TW202204865A - 顯示面板檢測方法、檢測裝置及存儲介質 - Google Patents

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Abstract

本發明提供一種顯示面板檢測方法，包括：在顯示面板的組裝階段，藉由第一控制板對所述顯示面板的檢測參數進行調整；設置所述顯示面板的光學補償參數；將所述顯示面板的檢測參數及所述光學補償參數存儲至所述顯示面板的主控板內；在組裝完成後對所述顯示面板的顯示畫面進行檢測時，從所述主控板獲取所述檢測參數及所述光學補償參數；及根據從所述主控板獲取的所述檢測參數及所述光學補償參數對所述顯示面板的顯示畫面進行檢測。本發明還提供一種檢測裝置及存儲介質。

Description

顯示面板檢測方法、檢測裝置及存儲介質
本發明涉及顯示面板技術領域，尤其涉及一種顯示面板檢測方法、檢測裝置及存儲介質。
現如今，液晶面板廣泛應用於智慧電子設備，如智慧電視、智慧手機、個人電腦等。在目前常規的液晶面板設計中，液晶面板參數如公共電極電壓（V-COM）值、亮度（Gamma）值、中電位參考電壓（VHDD）值等通常存儲在控制（T-CON）板的記憶體內，光學補償（Demura）參數存儲在液晶面板的主控板（S-PWB）的記憶體內。在液晶面板的封裝製程後的畫面檢測工站對所述液晶面板進行檢測時，需要對控制板存儲的公共電極電壓值進行調整。然而，由於控制板不會隨液晶面板出貨，所述液晶面板出貨至客戶處進行檢測時需要配備另外的控制板以對公共電極電壓值進行調整，從而浪費工時，導致降低檢測效率。
有鑒於此，有必要提供一種顯示面板檢測方法、檢測裝置及存儲介質，直接獲取存儲在顯示面板上主控板內的檢測參數及光學補償參數對顯示面板進行檢測，提高了顯示面板的檢測效率。
本發明的第一方面提供一種顯示面板檢測方法，包括：
在顯示面板的組裝階段，藉由第一控制板對所述顯示面板的檢測參數進行調整；
設置所述顯示面板的光學補償參數；
將所述顯示面板的檢測參數及所述光學補償參數存儲至所述顯示面板的主控板內；
在組裝完成後對所述顯示面板的顯示畫面進行檢測時，從所述主控板獲取所述檢測參數及所述光學補償參數；及
根據從所述主控板獲取的所述檢測參數及所述光學補償參數對所述顯示面板的顯示畫面進行檢測。
優選地，所述方法還包括：
在所述顯示面板的組裝階段，直接根據調整後的所述檢測參數及設置的所述光學補償參數對所述顯示面板的顯示畫面進行檢測。
可選地，所述藉由第一控制板對所述顯示面板的檢測參數進行調整包括：
預設複數個檢測參數值；
獲取預設的所述複數個檢測參數值下對應的所述顯示面板的閃爍值；及
確定最小閃爍值對應的檢測參數值為調整後的檢測參數值。
可選地，所述藉由第一控制板對所述顯示面板的檢測參數進行調整包括：
預設一最小閃爍值；
對所述檢測參數值進行調整直至獲取到所述最小閃爍值；及
確定獲取到所述最小閃爍值時的檢測參數值為調整後的檢測參數值。
優選地，所述光學補償參數包括增益補償值及偏移補償值，用於對所述顯示面板的亮度不均現象進行補償。
優選地，對所述顯示面板的顯示畫面進行檢測的檢測專案至少包括亮度均勻性檢測、亮暗點檢測及畫面品質檢測。
優選地，所述根據從所述主控板獲取的所述檢測參數及所述光學補償參數對所述顯示面板的顯示畫面進行檢測包括：
將所述主控板與第二控制板電性連接以將視訊訊號傳送至所述第二控制板；
將所述第二控制板與所述顯示面板的顯示螢幕連接以驅動所述顯示螢幕顯示圖像；及
根據所述顯示螢幕顯示的圖像對所述顯示畫面進行檢測。
優選地，所述檢測參數包括公共電極電壓、Gamma值及中電位參考電壓中的一個或複數個。
本發明的第二方面提供一種檢測裝置，所述檢測裝置包括：
處理器；以及
記憶體，所述記憶體中存儲有複數個程式模組，所述複數個程式模組由所述處理器載入並執行上述的顯示面板檢測方法。
本發明的第三方面提供一種電腦可讀的存儲介質，其上存儲有至少一條電腦指令，所述指令由處理器載入並執行上述的顯示面板檢測方法。
