TW202310578A - 傳收器和傳收器校正方法 - Google Patents

傳收器和傳收器校正方法 Download PDF

Info

Publication number
TW202310578A
TW202310578A TW110130524A TW110130524A TW202310578A TW 202310578 A TW202310578 A TW 202310578A TW 110130524 A TW110130524 A TW 110130524A TW 110130524 A TW110130524 A TW 110130524A TW 202310578 A TW202310578 A TW 202310578A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
clock
phase
signal
output terminal
input terminal
Prior art date
Application number
TW110130524A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI779779B (zh
Inventor
曾弼燊
李孟哲
Original Assignee
瑞昱半導體股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 瑞昱半導體股份有限公司 filed Critical 瑞昱半導體股份有限公司
Priority to TW110130524A priority Critical patent/TWI779779B/zh
Priority to US17/728,841 priority patent/US11716152B2/en
Application granted granted Critical
Publication of TWI779779B publication Critical patent/TWI779779B/zh
Publication of TW202310578A publication Critical patent/TW202310578A/zh

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing
    • H04B17/0082—Monitoring; Testing using service channels; using auxiliary channels
    • H04B17/0085—Monitoring; Testing using service channels; using auxiliary channels using test signal generators
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing
    • H04B17/10—Monitoring; Testing of transmitters
    • H04B17/11—Monitoring; Testing of transmitters for calibration
    • H04B17/12—Monitoring; Testing of transmitters for calibration of transmit antennas, e.g. of the amplitude or phase
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing
    • H04B17/10—Monitoring; Testing of transmitters
    • H04B17/11—Monitoring; Testing of transmitters for calibration
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing
    • H04B17/20—Monitoring; Testing of receivers
    • H04B17/21—Monitoring; Testing of receivers for calibration; for correcting measurements

Abstract

本申請揭露一種傳收器，包括校正信號產生單元、傳送單元、接收單元以及控制單元。該校正信號產生單元在相位校正模式下產生測試信號至該傳送單元。該接收單元產生數位接收訊號。該控制單元用來計算該數位接收訊號和已知參考相位之間的相位差並據以選擇性地調整該傳送單元或該接收單元。本申請還揭露一種傳收器校正方法。

