TW202109104A - 密封光學收發器 - Google Patents

Abstract

本發明與外部污染物密封隔離光學互連元件中之光傳播路徑。該光學互連元件包括反射表面，該反射表面亦可與外部污染物密封隔離。額外新穎概念包括該光學互連元件之所有經圍封密封區流體地連接且形成該光學互連元件與薄板之最終密封，該薄板可彎曲從而減小周圍環境與該光學互連元件之密封內部體積之間的壓差。

Description

密封光學收發器

本發明係有關於密封光學收發器。相關申請案之交叉參考

本申請案主張2019年1月18日申請之美國專利申請案第62/794,353號、2019年9月6日申請之美國專利申請案第62/897,105號及2019年11月8日申請之美國專利申請案第62/933,158號之優先權，該等申請案中之每一者之揭示內容如在本文中闡述一般以全文引用之方式併入本文中。

在網路流量增長之持續需求中，特殊應用積體電路（application specific integrated circuit；ASIC）開關、場可程式化閘陣列（field programmable gate arrays；FPGA）或微處理器正增大其輸入/輸出（input/output；IO）頻寬能力及通道計數。光學互連而非各種高頻寬電性組件之間的電互連之使用在頻寬及頻寬密度（由收發器佔據之表面積之Gb/s/m² ）方面提供顯著增益。特定言之，將電性信號轉換成光學信號且將光學信號轉換成電性信號之光學收發器常常用以在電性組件之間傳輸高頻寬信號。然而，隨著互連之密度增大，自光學互連元件內之組件移除熱變成較大挑戰。組件冷卻之一種解決方案為使用浸沒冷卻，其中光學互連元件以及系統中之其他電性組件浸入液體中。相比於常用強制空氣冷卻，與組件進行直接液體接觸產生較低組件操作溫度。此使得組件壽命得以改良且產生較強系統可靠性。此外，相比於可使用空氣冷卻獲得之封裝密度，浸沒冷卻允許更高封裝密度。

採用浸沒冷卻之一個障礙為提供諸如光學收發器之光學互連元件在浸沒於液體中時進行操作的能力。大多數習知光學收發器典型地經設計以藉由空氣冷卻進行操作，且在浸沒於液體中時至少部分地歸因於干擾收發器中之光學傳播之液體而將不工作。雖然一些習知光學收發器能夠在液體中操作，但其往往為龐大且昂貴的，此係由於其將收發器元件圍封於具有電饋通件(electrical feedthrough)之氣密密封式金屬殼體中。因此，需要具有與操作相容之密封光傳播路徑的浸沒於液體中之低成本光學收發器。

在一個態樣中，一種光學互連元件可包括具有一光傳播路徑之一光學塊體。該光學互連元件可進一步包括與該光傳播路徑對準之一電光元件。該光學互連元件可進一步包括一組件空腔。一第二光傳播路徑延伸穿過該組件空腔且與該光學塊體中之第一光傳播路徑光學對準，且該第二光傳播路徑與該周圍環境密封隔離，使得防止該光學塊體外部之環境污染物到達該第二光傳播路徑。

本發明係針對一種能夠在浸沒於冷卻液體中時進行操作之光學互連元件。在浸沒於冷卻液體中時進行操作改善了自光學互連元件之熱移除，從而允許光學互連元件在較低溫度下操作或增大具有多個光學互連元件之系統的封裝密度。另外，可在無浸沒冷卻之情況下使用密封光學互連元件。其有利於在惡劣環境中使用，諸如多塵環境或其中可能存在新鮮水噴霧或鹽水噴霧之環境。光學互連元件可經組態為光學收發器。因此，在此描述中，通常將使用術語光學收發器；然而，本發明可同樣應用於任何適合的光學互連元件，諸如光學傳輸器或光學接收器。因此，光學傳輸器及光學接收器中之每一者且因此光學收發器可大體上被稱作光學互連元件。

