TW202130221A - 用於決定感應加熱電路的特性的系統、方法、及電腦程式產品 - Google Patents

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Abstract

提供系統，該等系統包括感應加熱電路及至少一個處理器，該至少一個處理器被程式化或配置為：產生複數條線中的每條線，其中每條線均包括一訊號的相位值與頻率的關係的圖形表示，該感應加熱電路是用該訊號來驅動的；決定該複數條線中具有最大斜率的線；決定具有該最大斜率的該線的平均頻率；決定與具有該最大斜率的該線的該平均頻率對應的相位值；決定時間延遲；基於該時間延遲來決定該感應加熱電路的自共振頻率（SRF）值；及基於該共振頻率值來決定該感應加熱電路的特性。亦揭露了方法及電腦程式產品。

Description

用於決定感應加熱電路的特性的系統、方法、及電腦程式產品
此申請案主張於2019年11月27日所提出的第62/940,987號的美國臨時申請案的優先權，該文件的整體揭示內容特此以引用方式併入本文中。
此揭示內容係關於決定感應加熱電路的特性的系統、方法、及電腦程式產品。
感應加熱包括藉由電磁感應來加熱導電物體（例如金屬物體）。例如，感應加熱包括基於物體中藉由在物體中流動的渦電流所產生的熱來加熱物體。在一些情況下，感應加熱系統包括感應加熱器及要基於電磁感應來加熱的導電物體。感應加熱器包括電磁體及電子振盪器，該電子振盪器使交流電流（AC）穿過電磁體，使得電磁體產生磁場（例如H場）。在一些情況下，磁場在導電物體處被引導且穿透導電物體。電流可以基於磁場來在導電物體內部產生。該等電流有時候稱為渦電流。渦電流可以流動穿過導電物體並使得基於焦耳加熱來在導電物體中產生熱。在一些情況下，導電物體包括鐵磁性材料（例如鐵），且基於磁滯（例如磁滯損耗）來在導電物體中產生熱。
在一些情況下，導電物體包括感受器。感受器包括有著吸收電磁能量並將電磁能量轉換成熱的能力的材料。此外，亦可以將感受器配置為發射熱作為輻射（例如紅外線熱輻射）。電磁能量包括射頻頻譜或微波頻譜中的輻射（例如電磁輻射）。
一種感應加熱系統，包括：感應加熱電路；及至少一個處理器，被程式化或配置為：產生複數條線中的每條線，其中每條線均包括一訊號的相位值與頻率的關係的圖形表示，該感應加熱電路是用該訊號來驅動的；決定該複數條線中具有最大斜率的線；決定具有該最大斜率的該線的平均頻率；決定與具有該最大斜率的該線的該平均頻率對應的相位值；決定時間延遲，其中該時間延遲等於與該最大斜率對應的該相位值與相位正交（quadrature）下的假定相位值的差除以全相位週期與具有該最大斜率的該線的該平均頻率的乘積；基於該時間延遲來決定該感應加熱電路的自共振頻率（SRF）值；及基於該SRF值來決定該感應加熱電路的特性。
一種方法，包括以下步驟：用至少一個處理器，產生複數條線中的每條線，其中每條線均包括一訊號的相位值與頻率的關係的圖形表示，該感應加熱電路是用該訊號來驅動的；用至少一個處理器，決定該複數條線中具有最大斜率的線；用至少一個處理器，決定具有該最大斜率的該線的平均頻率；用至少一個處理器，決定與具有該最大斜率的該線的該平均頻率對應的相位值；用至少一個處理器，決定時間延遲，其中該時間延遲等於與該最大斜率對應的該相位值與相位正交（quadrature）下的假定相位值的差除以全相位週期與具有該最大斜率的該線的該平均頻率的乘積；用至少一個處理器，基於該時間延遲來決定該感應加熱電路的自共振頻率（SRF）值；及用至少一個處理器，基於該SRF值來決定該感應加熱電路的特性。
一種電腦程式產品，該電腦程式產品包括至少一個非暫時性電腦可讀取媒體，該至少一個非暫時性電腦可讀取媒體包括一或更多個指令，該一或更多個指令在由至少一個處理器執行時使得該至少一個處理器：產生複數條線中的每條線，其中每條線均包括一訊號的相位值與頻率的關係的圖形表示，感應加熱電路是用該訊號來驅動的；決定該複數條線中具有最大斜率的線；決定具有該最大斜率的該線的平均頻率；決定與具有該最大斜率的該線的該平均頻率對應的相位值；決定時間延遲，其中該時間延遲等於與該最大斜率對應的該相位值與相位正交（quadrature）下的假定相位值的差除以全相位週期與具有該最大斜率的該線的該平均頻率的乘積；基於該時間延遲來決定該感應加熱電路的自共振頻率（SRF）值；及基於該SRF值來決定該感應加熱電路的特性。
本揭示內容大致與用於決定感應加熱電路的特性的系統、方法、及產品相關。因此，本文中揭露了用於決定感應加熱電路的特性的元件、系統、電腦程式產品、裝置、及/或方法的各種實施例。
出於下文說明的目的，用語「端」、「上」、「下」、「右」、「左」、「垂直」、「水平」、「頂」、「底」、「側向」、「縱向」、及上述項目的派生詞應與在繪圖中所定向的揭示內容相關。然而，要了解，除非相反地明確指定，否則本揭示內容可以採取各種替代的變型及步驟序列。亦要了解，附圖中所繪示及以下說明書中所描述的特定元件及過程僅是本揭示內容的示例性實施例或態樣。因此，除非另有指示，否則不要將與本文中所揭露的實施例或實施例的態樣相關的特定尺度及其他物理特性視為限制。
除非明確將本文中所使用的態樣、部件、元件、結構、動作、步驟、功能、指令等等描述為是重要或關鍵的，否則不應將其解釋為是重要或關鍵的。並且，如本文中所使用的，冠詞「一」旨在包括一或更多個項目，且可以與「一或更多個」及「至少一個」可互換地使用。並且，如本文中所使用的，用語「組」旨在包括一或更多個項目（例如相關的項目、不相關的項目、相關的項目與不相關的項目的組合等等），且可以與「一或更多個」或「至少一個」可互換地使用。若只要一個項目，則使用用語「一個」或類似的語言。並且，如本文中所使用的，用語「具有」等等旨在是開放式用語。進一步地，除非另有明確陳述，否則語句「基於」旨在意指「至少部分地基於」。在適當的情況下，語句「基於」亦可以意指「響應於」。
在一些非限制性的實施例中，元件（例如蒸發器元件）包括感應加熱電路。在一些非限制性的實施例中，感應加熱電路包括電感器元件及感受器元件。感應加熱電路可以用來加熱物體，例如與感受器元件熱接觸的材料（例如有機材料、合成材料等等）。例如，電感器元件提供使得感受器元件產生熱的電磁場，且感受器元件可以用來加熱與感受器元件熱接觸（例如與感受器元件相鄰使得可以由感受器元件加熱物體、與感受器元件熱接觸使得可以由感受器元件加熱物體等等）的物體。
在一些非限制性的實施例中，基於測量感受器元件的溫度來控制感受器元件的溫度。在一些非限制性的實施例中，將感受器元件的溫度控制為使得由被感應加熱電路加熱的材料（例如可蒸發物質或用於吸蒸氣的物質）所產生的蒸氣或煙霧的化學組成是在基於該化學組成的期望溫度範圍內。在一些非限制性的實施例中，期望的溫度範圍包括高到足以產生煙霧的溫度，該溫度令使用者滿意同時不將任何材料暴露於過高的溫度。詳細而言，期望的溫度範圍可以取決於要進行吸蒸氣的特定材料的化學物質。例如，對於含有丙二醇、植物甘油、及尼古丁的電子液體而言，期望的溫度範圍包括188C但不超過250C的區域。在一些非限制性的實施例中，可蒸發物質是乾燥的草本材料（例如煙草或草藥），類似地，該乾燥的草本材料在被加熱到正確的溫度時會提供在不燃燒可蒸發物質或可蒸發物質的燃燒最小的情況下遞送要吸入的煙霧的期望效果。
在一些應用中，使用溫度感測元件可能帶來某些挑戰。例如，基於感受器元件的尺寸及/或用來測量感受器元件的溫度的溫度感測元件的尺寸，使用溫度感測元件（例如熱電偶、感測器晶片、及/或紅外線熱電偶）來感測元件（例如元件（例如蒸發器元件）中的感受器元件）的溫度可能是困難的。
作為實例，在感應加熱電路緊湊的蒸發器元件中，溫度感測元件的尺寸可能妨礙溫度感測元件，使其不能夠用來感測感受器元件的溫度，因為溫度感測元件不能與感受器元件熱接觸。此外，因為溫度感測元件不能夠與感受器元件熱接觸，所以溫度感測元件可能不能夠準確地感測感受器元件的溫度。進一步地，在一些情況下，因為溫度感測元件可能不能夠耐得住感受器元件的溫度，所以溫度感測元件可能不能夠與感受器元件熱接觸。在其他的情況下，蒸發器元件的控制元件可能不能夠從溫度感測元件接收資訊。例如，因為干擾控制元件與溫度感測元件之間的通訊的實體障礙物（例如內部定位有溫度感測元件的部件（例如盒）上一定量的材料），所以控制元件可能不能夠從溫度感測元件接收資訊。
為了解決該等問題中的至少一些，本揭示內容包括了涉及用於決定感應加熱電路的特性的系統、方法、及電腦程式產品的非限制性實施例。在一些非限制性的實施例中，一種系統可以包括：感應加熱電路；及至少一個處理器，被程式化或配置為：產生複數條線中的每條線，其中每條線均包括一訊號的相位值與頻率的關係的圖形表示，該感應加熱電路是用該訊號來驅動的；決定該複數條線中具有最大斜率的線；決定具有該最大斜率的該線的平均頻率；決定與具有該最大斜率的該線的該平均頻率對應的相位值；決定時間延遲，其中該時間延遲等於與該最大斜率對應的該相位值與相位正交（quadrature）下的假定相位值的差除以全相位週期與具有該最大斜率的該線的該平均頻率的乘積；基於該時間延遲來決定該感應加熱電路的自共振頻率（SRF）值；及基於該共振頻率值來決定該感應加熱電路的特性。
用此種方式，本揭示內容的實施例允許在系統的任何部件都不與感受器元件熱接觸（例如實體接觸使得導熱會基於感受器元件與該部件之間的傳導而發生）的情況下，基於感應加熱電路對激勵的響應（例如基於感應加熱電路的電感器元件或電容器元件的響應）來準確地決定感應加熱電路的特性。此外，本揭示內容的實施例亦允許減少與包括感受器元件的拋棄部件（disposal component）（例如包括感受器元件及可蒸發材料的盒）相關聯的成本。盒可以是用後可棄式的，且可以在盒內的可蒸發材料用盡時在蒸發器元件中替換。與包括額外電路系統以決定盒內的感受器的溫度的部件（例如具有電路、溫度感測器等等的盒）相比，盒可以具有減少的製造成本。
圖1是系統100的非限制性實施例的圖解，在該系統中，可以實施如本文中所揭露的系統、方法、及/或電腦程式產品。在一些非限制性的實施例中，系統100是元件、系統等等內的部件。例如，系統100可以是如本文中所述的蒸發器元件內的部件。在一些非限制性的實施例中，可以將系統100實施為感應加熱系統及/或系統。
如圖1中所示，系統100包括控制元件110、電感器元件120、電源130、及感受器元件140。在一些非限制性的實施例中，如圖1中進一步圖示，系統100包括感應加熱電路150、電容器元件160、及感測器元件170。在一些非限制性的實施例中，感應加熱電路150包括電感器元件120及電容器元件1160。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110包括一或更多個元件，該一或更多個元件能夠控制電源130向系統100的一或更多個部件（例如電感器元件120）提供功率及/或決定感受器元件140的特性。在一個實例中，控制元件110被配置為基於與電感器元件120相關聯的磁場（例如磁場對感受器元件140的磁性質的改變的響應）來決定感受器元件140的特性（例如溫度）。例如，控制元件110包括計算元件，例如電腦、處理器、微處理器、控制器等等。在一些非限制性的實施例中，控制元件110包括一或更多個電路，該一或更多個電路為由電源130所提供的功率提供功率調節。
在一些非限制性的實施例中，電感器元件120包括一或更多個電部件及/或一或更多個元件，其能夠向感受器元件140提供電磁能量及/或從感受器元件140接收電磁能量。例如，電感器元件120包括感應線圈，例如平面或薄餅狀電感器，或螺旋電感器。在一些非限制性的實施例中，電感器元件120被配置為向感受器元件140提供電磁能量（其例如呈磁場（例如磁感應場）的形式、呈電磁輻射的形式等等），以使得感受器元件140基於接收電磁能量來產生熱。在一些非限制性的實施例中，電感器元件120與向感受器元件140提供電磁能量的另一個電感器元件分離。在一些非限制性的實施例中，電感器元件120具有基於應用的尺寸及配置（例如設計），感應加熱電路150應用於該應用。在一些非限制性的實施例中，電感器元件120具有4 mm到20 mm之間的範圍中的長度。在一個實例中，電感器元件120具有約8 mm的長度。在一些非限制性的實施例中，電感器元件120具有2 mm到20 mm之間的範圍中的寬度（例如直徑）。在一個實例中，電感器元件120具有約7 mm的寬度。在一個實例中，電感器元件120包括感應線圈，該感應線圈具有12匝22規格的導線，分為2層，其內直徑為約6 mm。在一些非限制性的實施例中，電感器元件120具有0.5 µH到6 µH之間的範圍中的電感值。在一個實例中，電感器元件120具有約0.9 µH的電感值。
在一些非限制性的實施例中，電源130包括一或更多個元件，其能夠向感應加熱電路150及/或控制元件110提供功率。例如，電源130包括交流電流（AC）電源（例如發電機、交流發電機等等）及/或直流（DC）電源（例如電池、電容器、燃料電池等等）。在一些非限制性的實施例中，電源130被配置為向系統100的一或更多個部件提供功率。在一些非限制性的實施例中，電源130包括一或更多個電路，該一或更多個電路為由電源130所提供的功率提供功率調節。
在一些非限制性的實施例中，感受器元件140包括一或更多個元件，其能夠吸收電磁能量、基於所吸收的電磁能量來產生熱、及/或向與該一或更多個元件熱接觸的物體（例如物質、元件、部件等等）提供熱（例如經由傳導提供熱、經由輻射提供熱等等）。例如，感受器元件140包括由導電材料構成的元件。在一些非限制性的實施例中，感受器元件140電磁地耦合到電感器元件120。在一些非限制性的實施例中，感受器元件140包括金屬導體，其藉由渦電流加熱鐵、鋼（例如不銹鋼）、陶瓷磁體（例如鐵氧體）、FeCrAl合金、Kanthal合金、及/或半導體。在一些非限制性的實施例中，感受器元件140具有5 mm到18 mm之間的範圍中的長度。在一個實例中，感受器元件140包括430合金不銹鋼且具有約15 mm的長度。在一些非限制性的實施例中，電感器元件120電磁地耦合到感受器元件140。
在一些非限制性的實施例中，感受器元件140具有基於感受器元件140的幾何形狀（例如形狀）的配置。附加性地或替代性地，感受器元件140的配置基於預定類型及/或預定量的一或更多種材料，感受器元件140由該一或更多種材料構成。在一些非限制性的實施例中，感受器元件140的配置界定與感受器元件140相關聯的磁性質，例如感受器元件140的磁化及/或由感受器元件140所產生的磁場的幅度。在一些非限制性的實施例中，感受器元件140具有包括以下項目的配置：絞合線、絞合材料繩、網、網孔管、數個同心網孔管、布、材料片、多孔固體（例如泡沫）、金屬網卷、金屬纖維、或適當地調整尺寸及/或配置的任何其他幾何形狀。在一些非限制性的實施例中，感受器元件140包括鰭片、凸部、或配置為保持固體及/或半固體材料與感受器元件140熱接觸的其他細節。
在一些非限制性的實施例中，感受器元件140由材料組合構成以實現適當的效果。例如，感受器元件140包括細感應加熱導線、束、及/或細線與芯導線、束、及/或細線的交織布（或用其他方式緊密混合的組合）。附加性地或替代性地，感受器元件140包括用繩或泡沫的形式組合的材料，或合適地部署的薄材料片。在一些非限制性的實施例中，感受器元件140包括捲起的交錯材料箔。附加性地或替代性地，感受器元件140被電感器元件120環繞（例如部分地、完全地等等），該電感器元件不一定與感受器元件140接觸。在一些非限制性的實施例中，感受器元件140包括網狀芯。在一些非限制性的實施例中，網狀芯由藉由感應高效地加熱的材料（例如FeCrAl合金或鐵磁體不銹鋼合金）構成。在一些非限制性的實施例中，使用Kanthal合金網來形成網狀芯。附加性地或替代性地，感受器元件140從盒可移除，使得可以相對於盒單獨地清潔、重複使用、及/或替換感受器元件140。
在一些非限制性的實施例中，用於構成感受器元件140的材料包括磁性材料及/或金屬導體。附加性地或替代性地，感受器元件140包括在感受器元件140暴露於電磁能量時基於渦電流及/或磁滯來產生熱的材料。例如，將在電磁場之間的範圍中具有相當大的磁滯的磁性及/或金屬導體材料用於構成感受器元件140。在一些非限制性的實施例中，感受器元件140包括材料，使得藉由渦電流且亦藉由磁疇壁的移動來實現加熱。在一些非限制性的實施例中，構成感受器元件140的材料包括鐵。在一些非限制性的實施例中，感受器元件140包括陶瓷磁體，例如鐵氧體。在一些非限制性的實施例中，感受器元件140包括半導體。
在一些非限制性的實施例中，感受器元件140被配置為基於感受器元件140的毛細管作用來傳輸來自貯存器的可蒸發物質。在一些非限制性的實施例中，可蒸發物質是黏滯物質（例如液體），且隨著黏滯物質蒸發，更多的黏滯物質從貯存器移動到感受器元件140的加熱的部分。在一些非限制性的實施例中，電感器元件120被配置為在感受器元件140周圍產生磁場。在一些非限制性的實施例中，感受器元件140的至少一部分定位在盒內，且盒的至少一部分定位在電感器元件120內。在一些非限制性的實施例中，感受器元件140定位在盒內，且盒定位在電感器元件120內（例如如由圖5中定位在盒518內的感受器元件540所示）。
在一些非限制性的實施例中，感受器元件140與蒸發器元件（例如圖4A至圖4C中所示的蒸發器元件400）相關聯。在一些非限制性的實施例中，控制元件110被配置為偵測感受器元件140的磁性質的改變。
在一些非限制性的實施例中，系統100包括感應加熱電路150，而電感器元件120則是感應加熱電路150的部件。在一些非限制性的實施例中，感應加熱電路150包括電感器元件120及電容器元件1160。在一些非限制性的實施例中，電感器元件120及電容器元件160電連接。例如，感應加熱電路150包括與電容器元件160並聯電連接的電感器元件120。在另一個實例中，感應加熱電路150包括與電容器元件160串聯電連接的電感器元件120。在一些非限制性的實施例中，感應加熱電路150被配置為使得感受器元件140產生熱。
在一些非限制性的實施例中，電容器元件160包括一或更多個電部件及/或一或更多個元件，其能夠在電路中提供一定量的電容。例如，電容器元件160包括電容器，例如平行板電容器。在一些非限制性的實施例中，電容器元件160具有基於應用的尺寸及配置，感應加熱電路150應用於該應用。在一些非限制性的實施例中，電容器元件160具有3.3 mm到16 mm之間的範圍中的長度。在一個實例中，電容器元件160具有約6 mm的長度。在一些非限制性的實施例中，電容器元件160具有1.7 mm到15 mm之間的範圍中的寬度。在一個實例中，電容器元件160具有約5 mm的寬度。在一個實例中，電容器元件160包括表面安裝電容器或多於一個的並聯或串聯的表面安裝電容器，例如標準尺寸2220（例如5.6 mm x 5 mm）的一或更多個表面安裝電容器。在一些非限制性的實施例中，電容器元件160具有0.1 µF到10 µF之間的範圍中的電容值。在一個實例中，電容器元件160具有約1.36 µF的電容值。