Description

傳收器和傳收器校正方法
本申請內容係關於通訊裝置，尤指一種傳收器和傳收器校正方法。
無線多輸入多輸出（Multi-input Multi-output, MIMO）系統日漸普及，相關的應用也越來越多,例如室內定位系統和波束成形技術，而各路傳收器的相位資訊在上述的應用裡扮演重要的因素，只有獲得正確的傳收器之間的相位差，才能估算出正確的通道資訊。
本申請提供一種傳收器，包括：校正信號產生單元，在相位校正模式下，產生測試信號至傳送單元；該傳送單元，包含：數位類比轉換器，用來依據該測試信號產生類比測試訊號；第一IQ時脈產生器，用來依據參考時脈產生第一時脈和第二時脈，其中該第一時脈和該第二時脈的頻率相同，相位差為90度；固定相位除頻器，用來依據該參考時脈產生第三時脈，該固定相位除頻器造成的相位延遲是固定的；以及升頻器，用來依據該第一時脈或該第三時脈將該類比測試訊號升頻為升頻信號；接收單元，在該相位校正模式下，該接收單元以有線的方式耦接至該傳送單元，該接收單元包含：第二IQ時脈產生器，用來依據該參考時脈和產生第四時脈和第五時脈，其中該第四時脈和該第五時脈的頻率相同，相位差為90度；以及降頻器，用來依據該升頻信號以及該第四時脈產生降頻信號；類比數位轉換器，用來依據該降頻信號產生數位接收訊號；以及控制單元，用來計算該數位接收訊號和已知參考相位之間的相位差並據以選擇性地調整該第一IQ時脈產生器以改變該第一時脈和該第二時脈的相位，或選擇性地調整該第二IQ時脈產生器以改變該第四時脈和該第五時脈的相位。
本申請提供一種傳收器校正方法，包括：在相位校正模式下，產生測試信號；依據該測試信號產生類比測試訊號；依據參考時脈產生第一時脈和第二時脈，其中該第一時脈和該第二時脈的頻率相同，相位差為90度；利用固定相位除頻器來依據該參考時脈產生第三時脈，其中該固定相位除頻器造成的相位延遲是固定的；依據該第一時脈或該第三時脈將該類比測試訊號升頻為升頻信號；依據該參考時脈和產生第四時脈和第五時脈，其中該第四時脈和該第五時脈的頻率相同，相位差為90度；依據該升頻信號以及該第四時脈產生降頻信號；依據該降頻信號產生數位接收訊號；以及計算該數位接收訊號和已知參考相位之間的相位差並據以選擇性地改變該第一時脈和該第二時脈的相位，或選擇性地改變該第四時脈和該第五時脈的相位。
本申請的傳收器和傳收器校正方法，用於確保每次重新上電或重置後MIMO系統中各傳收器的相位狀態皆維持一致。
圖1是本申請的傳收器的實施例的示意圖。為簡潔起見，傳收器100僅包含一對傳送單元111及接收單元115，圖1僅繪示出傳送單元111及接收單元115中需用於說明本申請的相位校正流程的元件，例如圖1中沒有繪示出傳送單元111及接收單元115的天線。無線MIMO系統中包含超過一個傳收器100。傳送單元111包含IQ時脈產生器104，用來在一般模式下依據參考時脈CLK_REF產生同相時脈I+和正交時脈Q+分別給同相傳送路徑（包含數位類比轉換器1021及升頻器1061）及正交傳送路徑（包含數位類比轉換器1022及升頻器1062）；相似地，接收單元115包含IQ時脈產生器116，用來在一般模式下依據參考時脈CLK_REF產生同相時脈I+ 和正交時脈Q+分別給同相接收路徑（包含降頻器1141及類數位比轉換器1181）及正交接收路徑（包含降頻器1142及類數位比轉換器1182）。
IQ時脈產生器104/116的構造相同，用來對參考時脈CLK_REF進行兩倍除頻，並產生頻率為參考時脈CLK_REF的1/2且相位彼此正交的同相時脈I+和正交時脈Q+。圖2為IQ時脈產生器104/116的實施例的示意圖（但本申請不以此限）。圖3為IQ時脈產生器104/116的時序圖。IQ時脈產生器104/116包含正反器202及204，皆具有使能端E、時脈輸入端CLK、正輸入端D、負輸入端