如本文中所使用，術語「實質上」、「大約」、「約」及其衍生詞以及如本文中所使用之具有類似意義的詞應認識到，所參考之尺寸、大小、形狀、方向或其他參數可包括所陳述尺寸、大小、形狀、方向或其他參數及所陳述尺寸、大小、形狀、方向或其他參數之至多達±20%，包括±10%、±5%及±2%。另外，如本文中所使用之術語「至少一個」所陳述結構可指所陳述結構中之單一者及複數個所陳述結構中的任一者或兩者。另外，除非另外指示，否則本文中對單數「一」或「該」之參考以相等效力及效應適用於複數。類似地，本文中對複數之參考以相等效力及效應適用於單數「一」或「該」。

本文中對「一個具體實例」、「一具體實例」、「一實例具體實例」等之參考指示所描述之具體實例可包括一特定特徵、結構或特性，但每一具體實例可能未必包括該特定特徵、結構或特性。此外，此等短語未必指相同具體實例。此外，當結合一具體實例來描述一特定特徵、結構或特性時，應主張，無論是否予以明確描述，結合其他具體實例來實現此特徵、結構或特性在所屬技術領域中具有知識者之認識範圍內。

參考圖1至圖2，密封光學收發器100包括可經組態為印刷電路板（printed circuit board；PCB）之基板102、豎板108、光學塊體110及複數個光纖112。光纖112可相對於彼此固定於光纖帶狀纜線116內部。替代地，光纖112可鬆散地配置於鬆散裝配管中，且可相對於彼此移動。因此，當光纖延伸出光纖帶狀纜線116時，光纖112可相對於其他光纖112個別地定位。又替代地，光纖112可經個別化而不由光纖帶狀纜線116包圍。在一些實例中，光學收發器100可經組態為中板（mid-board）光學引擎。如將自以下描述瞭解，各種光學組件安裝至基板102之豎板108。豎板108又安裝至基板102。收發器100包括傳輸器及接收器。傳輸器接收電性信號，產生對應於電性信號之光學信號，且發射及傳輸最終行進至光纖帶狀纜線116之光纖112的光。接收器接收光學信號，產生對應於光學信號之電性信號，將電性信號傳輸至電性介面，該電性介面可與互補電性組件配合。電性介面可經組態為基板102之電接觸墊105。

傳輸器包括至少一個電光元件104，諸如至少一個光源。至少一個光源可經配置為複數個光源。光源可置放成與控制器203電連通，該控制器可經組態為微處理器。控制器302可安裝至基板202，且可經程式化以控制光學傳輸器及光學接收器中之任一者或兩者的操作。在一個實例中，光源可藉由調變驅動光源之電流來直接調變。在另一實例中，傳輸器可包括至少一個光子積體電路，諸如複數個光子積體電路。特定言之，光源可發射經外部調變之穩定光束。外部調變可出現於光子積體電路中。因此，光子積體電路（若存在）可經組態以自互補電性組件接收至少一個電傳輸信號，將電傳輸信號轉換成光學傳輸信號，且輸出光學傳輸信號。在一個實例中，光子積體電路可經組態為矽光子晶片。

在一些實例中，光源可經組態為雷射陣列。雷射陣列可經組態為複數個垂直空腔表面發光雷射（vertical-cavity surface-emitting laser；VCSEL）、分散式回饋（distributed feedback；DFB）雷射或法布里-珀羅（Fabry-Perot；FP）雷射。雷射可安裝至豎板108。若存在複數個光源，則每一光源可在不同波長下操作，或光源可處於實質上相同的波長下。光源可直接安裝於光子積體電路（若存在）上，或可安裝於豎板108上或光學收發器20中之某一其他位置處。若光源位於光子積體電路之外，則傳輸器可包括將光自光源引導至光子積體電路之光波導。