上述顯示面板檢測方法、檢測裝置及存儲介質將檢測參數及光學補償參數存儲至顯示面板的主控板內，在對組裝完成並出廠後的顯示面板進行畫面檢測時，無需再次調整檢測參數，簡化了檢測操作，有效提高了顯示面板的檢測效率。
為了能夠更清楚地理解本發明的上述目的、特徵和優點，下面結合附圖和具體實施例對本發明進行詳細描述。需要說明的是，在不衝突的情況下，本申請的實施例及實施例中的特徵可以相互組合。
除非另有定義，本文所使用的所有的技術和科學術語與屬於本發明的技術領域的技術人員通常理解的含義相同。本文中在本發明的說明書中所使用的術語只是為了描述具體的實施例的目的，不是旨在於限制本發明。
請參閱圖1所示，為本發明較佳實施方式提供的顯示面板檢測方法的應用環境架構示意圖。
本發明中的顯示面板檢測方法應用在檢測裝置1中，所述檢測裝置1與至少一顯示面板2耦接，用於檢測所述顯示面板2的顯示畫面。
所述顯示面板2與至少一第一控制板（T-CON，Timing Controller）3或第二控制板耦接。其中，所述第一控制板3用於控制所述顯示面板2顯示圖像。
所述檢測裝置1為安裝有顯示面板檢測程式的電子設備，例如個人電腦。所述顯示面板2為液晶顯示面板。
請參閱圖2所示，為本發明檢測裝置較佳實施方式的結構示意圖。
所述檢測裝置1包括，但不僅限於，處理器10、記憶體20及存儲在所述記憶體20中並可在所述處理器10上運行的電腦程式30。例如，所述電腦程式30為顯示面板檢測程式。所述處理器10執行所述電腦程式30時實現顯示面板檢測方法中的步驟，例如圖4所示的步驟S401~S406。或者，所述處理器10執行所述電腦程式30時實現顯示面板檢測系統中各模組/單元的功能，例如圖3中的模組101-105。
示例性的，所述電腦程式30可以被分割成一個或複數個模組/單元，所述一個或者複數個模組/單元被存儲在所述記憶體20中，並由所述處理器10執行，以完成本發明。所述一個或複數個模組/單元可以是能夠完成特定功能的一系列電腦程式指令段，所述指令段用於描述所述電腦程式30在所述檢測裝置1中的執行過程。例如，所述電腦程式30可以被分割成圖3中的調整模組101、設置模組102、檢測模組103、存儲模組104及獲取模組105。各模組具體功能參見顯示面板檢測系統實施例中各模組的功能。
本領域技術人員可以理解，所述示意圖僅僅是檢測裝置1的示例，並不構成對檢測裝置1的限定，可以包括比圖示更多或更少的部件，或者組合某些部件，或者不同的部件，例如所述檢測裝置1還可以包括輸入輸出設備、網路接入設備、匯流排等。
所稱處理器10可以是中央處理單元(Central Processing Unit，CPU)，還可以是其他通用處理器、數位訊號處理器(Digital Signal Processor，DSP)、專用積體電路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、現成可程式設計閘陣列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可程式設計邏輯器件、分立門或者電晶體邏輯器件、分立硬體元件等。通用處理器可以是微處理器或者所述處理器10也可以是任何常規的處理器等，所述處理器10是所述檢測裝置1的控制中心，利用各種介面和線路連接整個檢測裝置1的各個部分。
所述記憶體20可用於存儲所述電腦程式30和/或模組/單元，所述處理器10藉由運行或執行存儲在所述記憶體20內的電腦程式和/或模組/單元，以及調用存儲在記憶體20內的資料，實現所述檢測裝置1的各種功能。所述記憶體20可主要包括存儲程式區和存儲資料區，其中，存儲程式區可存儲作業系統、至少一個功能所需的應用程式（比如聲音播放功能、圖像播放功能等）等；存儲資料區可存儲根據檢測裝置1的使用所創建的資料等。此外，記憶體20可以包括高速隨機存取記憶體，還可以包括非易失性記憶體，例如硬碟、記憶體、插接式硬碟，智慧存儲卡（Smart Media Card, SMC），安全數位（Secure Digital, SD）卡，快閃記憶體卡（Flash Card）、至少一個磁碟記憶體件、快閃記憶體器件、或其他易失性固態記憶體件。