Figure 02_image001
、正輸出端Q和負輸出端
Figure 02_image003
。IQ時脈產生器104/116還包含時脈門控單元206及反相器208，時脈門控單元206用來依據控制單元120的控制來選擇性地對參考時脈CLK進行門控，並產生門控時脈GCLK_REF至正反器202的時脈輸入端CLK；反相器208耦接於時脈門控單元206和正反器204的時脈輸入端CLK之間。如圖2所示，正反器202的正輸出端Q的輸出作為同相時脈I+，正反器204的正輸出端Q的輸出作為正交時脈Q+（在其他實施例中亦可互換），正反器204的正輸出端Q耦接至正反器202的負輸入端
Figure 02_image001
；正反器204的負輸出端
Figure 02_image003
耦接至正反器202的正輸入端D；正反器202的正輸出端Q耦接至正反器204的正輸入端D；正反器202的負輸出端
Figure 02_image003
耦接至正反器204的負輸入端
Figure 02_image001
。正反器202及正反器204的使能端E用來接收使能信號EN。
在時脈門控單元206一律不對參考時脈CLK_REF進行門控的情況下，當傳收器100每次重新上電或重置後，使能信號EN會讓IQ時脈產生器104/116開始運作，如圖3所示，由於非理想的參考時脈CLK_REF具有一定程度的抖動（jitter），因此針對信號EN，有可能會導致兩種啟動狀態302和304，結果是啟動狀態302下的同相時脈I+和啟動狀態304下的同相時脈I+之間的相位差為180度，時脈I-、Q+、Q-亦同。也就是說，在MIMO系統中，每次重新上電或重置後，同一傳收器100中的傳送單元111的同相時脈I+和接收單元115的同相時脈I+可能會分別屬於啟動狀態302或304，且不同傳收器100的傳送單元111和接收單元115的同相時脈I+也都可能屬於啟動狀態302或304。
因此本申請在傳收器100每次上電後或重置後，會在進入一般模式之前，先進入相位校正模式，其中依序包含接收單元校正階段和傳送單元校正階段。傳收器100會利用校正信號產生單元101在相位校正模式下，產生測試信號St至傳送單元111，經過傳送單元111和接收單元115後回到控制單元120，控制單元120再據以決定是否要分別調整IQ時脈產生器104/116的時脈門控單元206以使IQ時脈產生器104和IQ時脈產生器116皆固定在啟動狀態302，應注意的是，亦可以使IQ時脈產生器104和IQ時脈產生器116皆固定在啟動狀態304。
關於時脈門控單元206的作用說明於圖4，當來自控制單元120的信號S2/S3由低電位轉為高電位一個參考時脈CLK_REF的週期T時，時脈門控單元206會對應地對參考時脈CLK_REF進行一個週期T的門控，使輸出的門控時脈GCLK有一個週期T皆維持在低電位，這樣一來可使IQ時脈產生器104/116的同相時脈I+、時脈I-、Q+、Q-的相位皆延遲180度。
請回到圖1，在相位校正模式下，僅會利用到同相傳送路徑和同相接收路徑即可完成對同相信號I+的校正，而由於正交信號Q+和同相信號I+的相位差固定為90度，因此實質上校正完同相信號I+，等於正交信號Q+也校正完成，故不會使用到正交傳送路徑和正交接收路徑。在某些實施例中，可以相反地操作，即利用正交傳送路徑和正交接收路徑完成對正交信號Q+的校正，而不需校正同相信號I+。