光源可基於所接收之電傳輸信號調變光以便產生光學傳輸信號。特定言之，傳輸器可包括界定調變協定之至少一個調變器驅動器，該調變協定基於自互補電性組件接收之電性信號判定光之調變。傳輸器可包括複數個調變器驅動器，其中每一調變器驅動器專用於接收待轉換成各別光學傳輸信號之電傳輸信號的各別通道。調變器驅動器可製造於單一晶粒上。每一調變器驅動器可經組態以將電輸入提供至適合於驅動光源之驅動電流的調變電路或外部光學調變器。

一或多個中間光學元件可定位於光子積體電路與光纖帶狀纜線116之間。此等中間光學元件可包括反射鏡、透鏡、透明基板、透明耦合器及光波導中之一或多者，其共同地用以提供光子積體電路波導與光纖帶狀纜線116之光纖112之光學傳輸光纖之間的光傳播路徑，該等光纖帶狀纜線經組態以接收光學傳輸信號。

在操作期間，雷射陣列發射光且將光傳輸至光學塊體110中。由雷射陣列發射之光可由光學塊體110之第一表面上之第一透鏡準直，自雷射陣列發射之光在該第一表面處進入光學塊體。光學塊體110之第一表面可面向電光元件104。光學塊體110使光反射離開反射表面124，從而改變光之傳播方向。第二透鏡是在光學塊體110之第二表面上。光學塊體110之第二表面可界定傳輸器中之光學塊體110之射出表面。第二透鏡可聚焦射出光學塊體110之光。射出光學塊體110之光聚焦至光學傳輸光纖之芯中，該光學傳輸光纖經定位成接近於光學塊體110表面。折射率匹配材料可安置於光學塊體110與光纖端面之間以消除或減少來自光纖端面之背向反射。

接收器可包括至少一個電光元件104，諸如至少一個光偵測器。至少一個光偵測器可經組態為經配置為光偵測器陣列104a（參見圖3A）之複數個光偵測器，該光偵測器陣列104a與光纖帶狀纜線116之光纖112之複數個光學接收光纖光學對準。光偵測器可安裝至豎板108。接收器可進一步包括與至少一個光偵測器電連通之電流-電壓轉換器。舉例而言，光學接收器可包括陣列104a之複數個光偵測器，該複數個光偵測器與複數個光學接收光纖中之各別者光學對準。因此，可認為光學接收光纖與電流至電壓轉換器進行資料通信。

光偵測器經組態以自各別光學接收光纖接收光學接收信號。如將自以下描述瞭解，光學接收信號可自光學接收波導行進至光偵測器。光偵測器可為表面敏感光偵測器，其中傳入光子在法線或近法線入射角下撞擊光偵測器之作用區。此偵測器架構可為有利的，此係由於其提供小的體積吸收區。另外，由於光在法線或近法線入射角下撞擊作用區，因此光偵測器為偏振不敏感的。作用區可具有低電容，從而允許高頻寬操作。當然，應瞭解，本發明涵蓋具有經替代組態之作用區的光偵測器。表面敏感作用區經組態以自光學接收光纖中之各別者之輸出端接收光學接收信號。

一或多個中間光學元件可定位於光學接收光纖與光偵測器之間。此等中間光學元件可包括反射鏡、透鏡、透明基板、透明耦合器（偏振操縱器及濾光器）及光波導中之一或多者，其共同地用以提供光學接收光纖112與光偵測器64之間的光傳播路徑。雖然光傳播路徑在使用多個光學元件之具體實例中更複雜，但其可改善光學接收光纖與光偵測器之間的模式匹配及鬆弛對準容限。高耦合效率可有利地維持在大的操作溫度範圍內。

在一些具體實例中，第一透鏡可定位於來自作用區之光偵測器晶粒之相對側上。傳入光學接收信號穿過第一透鏡、光偵測器晶粒，且在作用區中被吸收。光偵測器進一步經組態以將光學接收信號轉換成對應電接收信號。電接收信號可具有與所接收光學接收信號之光學功率位準成比例的電流位準。大體而言，光產生之電流隨著傳入光學接收信號之強度增大而增大，且隨著傳入光學接收信號之強度減小而減小。應認識到，電接收信號之電流位準未必與所接收光接收信號之光學功率位準線性地成比例，且該比例常常為非線性的。因此，具有高光學功率位準之光學接收信號將轉換成具有較高電流位準之電性信號而非具有較低光學位準之光學接收信號。資料可由此經調變光學及電性信號傳輸。