在一些非限制性的實施例中，系統100包括感測器元件170。在一些非限制性的實施例中，感測器元件170連接到控制元件110。在一些非限制性的實施例中，感測器元件170是感應加熱電路150的部件。在一些非限制性的實施例中，感測器元件170包括一或更多個電部件及/或一或更多個元件，其能夠偵測與電感器元件120相關聯的磁場（例如磁場的一或更多種特性）。例如，感測器元件170包括感測器，例如感測磁場的半導體感測器及/或霍爾效應感測器。在一些非限制性的實施例中，感測器元件170包括溫度感測器。附加性地或替代性地，感測器元件170包括電感器元件（例如另一個電感器元件120）。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110被配置為決定感應加熱電路150對感受器元件140的磁性質的改變的響應並基於感應加熱電路150的響應來決定感受器元件140的溫度。在一些非限制性的實施例中，控制元件110被配置為決定感受器元件140是否接近感應加熱電路150（例如在該感應加熱電路附近）。例如，控制元件110被配置為基於感應加熱電路150的響應來決定感受器元件140是否接近感應加熱電路150及/或電感器元件120。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110被配置為決定感應加熱電路150對感受器元件140的磁性質的改變的響應。例如，控制元件110被配置為決定與感應加熱電路150相關聯的自共振頻率（SRF）值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110被配置為基於感應加熱電路150的響應來決定感受器元件140的溫度。例如，控制元件110被配置為基於與感應加熱電路150的相關聯的SRF值來決定感受器元件140的溫度。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110被配置為藉由決定與感應加熱電路150相關聯的SRF值並將該SRF值與跟感受器元件140相關聯的頻率值進行比較，來決定感應加熱電路150對感受器元件140的磁性質的改變的響應。在一些非限制性的實施例中，控制元件110被配置為基於將SRF值與跟感受器元件140相關聯的頻率值的比較來決定感受器元件140是否接近感應加熱電路150。在一些非限制性的實施例中，控制元件110被配置為基於感應加熱電路的響應且基於決定感受器元件140接近感應加熱電路150來決定感受器元件的溫度。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110被配置為藉由決定與感應加熱電路150相關聯的SRF值來決定感應加熱電路150對感受器元件140的磁性質的改變的響應，及基於感應加熱電路的響應來決定感受器元件140的第一溫度。在一些非限制性的實施例中，控制元件110被配置為基於決定感受器元件140的第一溫度，來調整向感應加熱電路150提供的電能（例如電流及/或電壓）的量，以使得感受器元件140從第一溫度改變成第二溫度。
現在參照圖2，圖2是元件200的示例部件的圖解。元件200可以與控制元件110對應。在一些非限制性的實施例中，控制元件110包括至少一個元件200及/或元件200的至少一個部件。如圖2中所示，元件200包括匯流排202、處理器204、記憶體506、儲存部件208、輸入部件210、輸出部件212、及通訊介面214。
匯流排202包括容許在元件200的部件之間進行通訊的部件。在一些非限制性的實施例中，處理器204用硬體、軟體（例如韌體）、或硬體與軟體的組合來實施。例如，處理器204包括處理器（例如中央處理單元（CPU）、圖形處理單元（GPU）、加速處理單元（APU）等等）、微處理器、數位訊號處理器（DSP）、及/或可以程式化以執行功能的任何處理部件（例如現場可程式化邏輯閘陣列（FPGA）、特殊應用積體電路（ASIC）等等）。記憶體206包括隨機存取記憶體（RAM）、唯讀記憶體（ROM）、及/或儲存資訊及/或指令以供由處理器204使用的另一種類型的動態或靜態儲存元件（例如快閃記憶體、磁性記憶體、光學記憶體等等）。
在一些非限制性的實施例中，儲存部件208儲存與元件200的操作及使用相關的資訊及/或軟體。例如，儲存部件208包括硬碟（例如磁碟、光碟、磁光碟、固態碟等等）、光碟（CD）、數位多功能光碟（DVD）、軟碟、盒式磁帶、磁帶、快閃記憶體元件（例如快閃碟）、及/或另一種類型的電腦可讀取媒體，以及對應的驅動器。
在一些非限制性的實施例中，輸入部件210包括容許元件200例如經由使用者輸入（例如觸控螢幕顯示器、鍵盤、鍵板、滑鼠、按鈕、開關、傳聲器等等）接收資訊的部件。另外地或替代性地，輸入部件210包括用於感測資訊的感測器（例如溫度感測器、加速度計、陀螺儀、致動器、壓力感測器等等）。輸出部件212包括從元件200提供輸出資訊的部件（例如顯示器、揚聲器、一或更多個發光二極體（LED）等等）。
在一些非限制性的實施例中，通訊介面214包括類似收發器的部件（例如收發器、單獨的接收器及傳送器等等），其允許元件200例如經由有線連接、無線連接、或有線連接與無線連接的組合來與其他元件通訊。在一些非限制性的實施例中，通訊介面214容許元件200從另一個元件接收資訊及/或向另一個元件提供資訊。例如，通訊介面214包括乙太網路介面、光學介面、同軸介面、紅外線介面、射頻（RF）介面、通用串列匯流排（USB）介面、Wi-Fi®介面、胞式網路介面、藍芽®介面等等。
在一些非限制性的實施例中，元件200執行本文中所述的一或更多個過程。在一些非限制性的實施例中，元件200基於處理器204來執行該等過程，該處理器執行由電腦可讀取媒體（例如記憶體206及/或儲存部件208）所儲存的軟體指令。電腦可讀取媒體（例如非暫時性電腦可讀取媒體）在本文中被界定為非暫時性記憶元件。非暫時性記憶元件包括位在單個實體儲存元件內部的記憶體空間或跨多個實體儲存元件分佈的記憶體空間。
將軟體指令經由通訊介面214從另一個電腦可讀取媒體或從另一個元件讀取到記憶體206及/或儲存部件208中。在一些非限制性的實施例中，在被執行時，儲存在記憶體206及/或儲存部件208中的軟體指令使得處理器204執行本文中所述的一或更多個過程。附加性地或替代性地，代替軟體指令或與軟體指令組合而使用固線式電路系統以執行本文中所述的一或更多個過程。因此，本文中所述的實施例不限於硬體電路系統與軟體的任何特定組合。
將圖2中所示的部件的數量及佈置提供作為實例。在一些非限制性的實施例中，與圖2中所示的那些部件相比，元件200包括額外的部件、較少的部件、不同的部件、或不同地佈置的部件。另外地或替代性地，元件200的一組部件（例如一或更多個部件）可以執行描述為由元件200的另一組部件所執行的一或更多個功能。
現在參照圖3A，圖3A是用於決定系統（例如感應加熱系統）中的感應加熱電路（例如感應加熱電路150）的特性的方法300A的非限制性實施例的流程圖。在一些非限制性的實施例中，由控制元件110執行（例如完全地執行、部分地執行等等）方法300A的步驟中的一或更多者。在一些非限制性的實施例中，由與控制元件110分離或包括該控制元件的另一個元件或元件群組執行方法300A的步驟中的一或更多者。
如圖3A中所示，在步驟302A處，方法300A包括以下步驟：產生複數條線。例如，控制元件110產生該複數條線中的每條線。每條線均是控制元件110用以驅動感應加熱電路的訊號的相位響應與頻率的關係的圖形表示。在一些非限制性的實施例中，在產生該複數條線中的每條線時，控制元件110決定跨感應加熱電路的電部件的第一AC電壓的第一相位值及跨感應加熱電路的電部件第二AC電壓響應的第二相位值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定跨感應加熱電路150的電部件（例如電容器元件160）的第一AC電壓的第一相位。例如，控制元件110用第一驅動頻率用第一驅動AC電壓來驅動感應加熱電路150，並基於第一驅動頻率下的第一驅動AC電壓來測量跨感應加熱電路的電部件的第一AC電壓的第一相位值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定跨感應加熱電路150的電部件（例如電容器元件160）的第一AC電壓的第一相位。例如，控制元件110用第二驅動頻率用第二驅動AC電壓來驅動感應加熱電路150，並基於第二驅動頻率下的第二驅動AC電壓來測量跨電路的電部件的第二AC電壓響應的第二相位值。在一些非限制性的實施例中，針對該複數條線中的每條線，控制元件110均基於第一驅動頻率下的第一相位值及第二驅動頻率下的第二相位值來產生相位與頻率的關係線。
如圖3A中所示，在步驟304A處，方法300A包括以下步驟：決定具有最大斜率的線的平均頻率。例如，控制元件110決定具有最大斜率的線的平均頻率。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於線的第一驅動頻率及第二驅動頻率的平均值來決定具有最大斜率的線的平均頻率。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於決定該複數條線中具有最大斜率的線來決定具有最大斜率的線的平均頻率。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定該複數條線中具有最大斜率的線。例如，控制元件110決定該複數條線中的每條線的斜率，並將該複數條線中的每條線的斜率與該複數條線中的所有其他線的斜率進行比較，以提供具有最大斜率的線。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於第一驅動頻率下的第一相位值與第二驅動頻率下的第二相位值的差除以第一驅動頻率與第二驅動頻率的差來決定線的斜率。
如圖3A中所示，在步驟306A處，方法300A包括以下步驟：決定與平均頻率對應的相位值。例如，控制元件110決定與具有最大斜率的線的平均頻率對應的相位值。
如圖3A中所示，在步驟308A處，方法300A包括以下步驟：基於平均頻率及相位值來決定時間延遲。例如，控制元件110基於具有最大斜率的線的平均頻率及與具有最大斜率的線的平均頻率對應的相位值來決定時間延遲。在一些非限制性的實施例中，時間延遲是基於由控制元件110所提供的輸入對感應加熱電路150的激勵與感應加熱電路150的響應之間的時間量。在一些非限制性的實施例中，時間延遲等於與最大斜率對應的相位值與相位正交（quadrature）下的假定相位值的差除以全相位週期與具有最大斜率的線的平均頻率的乘積。在一些非限制性的實施例中，相位正交下的假定相位值是88度與92度之間的範圍中的值。在一個實例中，相位正交下的假定相位值等於90度。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定與最大斜率對應的相位值與相位正交下的假定相位值的差。在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定全相位週期與具有最大斜率的線的平均頻率的乘積。在一些非限制性的實施例中，控制元件110將與最大斜率對應的相位值與相位正交下的假定相位值的差除以全相位週期與具有最大斜率的線的平均頻率的乘積以提供時間延遲。
如圖3A中所示，在步驟310A處，方法300A包括以下步驟：基於時間延遲來決定自共振頻率。例如，控制元件110基於時間延遲來決定感應加熱電路150的自共振頻率（SRF）值。
在一個實例中，控制元件110基於第一驅動頻率下的第一驅動AC電壓來測量跨感應加熱電路150的電部件（例如電容器元件160）的第一AC電壓的初步第一相位，使用時間延遲來調整初步第一相位以提供校正的初步第一相位，並基於校正的初步第一相位來決定第一驅動頻率下的感應加熱電路150的第一響應相位。在一些非限制性的實施例中，第一響應相位是第一驅動頻率下的驅動電流的相位值與第一驅動頻率下跨感應加熱電路150的電部件的第一AC電壓的相位值之間的相位差的值。在上面的實例中，控制元件110基於第二驅動頻率下的第二驅動AC電壓來測量跨感應加熱電路150的電部件的第二AC電壓的初步第二相位，使用時間延遲來調整初步第二相位以提供校正的初步第二相位，並基於校正的初步第二相位來決定第二驅動頻率下的感應加熱電路150的第二響應相位。在一些非限制性的實施例中，第二響應相位是第二驅動頻率下的驅動電流的相位值與第二驅動頻率下跨感應加熱電路150的電部件的第二AC電壓的相位值之間的相位差的值。進一步地，在上面的實例中，控制元件110基於第一響應相位及第二響應相位來決定感應加熱電路150的相位與頻率的關係函數，並基於相位與頻率的關係函數來決定SRF值。在一些非限制性的實施例中，SRF值等於與處於相位正交（例如與90度的相位值對應）的函數的相位值對應的頻率值。
如圖3A中所示，在步驟312A處，方法300A包括以下步驟：基於自共振頻率來決定特性。例如，控制元件110基於感應加熱電路150的SRF值來決定感應加熱電路150的特性。在一些非限制性的實施例中，感應加熱電路150的特性包括由電感器元件120所產生的磁場，且因此包括感應加熱電路150的電感器元件120的電感。在一些非限制性的實施例中，感應加熱電路150的特性包括感受器元件140的溫度的改變，該改變使得感受器元件140的磁化改變。在一些非限制性的實施例中，感應加熱電路150的特性包括感受器元件140的電阻率的改變，該改變使得感受器元件140中由電感器元件120所產生的磁場所誘發的渦電流改變。在一些非限制性的實施例中，感應加熱電路150的特性包括感受器元件140的材料的相變。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於感應加熱電路的特性來執行動作。例如，控制元件110控制要由感應加熱電路150所輸出的期望功率水平。在此類實例中，控制元件110可以使得感受器元件140產生熱。在另一個實例中，控制元件110可以切斷由感應加熱電路150所輸出的功率。在另一個實例中，控制元件110可以決定感受器元件140是否存在。在一些非限制性的實施例中，控制元件110可以基於決定感受器元件140不存在，來限制由感應加熱電路150所輸出的功率及/或提供警告指示。
現在參照圖3B，圖3B是用於決定系統（例如感應加熱系統）中的感受器元件（例如感受器元件140）的特性的方法300B的非限制性實施例的流程圖。在一些非限制性的實施例中，由控制元件110執行（例如完全地執行、部分地執行等等）方法300B的步驟中的一或更多者。在一些非限制性的實施例中，由與控制元件110分離或包括該控制元件的另一個元件或元件群組執行方法300B的步驟中的一或更多者。
如圖3B中所示，在步驟302B處，方法300B包括以下步驟：使得感受器元件產生熱。例如，控制元件110使得電感器元件120提供由感受器元件140所接收的電磁能量。在一些非限制性的實施例中，感受器元件140基於感受器元件140內部所產生的電流及/或基於由感受器元件140所接收的電磁能量的磁滯，來在感受器元件140內產生熱。在一些非限制性的實施例中，控制元件110使得電感器元件120基於向電感器元件120提供作為輸入的交流電流來提供（例如輻射）磁場。在一些非限制性的實施例中，電感器元件120在感受器元件140周圍產生磁場。
在一些非限制性的實施例中，電感器元件120由電源130供電。例如，電感器元件120基於控制元件110來從電源130接收電能，該控制元件控制向電感器元件120提供且由該電感器元件所接收的電流及/或電壓的量。在一些非限制性的實施例中，控制元件110控制由電源130所提供的電能的量。在一些非限制性的實施例中，控制元件110使得電感器元件120提供要由感受器元件140所接收（例如吸收）的磁場。例如，控制元件110向電感器元件120提供控制訊號，且電感器元件120基於來自控制元件110的控制訊號來產生要由感受器元件140所接收的磁場。
在一些非限制性的實施例中，由電感器元件120所接收的電能包括交流電流。例如，控制元件110從電源130接收直流電流（例如DC電流），且控制元件110將直流電流轉換成交流電流（例如AC電流）。在一些非限制性的實施例中，控制元件110向電感器元件120提供交流電流。在一些非限制性的實施例中，交流電流的頻率值是在10 kHz到10 MHz之間的範圍中。在一些非限制性的實施例中，交流電流的頻率值是在10 kHz到100 GHz之間的範圍中。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110向感應加熱電路150（例如感應加熱電路150的電感器元件120）提供具有10 kHz到10 MHz之間的範圍中的頻率值的交流電流，且電感器元件120基於交流電流來產生電磁場。在一些非限制性的實施例中，感受器元件140包括一定量的鐵磁性材料，使得在感受器元件140接收具有10 kHz到10 MHz之間的範圍中的頻率值的電磁場時，基於鐵磁性材料的磁滯來產生由感受器元件140所產生的熱的一部分。在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定感受器元件140的與包括一定量的鐵磁性材料的感受器元件140相關聯的預定配置，使得基於鐵磁性材料的磁滯來產生由感受器元件140所產生的熱的一部分。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於決定感受器元件140包括預定配置來提供具有10 kHz到10 MHz之間的範圍中的頻率值的交流電流。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於包括一定量的材料的感受器元件140的配置來提供具有10 kHz到100 GHz之間的範圍中的頻率值的交流電流，其中該材料量使得由感受器元件140所產生的熱的大部分是基於藉由材料中的渦電流進行的電阻加熱來產生的。例如，控制元件110決定感受器元件140的與包括一定量的材料的感受器元件140相關聯的預定配置（例如預定幾何形狀、預定類型的一或更多種材料、及/或預定量的一或更多種材料），使得由感受器元件140所產生的熱的大部分是基於藉由材料中的渦電流來進行的電阻加熱來產生的。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於決定感受器元件140包括預定配置來提供具有10 kHz到100 GHz之間的範圍中的頻率值的交流電流。
如圖3B中進一步圖示，在步驟304B處，方法300B包括以下步驟：決定感應加熱電路的響應。例如，控制元件110決定感應加熱電路150對感受器元件140的磁性質的響應。在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定感應加熱電路150的SRF值作為感應加熱電路150對感受器元件140的磁性質的響應。在一些非限制性的實施例中，控制元件110使得感受器元件140基於感受器元件140從感應加熱電路150的電感器元件120接收到第一磁場來產生熱。在一些非限制性的實施例中，感受器元件140基於從電感器元件120接收到磁場來產生熱及/或產生第二磁場。在一些非限制性的實施例中，電感器元件120接收到由感受器元件140所產生的第二磁場，且感應加熱電路150的SRF值基於電感器元件120接收到由感受器元件140所產生的第二磁場而從第一SRF值改變成第二SRF值。控制元件110決定感應加熱電路150的第二SRF值及/或第一SRF值與第二SRF值之間的差。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於控制元件110使得感受器元件140產生熱來決定感應加熱電路150的SRF值。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定感受器元件140的磁性質的改變。例如，控制元件110決定感受器元件140的磁化的改變及/或由感受器元件140所產生的磁場的幅度的改變。在一些實例中，控制元件110基於感受器元件140的溫度的改變來決定感受器元件140的磁化的改變及/或由感受器元件140所產生的磁場的幅度的改變。