由於IQ時脈產生器104和116產生的時脈的相位延遲都是不確定的，因此，在相位校正模式下，會先進入接收單元校正階段，這時傳送單元111的升頻器1061使用固定相位除頻器105的固定相位時脈ckf來取代同相信號I+，以利於專注校正接收單元115的IQ時脈產生器116，固定相位除頻器105的相位延遲是固定的。完成IQ時脈產生器116的校正後，再進入傳送單元校正階段，這時才校正傳送單元111的IQ時脈產生器104。
具體來說，固定相位除頻器105和IQ時脈產生器104都可產生頻率為參考時脈CLK_REF的頻率的1/2的時脈，不同的是，固定相位除頻器105僅用於相位校正模式，故頻寬不用很寬，只要能夠用來在一個較窄的特定頻帶內操作即可，重點是要確保固定相位除頻器105不會像IQ時脈產生器104隨機地輸出兩種相位相反的時脈。換句話說，固定相位除頻器105的相位延遲是固定的。也就是說，在MIMO系統中，各傳收器100的固定相位除頻器105雖是獨立的，但每次重新上電或重置後，各傳收器100的固定相位除頻器105產生的固定相位時脈ckf的相位彼此是相同的。固定相位除頻器105可以是例如米勒除頻器。
在接收單元校正階段，數位類比轉換器1021依據測試信號St產生類比測試訊號Sa。控制單元120利用信號S1控制多工器103將參考信號CLK_REF耦接至固定相位除頻器105的輸入端，以及利用信號S1控制多工器107將固定相位除頻器105的輸出端耦接至升頻器1061，使升頻器1061依據固定相位時脈ckf將類比測試訊號Sa升頻以產生升頻信號Su。這時IQ時脈產生器104沒有接收到參考信號CLK_REF，因此正交傳送路徑的升頻器1062不會工作，同時，在相位校正模式也沒有給予正交路徑的數位類比轉換器1022輸入信號，因此組合器108僅基於升頻信號Su產生組合信號Sm。組合信號Sm通過放大器110產生放大信號Sap後，經過有線路徑回授至接收單元115的增益單元112並輸出增益信號Sg。該有線路徑可以是僅在傳收器100所在的晶片內，或需經過該晶片外的電路板上的導線實現。
降頻器1141依據IQ時脈產生器116產生的同相時脈I+將增益信號Sg降至基頻並產生降頻信號Sd。類比數位轉換器1181將降頻信號Sd由類比信號轉換為數位接收訊號Sda至控制單元120。控制單元120計算數位接收訊號Sda和已知參考相位之間的相位差Pd1，具體來說，控制單元120對數位接收訊號Sda進行傅立葉轉換以得到數位接收訊號Sda的實部和虛部，並和已知參考相位的實部和虛部進行比較來得到相位差Pd1，數位接收訊號Sda和已知參考相位之間的相位差Pd1可能會有二種因IQ時脈產生器116造成相差180度的值。在本實施例中，為方便進行相位的比較，測試信號St為單調信號。若0度≦相位差Pd1＜180度，控制單元120產生信號S3來控制IQ時脈產生器116的時脈門控單元206對參考時脈CLK_REF不進行門控；若-180度≦相位差Pd1＜0度，控制單元120產生信號S3來控制IQ時脈產生器116的時脈門控單元206對參考時脈CLK_REF進行一個週期T的門控，造成0度≦相位差Pd1＜180。以上流程也可以改為將相位差Pd1皆調整為-180度≦相位差Pd1＜0度，只要每次重新上電或重置後能使MIMO系統中各傳收器100的IQ時脈產生器116產生的時脈I+的相位皆相同且為已知即可。
接着，由接收單元校正階段進入傳送單元校正階段，數位類比轉換器1021依據測試信號St產生類比測試訊號Sa。控制單元120利用信號S1控制多工器103將參考信號CLK_REF耦接至IQ時脈產生器104的輸入端，以及利用信號S1控制多工器107將IQ時脈產生器104的輸出端耦接至升頻器1061，使升頻器1061依據時脈I+將類比測試訊號Sa升頻以產生升頻信號Su。在相位校正模式沒有給予正交路徑的數位類比轉換器1022輸入信號，因此組合器108僅基於升頻信號Su產生組合信號Sm。組合信號Sm通過放大器110產生放大信號Sap後，經過有線路徑回授至接收單元115的增益單元112並輸出增益信號Sg。