光偵測器將電傳輸信號輸出至電流至電壓轉換器之各別通道。電流至電壓轉換器將來自各別通道之經調節電傳輸信號輸出至電性介面處之對應電接點。在一個實例中，電流至電壓轉換器可經組態為轉阻放大器（transimpedence amplifier；TIA）。

在操作期間，除在相反方向上以外，光學接收器以如上文關於光學傳輸器所描述之類似方式傳播光。特定言之，光由光學傳輸光纖之光纖端面發射且傳播至光學塊體110中。在光學塊體110中，光反射離開反射表面124且被導向光偵測器。接收器可進一步包括光學塊體110之第一表面上之第一透鏡，該第一表面可界定接收器之射出表面。接收器之第一透鏡將所接收之光聚焦至光偵測器上。接收器可進一步包括光學塊體表面之第二表面上之第二透鏡，光在該第二表面處自光纖112進入光學塊體110。第二透鏡可經組態以準直進入光纖112之光。

現參考圖2，豎板108可由諸如電鍍銅之金屬形成以促進自諸如雷射陣列之熱產生元件的熱傳遞。就此而言，豎板108亦可被稱作散熱器。豎板具有豎板孔170，該豎板孔在收發器100經組裝時由光學塊體110覆蓋。豎板孔170為豎板108之中心定位孔。光學塊體110可由諸如ULTEM™之模製聚合物形成。

現參考圖2，光學收發器100界定光纖端面與電光元件104之間的光學路徑150。如將自以下描述瞭解，沿光學路徑150之至少一部分行進的光可經歷氣體（諸如光纖端面與電光元件104之間的空氣）中之自由空間傳播。如上文所描述，電光元件104可經組態為傳輸器之光源，且可經組態為接收器之光偵測器。實務上，光學收發器100可包括一對電光元件104，該等電光元件中之一者經組態為至少一個光源，且其他電光元件經組態為至少一個光偵測器。因此，圖2中所說明之電光元件104既定示意性地說明光源及光偵測器兩者。光學收發器100可因此界定傳輸光傳播路徑及上文所描述之類型之接收光學路徑150。傳輸光傳播路徑自光源或雷射延伸至光纖端面。接收光傳播路徑自光纖端面延伸至光偵測器或光二極體。因此，雖然下文關於光學收發器100之接收器更詳細地描述光學路徑150，但光學路徑150可同樣適用於光學收發器100之傳輸器。因此，在下文中對接收器、傳輸器及收發器可互換地進行參考。光學路徑150界定自光纖端面延伸至反射表面124之第一區段151，及自反射表面124延伸至電光元件104之第二區段152。因此，電光元件104與光傳播路徑對準，且特定言之，與光傳播路徑之第二區段152對準。

如圖2中所展示，豎板108安裝至基板102之頂表面上，且光學塊體110安裝至豎板108之頂表面。因此，基板102支撐豎板108，且豎板108又支撐光學塊體110。豎板108可為由收發器100產生之熱提供熱耗散路徑。密封光學收發器100可進一步包括具有一或多個光纖112之光纖帶狀纜線116，該一或多個光纖相對於光學塊體110受支撐，使得光纖112中之至少第一者經組態以自收發器100之光學傳輸器傳輸光學信號，且光纖112中之其他者經組態以自收發器100之光學接收器接收光學信號。光纖112可安裝於光纖對準結構中以促進多個光纖112與光學塊體110之同時對準。