在一些非限制性的實施例中，感應加熱電路150的SRF值從第一SRF值改變成第二SRF值，該第一SRF值基於感受器元件140不接近電感器元件120（例如不在該電感器元件的現場），該第二SRF值基於感受器元件140接近電感器元件120（例如在該電感器元件的現場）。例如，感應加熱電路150的SRF值基於電感器元件120的電感。在一些非限制性的實施例中，在感受器元件140產生熱（例如基於由電感器元件120向感受器元件140提供的電磁能量來產生熱）時，電感器元件120的電感基於由感受器元件140所產生的磁場而改變。在一些非限制性的實施例中，在感受器元件140不接近電感器元件120時，因為由感受器元件140所產生的磁場不會造成電感器元件120的電感的改變（例如可測量到的改變），所以感應加熱電路150的SRF值為第一SRF值。在一些非限制性的實施例中，在感受器元件140接近電感器元件120時，因為由感受器元件140所產生的磁場造成電感器元件120的電感的改變，所以感應加熱電路150的SRF值為第二SRF值。在一些非限制性的實施例中，在感受器元件140接近電感器元件120時的第二SRF值是與感受器元件140正定位在電感器元件120內相關聯的SRF值。
在一些非限制性的實施例中，感應加熱電路150的SRF值是一頻率值，在該頻率值下，電感器元件120向感受器元件140提供最大量的電磁能量。在一些非限制性的實施例中，在感應加熱電路150的交流電流（例如穿過感應加熱電路150的電感器元件120的電流）處於最大幅度時，向感受器元件140提供最大量的電磁能量。
在一些非限制性的實施例中，在感受器元件140正位在電感器元件120內時，控制元件110決定感應加熱電路150的SRF值。例如，電感器元件120包括感應線圈，且感受器元件140的至少一部分（例如感受器元件140的長度的四分之一、感受器元件140的長度的一半、感受器元件140的一些、感受器元件140的全部等等）定位在感應線圈內（例如由該感應線圈環繞）。在一些非限制性的實施例中，感受器元件140定位在盒（例如如本文中所揭露的盒）內，且盒定位在電感器元件120內。在一些非限制性的實施例中，在感受器元件140（例如定位在盒內的感受器元件140）定位在電感器元件120內時，控制元件110決定SRF值。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於感受器元件140不位在電感器元件120內來決定感應加熱電路150的SRF值。例如，電感器元件120包括感應線圈，且感受器元件140定位在感應線圈外部（例如感受器元件140沒有任何部分被該感應線圈環繞）。在一些非限制性的實施例中，感受器元件140與感應線圈同軸地定位。在感受器元件140（例如定位在盒內的感受器元件140）不定位在電感器元件120內時，控制元件110決定SRF值。
在一些非限制性的實施例中，在向感應加熱電路150提供具有預定頻率值（例如驅動頻率值）的交流電流時，控制元件110基於跨電容器元件160的電壓來決定感應加熱電路150的SRF值。例如，控制元件110對跨電容器元件160的電壓進行取樣，並基於電壓的樣本來產生電壓波形。控制元件110決定交流電流的預定頻率值下的電壓波形的相位（例如用度為單位）及電壓波形的幅度。控制元件110基於電壓波形的相位來決定感應加熱電路150的SRF值。在一個實例中，控制元件110將感應加熱電路150的SRF值決定為一頻率值，在該頻率值下，電壓波形的相位的導數（例如改變速率）具有最大值。在另一個實例中，控制元件110將感應加熱電路150的SRF值決定為一頻率值，在該頻率值下，電壓波形的幅度具有最大值。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於感應加熱電路150中的交流電流的頻率值來決定感應加熱電路150的SRF值。例如，控制元件110決定在電感器元件120中流動的交流電流的頻率值，且控制元件110基於交流電流的頻率值來決定感應加熱電路150的SRF值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於感應加熱電路150中的交流電流的頻率值的改變來決定感應加熱電路150的SRF值。例如，控制元件110決定在電感器元件120中流動的交流電流的第一頻率值，且控制元件110決定在電感器元件120中流動的交流電流的第二頻率值。控制元件110基於第一頻率值與第二頻率值之間的差來決定交流電流流動的頻率值的改變，且控制元件110基於交流電流的頻率值的改變來決定感應加熱電路150的SRF值。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於感應加熱電路150中的交流電流的幅度來決定感應加熱電路150的SRF值。例如，控制元件110決定在電感器元件120中流動的交流電流的幅度，且控制元件110基於交流電流的幅度來決定感應加熱電路150的SRF值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於感應加熱電路150中的交流電流的幅度的改變來決定感應加熱電路150的SRF值。例如，控制元件110決定在電感器元件120中流動的交流電流的第一幅度，且控制元件110決定在電感器元件120中流動的交流電流的第二幅度。控制元件110基於第一幅度與第二幅度之間的差來決定交流電流流動的幅度的改變，且控制元件110基於交流電流的幅度的改變來決定感應加熱電路150的SRF值。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於一時間區間來決定感應加熱電路150的SRF值。例如，控制元件110用小於2秒的時間區間決定（例如連續地決定）感應加熱電路150的SRF值。在一個實例中，控制元件110用等於0.1秒的時間區間決定感應加熱電路150的SRF值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110用毫秒時間尺度的時間區間決定感應加熱電路150的SRF值。在一個實例中，控制元件110用等於1 ms的時間區間決定感應加熱電路150的SRF值。在另一個實例中，控制元件110用等於2 ms的時間區間決定感應加熱電路150的SRF值。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於電感器元件120及電容器元件160來決定感應加熱電路150的SRF值。例如，控制元件110基於以下等式來決定感應加熱電路150的SRF值：
Figure 02_image001
其中L是電感器元件120的電感值，而C則是電容器元件160的電容值。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於感受器元件140的磁性質來決定感應加熱電路150的SRF值。例如，控制元件110基於由感受器元件140所產生的磁場來決定感應加熱電路150的SRF值，該磁場由電感器元件120所接收。在一些非限制性的實施例中，控制元件110使得電感器元件120產生由感受器元件140所接收的第一磁場。在一些非限制性的實施例中，感受器元件140基於從電感器元件120接收到第一磁場來產生第二磁場。在一些非限制性的實施例中，電感器元件120從感受器元件140接收第二磁場，且電感器元件120的電感基於第二磁場而改變。控制元件110基於電感器元件120的電感的改變來決定感應加熱電路150的SRF值。在一些非限制性的實施例中，第二磁場包括第一磁場的分量，該分量具有與第一磁場的頻率值不同的頻率值。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於由控制元件110向感應加熱電路150所提供的輸入來決定感應加熱電路150的SRF值。在一些非限制性的實施例中，基於感應加熱電路150及感受器元件140的配置，感應加熱電路150的SRF值是在100 kHz到200 kHz之間的的範圍中。在一些非限制性的實施例中，控制元件110掃描（例如提供具有特定頻率值的輸入電流）100 kHz到200 kHz之間的範圍中的複數個頻率值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110掃描100 kHz到200 kHz之間的頻率值之間的範圍中的16個頻率值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110測量被掃描的每個頻率值下基於由控制元件110向感應加熱電路150所提供的輸入（例如提供作為對感應加熱電路150的電感器元件120輸入的交流電流）對感應加熱電路150的激勵與來自感受器元件140的響應之間的時間延遲。在一些非限制性的實施例中，控制元件110藉由測量跨電容器元件160的電壓來測量對感應加熱電路150的激勵及/或來自感受器元件140的響應。
在一些非限制性的實施例中，將被掃描的每個頻率值下基於由控制元件110所提供的輸入對感應加熱電路150的激勵與來自感受器元件140的響應之間的時間延遲決定為被掃描的每個頻率值下的感應加熱電路150的相位與激勵的關係的度量。控制元件110決定感應加熱電路150的相位的數值導數，且控制元件110將數值導數的最大值（例如感應加熱電路150的一頻率值，在該頻率值下，相位等於90度）決定作為感應加熱電路150的SRF值的值（例如初始估算值）。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110再次掃描100 kHz到200 kHz之間的比初始掃描更小頻率值範圍中的頻率值（例如16個頻率值），並決定相位的導數以決定感應加熱電路150的SRF值的第二值（例如更新的估算值）。在一些非限制性的實施例中，控制元件110在小於四分之一秒內決定感應加熱電路150的SRF值的第一值及第二值。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於感應加熱電路150的SRF值的初始估算值來決定感應加熱電路150的SRF值。例如，控制元件110如上所述地決定感應加熱電路150的SRF值的初始估算值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於控制元件110控制激勵半電橋的電壓，來設定要由感應加熱電路150所輸出的期望功率水平。在一些非限制性的實施例中，電壓由控制元件110所提供的脈波寬度調變訊號所控制。在一些非限制性的實施例中，一旦設定了期望功率水平，控制元件110就用複數個頻率值連續地提供交流電流作為對感應加熱電路150的輸入。在一些非限制性的實施例中，該複數個頻率值包括4個頻率值，該4個頻率值在預定量的SRF值內且大於SRF值的初始估算值，且該4個頻率值具有是控制元件110的時脈的整數時脈循環的週期。在一些非限制性的實施例中，在該複數個頻率值中的每個頻率值下，控制元件110測量對感應加熱電路150的激勵與來自感受器元件140的響應之間的時間延遲，該時間延遲由控制元件110所測量且被轉換成用度為單位的相位。在一些非限制性的實施例中，基於提供作為對感應加熱電路150的輸入電流（例如向電感器元件120提供的輸入電流）的驅動方形波來測量激勵，且基於感應加熱電路150的電壓響應（例如跨電容器元件160的電壓）來測量響應。在一些非限制性的實施例中，控制元件110藉由將對該複數個頻率值（例如該4個頻率值）的線性擬合外推到在SRF下發生的共振時的相位值來決定SRF值。附加性地或替代性地，控制元件110藉由決定由該複數個頻率值所形成的線的導數（例如與該複數個頻率值對應的相位的導數）來決定SRF值，其中SRF值等於與線的導數的最大值對應的頻率值。
在一些非限制性的實施例中，在感受器元件140的溫度改變時，感受器元件140的磁化率基於感受器元件140的溫度改變而改變，反之亦然。在一些非限制性的實施例中，感受器元件140的磁化率的改變使得接近感受器元件140的電感器元件120的電感改變，而電感器元件120的電感的改變則使得感應加熱電路150的SRF值改變。
在一些非限制性的實施例中，一旦控制元件110決定SRF值，控制元件110就連續掃描經歷該複數個頻率值，並基於該複數個頻率值來決定SRF值的更新值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定感應加熱電路150的SRF值的值，且控制元件110提供該複數個頻率值下的交流電流作為對感應加熱電路150的輸入。在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定，該複數個頻率值中的一或更多個頻率值與小於90度的相對相位值（例如為驅動相位與測量到的相位之間的差的相位值）對應。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於決定該複數個頻率值中的一或更多個頻率值與小於90度的相對相位值對應來改變該複數個頻率值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110改變該複數個頻率值，使得所有該複數個頻率值都與大於90度的相對相位值對應。在上面的實例中，控制元件110將感應加熱電路150的SRF值決定為在該複數個頻率值中與最接近90度相位的相位值對應的頻率值之間的預定頻率範圍內的頻率值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110將感應加熱電路150的SRF值決定為介於該複數個頻率值中與比等於90度的相位值小的相位值對應的頻率值與該複數個頻率值中與比等於90度的相位值大的相位值（例如比等於90度的相位值大且最接近90度的相位）對應的頻率值之間的頻率值。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110改變該複數個頻率值，使得該複數個頻率值保持接近（例如在SRF值的預定值內）SRF值但大於SRF值。用此種方式，控制元件110允許感應加熱電路150接近感應加熱電路150的SRF值而操作（此比在感應加熱電路150的SRF值之外（例如在接近SRF值的頻率值之間的範圍之外）操作的感應加熱電路150更高效），同時仍然能夠測量SRF值如何基於感受器元件140的溫度改變而改變。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定感受器元件140是否接近感應加熱電路150（例如感應加熱電路150的電感器元件120）。例如，控制元件110基於感應加熱電路150的SRF值來決定感受器元件140是否接近感應加熱電路150。用此種方式，包括系統100（例如系統100的控制元件110）的元件允許元件的使用者決定感受器元件140是否接近系統100的感應加熱電路150，而無需開啟元件的殼體。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定感應加熱電路150的SRF值，且控制元件110將感應加熱電路150的SRF值與跟感受器元件140相關聯的頻率值（例如頻率閾值）進行比較。在一些非限制性的實施例中，頻率值是與感受器元件140相關聯的預定頻率值，或在感受器元件140接近感應加熱電路150時的感應加熱電路150的SRF值的測量（例如先前測量）。若控制元件110決定感應加熱電路150的SRF值與頻率值對應（例如與頻率值匹配、在頻率值的預定閾值內等等），則控制元件110決定感受器元件140接近感應加熱電路150。若控制元件110決定感應加熱電路150的SRF值不與頻率值對應，則控制元件110決定感受器元件140不接近感應加熱電路150。
在一些非限制性的實施例中，預定頻率值是在感受器元件140不接近感應加熱電路150時的感應加熱電路150的SRF值的測量。在一些非限制性的實施例中，若控制元件110決定感應加熱電路150的SRF值與頻率值對應，則控制元件110決定感受器元件140不接近感應加熱電路150。若控制元件110決定感應加熱電路150的SRF值不與頻率值對應，則控制元件110決定感受器元件140接近感應加熱電路150。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定具有特定配置（例如用於加熱特定可蒸發物質的配置、用於特定電子蒸發器中的標準配置、指示感受器元件140的性質的配置、指示與感受器元件140相關聯的可蒸發物質的性質的配置等等）的感受器元件（例如感受器元件140）是否接近感應加熱電路150（例如感應加熱電路150的電感器元件120）。用此種方式，包括系統100（例如系統100的控制元件110）的元件可以允許元件的使用者決定具有特定配置的感受器元件140是否接近系統100的感應加熱電路150，而無需開啟元件的殼體。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定感應加熱電路150的SRF值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110將感應加熱電路150的SRF值與頻率值進行比較，其中該頻率值是預定的頻率值，或在具有特定配置的感受器元件140接近感應加熱電路150時的感應加熱電路150的SRF值的測量（例如先前測量）。若控制元件110決定感應加熱電路150的SRF值與預定頻率值對應，則控制元件110決定特定配置的感受器元件140接近感應加熱電路150。若控制元件110決定感應加熱電路150的SRF值不與頻率值對應，則控制元件110決定具有特定配置的感受器元件140不接近感應加熱電路150。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於決定感應加熱電路150的SRF值不與跟感受器元件140相關聯的頻率值對應來執行動作。例如，控制元件110決定感應加熱電路150的SRF值。控制元件110基於感應加熱電路150的SRF值來決定感受器元件在感應加熱電路150附近，且控制元件110基於感應加熱電路150的SRF值來決定感受器元件不具有與感受器元件140相關聯的特定配置。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於將感應加熱電路150的SRF值與跟感受器元件140相關聯的預定頻率值進行比較來決定感受器元件不具有特定配置。在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定感應加熱電路150的SRF值不與跟感受器元件140相關聯的頻率值對應。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於決定感應加熱電路150的SRF值不與跟感受器元件140相關聯的頻率值對應來執行動作。在另一個實例中，控制元件110決定感應加熱電路150的SRF值，且控制元件110基於感應加熱電路150的SRF值來決定感受器元件（例如感受器元件140）不在感應加熱電路150附近。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於決定感受器元件不在感應加熱電路150附近來執行動作。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110使得基於決定感應加熱電路150的SRF值不與跟感受器元件140相關聯的頻率值對應及/或基於決定感受器元件不在感應加熱電路150附近來顯示警告指示。例如，控制元件110決定感應加熱電路150的SRF值不與跟感受器元件140相關聯的頻率值對應，且控制元件110產生使得部件（例如蒸發器元件的部件，例如警告燈）顯示警告指示的訊號。在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定感受器元件不在感應加熱電路150附近，且控制元件110產生使得部件顯示警告指示的訊號。在一些非限制性的實施例中，蒸發器元件（例如如本文中所揭露的蒸發器元件）的部件顯示警告指示。例如，蒸發器元件的部件基於從控制元件110接收到使得部件顯示警告指示的訊號來顯示警告指示。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於決定感應加熱電路150的SRF值不與跟感受器元件140相關聯的頻率值對應及/或基於決定感受器元件不在感應加熱電路150附近來停用感應加熱電路150。例如，控制元件110決定感應加熱電路150的SRF值不與跟感受器元件140相關聯的頻率值對應，且控制元件110放棄向感應加熱電路150提供功率。在另一個實例中，控制元件110決定感受器元件不在感應加熱電路150附近，且控制元件110放棄向感應加熱電路150提供功率。