降頻器1141依據IQ時脈產生器116產生的同相時脈I+將增益信號Sg降至基頻並產生降頻信號Sd。類比數位轉換器1181將降頻信號Sd由類比信號轉換為數位接收訊號Sda至控制單元120。控制單元120計算數位接收訊號Sda和已知參考相位之間的相位差Pd2。由於IQ時脈產生器116的相位延遲已經在接收單元校正階段被校正為已知，故相位差Pd2的不確定性皆來自IQ時脈產生器104。若0度≦相位差Pd2＜180度，控制單元120產生信號S2來控制IQ時脈產生器104的時脈門控單元206對參考時脈CLK_REF不進行門控；若-180度≦相位差Pd2＜0度，控制單元120產生信號S2來控制IQ時脈產生器104的時脈門控單元206對參考時脈CLK_REF進行一個週期T的門控，造成0度≦相位差Pd2＜180。以上流程也可以改為將相位差Pd2皆調整為180度≦相位差Pd2＜0度，只要能使MIMO系統中各傳收器100的IQ時脈產生器116產生的時脈I+的相位皆相同且為已知即可，此時傳送單元校正階段完成，傳收器100可離開相位校正模式並進入一般模式。
上文的敘述簡要地提出了本申請某些實施例之特徵，而使得本申請所屬技術領域具有通常知識者能夠更全面地理解本申請內容的多種態樣。本申請所屬技術領域具有通常知識者當可明瞭，其可輕易地利用本申請內容作為基礎，來設計或更動其他製程與結構，以實現與此處該之實施方式相同的目的和/或達到相同的優點。本申請所屬技術領域具有通常知識者應當明白，這些均等的實施方式仍屬於本申請內容之精神與範圍，且其可進行各種變更、替代與更動，而不會悖離本申請內容之精神與範圍。
100:傳收器 103、107:多工器 104、116:IQ時脈產生器 105:固定相位除頻器 108:組合器 110:放大器 111:傳送單元 112:增益單元 115:接收單元 120:控制單元 202、204:正反器 206:時脈門控單元 208:反相器 302、304:啟動狀態 1021、1022:數位類比轉換器 1061、1062:升頻器 1141、1142:降頻器 1181、1182:類比數位轉換器 ckf:固定相位時脈 CLK_REF:參考時脈 EN:使能信號 GCLK_REF:門控時脈 I-、Q+、Q-:時脈 I+:同相時脈 Q+:正交時脈 S1、S2、S3:信號 Sa:類比測試訊號 Sap:放大信號 Sd:降頻信號 Sda:數位接收訊號 Sg:增益信號 Sm:組合信號 St:測試信號 Su:升頻信號
在閱讀了下文實施方式以及附隨圖式時，能夠最佳地理解本揭露的多種態樣。應注意到，根據本領域的標準作業習慣，圖中的各種特徵並未依比例繪製。事實上，為了能夠清楚地進行描述，可能會刻意地放大或縮小某些特徵的尺寸。 圖1為本申請的傳收器的實施例的示意圖。 圖2為IQ時脈產生器的實施例的示意圖。 圖3為IQ時脈產生器的時序圖。 圖4為時脈門控單元作用時IQ時脈產生器的時序圖。
100:傳收器
103、107:多工器
104、116:IQ時脈產生器
105:固定相位除頻器
108:組合器
110:放大器
111:傳送單元
112:增益單元
115:接收單元
1021、1022:數位類比轉換器
1061、1062:升頻器
1141、1142:降頻器
1181、1182:類比數位轉換器
120:控制單元
ckf:固定相位時脈
CLK_REF:參考時脈
EN:使能信號
I+:同相時脈
Q+:正交時脈
S1、S2、S3:信號
Sa:類比測試訊號
Sap:放大信號
Sd:降頻信號
Sda:數位接收訊號
Sg:增益信號
Sm:組合信號
St:測試信號
Su:升頻信號