光學塊體110界定之第一空腔155，該第一空腔安置成鄰近反射表面124，使得反射表面124對第一空腔155敞開。第二透鏡可安置於第一空腔155中。因此，第一空腔115亦可被稱作第二透鏡空腔，該第二透鏡空腔包括第二透鏡。光學塊體110界定外表面，該外表面界定第一空腔155之開口153。外表面可由與光學塊體110之底表面相對的光學塊體110之頂表面界定，該底表面面向豎板108。當然，開口153可視需要界定於光學塊體110之任何適合表面上。反射表面124可經組態為全內反射（total internal reflection；TIR）表面。第一空腔155典型地由折射率接近1之材料（諸如空氣或乾燥氮氣）佔據。當光學塊體110之折射率（典型地在1.45至1.7範圍內）大於第一空腔155之折射率時，反射表面124上之全內反射（total internal reflection；TIR）出現。若液體在反射表面124經組態為TIR表面時將接觸該反射表面，則該液體可能破壞TIR反射且因此影響光學收發器100之操作。當反射表面124經組態為TIR表面時，第一空腔155可被稱作TIR空腔。

在其他實例中，光學塊體110之一部分可塗佈有金屬塗層以便界定金屬表面，該金屬表面又界定反射表面124。在一個實例中，金屬塗層可為金，但應理解，可使用任何適合光學反射金屬材料。光反射離開金屬反射表面，從而改變光之傳播方向。當反射表面124時，反射不會由於液體接觸反射表面124而受破壞。

繼續參考圖2，且如上文所描述，光學路徑150包括第一區段151及第二區段152。反射表面124在第一區段151與第二區段152之間重導向光。光學路徑150之第一區段151可包括第一部分，該第一部分經歷自光纖112之端面至光學塊體110之內部表面的自由空間傳播部分。光學路徑150之第一區段151可包括自光學塊體110之內部表面延伸至反射表面124之第二部分。光學路徑150之第二區段152可包括第一部分，該第一部分駐留於光學塊體110中且自反射表面124延伸至光學塊體110之底表面。光學路徑150之第二區段152可包括第二部分，該第二部分經歷自光學塊體110之底表面至電光元件104之自由空間傳播。

因此，光學路徑150可界定穿過諸如空氣之氣體的第一自由空間光傳播路徑，從而光經歷自光纖112之端面至光學塊體110之內部表面的自由空間傳播。第一自由空間光傳播路徑可由光學路徑150之第一區段151之第一部分界定。光學路徑150進一步界定內部光傳播路徑，從而光經歷光學塊體110內部之自由空間傳播。總體而言，內部光傳播路徑可包括光學路徑150之第一區段151之第二部分及光學路徑150之第二區段152之第一部分，該第二部分及該第一部分各自駐留於光學塊體110中。光學路徑150可進一步包括穿過諸如空氣之氣體的第二自由空間光傳播路徑，該第二自由空間光傳播路徑自光學塊體110延伸至電光元件104，從而光經歷自由空間傳播。第二自由空間傳播部分可由光學路徑之第二區段152之第二部分界定。第二自由空間光傳播路徑可自光學塊體110之底表面延伸至電光元件104。光由電光元件（electro-optic element；EO）104發射或吸收，該EO安裝於豎板108上。第二自由空間光傳播路徑與延伸穿過光學塊體110之第一光傳播路徑（且特定言之，光學路徑150之第二區段152之第一部分）及電光元件104兩者光學對準。

雖然光學收發器100界定如上文所描述之第一自由空間光傳播路徑，但應認識到，在另一實例中，光纖112之端面可與光學塊體110對接。因此，在此實例中，光學路徑不經歷光纖與光學塊體110之內部表面之間的自由空間傳播。因此，光學路徑150可界定內部光傳播路徑，該內部光傳播路徑由光學路徑之第一區段151及光學路徑之第二區段152之第一部分界定。另外，光學路徑150可界定自由空間光傳播路徑，該自由空間光傳播路徑由光學路徑150之第二區段152之第二部分界定，如上文所描述。