如圖3B中進一步圖示，在步驟306B處，方法300B包括以下步驟：決定感受器元件的特性。例如，控制元件110基於感應加熱電路150對感受器元件140的磁性質的響應來決定感受器元件140的特性。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於感應加熱電路150的SRF值來決定感受器元件140的特性。例如，控制元件110決定感受器元件140的與感應加熱電路150的SRF值對應的特性。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於感應加熱電路150的SRF值及感應加熱電路150的電特性的幅度的測量來決定感受器元件140的特性。在一些非限制性的實施例中，感應加熱電路150的電特性包括向感應加熱電路150提供的交流電流（例如向感應加熱電路150的電感器元件120提供的交流電流）、由電感器元件120所產生的磁場、及/或跨電容器元件160的電壓。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於由電感器元件120所產生的磁場及感應加熱電路150的SRF值來決定感受器元件140的特性。例如，控制元件110決定由電感器元件120所產生的磁場的幅度及感應加熱電路150的SRF值。控制元件110決定與由電感器元件120所產生的磁場的幅度及感應加熱電路150的SRF值對應的溫度曲線，其中該溫度曲線指示感受器元件140的溫度。
在一些非限制性的實施例中，在感受器元件140基於由電感器元件120所產生的第一磁場由電感器元件120所加熱時，控制元件110決定感應加熱電路150的第一SRF值。在一些非限制性的實施例中，在感受器元件140基於由電感器元件120所產生的第二磁場由感應加熱電路150所加熱時，控制元件110決定感應加熱電路150的第二SRF值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110將第一SRF值與第二SRF值進行比較，以基於感應加熱電路150的SRF值從第一SRF值到第二SRF值的改變來決定感受器元件140的溫度。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定與感應加熱電路150的SRF值的改變對應的溫度改變。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於藉由獨立的溫度感測元件（例如紅外線溫度計）同時測量感應加熱電路150的SRF值及感受器元件140的溫度，來接收對感受器元件140的校準。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於對感受器元件140的校準及感應加熱電路150的SRF值來決定感受器元件140的溫度。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於決定感受器元件140的第一溫度下（例如感受器元件140的環境溫度下）的感應加熱電路150的第一SRF值，然後決定感受器元件140的居禮溫度下的感應加熱電路150的第二SRF值，來接收對感受器元件140的校準。在一些非限制性的實施例中，基於決定感受器元件140的自發磁化何時變成零（例如在居禮溫度下），來決定感受器元件140的居禮溫度下的感應加熱電路150的第二SRF值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於感應加熱電路150的SRF值來決定感受器元件140的第一溫度與居禮溫度之間的溫度下的感受器元件140的溫度。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於感受器元件140的磁性質的改變來決定感受器元件140的溫度。例如，控制元件110基於感受器元件140的磁化的改變及/或由感受器元件140所產生的磁場的幅度的改變來決定感受器元件140的溫度。在一些非限制性的實施例中，感受器元件140的磁化的改變及/或由感受器元件140所產生的磁場的幅度的改變與感受器元件140的溫度的改變對應，且控制元件110基於決定感受器元件140的磁化的改變值及/或由感受器元件140所產生的磁場的幅度的改變值來決定感受器元件140的溫度的改變值。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110使得感受器元件140從第一溫度改變成第二溫度。例如，控制元件110決定感受器元件140的第一溫度。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於決定第一溫度不滿足溫度閾值來使得感受器元件140的溫度從第一溫度改變成第二溫度。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於調整感應加熱電路150中的交流電流的量來使得感受器元件140從第一溫度改變成第二溫度。例如，控制元件110基於控制元件110調整向感應加熱電路150提供的交流電流的量使得感受器元件140從第一溫度改變成第二溫度。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110實施一或更多個控制迴圈演算法，以測量感受器元件140的溫度及將感受器元件140的溫度保持在期望的溫度值下或溫度值之間的期望範圍內。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於校準測量來控制感受器元件140的溫度。例如，針對作為校準測量的感受器元件140的預定溫度（例如室溫或20℃），將感應加熱電路150的SRF值的複數條曲線及交流電流的對應幅度值提供作為對感應加熱電路150的輸入。然後，在感應加熱電路150的操作期間，控制元件110決定感受器元件140的複數個溫度中的每個溫度下的感應加熱電路150的SRF值的複數條曲線及交流電流的對應幅度值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110藉由校準測量劃分該複數條曲線以提供基於交流電流而被補償的複數個線性圖。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於該複數個線性圖來決定感受器元件140的溫度。在一些非限制性的實施例中，控制元件110使用比例-積分-微分（PID）控制器基於該複數個線性圖來決定感受器元件140的溫度。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於決定感受器元件140的溫度藉由調整感受器元件140的溫度來控制感受器元件140的溫度。在一些非限制性的實施例中，控制元件110針對感應加熱電路150的複數個SRF值中的每一者決定感受器元件140的溫度，該複數個SRF值與提供作為對感應加熱電路150的輸入的交流電流的複數個預定幅度對應。在一些非限制性的實施例中，控制元件110測量跨電容器元件160的電壓的幅度，並決定提供作為對感應加熱電路150的輸入的交流電流的當前幅度。控制元件110基於當前的幅度來決定感受器元件140的第一溫度。在決定第一溫度之後，控制元件110決定交流電流的該複數個預定幅度中最接近當前幅度的預定幅度。在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定感應加熱電路150的SRF值，並決定感受器元件140的與最接近當前幅度的預定幅度對應的第二溫度。在一些非限制性的實施例中，控制元件110將第一溫度與第二溫度進行比較，並決定交流電流的幅度（例如安培數）以提供或移除作為對感應加熱電路150的輸入。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於決定幅度來提供或移除交流電流的幅度作為對感應加熱電路150的輸入。
在一些非限制性的實施例中，為了在短時間內將感受器元件140的溫度增加（例如將該感受器元件加熱）到期望溫度，控制元件110基於對感應加熱電路150的校準針對感受器元件140的期望溫度增益估算交流電流（例如在感受器元件140中造成熱脈波的交流電流）。在一些非限制性的實施例中，控制元件110向電感器元件120提供交流電流以在短時間內用最大功率操作電感器元件120。
現在參照圖3C，圖3C是用於決定系統（例如感應加熱系統）中的感受器元件（例如感受器元件140）的特性（例如溫度）的方法300C的非限制性實施例的流程圖。在一些非限制性的實施例中，由控制元件110執行（例如完全地執行、部分地執行等等）方法300C的步驟中的一或更多者。在一些非限制性的實施例中，由與控制元件110分離或包括該控制元件的另一個元件或元件群組執行方法300C的步驟中的一或更多者。例如，與控制元件110分離的額外控制元件。
如圖3C中所示，在步驟302C處，方法300C包括以下步驟：決定感應加熱電路的響應相位。例如，控制元件110決定感應加熱電路的第一響應相位。在一些非限制性的實施例中，第一響應相位基於第一驅動頻率下的感受器元件140的磁性質。在一些非限制性的實施例中，第一響應相位包括第一驅動頻率下的驅動電流的相位與第一驅動頻率下跨感應加熱電路150的電部件（例如電感器元件120、電容器元件160等等）的電壓（例如感應加熱電路150的電壓響應）的相位之間的相位差的值。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定跨感應加熱電路150的電部件的電壓的相位。例如，控制元件110可以決定第二驅動頻率下跨感應加熱電路150的電部件的電壓的相位。在一些非限制性的實施例中，控制元件110可以基於跨電容器元件160的電壓的第二測量來決定第二驅動頻率下跨感應加熱電路150的電部件的電壓的相位。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定感應加熱電路150的第二響應相位。例如，控制元件110決定感應加熱電路150的第二響應相位。在一些非限制性的實施例中，第二響應相位基於第二驅動頻率下的感受器元件140的磁性質。在一些非限制性的實施例中，第二響應相位包括第二驅動頻率下的驅動電流的相位與第二驅動頻率下跨感應加熱電路150的電部件的電壓的相位之間的相位差的值。
如圖3C中所示，在步驟304C處，方法300C包括以下步驟：決定感應加熱電路150的相位與頻率的關係函數。例如，控制元件110可以決定感應加熱電路150的相位與頻率的關係函數。在一些非限制性的實施例中，控制元件110可以基於第一響應相位及第二響應相位來決定感應加熱電路150的相位與頻率的關係函數。在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定擬合至感應加熱電路150的第一響應相位及感應加熱電路150的第二響應相位的多項式的多項式係數。在一些非限制性的實施例中，控制元件110可以決定函數的相位值處於相位正交的頻率值。例如，控制元件110可以基於多項式的多項式係數來決定函數的相位值處於相位正交的頻率值。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110可以決定感應加熱電路150的第三響應相位。例如，控制元件110可以決定感應加熱電路150的第三響應相位，其中第三響應相位基於第三驅動頻率下的感受器元件140的磁性質。在一些非限制性的實施例中，第三響應相位可以包括第三驅動頻率下的驅動電流的相位與第三驅動頻率下跨感應加熱電路150的電部件的電壓的相位之間的相位差的值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110可以決定感應加熱電路150的第四響應相位。例如，控制元件110可以決定感應加熱電路150的第四響應相位，其中第四響應相位基於第四驅動頻率下的感受器元件140的磁性質。在一些非限制性的實施例中，第四響應相位是第四驅動頻率下的驅動電流的相位與第四驅動頻率下跨感應加熱電路150的電部件的電壓的相位之間的相位差的值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110可以基於第一響應相位、第二響應相位、第三響應相位、及/或第四響應相位來決定感應加熱電路150的相位與頻率的關係函數。
在一些非限制性的實施例中，函數可以包括多項式。在一些非限制性的實施例中，控制元件100可以決定擬合至感應加熱電路150的第一響應相位、感應加熱電路150的第二響應相位、感應加熱電路150的第三響應相位、及/或感應加熱電路150的第四響應相位的多項式的多項式係數。在一些非限制性的實施例中，控制元件110可以基於多項式的多項式係數來決定函數的相位值處於相位正交的頻率值。
如圖3C中所示，在步驟306C處，方法300C包括以下步驟：決定函數的相位值處於相位正交的頻率值。例如，控制元件110可以決定函數的相位值處於相位正交的頻率值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110可以基於相位與頻率的關係函數來決定函數的相位值處於相位正交的頻率值。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110藉由決定包括相位與頻率的關係函數的線的斜率，來決定感應加熱電路150的相位與頻率的關係函數，其中該線基於第一響應相位及第二響應相位。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於斜率來決定函數的相位值處於相位正交的頻率值。
如圖3C中所示，在步驟308C處，方法300C包括以下步驟：決定感受器元件的溫度。例如，控制元件110可以決定感受器元件的溫度。在一些非限制性的實施例中，控制元件110可以基於頻率值來決定感受器元件140的溫度。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於磁場的測量來決定感受器元件140的溫度。例如，控制元件110基於由電感器元件120所產生的磁場的測量來決定感受器元件140的溫度。附加性地或替代性地，控制元件110基於由電感器元件120所產生的磁場的測量及函數的相位值處於相位正交的頻率值來決定感受器元件140的溫度。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定磁場的測量。例如，控制元件110可以決定由電感器元件120所產生的磁場的測量。在一些非限制性的實施例中，控制元件110可以基於磁場的測量來決定感受器元件140的溫度。例如，控制元件110可以基於由電感器元件120所產生的磁場的測量來決定感受器元件140的溫度。附加性地或替代性地，控制元件110可以基於函數的相位值處於相位正交的頻率值來決定感受器元件140的溫度。例如，控制元件110可以基於由電感器元件120所產生的磁場的測量及函數的相位值處於相位正交的頻率值來決定感受器元件140的溫度。在一些非限制性的實施例中，控制元件110可以基於跨電容器元件160的A/C電壓的幅度的測量及跨電容器元件160的A/C電壓的頻率來決定由電感器元件120所產生的磁場的測量。在一些非限制性的實施例中，控制元件110可以基於由電感器元件120所產生的磁場的測量及函數的相位值處於相位正交的頻率值來決定感受器元件140的溫度。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定跨電容器元件160的A/C電壓的幅度及跨電容器元件160的A/C電壓的頻率。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於跨電容器元件160的A/C電壓的幅度及跨電容器元件160的A/C電壓的頻率來決定由電感器元件120所產生的磁場的測量。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於由電感器元件120所產生的磁場的測量及函數的相位值處於相位正交的頻率值來決定感受器元件140的溫度。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於函數的相位值處於相位正交的頻率值及至少一個溫度感測器的輸出來決定感受器元件140的溫度。在一些非限制性的實施例中，該至少一個溫度感測器與電感器元件120、電容器元件160、或上述項目的任何組合中的至少一者熱接觸（例如可以藉以依據傳導進行導熱的實體接觸）。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於函數的相位值處於相位正交的頻率值及至少一個溫度感測器的輸出來決定感受器元件140的溫度。在一些非限制性的實施例中，該至少一個溫度感測器與系統的部件耦合（例如在該部件附近使得溫度感測器可以感測該部件的環境）或熱接觸。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於函數的相位值處於相位正交的頻率值以及電感器元件、電容器元件、或上述項目的任何組合的溫度來決定感受器元件140的溫度。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於由感受器元件140所吸收的功率的量來決定感受器元件140的溫度。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於相位與頻率的關係函數來決定由感受器元件140所吸收的功率的量。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110可以基於跟驅動A/C電流與跨感應加熱電路150的電部件（例如電感器元件120、電容器元件160等等）的電壓之間的相位差相關聯的函數的斜率來決定由感受器元件140所吸收的功率的量。例如，控制元件110可以基於跟驅動A/C電流（l(t)）與一電壓響應之間的相位差相關聯的函數的斜率來決定由感受器元件140所吸收的功率的量，該電壓響應與驅動A/C電流（I(t)）的相位與跨感應加熱電路150的電部件的電壓的相位之間的相位差處於相位正交的頻率相關聯（例如在該頻率下估算）。在此類實例中，控制元件110可以基於控制元件110決定諸如以下公式(1)的公式的結果，來決定由感受器元件140所吸收的功率的量： (1)  1//( ω0 2 RC) 其中ω0 是驅動A/C電流及電壓響應處於相位正交的頻率，C 是感應加熱系統中的電容，而R 則是有效電阻，使得I(t)2 R 是感應加熱系統中作為熱而散逸的瞬時功率（其為瞬時的而非以時間求平均的）。因此，可以根據在感受器元件存在（例如在感應加熱電路附近、在感應加熱電路的電感器元件附近）的情況下根據公式(1)所獲得的R的值與在不存在感受器元件的情況下根據公式(1)所獲得的R的值之間的差來獲得由感受器元件140所吸收的功率。在期間，可以在系統100的一或更多個部件的製造期間一次性獲得沒有感受器元件的情況下的R的值。另外地或替代性地，可以基於感應加熱系統的一或更多個部件的溫度來更新（例如校正）沒有感受器元件的情況下的R的值，其中感應加熱系統的部件處於與在針對元件測量沒有感受器的情況下的R的值時不同的溫度。