Claims (10)

  1. 一種傳收器，包括： 校正信號產生單元，在相位校正模式下，產生測試信號至傳送單元； 該傳送單元，包含： 數位類比轉換器，用來依據該測試信號產生類比測試訊號； 第一IQ時脈產生器，用來依據參考時脈產生第一時脈和第二時脈，其中該第一時脈和該第二時脈的頻率相同，相位差為90度； 固定相位除頻器，用來依據該參考時脈產生第三時脈，該固定相位除頻器造成的相位延遲是固定的；以及 升頻器，用來依據該第一時脈或該第三時脈將該類比測試訊號升頻為升頻信號； 接收單元，在該相位校正模式下，該接收單元以有線的方式耦接至該傳送單元，該接收單元包含： 第二IQ時脈產生器，用來依據該參考時脈和產生第四時脈和第五時脈，其中該第四時脈和該第五時脈的頻率相同，相位差為90度；以及 降頻器，用來依據該升頻信號以及該第四時脈產生降頻信號； 類比數位轉換器，用來依據該降頻信號產生數位接收訊號；以及 控制單元，用來計算該數位接收訊號和已知參考相位之間的相位差並據以選擇性地調整該第一IQ時脈產生器以改變該第一時脈和該第二時脈的相位，或選擇性地調整該第二IQ時脈產生器以改變該第四時脈和該第五時脈的相位。
  2. 如請求項1的傳收器，其中該第一IQ時脈產生器包含： 第一正反器，具有第一時脈輸入端、第一正輸入端、第一負輸入端、第一正輸出端和第一負輸出端； 第二正反器，具有第二時脈輸入端、第二正輸入端、第二負輸入端、第二正輸出端和第二負輸出端，其中該第二正輸入端耦接至該第一正輸出端，該第二負輸入端耦接至該第一負輸出端，該第二正輸出端耦接至該第一正輸入端，該第二負輸出端耦接至該第一正輸入端； 時脈門控單元，用來依據該控制單元的控制來選擇性地對該參考時脈進行門控，並產生第一門控時脈至該第一時脈輸入端；以及 反相器，耦接於該第一時脈門控單元和該第二時脈輸入端之間； 其中該第一正輸出端和該第二正輸出端的其中之一輸出該第一時脈，該第一正輸出端和該第二正輸出端的其中另一輸出該第二時脈。
  3. 如請求項2的傳收器，其中該第二IQ時脈產生器包含： 第三正反器，具有第三時脈輸入端、第三正輸入端、第三負輸入端、第三正輸出端和第三負輸出端； 第四正反器，具有第四時脈輸入端、第四正輸入端、第四負輸入端、第四正輸出端和第四負輸出端，其中該第四正輸入端耦接至該第二正輸出端，該第四負輸入端耦接至該第二負輸出端，該第四正輸出端耦接至該第二正輸入端，該第四負輸出端耦接至該第二正輸入端； 時脈門控單元，用來依據該控制單元的控制來選擇性地對該參考時脈進行門控，並產生第二門控時脈至該第三時脈輸入端；以及 反相器，耦接於該第二時脈門控單元和該第四時脈輸入端之間； 其中該第三正輸出端和該第四正輸出端的其中之一輸出該第四時脈，該第三正輸出端和該第四正輸出端的其中另一輸出該第五時脈。
  4. 如請求項3的傳收器，其中該相位校正模式包含接收單元校正階段以及傳送單元校正階段，在該接收單元校正階段下，該控制單元控制該升頻器依據該第三時脈產生該升頻信號，以及對該數位接收訊號進行傅立葉轉換以得到該數位接收訊號的實部和虛部，並依據該數位接收訊號之實部和虛部計算得到該數位接收訊號和該已知參考相位之間的相位差。
  5. 如請求項4的傳收器，其中在該接收單元校正階段下，當該數位接收訊號和該已知參考相位之間的相位差大於等於0度且小於180度時，該控制單元控制該第二IQ時脈產生器之該時脈門控單元對該參考時脈不進行門控；以及當該數位接收訊號和該已知參考相位之間的相位差大於等於-180度且小於0度時，控制該第二IQ時脈產生器之該時脈門控單元對該參考時脈進行一個該參考時脈的週期的門控，以使該數位接收訊號和該已知參考相位之間的相位差成為大於等於0度且小於180度。