繼續參考圖2，光學收發器100界定第二空腔162，該第二空腔亦可被稱作組件空腔。組件空腔162自光學塊體110延伸至豎板108，且亦延伸至安裝於豎板108上之電光元件104。在接收器中，光自光學塊體110行進且穿過組件空腔162到達電光元件104。在傳輸器中，光自電光元件104行進穿過組件空腔162到達光學塊體110。組件空腔162可由光學塊體110（且特定言之，光學塊體110之底表面）及豎板108（且特定言之，豎板108之頂表面）界定。第一透鏡可安置於組件空腔162中。因此，組件空腔162亦可因此被稱作第一透鏡空腔。

大體而言，組件空腔162可被視為填充有氣體、空氣或抽空之任何體積或區，在該體積或區中存在至電光元件或自電光元件至光學元件之光學傳播路徑。在此實例中，光學元件由光學塊體110界定。在光學塊體110內，光可在光學路徑150之第一區段151中及在光學路徑150之第二區段152之第一部分中行進。在反射表面124處，歸因於反射離開反射表面124，光之傳播方向改變。

為了使光學收發器100之操作不受收發器100浸沒於液體中影響，特別是當液體不光學透明時，防止液體干擾光纖112之端面與光學塊體110之內部表面之間的第一自由空間光傳播路徑。另外，如下文將詳細地描述，防止液體干擾第二自由空間光傳播路徑。

當反射表面124經組態為TIR表面時，可防止液體進入第一空腔155。若液體將進入第一自由空間光傳播路徑且接觸TIR表面，則第一自由空間光傳播路徑之光學性質將改變，從而影響收發器100之操作。因此，如下文根據一個實例更詳細地描述，光學收發器100可界定防止液體在光學收發器100浸沒於液體中時進入第一空腔155之防液體滲透第一空腔密封件。

第一空腔密封件可包括可與光學塊體110及第一空腔155中之光纖112兩者接觸的填充材料118。特定言之，光學耦合器界定光纖開口，使得光纖112經由光纖開口進入光學塊體110。填充材料118可密封光纖112與光學耦合器110之間的界面，從而提供防水滲透密封，其在光學收發器100浸沒於液體中時防止液體經由光纖開口進入第一空腔155。填充材料118可由任何適合材料製成。在一個實例中，填充劑118為環氧樹脂。可能需要環氧樹脂在固化後在尺寸上穩定。另外，如下文更詳細地描述，光學收發器100可包括將開口153密封至第一空腔155之閉合構件156。閉合構件156以及填充材料118可界定第一空腔密封件，且防止液體在收發器100浸沒於液體中時進入第一空腔155。因此，防止液體接觸反射表面124。

然而，應認識到，當反射表面124為金屬時，液體與反射表面124之間的接觸並不影響光學路徑150之第一區段151與第二區段152之間的光之反射。因此，當反射表面124為金屬時，第一空腔155中之液體並不影響反射表面124之反射性質。亦將需要防止第一空腔155中之液體干擾第一自由空間光傳播路徑，使得當光學收發器100安置於液體中時，第一空腔155可相對於液體未密封。因此，當反射表面124為金屬時，光學收發器100可不具有閉合構件156。

現參考圖7，可密封光纖終端間隙111以便防止第一空腔155中之液體在第一空腔155未密封時行進至第一自由空間光傳播路徑。特定言之，光學收發器100可包括密封光纖終端間隙111之光學透明填充材料119。光學透明填充材料119可為密封光纖終端間隙111之光學透明環氧樹脂或黏著劑，該光纖終端間隙自光纖112之端面及光學塊體110之內部表面及金屬化反射表面124中之一者延伸。因此，第一自由空間傳播路徑延伸穿過填充材料119。可能需要光學透明填充材料119在尺寸上穩定以便維持光纖112之端面與反射表面124之間的對準。光學透明填充材料119可為折射率匹配材料，使得光纖端面及光學塊體110之第二表面處的光學反射足夠低或經最小化。舉例而言，光學透明填充材料119可具有介於光纖112之折射率與光學塊體110之折射率之間的折射率。光學透明填充材料119經組態以將第一自由空間光傳播路徑與其周圍環境隔離。因此，若第一空腔155未經液體密封，則光學透明填充材料119防止進入第一空腔155之液體干擾光在第一空腔155中之自由空間傳播。因此，光學信號可經由填充劑119選擇性地傳播至傳輸器中之光纖112，且自接收器中之光纖112傳播。