現在參照圖4A至圖4C，圖4A至圖4C是蒸發器元件400的非限制性實施例的圖解，該蒸發器元件包括用於決定感受器元件的特性的系統（例如系統100）。圖4A及圖4B圖示蒸發器元件400的組裝視圖，而圖4C則圖示蒸發器元件400的拆解視圖。如圖4A中所示，蒸發器元件400包括殼體402。出於說明的目的，圖4B圖示具有透明殼體402的蒸發器元件400。如圖4B中所示，蒸發器元件400包括感應加熱組件420、殼體402、電源416、及管444。如圖4C中所示，蒸發器元件400包括電子控制部件436、至少一個啟動按鈕438、感應加熱組件420、盒418、殼體402、電源416、閥門442、管444、及吹口部件446。在一些非限制性的實施例中，電子控制部件436包括控制元件110，或電子控制部件436與控制元件110相同或實質類似。
在一些非限制性的實施例中，感應加熱組件420包括機殼448（例如用來支撐感應加熱組件420的部件的內部框架）、電感器元件406、電容器元件414、及/或加熱元件主體440。在一些非限制性的實施例中，電感器元件406及電容器元件414電連接（例如並聯電連接）以提供感應加熱電路。在一些非限制性的實施例中，電感器元件406與電感器元件120相同或實質類似。在一些非限制性的實施例中，電容器元件414與電容器元件160相同或實質類似。
在一些非限制性的實施例中，加熱元件主體440被調整尺寸為及/或被配置為在電感器元件406定位在加熱元件主體440內時固持電感器元件406。附加性地或替代性地，機殼448被調整尺寸為及/或被配置為將電感器元件406及加熱元件主體440固持在電子控制部件436附近，此可以實現緊湊的尺寸並允許利用電子控制部件436來控制電感器元件406。附加性地或替代性地，加熱元件主體440充當對由盒418內的感受器元件的感應加熱所產生的熱的絕緣體，且亦屏蔽電子部件以免受到由電感器元件406所產生的電磁能量的輻射的影響。
在一些非限制性的實施例中，盒418被調整尺寸為及/或被配置為配合在電感器元件406內，此可以實現蒸發器元件400的緊湊構造。在一些非限制性的實施例中，盒418在一端具有孔，該孔允許來自可蒸發物質的蒸氣從盒418流出。在一些非限制性的實施例中，盒418包括貯存器，且該貯存器被調整尺寸為及/或被配置為保持可蒸發物質。在一些非限制性的實施例中，感受器元件被調整尺寸為及/或被配置為容納在貯存器內，且感受器元件140接觸貯存器的可蒸發物質。在一些非限制性的實施例中，電感器元件406被調整尺寸為及/或被配置為收容在加熱元件主體440內。在一些非限制性的實施例中，電感器元件406電磁耦合（例如感應耦合、磁耦合等等）到盒418內的感受器元件，且感受器元件140基於電磁感應（例如藉由感受器元件140中所產生的渦電流及/或藉由感受器元件140中所產生的磁滯）來產生熱。
在一些非限制性的實施例中，盒418是可替換的及/或用後可棄式的容器，其為蒸發器元件400的部件。例如，盒418容納預定量的可蒸發物質，且在可蒸發物用盡或接近用盡時，使用者可以用另一個盒418替換盒418。
在一些非限制性的實施例中，可蒸發物質包括組成、材料、或物料，其在加熱到預定溫度時產生蒸氣以供人類吸入。在一些非限制性的實施例中，蒸發器元件400包括盒418中剩餘的可蒸發物質的量的指示器。在一些非限制性的實施例中，指示器定位在盒418上及/或蒸發器元件400的殼體上。在一些非限制性的實施例中，指示器包括位於蒸發器元件400上且使用者可看見的顯示螢幕（例如數位或類比輸出螢幕）。在一些非限制性的實施例中，蒸發器元件400具有第二指示器，其在盒418接近空的時候指示並充當可蒸發物質的低體積指示器。
在一些非限制性的實施例中，盒418被配置為用可蒸發物質再填充。附加性地或替代性地，盒418被配置為在定位在蒸發器元件400內的同時例如穿過殼體402中的口或孔再填充。在一些非限制性的實施例中，電感器元件406被建構為盒結構的一部分，該盒結構包括盒418、感受器元件、及電感器元件406，使得盒結構可替換。在一些非限制性的實施例中，盒結構（例如可替換的盒結構）包括電連接（例如電接點），使得在可替換的盒結構定位在蒸發器元件400內時，電感器元件406電連接到電子控制部件件436。
在一些非限制性的實施例中，藉由移除殼體402並依需要分離任何額外的部件來完成盒418的替換。在一些非限制性的實施例中，在不移除殼體402的情況下完成盒418的替換。在一些非限制性的實施例中，蒸發器元件400允許使用者在盒418空了的時候移除盒418並在不移除感應加熱組件420的任何其他部件的情況下在感應加熱組件420內用新的、滿的盒418替換盒418。在一些非限制性的實施例中，蒸發器元件400包括界定在其中的通道或腔室，該通道或該腔室允許移除空的接近空的盒418並接受替換盒418。在一些非限制性的實施例中，蒸發器元件400包括腔室或通道，其能夠被操控（例如折疊、扭曲等等）以開啟以接受新的盒418，然後能夠被操控以關閉並將盒418安置在適當的位置（例如以允許加熱盒418內的可蒸發物質）。在一些非限制性的實施例中，殼體402具有界定在其中的腔室或通道，且殼體402被配置為將盒418接收在該腔室或該通道內。
在一些非限制性的實施例中，感受器元件定位在盒418內，且感受器元件410在沒有對電源410的電連接的情況下經由感應來加熱。附加性地或替代性地，盒418包括具有內表面的主體，且感受器元件140定位在盒418的該內表面附近。附加性地或替代性地，盒418的主體及/或頸部充當感受器元件140與感應加熱組件420之間的絕緣元件。在一些非限制性的實施例中，絕緣元件移除（例如分離）感應加熱組件420以免與盒418中的可蒸發物質（例如液體）接觸。在一些非限制性的實施例中，盒418由適當的絕緣材料構成，包括但不限於玻璃、玻璃纖維、陶瓷等等。在一些非限制性的實施例中，盒418的開放端界定穿過蒸發器元件400的空氣路徑。
在一些非限制性的實施例中，啟動按鈕438被配置為穿過殼體402中的孔凸起，使得使用者能夠啟動蒸發器元件400。附加性地或替代性地，啟動按鈕438被配置為使得不需要壓下實體按鈕。在一些非限制性的實施例中，啟動按鈕438包括觸控螢幕部件，例如電容式觸控螢幕。附加性地或替代性地，使用此類觸控螢幕，使用者能夠使用蒸發器元件400來復查及/或驗證諸如使用年齡、使用次數、及其他分析的資訊。附加性地或替代性地，此類觸控螢幕能力與機載感測器組合在一起，以藉此形成智慧型蒸發器，該智慧型蒸發器能夠連接以供通訊並聯網到本端電腦或網際網路。
在一些非限制性的實施例中，啟動按鈕438與蒸發器元件400的另一個態樣及/或部件集成在一起。在一些非限制性的實施例中，啟動按鈕438與吹口部件446集成在一起。在一些非限制性的實施例中，使用者的口部與吹口部件446接觸會允許啟動蒸發器元件400（例如充當該蒸發器元件的啟動按鈕438）。附加性地或替代性地，啟動按鈕438包括生物測量識別元件（例如指紋掃描器）及/或另一種形式的識別元件以識別使用者。在一些非限制性的實施例中，使用者能夠個人化蒸發器元件400及/或防止其他人使用蒸發器元件400。此類特徵在對蒸發器元件400的監測不總是可用的情況下可能有用，及/或可以防止另一個未授權的使用者（例如兒童）使用元件。
在一些非限制性的實施例中，殼體402被調整尺寸為及/或被配置為實質收容（例如包圍）蒸發器元件400的部件，以向蒸發器元件400提供外觀及/或允許蒸發器元件400用人體工學的方式配合在使用者的手中。在一些非限制性的實施例中，殼體402包括上殼體402a及下殼體402b。在一些非限制性的實施例中，依需要，上殼體402a及下殼體402b被建構為具有美學上令人愉悅的外觀（例如以模仿木紋的外觀）及/或包括色彩、圖案、標記等等。在一些非限制性的實施例中，上殼體402a及下殼體402b可替換，以允許使用者定制蒸發器元件400的特定外觀。
在一些非限制性的實施例中，殼體402由任何合適的材料構成，例如木材、金屬、玻璃纖維、塑膠等等。在一些非限制性的實施例中，吹口部件446是可互換的。在一些非限制性的實施例中，吹口部件446的變型被配置為使得吹口部件446約束空氣流以再現牽引感覺，該牽引感覺與使用者在抽香煙、雪茄、煙斗等等的方面所可能偏好及/或熟悉的感覺類似。在一些非限制性的實施例中，啟動按鈕438包括一或更多個控制按鈕、感測器、或開關，例如以允許使用者與蒸發器元件400互動。在一些非限制性的實施例中，對啟動按鈕438的互動包括打開及關閉蒸發器元件400。
在一些非限制性的實施例中，閥門442被配置為控制空氣流及/或在不使用蒸發器元件400時密封貯存器。在一些非限制性的實施例中，閥門442被調整尺寸為及/或被配置為裝配在盒418的具有孔的一端上。附加性地或替代性地，閥門442具有配置，該配置允許精確附接到盒418及/或被調整尺寸為及/或被配置為接觸電感器元件406的一端（例如擱置在該端上）以將盒418安置在電感器元件406內。在一些非限制性的實施例中，盒418完全定位在電感器元件406內，或只有一部分的盒418定位在電感器元件406內。在一些非限制性的實施例中，閥門442被電子地控制且被配置為保持關閉，直到使用者啟動蒸發器元件400（例如藉由啟動按鈕438來啟動）為止。在一些非限制性的實施例中，基於吹口中的螺紋及/或斜面來人工地控制閥門442。例如，螺紋及/或斜面在閥門442與盒418的頂部之間提供間隙。在一些非限制性的實施例中，閥門442由任何合適的材料構成，例如塑膠、橡膠、玻璃纖維、金屬、玻璃等等。在一些非限制性的實施例中，閥門442由合適等級的矽橡膠構成。
在一些非限制性的實施例中，管444被調整尺寸為及/或被配置為安置在閥門442的相對於盒418位於遠端的一端上方。附加性地或替代性地，管444被調整尺寸及/或被配置為將蒸氣（其藉由加熱可蒸發物質來產生）從吹口部件446引導出去。在一些非限制性的實施例中，管444是圓柱體。在一些非限制性的實施例中，管444由任何合適的材料所形成，包括但不限於玻璃。在一些非限制性的實施例中，管444被配置為調整進入蒸發器元件400及/或從該蒸發器元件出來的空氣流（例如與閥門442相關聯來調整）。在一些非限制性的實施例中，管444及/或閥門442被配置為防止可蒸發物質從盒418洩漏。
在一些非限制性的實施例中，電源410是包括一或更多個電化電池的元件，該一或更多個電化電池將儲存的化學能轉換成電能。在一些非限制性的實施例中，電源410被適當地調整尺寸為及/或適當地配置為用於一定應用，例如將電源410安置在蒸發器元件400內。在一些非限制性的實施例中，電源410與電源130相同或實質類似。在一些非限制性的實施例中，電源410包括電池。在一些非限制性的實施例中，電池是一次電池、二次電池、可再充電電池等等。附加性地或替代性地，電池包括鹼性電池、手錶電池、鋰離子電池等等。在一些非限制性的實施例中，從電源410向電感器元件406提供功率（其例如呈電能的形式，例如電流及/或電壓）。
在一些非限制性的實施例中，蒸發器元件400的電子控制部件436包括電路，其包括交流電流產生元件（例如配置為基於從電源410接收直流電流來提供交流電流的電路）、控制元件（例如控制元件110）、及/或至少一個感測器。附加性地或替代性地，控制元件控制向電感器元件406提供的功率，此可以在低達數毫秒的時間尺度上提供對向電感器元件406提供的功率的精確的監測及/或控制。
在一些非限制性的實施例中，控制元件被配置為接收資訊（其例如來自感測器）並調整要由電感器元件406向感受器元件施加的加熱曲線（例如與由電感器元件406所產生的磁場的幅度相關聯的曲線，該幅度隨著時間的推移變化或不變化）。在一些非限制性的實施例中，該至少一個感測器能夠偵測及/或計算資訊，例如來自蒸發器元件400或進入該蒸發器元件的空氣流、蒸發器元件400內的位置處的壓力或離開蒸發器元件400的蒸氣的壓力、接近蒸發器元件400的部件的部件或位置的溫度（例如感應線圈的溫度）等等。在一些非限制性的實施例中，此類特徵可以允許控制元件決定蒸發器元件400的使用者正開始吸氣及/或決定增加功率水平，以補償輸入空氣冷卻感受器元件140（例如冷卻到小於該感受器元件的理想溫度、操作溫度範圍等等）的趨勢。在一些非限制性的實施例中，在沒有進行主動吸氣時，控制元件能夠接著減少功率，此可以改善電源410的壽命。
在一些非限制性的實施例中，電子控制部件436的控制元件能夠使用資訊來計算及/或實施溫度曲線（例如與感受器元件的溫度相關聯的曲線，該溫度隨著時間的推移變化或不變化）以供加熱可蒸發物質。附加性地或替代性地，控制元件被配置為基於可蒸發物質來調整由電感器元件406向感受器元件140施加的加熱曲線。在一些非限制性的實施例中，控制元件能夠依據可蒸發物質來實施由電感器元件406向感受器元件140施加的預定加熱曲線。
在一些非限制性的實施例中，控制元件可以允許使用者修改用於向可蒸發物質提供熱的設定及/或整個演算法，以獲得改善的體驗（例如較佳的體驗、最佳的體驗等等）。在一些非限制性的實施例中，所有電子部件（例如電子控制部件436）的配置的能量效率都高到足以允許手持蒸發器元件400及用電池操作該蒸發器元件。另外地或替代性地，電子部件包括印刷電路板，且在一些非限制性的實施例中，控制元件包括處理器，例如微處理器、微控制器等等。
在一些非限制性的實施例中，盒418包括識別碼，其包括與盒418的內容物相關聯的資訊。在一些非限制性的實施例中，識別碼包括標記、條碼、標籤等等，其提供與可蒸發物質相關聯的資訊及/或與盒418內的感受器元件相關聯的資訊。在一些非限制性的實施例中，將識別碼合併到盒418中。例如，將識別碼蝕刻到盒418中。
在一些非限制性的實施例中，電子控制部件436連接到電感器元件406及/或程式化為讀取識別碼並決定與盒418的內容物相關聯的資訊，使得使用（例如由電子控制部件436使用）與盒418的內容物相關聯的資訊來設定參數並使得電感器元件406依據盒418的內容物資訊來向可蒸發物質施加加熱曲線。
現在參照圖5，圖5是感應加熱系統500的非限制性實施例的圖解。如圖5中所示，感應加熱系統500包括感應加熱電路550、控制元件110、電源130、感受器元件540、盒518、及可蒸發物質580。如圖5中進一步圖示，感應加熱電路550包括電感器520及電容器560。在一些非限制性的實施例中，感應加熱電路550與感應加熱電路150相同或實質類似。在一些非限制性的實施例中，電容器560與電容器元件160及/或電容器元件414相同或實質類似。在一些非限制性的實施例中，電感器520與電感器元件120及/或電感器元件406相同或實質類似。在一些非限制性的實施例中，感受器元件540與感受器元件140相同或實質類似。在一些非限制性的實施例中，盒518與盒418相同或實質類似。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於由控制元件110向感應加熱電路550所提供的輸入（例如具有一定頻率值的交流電流）來決定感應加熱電路550的SRF值。在一些非限制性的實施例中，基於感應加熱電路550及感受器元件540的配置，感應加熱電路550的SRF值是在100 kHz到200 kHz之間的的範圍中。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於向感應加熱電路550提供的輸入來掃描頻率值之間的範圍中的複數個頻率值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110在掃描的每個頻率值下測量基於由控制元件110向感應加熱電路550所提供的輸入（例如作為對電感器520的輸入提供的交流電流）對感應加熱電路550的激勵與感應加熱電路550對感受器元件540的磁性質的響應（例如感應加熱電路550的SRF值）之間的時間延遲。在一些非限制性的實施例中，控制元件110藉由測量跨電容器560的電壓來測量對感應加熱電路550的激勵及/或感應加熱電路550對感受器元件540的磁性質的響應。
現在參照圖6A至圖6F，圖6A至圖6F是用於基於基於提供的輸入對感應加熱電路的激勵與感應加熱電路的響應之間的時間延遲來決定感應加熱電路的響應相位的過程的實施方式的圖解。如圖6A中所示，資料點602是基於第一驅動頻率下的第一驅動AC電壓跨感應加熱電路550的電容器元件560的第一AC電壓的第一相位值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110用第一驅動頻率下的第一驅動AC電壓驅動感應加熱電路550，並基於第一驅動AC電壓跨感應加熱電路550的電容器元件560測量資料點602。如圖6B中所示，資料點604是基於第二驅動頻率下的第二驅動AC電壓跨感應加熱電路550的電容器元件560的第二AC電壓的第二相位值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110用第二驅動頻率下的第二驅動AC電壓驅動感應加熱電路550，並基於第二驅動AC電壓跨感應加熱電路550的電容器元件560測量資料點604。
如圖6C中所示，相位與頻率的關係線606基於資料點602及資料點604。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於第一驅動頻率下的第一相位值及第二驅動頻率下的第二相位值來產生線606。如圖6D中所示，可以與資料點602及604類似地測量額外的資料點608及610。此外，可以與線606類似地產生線612。
如圖6D中所示，可以針對複數條線614中的每條線與線606類似地產生該複數條線614。在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定該複數條線614中具有最大斜率的線。如圖6D中進一步圖示，控制元件110決定該複數條線614中具有最大斜率的線606。在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定具有最大斜率的線606的平均頻率，並決定與具有最大斜率的線606的平均頻率對應的相位值。例如，控制元件110決定資料點602的第一頻率值及資料點604的第二頻率值。在此類實例中，控制元件將線606的平均頻率決定為第一頻率值與第二頻率值的平均頻率。進一步地，控制元件110決定時間延遲，該時間延遲等於與最大斜率對應的相位值與相位正交（quadrature）（例如90度）下的假定相位值的差除以全相位週期與具有最大斜率的線的平均頻率的乘積。
如圖6F中所示，控制元件110可以基於複數個驅動頻率下的驅動AC電壓來產生跨電容器元件560的AC電壓的初步相位圖616。如圖6F中進一步圖示，控制元件110可以使用時間延遲來調整初步相位圖616以基於該複數個驅動頻率下的驅動AC電壓提供跨電容器元件560的AC電壓的校正的初步相位圖。在一些非限制性的實施例中，控制元件110可以基於校正的初步相位圖618來決定複數個驅動頻率下的感應加熱電路550的複數個響應相位。