所述顯示面板2包括，但不僅限於，顯示螢幕201及主控板202。在本實施方式中，所述顯示螢幕201為液晶屏（Liquid Crystal Display，LCD）。所述主控板202為S-PWB（S-Print Wiring Board，S板），用於對所述顯示面板2進行電壓分配、對資料信號進行處理及傳輸、控制資料傳輸的時序。所述主控板202至少包括存儲單元203。其中，所述存儲單元203為唯讀記憶體或隨機存取記憶體。在其他實施方式中，所述顯示螢幕201也可以是有機發光半導體（Organic Light-Emitting Diode，OLED）顯示螢幕。
請參閱圖3所示，本發明顯示面板檢測系統較佳實施方式的功能模組圖。
在一些實施方式中，顯示面板檢測系統100運行於所述檢測裝置1中。所述顯示面板檢測系統100可以包括複數個由程式碼段所組成的功能模組。所述顯示面板檢測系統100中的各個程式段的程式碼可以存儲於檢測裝置1的記憶體20中，並由所述至少一個處理器10所執行，以實現顯示面板檢測功能。
本實施方式中，顯示面板檢測系統100根據其所執行的功能，可以被劃分為複數個功能模組。參閱圖3所示，所述功能模組可以包括調整模組101、設置模組102、檢測模組103、存儲模組104及獲取模組105。本發明所稱的模組是指一種能夠被至少一個處理器所執行並且能夠完成固定功能的一系列電腦程式段，其存儲在記憶體20中。可以理解的是，在其他實施例中，上述模組也可為固化於所述處理器10中的程式指令或固件（firmware）。
所述調整模組101用於在顯示面板2的組裝階段，藉由第一控制板3對所述顯示面板2的檢測參數進行調整。
在本實施方式中，所述檢測參數包括公共電極電壓、Gamma值及中電位參考電壓中的一個或複數個。優選地，所述檢測參數為公共電極電壓（V-com）。
在本實施方式中，所述調整模組101在所述第一控制板3中預設複數個檢測參數值，獲取預設的所述複數個檢測參數值下對應的所述顯示面板2的閃爍值，並確定最小閃爍值對應的檢測參數值為調整後的檢測參數值，從而避免閃爍值較大而影響所述顯示面板2的畫面檢測的準確性。
在其他實施方式中，所述調整模組101也可以在所述第一控制板3中預設一最小閃爍值，對所述檢測參數值進行調整直至獲取到所述顯示面板2的所述最小閃爍值，從而確定獲取到所述最小閃爍值時的檢測參數值為調整後的檢測參數值。
所述設置模組102用於設置所述顯示面板2的光學補償（DeMura）參數。
在本實施方式中，所述光學補償參數包括增益補償值及偏移補償值，用於對所述顯示面板2的亮度不均現象進行補償。
具體的，所述設置模組102藉由設置所述光學補償參數，以對所述顯示面板2採用區塊尺寸為16*16或8*8區塊的灰階補償的方式，即藉由對比所述顯示面板2的中心位置的亮度，計算出四周區域與中心位置亮度的差異，然後藉由反向補償亮度不均位置的灰階而進行補償，從而避免亮度不均現象影響所述顯示面板2的畫面檢測的準確性。
例如，假設增益補償值為a，偏移補償值為b，則亮度不均位置補償後的灰階值y=ax+b。其中，x為所述亮度不均位置的原始灰階值。
所述檢測模組103用於在所述顯示面板2的組裝階段，直接根據調整後的所述檢測參數及設置的所述光學補償參數對所述顯示面板2的顯示畫面進行檢測。
在本實施方式中，所述檢測模組103對所述顯示面板2的顯示畫面進行檢測的檢測專案至少包括亮度均勻性檢測、亮暗點檢測及畫面品質檢測。
具體的，所述檢測模組103將所述主控板202與調整所述檢測參數的所述第一控制板3電性連接以將視訊訊號傳送至所述第一控制板3。其中，所述視訊訊號為低電壓差分信號（Low-Voltage Differential Signaling，LVDS）。所述檢測模組103還將所述第一控制板3與所述顯示面板2的顯示螢幕201連接以驅動所述顯示螢幕201顯示圖像。其中，所述第一控制板3對所述LVDS信號進行時序控制並轉換成資料驅動信號及掃描驅動信號，從而驅動所述顯示螢幕201顯示圖像。然後，所述檢測模組103根據所述顯示螢幕201顯示的圖像對所述顯示畫面進行檢測。其中，所述檢測模組103根據人工對所述顯示螢幕201顯示的圖像進行檢測後的回饋確定所述顯示螢幕畫面的檢測結果。