因此，應認識到，在一些實例中，當光學收發器100浸沒於液體中時，第一空腔155可相對於液體未密封。另外，如下文將更詳細地描述，在一些實例中，第一空腔155可相對於第一空腔155與組件空腔162之間的流體流動與組件空腔162隔離。因此，防止第一空腔155中之液體自第一空腔流動至組件空腔162。

雖然應瞭解，當反射表面124為金屬時，光學透明填充材料119可具有特定效用，然而，當反射表面界定TIR表面且第一空腔155經密封時，光學收發器可能需要包括光學透明填充材料119。另外，雖然當反射表面124為金屬時第一空腔155可未密封，但應認識到，當反射表面為金屬時，第一空腔155亦可以本文中所描述之方式密封。

為了使穿過收發器100之光傳播不受浸沒於液體中影響，特別是當液體不光學透明時，進一步防止液體干擾組件空腔162中之第二自由空間光傳播路徑。在一個實例中，光學收發器100可界定防液體滲透的組件空腔密封件，該組件空腔密封件防止液體在光學收發器100浸沒於液體中時進入組件空腔162。因此，防止液體進入組件空腔162，且因此防止液體進入第二自由空間光傳播路徑，從而與周圍環境密封隔離第二自由空間光傳播路徑，使得防止光學塊體110外部之環境污染物到達第二自由空間光傳播路徑。密封光學收發器100經組態以在光學收發器100浸沒於液體中時達成液體與光傳播路徑之隔離。舉例而言，如下文更詳細地描述，收發器100可界定豎板108與基板102之間的第一防液體滲透密封件及光學塊體110與豎板108之間的第二防液體滲透密封件，從而防止液體經由基板102與豎板108之間的第一間隙及豎板108與光學塊體110之間的第二間隙兩者行進至組件空腔162中且因此行進至第二自由空間光傳播路徑中。

在一個態樣中，光學塊體110界定自組件空腔162及第一空腔155延伸之導管159。導管159將組件空腔162及第一空腔155置放成彼此流體連通。因此，導管159提供用於組件空腔162與第一空腔155之間的氣體交換之路徑。導管159亦允許組件空腔162經由開口153排放至周圍大氣。組件空腔162、第一空腔155及導管159可被認為形成連續的環境隔離之體積161，氣體可在組件空腔162、第一空腔155及導管159之間自由交換。可使用製造連續組件空腔162及第一空腔155之任何方法。

收發器100可包括閉合構件156，該閉合構件緊固至光學塊體110以便相對於開口153密封第一空腔155。閉合構件156可經組態為跨越第一空腔延伸以便閉合及密封第一空腔155之板157。特定言之，板157可在光學塊體110之外部表面處將開口153閉合至第一空腔155。因此，當第一空腔155及組件空腔162彼此流體連通時，閉合構件156、基板102與光學塊體之間的密封件及光學塊體110與豎板108之間的密封件可組合以界定防液體滲透的組件空腔密封件。

在最終組裝步驟中，將閉合構件156密封至光學塊體110。因此，在光學收發器100之製造期間產生的氣體可自組件空腔162行進穿過導管159，且經由開口153行進出第一空腔155。舉例而言，可出現黏著劑或諸如基板102及光學塊體110之組件中之任一者中的水蒸氣或化學組分或溶劑之除氣。一旦氣體已經由組件空腔162抽空光學收發器，導管159及第一空腔155、開口153便可由閉合構件156密封。閉合構件156經組態以將反射表面124與周圍環境隔離。亦即，若密封光學收發器100浸沒於液體中，則閉合構件156將保持反射表面124不受液體污染。特定言之，閉合構件156將防止液體在光學收發器100浸沒於液體中時經由開口153進入第一空腔155。雖然在一個實例中閉合構件156可經組態為板157，但閉合構件156可替代地視需要以任何適合方式組態。