現在參照圖7，圖7是相位值與頻率的關係曲線圖的非限制性實施例，該曲線圖由系統所使用以供決定感應加熱電路的特性。如圖7中所示，曲線圖702包括作為對感應加熱電路550的輸入提供的交流電流（例如驅動感應加熱電路550的交流電流）與針對跟交流電流相關聯的頻率值跨電容器560的電壓（例如電壓響應）之間的相位差的相位值。在一些非限制性的實施例中，相位與基於由控制元件110作為對感應加熱電路550的輸入（例如作為對感應加熱電路550的電感器520的輸入）提供的交流電流對感應加熱電路550的激勵與感應加熱電路550的響應之間的時間延遲對應。此曲線的形狀及位置響應於基於在0 Hz到300 kHz之間的範圍中跨電容器560的電壓所測量到的感受器元件540的磁性質而改變。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110針對與驅動感應加熱電路550的交流電流（例如作為對該感應加熱電路的輸入提供的交流電流）相關聯的頻率值基於跨電容器560的電壓的相位值來決定感應加熱電路550的SRF值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110決定跨電容器560的電壓的相位的數值導數，其中相位示於曲線圖702中。如圖7中所示，曲線圖706包括相位的數值導數與曲線圖702中所示的頻率值的關係。控制元件110將數值導數的最大值707（例如感應加熱電路550的一頻率值，在該頻率值下，相位等於90度）決定為感應加熱電路550的SRF值的初始估算值。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於感應加熱電路550的SRF值的初始估算值來決定感應加熱電路550的SRF值。例如，控制元件110如上所述地決定感應加熱電路550的SRF值的初始估算值。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於控制元件110控制跨電容器560的電壓，來設定要由感應加熱電路550所輸出的期望功率水平。一旦設定了期望的功率水平，控制元件110就用複數個不同的頻率值連續地提供交流電流作為對感應加熱電路550的輸入。在一些非限制性的實施例中，該複數個頻率值包括4個頻率值，該4個頻率值在預定量的SRF值內且大於SRF值的初始估算值，且該4個頻率值具有是控制元件110的時脈的整數時脈循環的週期。
如圖7中進一步圖示，SRF值的初始估算值為145 kHz，且控制元件110包括16 MHz時脈，該複數個頻率值604包括與16 MHz時脈的110、109、108、及109週期對應的4個頻率值：145.45 kHz、146.78 kHz、148.15 kHz、及149.53 kHz。在該複數個頻率值中的每個頻率值下，控制元件110均測量對感應加熱電路550的激勵與來自感受器元件540的響應之間的時間延遲，且控制元件110可以將時間延遲轉換成用度為單位的相位的測量。控制元件110基於對感應加熱電路550的激勵與來自感受器元件540的響應之間的時間延遲來決定感應加熱電路550的SRF值。
在一些非限制性的實施例中，隨著感受器元件540的溫度改變，感受器元件540的磁性質（例如感受器元件540的磁化率）基於感受器元件540的溫度改變而改變，反之亦然。感受器元件540的磁化率的改變可以使得接近感受器元件540的電感器520的電感改變。電感器520的電感的改變會使得感應加熱電路550的SRF值改變。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於感應加熱電路550的SRF值及感應加熱電路550的電特性的幅度的測量來決定感受器元件540的溫度。在一些非限制性的實施例中，感應加熱電路550的電特性包括向感應加熱電路550提供的電流（例如向感應加熱電路550的電感器520提供的電流）、由電感器520所產生的磁場、及/或跨電容器560的電壓。
現在參照圖8，圖8是感應加熱電路850的圖解。在一些非限制性的實施例中，感應加熱電路850與感應加熱電路150或感應加熱電路550相同或實質類似。在一些非限制性的實施例中，半電橋818被配置為向電感器-電容器（LC）儲能電路824提供交流電流。在一些非限制性的實施例中，控制元件110偵測感應加熱電路850對感受器元件（例如感受器元件140）的特性的響應。此類特性的實例可以是感受器元件的材料的磁性質或電阻率的改變。對線圈826的電感有影響的任何特性都可能引起可以測量的響應。在一些非限制性的實施例中，控制元件（例如控制元件110）電連接到感應加熱電路850以用足夠的準確度根據交流電流感應加熱電路850的相位決定感應加熱電路850的自共振頻率（SRF）值以決定感受器元件140的溫度（例如基於感受器元件140的配置來決定）。
如圖8中進一步圖示，感應加熱電路850的部件（例如DC-DC轉換器804及半電橋818）被配置為向LC儲能電路824提供功率。在一些非限制性的實施例中，LC儲能電路824包括電感器826、電容器828、及電容器830。在一些非限制性的實施例中，電感器826與電感器元件120及/或電感器元件520相同或實質類似。在一些非限制性的實施例中，電感器826包括0.9 µH電感器。在一些非限制性的實施例中，電容器828及電容器830中的每一者均與電容器元件160相同或實質類似。在一些非限制性的實施例中，電容器828與電容器830的組合與電容器元件160相同或實質類似。在一些非限制性的實施例中，電容器828及電容器830各自包括680 nF電容器。在一些非限制性的實施例中，電容器828及電容器830與線圈串聯地或並聯地電連接。
在一些非限制性的實施例中，LC儲能電路824被配置為其中電容器828及電容器830串聯地電連接到接地且電感器826連接到電容器828與電容器830之間的點。用此種方式，與使用具有與電容器828及電容器830的總和的電容相等的電容的單個電容器的情況相比，電容器828及電容器830具有跨電容器828及電容器830中的每一者的電壓的一半。因為電容器的電容與電壓容量相關，所以將總電容需求分離到複數個電容器中會允許使用具有較小尺度的電容器，從而與合併包括具有較大尺度的單個電容器的電路的元件相比，為合併感應加熱電路850的元件提供了較小的形狀因子。
如圖8中進一步圖示，感應加熱電路850包括DC-DC轉換器804、半電橋818、及LC儲能電路824。在一些非限制性的實施例中，DC-DC轉換器804是降壓轉換器、升壓轉換器、或降壓-升壓轉換器。在一些情況下，半電橋818包括場效電晶體（FET）820及FET 822。在一些非限制性的實施例中，FET 820及/或FET 822包括金屬氧化物半導體FET（MOSFET）。
在一些非限制性的實施例中，DC-DC轉換器804提供可變電壓以調整LC儲能電路824中的功率（例如電能），且半電橋818用接近LC儲能電路824的SRF值（例如包括LC儲能電路824的感應加熱電路850的SRF值）激勵LC儲能電路824。
在一些非限制性的實施例中，半電橋818包括用50%或約50%的佔空比相反地驅動的FET 820及FET 822。在一些非限制性的實施例中，將閘極驅動器832使用為使得FET 820及FET 822永不同時導通，以及最大化FET效率。在一些非限制性的實施例中，由控制元件（例如控制元件110）提供閘極驅動器及用來控制閘極驅動器的控制訊號（例如邏輯訊號）。
在一些非限制性的實施例中，在使用半電橋818的情況下，電連接806處由電源（例如電源130）所提供的功率在LC儲能電路824的SRF值（
Figure 02_image003
）下最大。可以基於以下等式來計算SRF值（
Figure 02_image003
）：
Figure 02_image005
在一些非限制性的實施例中，使用半電橋818，藉由背向LC儲能電路824的SRF變化激勵頻率，且藉此減少由電感器826所產生的交流電磁場的幅度，來控制向感受器元件供應的功率。在一些非限制性的實施例中，半電橋818將穿過LC儲能電路824的交流電流的頻率值維持接近LC儲能電路824的SRF值，以供進行對感受器元件的特性或性質的測量。在一些非限制性的實施例中，此特性可以是感受器的溫度。在一些非限制性的實施例中，使用DC-DC轉換器804來控制（例如調節）向半電橋818提供的功率。
在一些非限制性的實施例中，DC-DC轉換器804是使用固定的頻率值及變化的佔空比的降壓轉換器。在一些非限制性的實施例中，將DC-DC轉換器804的切換頻率設定為顯著地比LC儲能電路824的SRF還高的頻率值。在一些非限制性的實施例中，基於LC儲能電路824約150 kHz的SRF，切換頻率DC-DC轉換器804是在300 kHz到10 MHz之間的範圍中。
在一些非限制性的實施例中，經由閘極驅動器832根據方形波來驅動FET 820及FET 822，該方形波具有一定頻率值且由控制元件（例如控制元件110）中的脈寬調變（PWM）電路所產生。在一些非限制性的實施例中，半電橋818使用50%的佔空比及可變的頻率值。在一些非限制性的實施例中，向電感器826提供50%佔空比以外的佔空比，該佔空比會在半電橋818的輸出波形中產生DC偏移。在一些非限制性的實施例中，控制元件控制（例如調節）在電連接806處向DC-DC轉換器804提供的電能（例如電流及/或電壓）。
在一些非限制性的實施例中，為了控制感應加熱電路850內的交流電流，控制元件對電感器826的輸出與接地之間的電壓進行取樣（例如跨電容器830對電壓進行取樣）以產生電壓波形，且向控制元件提供該電壓波形以供調整由電感器826所產生的功率（其例如呈磁場的形式）。在一些非限制性的實施例中，電壓波形將用與穿過電感器826的交流電流的驅動頻率值相同的頻率值產生電壓的相位及幅度。
在一些非限制性的實施例中，在基於時間延遲（例如由感應加熱電路850的部件所引入的時間延遲）來校正相位之後，使用相位來計算LC儲能電路824的SRF值，同時使用電壓的幅度來計算交流電流的幅度。在一些情況下，藉由決定交流電流的幅度處於最大值的驅動頻率值來測量LC儲能電路824的SRF值。在一些非限制性的實施例中，LC儲能電路824的SRF值是由電感器826所產生的磁場的大小及感受器元件的溫度兩者的函數。在一些非限制性的實施例中，使用交流電流的幅度（其與跨電容器830的電壓的幅度成比例）及LC儲能電路824的SRF值來決定感受器元件140的溫度。
在一些非限制性的實施例中，控制元件110被配置為偵測LC儲能電路824對感受器元件（例如感受器元件140）的磁性質的響應。如圖8中進一步圖示，感應加熱電路850包括衰減器860、放大器870、及濾波器880。在一些非限制性的實施例中，濾波器880包括3極貝塞爾（Bessel）低通濾波器（LPF）。
在一些實施例中，衰減器860接收跨電容器830的時間變化電壓作為輸入。在一些非限制性的實施例中，衰減器860包括配置為分壓器的複數個電阻器，使得衰減器860的輸出是輸入電壓的固定分數。此在跨電容器的電壓超過下游部件可以耐得住的最大電壓的實施例中是合乎需要的。在一些實施例中，放大器870向放大器870的輸入訊號提供高阻抗並向放大器870的輸出訊號提供低阻抗。在一些非限制性的實施例中，放大器870包括運算放大器。在一些非限制性的實施例中，放大器870的輸出電壓被配置為與輸入電壓成比例。在一些實施例中，放大器870具有可變的增益，使得可以由控制元件改變增益以改善由類比轉數位轉換器（ADC）890向控制元件提供的數位訊號的解析度。（會改變增益的訊號未示於所繪示的實施例中）。在一些非限制性的實施例中，濾波器880從放大器870接收訊號，並過濾掉大於指定頻率（例如SRF值）的頻率下的不需要的雜訊，同時使訊號的相位及幅度不變。
在一些非限制性的實施例中，衰減器860的輸出被放大及/或緩衝且直通濾波器880。如圖8中進一步圖示，向控制器提供濾波器880的輸出，該控制器可以是包括功能模塊的系統單晶片（SOC），該等功能模塊中的一者可以是ADC。在一些非限制性的實施例中，在向SOC提供輸出之前額外緩衝濾波器880的輸出。
為了決定LC儲能電路824的SRF值，由控制元件（例如控制元件110）決定藉由交錯地導通FET 820及FET 822所提供的激勵訊號（例如交流電流）與LC儲能電路824對感受器元件的性質（例如由感受器元件所提供的磁場）的響應之間的相位差。在共振時，相位差為90度。在一些情況下，在控制元件（例如控制元件110）的控制之下使用感應加熱電路850以決定LC儲能電路824的響應。
現在參照圖9，圖9是系統單晶片（SOC）900的圖解。如圖9中所示，SOC 900包括功能模塊910、920、930、940、950、960、及970。在一些非限制性的實施例中，SOC 900可以與控制元件110相同或類似。在一些非限制性的實施例中，CPU+記憶體960執行電腦代碼或韌體，該電腦代碼或韌體控制所有其他模塊且被配置為實現期望的操作序列。在一些非限制性的實施例中，PWM輸出910產生方形波電壓訊號，該方形波電壓訊號的頻率藉由執行CPU指令來配置。在一些非限制性的實施例中，PWM同步920使得PWM輸出910的相位相對於電腦時脈是已知的，使得可以確定PWM輸出的相對於任何其他訊號的相位。在一些非限制性的實施例中，I2 C介面930是通常用來從一個晶片向另一個晶片發送數位指令的串列介面標準。在一個實例中，將I2 C介面930用於SOC 900以發送用來控制DC-DC轉換器804的輸出的指令。在一些非限制性的實施例中，藍芽低能量（BLE）介面940是無線電介面功能模塊，其允許CPU+記憶體960中的韌體向另一個啟用BLE的元件（例如智慧型手機或電腦）及從該另一個啟用BLE的元件發送資訊。此資訊可以包括對韌體本身的更新。在一些非限制性的實施例中，可以使用BLE介面940經由藍芽執行韌體更新。在一些非限制性的實施例中，定時器同步970是與PWM同步930及ADC 950一起允許使準確的相對定時資訊可供韌體演算法使用的功能模塊。在一些非限制性的實施例中，ADC 950是類比轉數位轉換器，其將連續的AC電壓輸入轉換成數位值序列。未圖示可以視情況包括的其他功能模塊。其他功能模塊的實例包括發光二極體控制及按鈕輸入。
如圖9進一步圖示，關於圖8的感應加熱電路850，向SOC 900及從該SOC傳送電訊號，反之亦然。在一些非限制性的實施例中，電訊號包括：數位轉類比轉換器（DAC）控制，其是決定DC-DC轉換器704的輸出電壓的控制；驅動頻率，其是方形波訊號，CPU+記憶體960被配置為計算該方形波訊號的頻率並經由PWM輸出910輸出該頻率；及AC電壓，來自由衰減器860、放大器870、及濾波器880組成的測量電路，該AC電壓由ADC 950轉換成數位值。
儲存在記憶體中且由CPU+記憶體960所執行的韌體指令被配置為使用幾種演算法。在一些非限制性的實施例中，CPU+記憶體960使用第一演算法來決定電壓訊號的時間延遲，該時間延遲由於電壓訊號從測量點890（如圖8中所示）經過衰減器860、放大器870、濾波器880、及ADC 950直到該電壓的數位值由CPU+記憶體960所接收為止所造成。此第一演算法由以下步驟（其例如由SOC 800所執行）組成：根據設計，共振頻率處於100 kHz到200 kHz之間的頻率範圍中；在第一次導通時，SOC 800掃描頻率範圍（例如基於8個點來掃描），且由SOC 800在掃描的每個頻率下測量對感應加熱電路850的激勵與感應加熱電路850的響應之間的時間延遲；然後由SOC 800計算此資料的數值導數（例如斜率）；可以由SOC 800決定數值導數的最大值，數值導數的最大值提供對自共振頻率（SRF）值的估算；及  SOC 800可以用越來越小的頻率範圍重複掃描和計算導數的方法，直到獲得對SRF值適當準確的估算為止。在一些非限制性的實施例中，第一演算法花費小於四分之一秒。
與使用第一演算法來計算的時間延遲的值相比，可以使用第二演算法來獲得時間延遲的更準確的值，且該第二演算法由以下步驟（其例如由SOC 800所執行）組成：一旦存在對SRF值的估算，SOC 800就決定對半電橋（例如半電橋818）的驅動訊號與跨感應加熱電路850的電容器的電壓（例如在點890處所測量到的跨電容器830的電壓）的測量到的相位之間的時間延遲；然後，SOC 800使用對時間延遲的估算（例如如由第一演算法所提供的對時間延遲的估算）來決定驅動訊號的相位與跨電容器測量到的電壓的相位之間的相位差的準確度量，該相位差是在對SRF值的估算（例如來自第一演算法對SRF值的估算）周圍（例如在對SRF值的估算的± 5 kHz內）的複數個頻率（例如8個頻率的系列）下測量的；SOC 800決定具有一系列時間延遲值的線性擬合，且計算線性擬合的標準誤差，且SOC 800決定一時間延遲值，該時間延遲值是在該複數個頻率下所測量到的相位差與線性擬合之間給出最小標準誤差的時間延遲值；SOC 800可以使用諸如黃金分割搜索的最佳化方法來尋找標準誤差與時間延遲值的關係圖的極值（例如最小值），以快速及高效地尋找最小值。
可以使用第三演算法來使用來自上述演算法的準確的時間延遲值以跟蹤SRF的時間進度，且該第三演算法由以下步驟（其例如由SOC 800所執行）組成：由SOC 800藉由控制向半電橋提供的電壓（例如由閘極切換的電壓）來設定期望的功率水平，且由SOC 800藉由SOC 800向DC-DC轉換器提供控制訊號來控制該電壓；由下面概述的控制策略中的一者的輸出提供期望的功率水平；然後，SOC 800連續地循環經過4個頻率，該等頻率被選為最接近SRF值但大於該SRF值的4個頻率，該4個頻率具有是SOC 800的微處理器的整數時脈循環的週期（例如在儲能共振頻率為145 kHz且微處理器具有16 MHz時脈的情況下，該4個頻率會與16 MHz時脈的110、109、108、及107週期對應，該等週期分別給出145.45 kHz、146.78 kHz、148.15 kHz、及149.53 kHz的頻率）；在每個頻率下，由SOC 800將驅動方形波與儲能電路的電壓響應之間的時間延遲轉換成相位及幅度；可以由SOC 800用窗口式離散傅立葉變換（DFT）或窗口式匹配濾波器集合計算每個頻率下的相位及幅度，然後校正相位以應對任何佔空比誤差，取樣通常是在方形波的邊緣處觸發的，所有樣本都將異相90度；在共振發生在90度（例如相位正交）時，90度偏移會導致共振發生在0度，從而在相位正交周圍實現連續的線性擬合。
藉由將線性擬合外推至相位正交（例如90度）下的測量值來決定SRF值；隨著鐵磁性感受器的溫度改變，感受器的導磁率改變，且此轉而改變環繞感受器的線圈的電感，電感的改變使得儲能電路的SRF值改變；一旦已經如上述由SOC 800決定SRF值，就改變循環經過的4個取樣頻率，使得4個取樣頻率保持最接近SRF值但高於SRF值，此允許系統接近共振而操作同時仍然能夠測量該共振頻率如何改變。
現在參照圖10，圖10是SRF值與感受器溫度的關係圖，該圖繪示用於將SRF值轉換成感受器溫度的方法。在一些非限制性的實施例中，控制元件110在穿過感應加熱線圈的低AC電流及穿過感應加熱線圈的高AC電流下決定第一SRF值。在圖10的圖表中將第一SRF值與第二SRF值之間的差標記為「SRF差量」。在一些非限制性的實施例中，控制元件110在比一秒小得多的時間尺度（舉例而言，例如兩毫秒）上決定感受器元件的溫度。為了獲得圖10的圖表的資料，將熱電偶溫度感測器安置為與感受器元件接觸。將熱電偶溫度感測器選擇為是小的且具有比感受器元件的熱容量還小的熱容量。在感受器元件被加熱時相對於來自熱電偶溫度感測器的同時讀數將SRF差量值繪製在圖10中。在一些非限制性的實施例中，控制元件110基於擬合至資料的等式（例如線性等式、二次等式等式）來決定感受器元件的溫度。
雖然已經出於說明的目的基於當前認為是最實用及較佳的實施例來詳細描述本揭示內容，但要了解，此類細節僅用於該目的，且本揭示內容不限於所揭露的實施例，而是相反地，本揭示內容旨在涵蓋隨附請求項的精神及範圍內的變體及等效佈置。例如，要了解，本揭示內容預期，在可能的範圍內，任何實施例的一或更多個特徵都可以與任何其他實施例的一或更多個特徵組合在一起。
在參照附圖（該等附圖全都形成此說明書的一部分，其中類似的參考標號標誌各種圖式中的對應部分）考慮以下說明及隨附請求項之後，將會更加理解本揭示內容的該等及其他的特徵及特性以及相關結構元件的操作方法及功能以及部件與製造經濟性的組合。然而，要清楚了解，附圖僅用於說明及描述的目的，且不旨在作為對本揭示內容的限制的界定。除非上下文另有明確指示，否則如本說明書及請求項中所使用的，「一」及「該」的單數形式包括複數的指涉對象。