所述存儲模組104用於將所述顯示面板2的檢測參數及所述光學補償參數存儲至所述顯示面板2的主控板202內。
在本實施方式中，所述存儲模組104將所述檢測參數及所述光學補償參數存儲至所述存儲單元203，以便於在後續進行所述顯示面板2的畫面檢測時，無需藉由控制板調整檢測參數。
所述獲取模組105用於在組裝完成後對所述顯示面板2的顯示畫面進行檢測時，從所述主控板202獲取所述檢測參數及所述光學補償參數。
例如，在所述顯示面板2組裝完成並出廠後的顯示裝置組裝過程中，需要重新對所述顯示面板2的顯示畫面進行檢測。
在本實施方式中，所述獲取模組105從所述主控板202的所述存儲單元203獲取所述檢測參數及所述光學補償參數。
所述檢測模組103還根據從所述主控板202獲取的所述檢測參數及所述光學補償參數對所述顯示面板2的顯示畫面進行檢測。
具體的，所述檢測模組103將所述主控板202與第二控制板（圖未示）電性連接而將視訊訊號傳送至所述第二控制板，並將所述第二控制板與所述顯示面板2的顯示螢幕201連接以驅動所述顯示螢幕201顯示圖像，然後根據所述顯示螢幕201顯示的圖像對所述顯示畫面進行檢測。其中，所述檢測模組103根據人工對所述顯示螢幕201顯示的圖像進行檢測後的回饋確定所述顯示螢幕畫面的檢測結果。
請參閱圖4所示，是本發明提供的顯示面板檢測方法的流程圖。根據不同的需求，所述流程圖中步驟的順序可以改變，某些步驟可以省略。
步驟S401，在顯示面板2的組裝階段，藉由第一控制板3對所述顯示面板2的檢測參數進行調整。
步驟S402，設置所述顯示面板2的光學補償參數。
步驟S403，在所述顯示面板2的組裝階段，直接根據調整後的所述檢測參數及設置的所述光學補償參數對所述顯示面板2的顯示畫面進行檢測。
步驟S404，將所述顯示面板2的檢測參數及所述光學補償參數存儲至所述顯示面板2的主控板202內。
步驟S405，在組裝完成後對所述顯示面板2的顯示畫面進行檢測時，從所述主控板202獲取所述檢測參數及所述光學補償參數。
步驟S406，根據從所述主控板202獲取的所述檢測參數及所述光學補償參數對所述顯示面板2的顯示畫面進行檢測。
所述檢測裝置1集成的模組/單元如果以軟體功能單元的形式實現並作為獨立的產品銷售或使用時，可以存儲在一個電腦可讀取存儲介質中。基於這樣的理解，本發明實現上述實施例方法中的全部或部分流程，也可以藉由電腦程式來指令相關的硬體來完成，所述的電腦程式可存儲於一電腦可讀存儲介質中，所述電腦程式在被處理器執行時，可實現上述各個方法實施例的步驟。其中，所述電腦程式包括電腦程式代碼，所述電腦程式代碼可以為原始程式碼形式、物件代碼形式、可執行檔或某些中間形式等。所述電腦可讀介質可以包括：能夠攜帶所述電腦程式代碼的任何實體或裝置。需要說明的是，所述電腦可讀介質包含的內容可以根據司法管轄區內立法和專利實踐的要求進行適當的增減，例如在某些司法管轄區，根據立法和專利實踐，電腦可讀介質不包括電載波信號和電信信號。
本發明提供的顯示面板檢測方法、檢測裝置及存儲介質將檢測參數及光學補償參數存儲至顯示面板的主控板內，在對組裝完成並出廠後的顯示面板進行畫面檢測時，例如顯示組裝的組裝過程中，無需藉由控制板再次調整檢測參數，簡化了檢測操作，有效提高了顯示面板的檢測效率。
對於本領域技術人員而言，顯然本發明不限於上述示範性實施例的細節，而且在不背離本發明的精神或基本特徵的情況下，能夠以其他的具體形式實現本發明。因此，無論從哪一點來看，均應將實施例看作是示範性的，而且是非限制性的，本發明的範圍由所附申請專利範圍而不是上述說明限定，因此旨在將落在申請專利範圍的等同要件的含義和範圍內的所有變化涵括在本發明內。不應將申請專利範圍中的任何附圖標記視為限制所涉及的申請專利範圍。此外，顯然“包括”一詞不排除其他單元或步驟，單數不排除複數。裝置申請專利範圍中陳述的複數個單元或裝置也可以由同一個單元或裝置藉由軟體或者硬體來實現。第一，第二等詞語用來表示名稱，而並不表示任何特定的順序。
綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，舉凡熟悉本案技藝之人士，於爰依本發明精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下之申請專利範圍內。
1:檢測裝置 10:處理器 100:顯示面板檢測系統 101:調整模組 102:設置模組 103:檢測模組 104:存儲模組 105:獲取模組 20:記憶體 30:電腦程式 2:顯示面板 201:顯示螢幕 202:主控板 203:存儲單元 3:第一控制板 S401-S406:步驟
圖1是本發明較佳實施方式提供的顯示面板檢測方法的應用環境架構示意圖。 圖2是本發明較佳實施方式提供的檢測裝置的結構示意圖。 圖3是本發明較佳實施方式提供的顯示面板檢測系統的結構示意圖。 圖4是本發明較佳實施方式提供的顯示面板檢測方法的流程圖。
無
S401-S406:步驟

Claims (10)

  1. 一種顯示面板檢測方法，其中，所述方法包括： 在顯示面板的組裝階段，藉由第一控制板對所述顯示面板的檢測參數進行調整； 設置所述顯示面板的光學補償參數； 將所述顯示面板的檢測參數及所述光學補償參數存儲至所述顯示面板的主控板內； 在組裝完成後對所述顯示面板的顯示畫面進行檢測時，從所述主控板獲取所述檢測參數及所述光學補償參數；及 根據從所述主控板獲取的所述檢測參數及所述光學補償參數對所述顯示面板的顯示畫面進行檢測。
  2. 如請求項1所述之顯示面板檢測方法，其中，所述方法還包括： 在所述顯示面板的組裝階段，直接根據調整後的所述檢測參數及設置的所述光學補償參數對所述顯示面板的顯示畫面進行檢測。
  3. 如請求項1所述之顯示面板檢測方法，其中，所述藉由第一控制板對所述顯示面板的檢測參數進行調整包括： 預設複數個檢測參數值； 獲取預設的所述複數個檢測參數值下對應的所述顯示面板的閃爍值；及 確定最小閃爍值對應的檢測參數值為調整後的檢測參數值。
  4. 如請求項1所述之顯示面板檢測方法，其中，所述藉由第一控制板對所述顯示面板的檢測參數進行調整包括： 預設一最小閃爍值； 對所述檢測參數值進行調整直至獲取到所述最小閃爍值；及 確定獲取到所述最小閃爍值時的檢測參數值為調整後的檢測參數值。
  5. 如請求項1所述之顯示面板檢測方法，其中，所述光學補償參數包括增益補償值及偏移補償值，用於對所述顯示面板的亮度不均現象進行補償。
  6. 如請求項1所述之顯示面板檢測方法，其中，對所述顯示面板的顯示畫面進行檢測的檢測專案至少包括亮度均勻性檢測、亮暗點檢測及畫面品質檢測。
  7. 如請求項1所述之顯示面板檢測方法，其中，所述根據從所述主控板獲取的所述檢測參數及所述光學補償參數對所述顯示面板的顯示畫面進行檢測包括： 將所述主控板與第二控制板電性連接以將視訊訊號傳送至所述第二控制板； 將所述第二控制板與所述顯示面板的顯示螢幕連接以驅動所述顯示螢幕顯示圖像；及 根據所述顯示螢幕顯示的圖像對所述顯示畫面進行檢測。
  8. 如請求項1所述之顯示面板檢測方法，其中，所述檢測參數包括公共電極電壓、Gamma值及中電位參考電壓中的一個或複數個。
  9. 一種檢測裝置，其中，所述檢測裝置包括： 處理器；以及 記憶體，所述記憶體中存儲有複數個程式模組，所述複數個程式模組由所述處理器載入並執行如請求項1至8中任意一項所述之顯示面板檢測方法。
  10. 一種電腦可讀的存儲介質，其上存儲有至少一條電腦指令，其中，所述指令由處理器載入並執行如請求項1至8中任意一項所述之顯示面板檢測方法。
TW109140637A 2020-07-15 2020-11-19 顯示面板檢測方法、檢測裝置及存儲介質 TW202204865A (zh)

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