  6. 如請求項5的傳收器，其中在該接收單元校正階段之後的該傳送單元校正階段，該控制單元控制該升頻器依據該第一時脈產生該升頻信號，以及對該數位接收訊號進行傅立葉轉換以得到該數位接收訊號的實部和虛部，並依據該數位接收訊號之實部和虛部計算得到該數位接收訊號和該已知參考相位之間的相位差。
  7. 如請求項6的傳收器，其中在該傳送單元校正階段下，當該數位接收訊號和該已知參考相位之間的相位差大於等於0度且小於180度時，該控制單元控制該第一IQ時脈產生器之該時脈門控單元對該參考時脈不進行門控；以及當該數位接收訊號和該已知參考相位之間的相位差大於等於-180度且小於0度時，控制該第一IQ時脈產生器之該時脈門控單元對該參考時脈進行一個該參考時脈的週期的門控，以使該數位接收訊號和該已知參考相位之間的相位差成為大於等於0度且小於180度。
  8. 如請求項1的傳收器，其中該傳送單元另包含多工器，包含輸入端、第一輸出端與第二輸出端，該輸入端用來接收該參考時脈，該第一輸出端耦接至該固定相位除頻器，該第二輸出端耦接至該第一IQ時脈產生器，當該控制單元控制該升頻器依據該第一時脈將該類比測試訊號升頻為該升頻信號時，該輸入端耦接至該第二輸出端；當該控制單元控制該升頻器依據該第三時脈將該類比測試訊號升頻為該升頻信號時，該輸入端耦接至該第一輸出端。
  9. 如請求項1的傳收器，其中該固定相位除頻器為米勒除頻器。
  10. 一種傳收器校正方法，包括： 在相位校正模式下，產生測試信號； 依據該測試信號產生類比測試訊號； 依據參考時脈產生第一時脈和第二時脈，其中該第一時脈和該第二時脈的頻率相同，相位差為90度； 利用固定相位除頻器來依據該參考時脈產生第三時脈，其中該固定相位除頻器造成的相位延遲是固定的； 依據該第一時脈或該第三時脈將該類比測試訊號升頻為升頻信號； 依據該參考時脈和產生第四時脈和第五時脈，其中該第四時脈和該第五時脈的頻率相同，相位差為90度； 依據該升頻信號以及該第四時脈產生降頻信號； 依據該降頻信號產生數位接收訊號；以及 計算該數位接收訊號和已知參考相位之間的相位差並據以選擇性地改變該第一時脈和該第二時脈的相位，或選擇性地改變該第四時脈和該第五時脈的相位。
TW110130524A 2021-08-18 2021-08-18 傳收器和傳收器校正方法 TWI779779B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW110130524A TWI779779B (zh) 2021-08-18 2021-08-18 傳收器和傳收器校正方法
US17/728,841 US11716152B2 (en) 2021-08-18 2022-04-25 Transceiver and transceiver calibration method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW110130524A TWI779779B (zh) 2021-08-18 2021-08-18 傳收器和傳收器校正方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TWI779779B TWI779779B (zh) 2022-10-01
TW202310578A true TW202310578A (zh) 2023-03-01