100:系統 110:控制元件 120:電感器元件 130:電源 140:感受器元件 150:感應加熱電路 160:電容器元件 170:感測器元件 200:元件 202:匯流排 204:處理器 206:記憶體 208:儲存部件 210:輸入部件 212:輸出部件 214:通訊介面 400:蒸發器元件 402:殼體 406:電感器元件 414:電容器元件 416:電源 418:盒 420:感應加熱組件 436:電子控制部件 438:啟動按鈕 440:加熱元件主體 442:閥門 444:管 446:吹口部件 448:機殼 500:感應加熱系統 518:盒 520:電感器 540:感受器元件 550:感應加熱電路 560:電容器 580:可蒸發物質 602:資料點 604:資料點 606:線 608:資料點 610:資料點 612:線 614:線 616:初步相位圖 618:校正的初步相位圖 702:曲線圖 704:DC-DC轉換器 804:DC-DC轉換器 806:電連接 818:半電橋 820:場效電晶體（FET） 822:FET 824:LC儲能電路 826:電感器 828:電容器 830:電容器 832:閘極驅動器 850:感應加熱電路 860:衰減器 870:放大器 880:濾波器 890:類比轉數位轉換器（ADC） 900:系統單晶片（SOC） 910:PWM輸出 920:PWM同步 930:I2C介面 940:藍芽低能量（BLE）介面 950:ADC 960:CPU+記憶體 970:定時器同步 300A:方法 300B:方法 300C:方法 302A:步驟 302B:步驟 302C:步驟 304A:步驟 304B:步驟 304C:步驟 306A:步驟 306B:步驟 306C:步驟 308A:步驟 308C:步驟 310A:步驟 312A:步驟 402a:上殼體 402b:下殼體
在下文參照繪示在示意附圖中的示例性實施例更詳細地解釋本揭示內容的額外優點及詳細，在該等示意附圖中：
圖1是系統的非限制性實施例的圖解，利用該系統，可以依據本揭示內容的原理來實施本文中所述的系統、方法、及/或產品；
圖2是圖1的一或更多個元件的部件的非限制性實施例的圖解；
圖3A是決定感應加熱系統的特性的方法的非限制性實施例的流程圖；
圖3B是決定感受器元件的特性的方法的非限制性實施例的流程圖；
圖3C是用於決定感受器元件的溫度的方法的非限制性實施例的流程圖；
圖4A至圖4C是蒸發器元件的非限制性實施例的圖解；
圖5是用於決定感應加熱電路的特性的系統的非限制性實施例的圖解；
圖6A至圖6F是用於決定感應加熱電路的響應相位的過程的實施方式的非限制性實施例的圖解；
圖7是由用於決定感應加熱電路的特性的系統所使用的相位值與頻率的關係曲線圖的非限制性實施例；
圖8是感應加熱電路的非限制性實施例的圖解；
圖9是晶片上的系統的非限制性實施例的圖解；及
圖10是SRF值與感受器溫度的關係圖的非限制性實施例，其繪示用於將SRF值轉換成感受器溫度的方法。
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100:系統
110:控制元件
120:電感器元件
130:電源
140:感受器元件
150:感應加熱電路
160:電容器元件
170:感測器元件

Claims (78)

  1. 一種感應加熱系統，包括： 一感應加熱電路；及 至少一個處理器，被程式化或配置為： 產生複數條線中的每條線，其中每條線均包括一訊號的相位值與頻率的關係的一圖形表示，該感應加熱電路是用該訊號來驅動的； 決定該複數條線中具有一最大斜率的一線； 決定具有該最大斜率的該線的一平均頻率； 決定與具有該最大斜率的該線的該平均頻率對應的一相位值； 決定一時間延遲，其中該時間延遲等於與該最大斜率對應的該相位值與相位正交下的一假定相位值的差除以一全相位週期與具有該最大斜率的該線的該平均頻率的一乘積； 基於該時間延遲來決定該感應加熱電路的一自共振頻率（SRF）值；及 基於該SRF值來決定該感應加熱電路的一特性。
  2. 如請求項1所述的感應加熱系統，其中在決定該感應加熱電路的該SRF值時，該至少一個處理器被程式化或配置為： 基於一第一驅動頻率下的一第一驅動AC電壓來測量跨該感應加熱電路的一電部件的一第一AC電壓的一初步第一相位； 使用該時間延遲來調整該初步第一相位以提供一校正的初步第一相位； 基於該校正的初步第一相位來決定該第一驅動頻率下的該感應加熱電路的一第一響應相位，且其中該第一響應相位是該第一驅動頻率下的一驅動電流的一相位值與該第一驅動頻率下跨該感應加熱電路的該電部件的該第一AC電壓的一相位值之間的一相位差值； 基於一第二驅動頻率下的一第二驅動AC電壓來測量跨該感應加熱電路的該電部件的一第二AC電壓的一初步第二相位； 使用該時間延遲來調整該初步第二相位以提供一校正的初步第二相位； 基於該校正的初步第二相位來決定該第二驅動頻率下的該感應加熱電路的一第二響應相位，且其中該第二響應相位是該第二驅動頻率下的一驅動電流的一相位值與該第二驅動頻率下跨該感應加熱電路的該電部件的該第二AC電壓的一相位值之間的一相位差值； 基於該第一響應相位及該第二響應相位來決定該感應加熱電路的一相位與頻率的關係函數；及 決定該SRF值，在該SRF值處，該相位與頻率的關係函數的一相位值處於相位正交。
  3. 如請求項1所述的系統，其中在產生該複數條線中的每條線時，該至少一個處理器被程式化或配置為： 決定跨該感應加熱電路的一電部件的一第一AC電壓的一第一相位值，其中在決定跨該感應加熱電路的該電部件的該第一AC電壓的該第一相位時，該至少一個程式化或配置為： 用一第一驅動頻率下的一第一驅動AC電壓驅動該感應加熱電路； 基於該第一驅動頻率下的該第一驅動AC電壓來測量跨該感應加熱電路的該電部件的該第一AC電壓的該第一相位值； 決定跨該感應加熱電路的該電部件的一第二AC電壓的一第二相位值，其中在決定跨該感應加熱電路的該電部件的該第二AC電壓的該第二相位值時，該至少一個程式化或配置為： 用一第二驅動頻率下的一第二驅動AC電壓驅動該感應加熱電路； 基於該第二驅動頻率下的該第二驅動AC電壓來測量跨該感應加熱電路的該電部件的該第二AC電壓的該第二相位值； 基於該第一驅動頻率下的該第一相位值及該第二驅動頻率下的該第二相位值來產生一相位與頻率的關係線。
  4. 如請求項3所述的系統，其中在決定該複數條線中具有該最大斜率的該線時，該至少一個處理器被程式化或配置為： 決定該複數條線中的每條線的一斜率，其中在決定該複數條線中的每條線的該斜率時，該至少一個處理器被程式化或配置為： 基於該第一相位值與該第二相位值的一差除以該第一驅動頻率與該第二驅動頻率的一差來決定該線的該斜率； 將該複數條線中的每條線的該斜率與該複數條線中的所有其他線的一斜率進行比較，以提供具有該最大斜率的該線。
  5. 如請求項3所述的系統，其中該至少一個處理器被進一步程式化或配置為： 基於跨該感應加熱電路的一電容器元件的電壓的一第一測量來決定該第一驅動頻率下跨該感應加熱電路的該電部件的該電壓的該第一相位值；及 基於跨該電容器元件的電壓的一第二測量來決定該第二驅動頻率下跨該感應加熱電路的該電部件的該電壓的該第二相位值。
  6. 如請求項2所述的系統，其中該感應加熱電路包括： 一電感器元件；及 一電容器元件。
  7. 如請求項2所述的系統，其中該感應加熱電路包括一電部件，且其中該感應加熱電路的該電部件包括： 一電感器元件， 一電容器元件，或 該感應加熱電路的一部件，該部件提供與跨該電感器元件或該電容器元件的一電壓的該相位相同的一相位。
  8. 如請求項2所述的系統，其中該至少一個處理器被進一步程式化或配置為： 基於一第四驅動頻率下的一第四驅動AC電壓來測量跨該感應加熱電路的該電部件的一第三AC電壓的一初步第三相位； 使用該時間延遲來調整該初步第三相位以提供一校正的初步第三相位； 基於該校正的初步第三相位來決定該第三驅動頻率下的該感應加熱電路的一第三響應相位，且其中該第三響應相位是該第三驅動頻率下的一驅動電流的一相位與該第三驅動頻率下跨該感應加熱電路的該電部件的一電壓的一相位之間的一相位差值； 基於一第四驅動頻率下的一第四驅動AC電壓來測量跨該感應加熱電路的該電部件的一第四AC電壓的一初步第四相位； 使用該時間延遲來調整該初步第四相位以提供一校正的初步第四相位； 決定該感應加熱電路的一第四響應相位，且其中該第四響應相位是該第四驅動頻率下的一驅動電流的一相位與該第四驅動頻率下跨該感應加熱電路的該電部件的一電壓的一相位之間的一相位差值；及 其中，在決定該感應加熱電路的該相位與頻率的關係函數時，該至少一個處理器被程式化或配置為： 基於該第一響應相位、該第二響應相位、該第三響應相位、及該第四響應相位來決定該感應加熱電路的該相位與頻率的關係函數。
  9. 如請求項8所述的系統，其中該相位與頻率的關係函數包括一多項式，及 其中，在決定該相位與頻率的關係函數時，該至少一個處理器被程式化或配置為： 決定該多項式的多項式係數，該多項式擬合至該感應加熱電路的該第一響應相位、該感應加熱電路的該第二響應相位、該感應加熱電路的該第三響應相位、及該感應加熱電路的該第四響應相位，及 其中，在決定該函數的該響應相位值處於相位正交的該頻率值時，該至少一個處理器被程式化或配置為： 基於該多項式的該等多項式係數來決定該相位與頻率的關係函數的該相位值處於相位正交的一頻率值。
  10. 如請求項2所述的系統，其中在基於該第一響應相位及該第二響應相位來決定該相位與頻率的關係函數時，該至少一個處理器被程式化或配置為： 決定一多項式的多項式係數，該多項式擬合至該感應加熱電路的該第一響應相位及該感應加熱電路的該第二響應相位，及 其中，在決定該函數的該響應相位值處於相位正交的該頻率值時，該至少一個處理器被程式化或配置為： 基於該多項式的該等多項式係數來決定該相位與頻率的關係函數的該相位值處於相位正交的該頻率值。
  11. 如請求項6所述的系統，其中該至少一個處理器被進一步程式化或配置為： 決定一感受器元件的一溫度。
  12. 如請求項11所述的系統，其中在決定該感受器元件的該溫度時，該至少一個處理器被程式化或配置為： 基於由該電感器元件所產生的一磁場的一測量及該相位與頻率的關係函數的該相位值處於相位正交的一頻率值來決定該感受器元件的該溫度。
  13. 如請求項11所述的系統，其中該至少一個處理器被進一步程式化或配置為： 決定由該電感器元件所產生的一磁場的一測量， 其中在決定該感受器元件的該溫度時，該至少一個處理器被程式化或配置為： 基於由該電感器元件所產生的該磁場的該測量及該相位與頻率的關係函數的該相位值處於相位正交的該頻率值來決定該感受器元件的該溫度。
  14. 如請求項11所述的系統，其中在決定該感受器元件的該溫度時，該至少一個處理器被程式化或配置為： 基於以下項目的一測量來決定由該電感器元件所產生的一磁場的一測量： 跨該電容器元件的一A/C電壓的一幅度，及 跨該電容器元件的該A/C電壓的一頻率；及 其中在決定該感受器元件的該溫度時，該至少一個處理器被程式化或配置為： 基於由該電感器元件所產生的該磁場的該測量及該函數的該相位值處於相位正交的該頻率值來決定該感受器元件的該溫度。
  15. 如請求項11所述的系統，其中在決定該感受器元件的該溫度時，該至少一個處理器被程式化或配置為： 決定跨該電容器元件的一A/C電壓的一幅度，及 跨該電容器元件的該A/C電壓的一頻率； 基於跨該電容器元件的一A/C電壓的該幅度及跨該電容器元件的該A/C電壓的該頻率來決定由該電感器元件所產生的一磁場的一測量；及 基於由該電感器元件所產生的該磁場的該測量及該函數的該相位值處於相位正交的該頻率值來決定該感受器元件的該溫度。
  16. 如請求項11所述的系統，更包括： 至少一個溫度感測器；及 其中在決定該感受器元件的該溫度時，該至少一個處理器被程式化或配置為： 基於該相位與頻率的關係函數的該相位值處於相位正交的一頻率值及該至少一個溫度感測器的一輸出來決定該感受器元件的該溫度。
  17. 如請求項11所述的系統，更包括： 至少一個溫度感測器，與以下項目中的至少一者熱接觸： 該電感器元件， 該電容器元件，或 上述項目的任何組合；及 其中在決定該感受器元件的該溫度時，該至少一個處理器被程式化或配置為： 基於該函數的該相位值處於相位正交的該頻率值及該至少一個溫度感測器的一輸出來決定該感受器元件的該溫度。
  18. 如請求項1所述的系統，其中該至少一個處理器被進一步程式化或配置為： 決定一感受器元件的一溫度； 其中在決定該感受器元件的該溫度時，該至少一個處理器被程式化或配置為： 基於該函數的該相位值處於相位正交的該頻率值，及一電感器元件、一電容器元件、或上述項目的任何組合的一溫度，來決定該感受器元件的該溫度。
  19. 如請求項6所述的系統，其中該至少一個處理器被進一步程式化或配置為： 決定一感受器元件的一溫度； 其中在決定該感受器元件的該溫度時，該至少一個處理器被程式化或配置為： 基於由該感受器元件所吸收的一功率量來決定該感受器元件的該溫度。
  20. 如請求項11所述的系統，其中該至少一個處理器被進一步程式化或配置為： 控制該感受器元件的該溫度。
  21. 如請求項20所述的系統，其中在控制該感受器元件的該溫度時，該至少一個處理器被程式化或配置為： 基於由該感受器元件所吸收的一功率量來控制用以改變該感受器元件的該溫度的一速率。
  22. 如請求項6所述的系統，其中該至少一個處理器被進一步程式化或配置為： 基於由該感受器元件所吸收的一功率量來決定一感受器元件是否在一電感器元件附近。
  23. 如請求項11所述的系統，其中該至少一個處理器被進一步程式化或配置為： 基於該相位與頻率的關係函數來決定由一感受器元件所吸收的一功率量；及 其中在決定該感受器元件的該溫度時，該至少一個處理器被程式化或配置為： 基於由該感受器元件所吸收的該功率量來決定該感受器元件的該溫度。
  24. 如請求項11所述的系統，其中該至少一個處理器被進一步程式化或配置為： 基於要向該電感器元件提供的電流的一時間平均值來向該電感器元件提供一定量的電流，以維持該感受器元件的一指定溫度。
  25. 如請求項11所述的系統，其中在決定該感受器元件的該溫度時，該至少一個處理器被程式化或配置為： 基於至少一個校準過程的一結果來決定該感受器元件的該溫度。
  26. 如請求項25所述的系統，其中該至少一個校準過程的該結果包括： 該感受器元件的複數個溫度值的一參考集合，及針對該函數的處於相位正交的複數個相位值中的每一者的複數個頻率值，其中該複數個頻率值中的每一者均與該感受器元件的該複數個溫度值中的每一者對應； 其中在決定該感受器元件的該溫度時，該至少一個處理器被程式化或配置為： 將該函數的該相位值處於相位正交的該頻率值與該參考集合進行比較；及 基於該參考集合中與該函數的該相位值處於相位正交的該頻率值對應的一溫度值來決定該感受器元件的該溫度。
  27. 一種方法，包括以下步驟： 用至少一個處理器，產生複數條線中的每條線，其中每條線均包括一訊號的相位值與頻率的關係的一圖形表示，該感應加熱電路是用該訊號來驅動的； 用至少一個處理器，決定該複數條線中具有一最大斜率的一線； 用至少一個處理器，決定具有該最大斜率的該線的一平均頻率； 用至少一個處理器，決定與具有該最大斜率的該線的該平均頻率對應的一相位值； 用至少一個處理器，決定一時間延遲，其中該時間延遲等於與該最大斜率對應的該相位值與相位正交下的一假定相位值的差除以一全相位週期與具有該最大斜率的該線的該平均頻率的一乘積； 用至少一個處理器，基於該時間延遲來決定該感應加熱電路的一自共振頻率（SRF）值；及 用至少一個處理器，基於該SRF值來決定該感應加熱電路的一特性。
  28. 如請求項27所述的方法，其中決定該感應加熱電路的該SRF值包括以下步驟： 基於一第一驅動頻率下的一第一驅動AC電壓來測量跨該感應加熱電路的一電部件的一第一AC電壓的一初步第一相位； 使用該時間延遲來調整該初步第一相位以提供一校正的初步第一相位； 基於該校正的初步第一相位來決定該第一驅動頻率下的該感應加熱電路的一第一響應相位，且其中該第一響應相位是該第一驅動頻率下的一驅動電流的一相位值與該第一驅動頻率下跨該感應加熱電路的該電部件的該第一AC電壓的一相位值之間的一相位差值； 基於一第二驅動頻率下的一第二驅動AC電壓來測量跨該感應加熱電路的該電部件的一第二AC電壓的一初步第二相位； 使用該時間延遲來調整該初步第二相位以提供一校正的初步第二相位； 基於該校正的初步第二相位來決定該第二驅動頻率下的該感應加熱電路的一第二響應相位，且其中該第二響應相位是該第二驅動頻率下的一驅動電流的一相位值與該第二驅動頻率下跨該感應加熱電路的該電部件的該第二AC電壓的一相位值之間的一相位差值； 基於該第一響應相位及該第二響應相位來決定該感應加熱電路的一相位與頻率的關係函數；及 決定該SRF值，在該SRF值處，該相位與頻率的關係函數的一相位值處於相位正交。
  29. 如請求項27所述的方法，其中產生該複數條線中的每條線包括以下步驟： 決定跨該感應加熱電路的一電部件的一第一AC電壓的一第一相位值，其中決定跨該感應加熱電路的該電部件的該第一AC電壓的該第一相位包括以下步驟： 用一第一驅動頻率下的一第一驅動AC電壓驅動該感應加熱電路； 基於該第一驅動頻率下的該第一驅動AC電壓來測量跨該感應加熱電路的該電部件的該第一AC電壓的該第一相位值； 決定跨該感應加熱電路的該電部件的一第二AC電壓的一第二相位值，其中在決定跨該感應加熱電路的該電部件的該第二AC電壓的該第二相位值時，該至少一個程式化或配置為： 用一第二驅動頻率下的一第二驅動AC電壓驅動該感應加熱電路； 基於該第二驅動頻率下的該第二驅動AC電壓來測量跨該感應加熱電路的該電部件的該第二AC電壓的該第二相位值； 基於該第一驅動頻率下的該第一相位值及該第二驅動頻率下的該第二相位值來產生一相位與頻率的關係線。
  30. 如請求項29所述的方法，其中決定該複數條線中具有該最大斜率的該線包括以下步驟： 決定該複數條線中的每條線的一斜率，其中決定該複數條線中的每條線的該斜率包括以下步驟： 基於該第一相位值與該第二相位值的一差除以該第一驅動頻率與該第二驅動頻率的一差來決定該線的該斜率； 將該複數條線中的每條線的該斜率與該複數條線中的所有其他線的一斜率進行比較，以提供具有該最大斜率的該線。
  31. 如請求項29所述的方法，進一步包括以下步驟： 基於跨該感應加熱電路的一電容器元件的電壓的一第一測量來決定該第一驅動頻率下跨該感應加熱電路的該電部件的該電壓的該第一相位值；及 基於跨該電容器元件的電壓的一第二測量來決定該第二驅動頻率下跨該感應加熱電路的該電部件的該電壓的該第二相位值。
  32. 如請求項28所述的方法，其中該感應加熱電路包括： 一電感器元件；及 一電容器元件。
  33. 如請求項28所述的方法，其中該感應加熱電路包括一電部件，且其中該感應加熱電路的該電部件包括： 一電感器元件， 一電容器元件，或 該感應加熱電路的一部件，該部件提供與跨該電感器元件或該電容器元件的一電壓的該相位相同的一相位。
  34. 如請求項28所述的方法，進一步包括以下步驟： 基於一第三驅動頻率下的一第四驅動AC電壓來測量跨該感應加熱電路的該電部件的一第三AC電壓的一初步第三相位； 使用該時間延遲來調整該初步第三相位以提供一校正的初步第三相位； 基於該校正的初步第三相位來決定該第三驅動頻率下的該感應加熱電路的一第三響應相位，且其中該第三響應相位是該第三驅動頻率下的一驅動電流的一相位與該第三驅動頻率下跨該感應加熱電路的該電部件的一電壓的一相位之間的一相位差值； 基於一第四驅動頻率下的一第四驅動AC電壓來測量跨該感應加熱電路的該電部件的一第四AC電壓的一初步第四相位； 使用該時間延遲來調整該初步第四相位以提供一校正的初步第四相位； 決定該感應加熱電路的一第四響應相位，且其中該第四響應相位是該第四驅動頻率下的一驅動電流的一相位與該第四驅動頻率下跨該感應加熱電路的該電部件的一電壓的一相位之間的一相位差值；及 其中決定該感應加熱電路的該相位與頻率的關係函數包括以下步驟： 基於該第一響應相位、該第二響應相位、該第三響應相位、及該第四響應相位來決定該感應加熱電路的該相位與頻率的關係函數。
