區域之各種統計量來判定有無缺陷β又，若事先 設定有基準值時藉比較矩形區域之各種統計量與基準值 來判定有無缺陷。 於步驟S1,來判定是苔對於所诹入之圖像資料進行檢 査。若檢査没有結束時（S10, No)，將設定於第三之2 值圖像之矩形領域與檢査對象纱方向向垂直方向偏移設 定（S12)。並且，反復進行步驟S 8與S 9之處理。若結束 檢査時S(10, Yes)就判定是否進行其他方向之檢査對象 纱之檢査。若欲進行檢査時（S 1 1，Y e s )時，就反辑/進％ 步驟S7以下之處理。若不檢査時（Sll, No)時，就將 檢査結果輸出於輸出入裝置20之顯示器等（S13)。 按，進行全體控制之程式，傺儲存於R0M18。若欲檢 査織物總寬時，就將感測器向織物方向往復移動或將複 -15- 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) • n I n n I I I n - 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明（K ) 數個之感測器向織物寬度方向配置成等間隔就可以。 以上之說明，傜有關織製中之織物之生産線上檢査之 處理，但是，也可適用於織物之自動反常檢査。又，也 可適用於織物以外具有規則性特徴之布料。 第7圔傺表示織機適用本實施之反常檢査裝置時之圖 。對於織製中之織物2從下照射光源1而使用CCD照相 :機4 :說以^ ... .... ..... 動。 如以上所說明，本發明傺以前檢測困難之编織組織相 異之缺陷可確實地加以檢測。又，即使编織密度改變， 或檢査對象之紗方向改變時，也不需要光學条之條件可 將經纱及緯纱，同時，且以高精度可抽出缺陷。並且， 藉抽出豐富之統計量，而可分離為表面附箸物等之干擾 v . 要件與缺陷，就可做到精確度更高之識別。 圖式之簡單説明 ， 第1圖偽本發明實施形態織物的反常檢査裝置概略方 塊画、 第2画俗表示欲說明2值化處理所用之生波形及濾波 波形一例之圓。 第3圖俗說明2值化處理及邏輯演算處理所用之2 :值 圖像之一例。 第4圖偽說明抽出統計量所設定之矩形區域所用之圖。 第5圖僳表示正常编織組織及有缺陷之编織組織一例 之圖。 -16- 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐） (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) • ml 1^1 HI- I . V ml a^l^— u n^i· 一trj A7 B7 五、發明説明（) 第6圖俗表示本發明實施形態織物的反常檢査裝置處 理步驟流程圖。 第7圔俗表示對於織機適用本實施形態的反常檢査裝 置時之圖。 〔符號之說明〕 1… .•光 源 9 2 . · .織製中之織物，3 .. ..照相 機透 鏡， 4 .. ..CCD照相機， 5 .... A/ D轉換器:， ；"；； ... 6 .. ..幀 記 億 體 » 7 .… .前處理電路， 8 .... FFT電路， 9 .. .•濃 度 投 影 電 路，10 ....2值化電 路， 11.. .•結 合 資 訊 統 合化電 路，1 2 ....特 激量抽 出電 路， 13.. • •濾 波 電 路 t 14 .... .圖像邏輯演算電路， 15.. .•画 像 匯 流 排 ,16., ..CPU匯流排， 17… .CPU » 18.. …ROM， 1 9 · • · .R AM , 2 0 ....输出入 裝置， 2 1.. •.遮 蔽 壁 » 3 0 • · · · —" 次元/二次元 轉換器 〇 -17-本紙張尺度適用中國國家標準（CNS ) A4規格（210X297公釐）