Family

ID=85229321

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW110130524A TWI779779B (zh) 2021-08-18 2021-08-18 傳收器和傳收器校正方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US11716152B2 (zh)
TW (1) TWI779779B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI779779B (zh) * 2021-08-18 2022-10-01 瑞昱半導體股份有限公司 傳收器和傳收器校正方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69222452T2 (de) * 1991-03-11 1998-02-26 Nippon Telegraph & Telephone Quadraturamplitudenmodulator mit Verzerrungskompensation
US7158586B2 (en) * 2002-05-03 2007-01-02 Atheros Communications, Inc. Systems and methods to provide wideband magnitude and phase imbalance calibration and compensation in quadrature receivers
US7330517B2 (en) * 2003-11-24 2008-02-12 P-Wave Ltd. Amplifier linearization using non-linear predistortion
KR100735366B1 (ko) * 2005-08-23 2007-07-04 삼성전자주식회사 무선 송수신장치에서 자가 보상장치 및 방법
US8351492B2 (en) * 2011-01-05 2013-01-08 Qualcomm Incorporated Estimation of intentional phase shift in a calibration apparatus
US9036732B2 (en) * 2013-01-04 2015-05-19 Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) Modeling transmitter and/or transmit observation receiver frequency response and utilization thereof
TWI524705B (zh) * 2013-05-15 2016-03-01 瑞昱半導體股份有限公司 通訊系統校正方法以及通訊系統校正裝置
EP2889957A1 (en) * 2013-12-30 2015-07-01 Clemens Rheinfelder Active antenna system with distributed transceiver system
WO2018176201A1 (zh) * 2017-03-27 2018-10-04 华为技术有限公司 一种射频通道校准装置及方法
TWI670931B (zh) * 2018-08-21 2019-09-01 瑞昱半導體股份有限公司 可量測傳送端鏡像抑制比的傳送電路
US10910998B2 (en) * 2018-09-19 2021-02-02 Nxp B.V. Method and apparatus for calibration of a band-pass filter and squelch detector in a frequency-shift keying transceiver
US11405247B2 (en) * 2018-12-17 2022-08-02 Nxp Usa, Inc. Impulse-radio receiver and method
TWI819181B (zh) * 2020-01-06 2023-10-21 瑞昱半導體股份有限公司 傳收器和傳收器校正方法
CN111490959B (zh) * 2020-04-03 2020-12-01 北京力通通信有限公司 宽带多通道射频收发机iq失衡校正方法、装置及电路
TWI750053B (zh) * 2021-03-08 2021-12-11 瑞昱半導體股份有限公司 訊號預失真電路架構
TWI806016B (zh) * 2021-03-16 2023-06-21 瑞昱半導體股份有限公司 收發裝置及其校正方法
TWI779779B (zh) * 2021-08-18 2022-10-01 瑞昱半導體股份有限公司 傳收器和傳收器校正方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20230057043A1 (en) 2023-02-23
TWI779779B (zh) 2022-10-01
US11716152B2 (en) 2023-08-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5290098B2 (ja) 送信機およびそれに使用可能な半導体集積回路
KR101829974B1 (ko) 고속 아날로그 빔형성 시스템 및 방법
US8965309B2 (en) Method and system for calibrating a power amplifier
US9979534B2 (en) Enabling RX signal path synchronization and alignment signals in a highly integrated TX RFIC
KR100758309B1 (ko) 다중 안테나를 구비한 무선통신 시스템의 ｒｆ 경로 오차보정 장치 및 그 방법
US20220085821A1 (en) Phase synchronization apparatus, phase synchronization system, and transceiver apparatus
CN108155956B (zh) 用于射频信号路径校准的设备、系统和方法
TW201128346A (en) Frequency divider with synchronized outputs
JP3921086B2 (ja) Ｇｐｓ受信器および共通クロック源を備えた個人用通信装置
US11595028B2 (en) Frequency doubler with duty cycle correction
US7301383B2 (en) Circuit for controlling phase with improved linearity of phase change
TWI779779B (zh) 傳收器和傳收器校正方法
KR102656996B1 (ko) 기지국의 다중 채널 위상 동기화 장치, 방법 및 기지국
US7227920B2 (en) Circuit and method for correcting clock duty cycle
US7599669B2 (en) Transmitting arrangement, transreceiver with a transmitting arrangement and method for signal processing
US8306472B2 (en) Repeater and method for processing signal, and method for converting synchronous frequency thereof
US10212011B2 (en) Wireless device and method for controlling phase
US8442472B2 (en) Technique to generate divide by two and 25% duty cycle
US20190260443A1 (en) Phase Locked Loop, Phase Locked Loop Arrangement, Transmitter And Receiver And Method For Providing An Oscillator Signal
TWI806016B (zh) 收發裝置及其校正方法
CN115733562A (zh) 收发器和收发器校正方法
US8902019B2 (en) Electronic circuit
EP4312375A1 (en) Frequency synthesizer and method for generating an rf clock signal
US20240106623A1 (en) Phase tracking and correction architecture
US20240106469A1 (en) Spurious emissions detection and calibration using envelope detector

Legal Events

Date Code Title Description
GD4A Issue of patent certificate for granted invention patent