  35. 如請求項33所述的方法，其中該相位與頻率的關係函數包括一多項式，及 其中決定該相位與頻率的關係函數包括以下步驟： 決定該多項式的多項式係數，該多項式擬合至該感應加熱電路的該第一響應相位、該感應加熱電路的該第二響應相位、該感應加熱電路的該第三響應相位、及該感應加熱電路的該第四響應相位，及 其中決定該函數的該響應相位值處於相位正交的該頻率值包括以下步驟： 基於該多項式的該等多項式係數來決定該相位與頻率的關係函數的該相位值處於相位正交的一頻率值。
  36. 如請求項28所述的方法，其中基於該第一響應相位及該第二響應相位來決定該相位與頻率的關係函數包括以下步驟： 決定一多項式的多項式係數，該多項式擬合至該感應加熱電路的該第一響應相位及該感應加熱電路的該第二響應相位，及 其中決定該函數的該響應相位值處於相位正交的該頻率值包括以下步驟： 基於該多項式的該等多項式係數來決定該相位與頻率的關係函數的該相位值處於相位正交的該頻率值。
  37. 如請求項32所述的方法，進一步包括以下步驟： 決定一感受器元件的一溫度。
  38. 如請求項37所述的方法，其中決定該感受器元件的該溫度包括以下步驟： 基於由該電感器元件所產生的一磁場的一測量及該相位與頻率的關係函數的該相位值處於相位正交的一頻率值來決定該感受器元件的該溫度。
  39. 如請求項37所述的方法，進一步包括以下步驟： 決定由該電感器元件所產生的一磁場的一測量， 其中決定該感受器元件的該溫度包括以下步驟： 基於由該電感器元件所產生的該磁場的該測量及該相位與頻率的關係函數的該相位值處於相位正交的該頻率值來決定該感受器元件的該溫度。
  40. 如請求項37所述的方法，其中決定該感受器元件的該溫度包括以下步驟： 基於以下項目的一測量來決定由該電感器元件所產生的一磁場的一測量： 跨該電容器元件的一A/C電壓的一幅度，及 跨該電容器元件的該A/C電壓的一頻率；及 其中決定該感受器元件的該溫度包括以下步驟： 基於由該電感器元件所產生的該磁場的該測量及該函數的該相位值處於相位正交的該頻率值來決定該感受器元件的該溫度。
  41. 如請求項37所述的方法，其中決定該感受器元件的該溫度包括以下步驟： 決定跨該電容器元件的一A/C電壓的一幅度及跨該電容器元件的該A/C電壓的一頻率； 基於跨該電容器元件的一A/C電壓的該幅度及跨該電容器元件的該A/C電壓的該頻率來決定由該電感器元件所產生的一磁場的一測量；及 基於由該電感器元件所產生的該磁場的該測量及該函數的該相位值處於相位正交的該頻率值來決定該感受器元件的該溫度。
  42. 如請求項37所述的方法，其中決定該感受器元件的該溫度包括以下步驟： 基於該相位與頻率的關係函數的該相位值處於相位正交的一頻率值及至少一個溫度感測器的一輸出來決定該感受器元件的該溫度。
  43. 如請求項37所述的方法，其中決定該感受器元件的該溫度包括以下步驟： 基於該函數的該相位值處於相位正交的該頻率值及至少一個溫度感測器的一輸出來決定該感受器元件的該溫度。
  44. 如請求項27所述的方法，進一步包括以下步驟： 決定一感受器元件的一溫度； 其中決定該感受器元件的該溫度包括以下步驟： 基於該函數的該相位值處於相位正交的該頻率值，及一電感器元件、一電容器元件、或上述項目的任何組合的一溫度，來決定該感受器元件的該溫度。
  45. 如請求項32所述的方法，進一步包括以下步驟： 決定一感受器元件的一溫度； 其中決定該感受器元件的該溫度包括以下步驟： 基於由該感受器元件所吸收的一功率量來決定該感受器元件的該溫度。
  46. 如請求項37所述的方法，進一步包括以下步驟： 控制該感受器元件的該溫度。
  47. 如請求項46所述的方法，其中控制該感受器元件的該溫度包括以下步驟： 基於由該感受器元件所吸收的一功率量來控制用以改變該感受器元件的該溫度的一速率。
  48. 如請求項32所述的方法，進一步包括以下步驟： 基於由該感受器元件所吸收的一功率量來決定一感受器元件是否在一電感器元件附近。
  49. 如請求項37所述的方法，進一步包括以下步驟： 基於該相位與頻率的關係函數來決定由一感受器元件所吸收的一功率量；及 其中決定該感受器元件的該溫度包括以下步驟： 基於由該感受器元件所吸收的該功率量來決定該感受器元件的該溫度。
  50. 如請求項37所述的方法，進一步包括以下步驟： 基於要向該電感器元件提供的電流的一時間平均值來向該電感器元件提供一定量的電流，以維持該感受器元件的一指定溫度。
  51. 如請求項37所述的方法，其中決定該感受器元件的該溫度包括以下步驟： 基於至少一個校準過程的一結果來決定該感受器元件的該溫度。
  52. 如請求項51所述的方法，其中該至少一個校準過程的該結果包括： 該感受器元件的複數個溫度值的一參考集合，及針對該函數的處於相位正交的複數個相位值中的每一者的複數個頻率值，其中該複數個頻率值中的每一者均與該感受器元件的該複數個溫度值中的每一者對應； 其中決定該感受器元件的該溫度包括以下步驟： 將該函數的該相位值處於相位正交的該頻率值與該參考集合進行比較；及 基於該參考集合中與該函數的該相位值處於相位正交的該頻率值對應的一溫度值來決定該感受器元件的該溫度。
  53. 一種電腦程式產品，該電腦程式產品包括至少一個非暫時性電腦可讀取媒體，該至少一個非暫時性電腦可讀取媒體包括一或更多個指令，該一或更多個指令在由至少一個處理器執行時使得該至少一個處理器： 產生複數條線中的每條線，其中每條線均包括一訊號的相位值與頻率的關係的一圖形表示，一感應加熱電路是用該訊號來驅動的； 決定該複數條線中具有一最大斜率的一線； 決定具有該最大斜率的該線的一平均頻率； 決定與具有該最大斜率的該線的該平均頻率對應的一相位值； 決定一時間延遲，其中該時間延遲等於與該最大斜率對應的該相位值與相位正交（quadrature）下的一假定相位值的差除以一全相位週期與具有該最大斜率的該線的該平均頻率的一乘積； 基於該時間延遲來決定該感應加熱電路的一自共振頻率（SRF）值；及 基於該SRF值來決定該感應加熱電路的一特性。
  54. 如請求項53所述的電腦程式產品，其中使得該至少一個處理器決定該感應加熱電路的該SRF值的該一或更多個指令，該至少一個處理器被程式化或配置為： 基於一第一驅動頻率下的一第一驅動AC電壓來測量跨該感應加熱電路的一電部件的一第一AC電壓的一初步第一相位； 使用該時間延遲來調整該初步第一相位以提供一校正的初步第一相位； 基於該校正的初步第一相位來決定該第一驅動頻率下的該感應加熱電路的一第一響應相位，且其中該第一響應相位是該第一驅動頻率下的一驅動電流的一相位值與該第一驅動頻率下跨該感應加熱電路的該電部件的該第一AC電壓的一相位值之間的一相位差值； 基於一第二驅動頻率下的一第二驅動AC電壓來測量跨該感應加熱電路的該電部件的一第二AC電壓的一初步第二相位； 使用該時間延遲來調整該初步第二相位以提供一校正的初步第二相位； 基於該校正的初步第二相位來決定該第二驅動頻率下的該感應加熱電路的一第二響應相位，且其中該第二響應相位是該第二驅動頻率下的一驅動電流的一相位值與該第二驅動頻率下跨該感應加熱電路的該電部件的該第二AC電壓的一相位值之間的一相位差值； 基於該第一響應相位及該第二響應相位來決定該感應加熱電路的一相位與頻率的關係函數；及 決定該SRF值，在該SRF值處，該相位與頻率的關係函數的一相位值處於相位正交。
  55. 如請求項53所述的電腦程式產品，其中使得該至少一個處理器產生該複數條線中的每條線的該一或更多個指令，該至少一個處理器被程式化或配置為： 決定跨該感應加熱電路的一電部件的一第一AC電壓的一第一相位值，其中使得該至少一個處理器決定跨該感應加熱電路的該電部件的該第一AC電壓的該第一相位的該至少一個指令，該至少一個程式化或配置為： 用一第一驅動頻率下的一第一驅動AC電壓驅動該感應加熱電路； 基於該第一驅動頻率下的該第一驅動AC電壓來測量跨該感應加熱電路的該電部件的該第一AC電壓的該第一相位值； 決定跨該感應加熱電路的該電部件的一第二AC電壓的一第二相位值，其中使得該至少一個處理器決定跨該感應加熱電路的該電部件的該第二AC電壓的該第二相位值的該一或更多個指令，該至少一個程式化或配置為： 用一第二驅動頻率下的一第二驅動AC電壓驅動該感應加熱電路； 基於該第二驅動頻率下的該第二驅動AC電壓來測量跨該感應加熱電路的該電部件的該第二AC電壓的該第二相位值； 基於該第一驅動頻率下的該第一相位值及該第二驅動頻率下的該第二相位值來產生一相位與頻率的關係線。
  56. 如請求項55所述的電腦程式產品，其中使得該至少一個處理器決定該複數條線中具有該最大斜率的該線的該一或更多個指令使得該至少一個處理器： 決定該複數條線中的每條線的一斜率，其中使得該至少一個處理器決定該複數條線中的每條線的該斜率的該一或更多個指令使得該至少一個處理器： 基於該第一相位值與該第二相位值的一差除以該第一驅動頻率與該第二驅動頻率的一差來決定該線的該斜率； 將該複數條線中的每條線的該斜率與該複數條線中的所有其他線的一斜率進行比較，以提供具有該最大斜率的該線。
  57. 如請求項55所述的電腦程式產品，其中該至少一個處理器被進一步程式化或配置為： 基於跨該感應加熱電路的一電容器元件的電壓的一第一測量來決定該第一驅動頻率下跨該感應加熱電路的該電部件的該電壓的該第一相位值；及 基於跨該電容器元件的電壓的一第二測量來決定該第二驅動頻率下跨該感應加熱電路的該電部件的該電壓的該第二相位值。
  58. 如請求項54所述的電腦程式產品，其中該感應加熱電路包括： 一電感器元件；及 一電容器元件。
  59. 如請求項54所述的電腦程式產品，其中該感應加熱電路包括一電部件，且其中該感應加熱電路的該電部件包括： 一電感器元件， 一電容器元件，或 該感應加熱電路的一部件，該部件提供與跨該電感器元件或該電容器元件的一電壓的該相位相同的一相位。
  60. 如請求項54所述的電腦程式產品，其中該至少一個處理器被進一步程式化或配置為： 基於一第三驅動頻率下的一第四驅動AC電壓來測量跨該感應加熱電路的該電部件的一第三AC電壓的一初步第三相位； 使用該時間延遲來調整該初步第三相位以提供一校正的初步第三相位； 基於該校正的初步第三相位來決定該第三驅動頻率下的該感應加熱電路的一第三響應相位，且其中該第三響應相位是該第三驅動頻率下的一驅動電流的一相位與該第三驅動頻率下跨該感應加熱電路的該電部件的一電壓的一相位之間的一相位差值； 基於一第四驅動頻率下的一第四驅動AC電壓來測量跨該感應加熱電路的該電部件的一第四AC電壓的一初步第四相位； 使用該時間延遲來調整該初步第四相位以提供一校正的初步第四相位； 決定該感應加熱電路的一第四響應相位，且其中該第四響應相位是該第四驅動頻率下的一驅動電流的一相位與該第四驅動頻率下跨該感應加熱電路的該電部件的一電壓的一相位之間的一相位差值；及 其中使得該至少一個處理器決定該感應加熱電路的該相位與頻率的關係函數的該一或更多個指令使得該至少一個處理器： 基於該第一響應相位、該第二響應相位、該第三響應相位、及該第四響應相位來決定該感應加熱電路的該相位與頻率的關係函數。
  61. 如請求項60所述的電腦程式產品，其中該相位與頻率的關係函數包括一多項式，及 其中使得該至少一個處理器決定該相位與頻率的關係函數的該一或更多個指令使得該至少一個處理器： 決定該多項式的多項式係數，該多項式擬合至該感應加熱電路的該第一響應相位、該感應加熱電路的該第二響應相位、該感應加熱電路的該第三響應相位、及該感應加熱電路的該第四響應相位，及 其中使得該至少一個處理器決定該函數的該響應相位值處於相位正交的該頻率值的該至少一個指令使得該至少一個處理器： 基於該多項式的該等多項式係數來決定該相位與頻率的關係函數的該相位值處於相位正交的一頻率值。
  62. 如請求項54所述的電腦程式產品，其中使得該至少一個處理器基於該第一響應相位及該第二響應相位來決定該相位與頻率的關係函數的該一或更多個指令使得該至少一個處理器： 決定一多項式的多項式係數，該多項式擬合至該感應加熱電路的該第一響應相位及該感應加熱電路的該第二響應相位，及 其中使得該至少一個處理器決定該函數的該響應相位值處於相位正交的該頻率值的該至少一個指令使得該至少一個處理器： 基於該多項式的該等多項式係數來決定該相位與頻率的關係函數的該相位值處於相位正交的該頻率值。
  63. 如請求項58所述的電腦程式產品，其中該一或更多個指令進一步使得該至少一個處理器： 決定一感受器元件的一溫度。
  64. 如請求項63所述的電腦程式產品，其中使得該至少一個處理器決定該感受器元件的該溫度的該一或更多個指令，該至少一個處理器被程式化或配置為： 基於由該電感器元件所產生的一磁場的一測量及該相位與頻率的關係函數的該相位值處於相位正交的一頻率值來決定該感受器元件的該溫度。
  65. 如請求項63所述的電腦程式產品，其中該至少一個處理器被進一步程式化或配置為： 決定由該電感器元件所產生的一磁場的一測量， 其中使得該至少一個處理器決定該感受器元件的該溫度的該一或更多個指令使得該至少一個處理器： 基於由該電感器元件所產生的該磁場的該測量及該相位與頻率的關係函數的該相位值處於相位正交的該頻率值來決定該感受器元件的該溫度。
  66. 如請求項63所述的電腦程式產品，其中使得該至少一個處理器決定該感受器元件的該溫度的該一或更多個指令，該至少一個處理器被程式化或配置為： 基於以下項目的一測量來決定由該電感器元件所產生的一磁場的一測量： 跨該電容器元件的一A/C電壓的一幅度，及 跨該電容器元件的該A/C電壓的一頻率；及 其中使得該至少一個處理器決定該感受器元件的該溫度的該一或更多個指令使得該至少一個處理器： 基於由該電感器元件所產生的該磁場的該測量及該函數的該相位值處於相位正交的該頻率值來決定該感受器元件的該溫度。
  67. 如請求項63所述的電腦程式產品，其中使得該至少一個處理器決定該感受器元件的該溫度的該一或更多個指令使得該至少一個處理器： 決定跨該電容器元件的一A/C電壓的一幅度，及 跨該電容器元件的該A/C電壓的一頻率； 基於跨該電容器元件的一A/C電壓的該幅度及跨該電容器元件的該A/C電壓的該頻率來決定由該電感器元件所產生的一磁場的一測量；及 基於由該電感器元件所產生的該磁場的該測量及該函數的該相位值處於相位正交的該頻率值來決定該感受器元件的該溫度。
  68. 如請求項63所述的電腦程式產品，進一步包括： 至少一個溫度感測器；及 其中使得該至少一個處理器決定該感受器元件的該溫度的該一或更多個指令使得該至少一個處理器： 基於該相位與頻率的關係函數的該相位值處於相位正交的一頻率值及該至少一個溫度感測器的一輸出來決定該感受器元件的該溫度。
  69. 如請求項63所述的電腦程式產品，其中使得該至少一個處理器決定該感受器元件的該溫度的該一或更多個指令使得該至少一個處理器： 基於該函數的該相位值處於相位正交的該頻率值及該至少一個溫度感測器的一輸出來決定該感受器元件的該溫度。
  70. 如請求項53所述的電腦程式產品，其中該一或更多個指令進一步使得該至少一個處理器： 決定一感受器元件的一溫度； 其中使得該至少一個處理器決定該感受器元件的該溫度的該一或更多個指令使得該至少一個處理器： 基於該函數的該相位值處於相位正交的該頻率值，及一電感器元件、一電容器元件、或上述項目的任何組合的一溫度，來決定該感受器元件的該溫度。
  71. 如請求項58所述的電腦程式產品，其中該一或更多個指令進一步使得該至少一個處理器： 決定一感受器元件的一溫度； 其中使得該至少一個處理器決定該感受器元件的該溫度的該一或更多個指令使得該至少一個處理器： 基於由該感受器元件所吸收的一功率量來決定該感受器元件的該溫度。
  72. 如請求項63所述的電腦程式產品，其中該一或更多個指令進一步使得該至少一個處理器： 控制該感受器元件的該溫度。
  73. 如請求項72所述的電腦程式產品，其中使得該至少一個處理器控制該感受器元件的該溫度的該一或更多個指令使得該至少一個處理器： 基於由該感受器元件所吸收的一功率量來控制用以改變該感受器元件的該溫度的一速率。
  74. 如請求項58所述的電腦程式產品，其中該一或更多個指令進一步使得該至少一個處理器： 基於由該感受器元件所吸收的一功率量來決定一感受器元件是否在一電感器元件附近。
  75. 如請求項63所述的電腦程式產品，其中該一或更多個指令進一步使得該至少一個處理器： 基於該相位與頻率的關係函數來決定由一感受器元件所吸收的一功率量；及 其中使得該至少一個處理器決定該感受器元件的該溫度的該一或更多個指令使得該至少一個處理器： 基於由該感受器元件所吸收的該功率量來決定該感受器元件的該溫度。
  76. 如請求項63所述的電腦程式產品，其中該一或更多個指令進一步使得該至少一個處理器： 基於要向該電感器元件提供的電流的一時間平均值來向該電感器元件提供一定量的電流，以維持該感受器元件的一指定溫度。
  77. 如請求項63所述的電腦程式產品，其中使得該至少一個處理器決定該感受器元件的該溫度的該一或更多個指令使得該至少一個處理器： 基於至少一個校準過程的一結果來決定該感受器元件的該溫度。
  78. 如請求項77所述的電腦程式產品，其中該至少一個校準過程的該結果包括： 該感受器元件的複數個溫度值的一參考集合，及針對該函數的處於相位正交的複數個相位值中的每一者的複數個頻率值，其中該複數個頻率值中的每一者均與該感受器元件的該複數個溫度值中的每一者對應； 其中使得該至少一個處理器決定該感受器元件的該溫度的該一或更多個指令使得該至少一個處理器： 將該函數的該相位值處於相位正交的該頻率值與該參考集合進行比較；及 基於該參考集合中與該函數的該相位值處於相位正交的該頻率值對應的一溫度值來決定該感受器元件的該溫度。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN211910548U (zh) * 2020-01-13 2020-11-13 深圳市合元科技有限公司 气雾生成装置及加热器
WO2023072802A1 (en) * 2021-10-25 2023-05-04 Philip Morris Products S.A. A testing equipment and method for testing a susceptor arrangement in simulated heating conditions

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3355662B1 (en) * 2017-01-25 2020-06-17 Tetra Laval Holdings & Finance S.A. A method of controlling an inductive heating circuit to seal a packaging material
GB201705206D0 (en) * 2017-03-31 2017-05-17 British American Tobacco Investments Ltd Apparatus for a resonance circuit
GB201705208D0 (en) * 2017-03-31 2017-05-17 British American Tobacco Investments Ltd Temperature determination
KR102172415B1 (ko) * 2017-11-07 2020-10-30 엘지전자 주식회사 유도 가열 장치 및 유도 가열 장치의 용기 판별 방법

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