現參考圖7，應認識到，導管159無需將組件空腔162置放成與第一空腔155流體連通。因此，第一空腔155及組件空腔162可相對於其間之流體流動彼此隔離。實情為，導管159可自組件空腔162延伸至對周圍環境敞開之光學塊體110的外部表面。外部表面可由光學塊體110之頂表面或任何其他適合外部表面界定。導管159可對光學塊體110之外部表面敞開，從而將組件空腔162置放成與周圍環境流體連通而不穿過第一空腔155。因此，在光學收發器100之製造期間，產生之氣體可自組件空腔162行進穿過導管159，且行進出光學塊體110。

無論導管159在光學塊體之外部表面處終止抑或在第一空腔155處終止，可認為導管159與周圍環境流體連通。一旦氣體已經由導管159抽空光學收發器100，導管159便可藉由防液體滲透的密封件與周圍環境密封隔離。特定言之，導管159可在光學塊體110之外部表面處由導管閉合構件163密封。導管閉合構件163經組態以將導管159及因此組件空腔162與周圍環境隔離。因此，當密封光學收發器100浸沒於液體中時，導管閉合構件163將保持在組件空腔162中出現之自由空間傳播不受液體污染。特定言之，導管閉合構件163將防止液體在光學收發器100浸沒於液體中時進入導管159及因此組件空腔162。雖然在一個實例中導管閉合構件163可經組態為板，但導管閉合構件163可替代地視需要以任何適合方式組態。

如上文所描述，密封光學收發器100在收發器100浸沒於液體中時與液體進一步密封隔離組件空腔162。特定言之，收發器100可界定豎板108與基板102之間的第一防液體滲透密封件。收發器100可進一步界定光學塊體110與豎板108之間的第二防液體滲透密封件。第一密封件及第二密封件至少在以下限度內為防液體滲透的：當收發器100浸沒於液體中時，第一密封件防止液體進入豎板108與基板102之間，且第二密封件防止液體進入光學塊體110與豎板108之間。

豎板108與基板102之間的第一密封件可由焊料及黏著劑中之至少一者或兩者界定。圖3A至圖3C展示安裝至光學接收器300之基板102的豎板108之影像。圖3A展示豎板108之頂表面。豎板108之底表面可密封至基板102之頂表面。可經組態為轉阻放大器（transimpedance amplifier；TIA）174之電流至電壓轉換器可安置於豎板108之豎板孔170中。豎板孔170可為豎板108之中心孔。TIA 174可藉由線接合或任何適合的替代電連接與基板102之電性信號跡線電連通。類似地，TIA 174可藉由線接合或任何適合的替代電連接與光偵測器陣列104a電連通。光偵測器陣列104a可由豎板108支撐。舉例而言，在一個實例中，光偵測器陣列104a可以黏著方式附接至豎板108。

豎板108之底表面之至少一部分可焊接至基板102之頂表面以便在焊接區處界定焊接點。因此，光學收發器100可提供自光偵測器陣列104a至基板102之連續的低熱阻抗熱傳遞路徑以促進熱移除。焊接區可包圍豎板孔170之至少一部分，諸如大部分豎板孔170直至整個豎板孔170。焊接點之完整性可使用x射線或任何適合檢查來評定。

基板102界定被界定為其中基板102之電性信號跡線通過豎板108下方之位置的橋接區172。光學收發器100可界定豎板108與基板102之間的豎板間隙107，該基板可填充有適合黏著劑，諸如低黏度黏著劑109。在一些實例中，黏著劑109可為環氧樹脂。可能需要使環氧樹脂對於惡劣環境具有彈性，且進一步具有低介電常數以免阻礙光學收發器100之高速效能。如圖3C中所展示，當光學收發器100浸沒於液體中時，黏著劑109可相對於液體密封橋接區172。特定言之，黏著劑109可在鄰近橋接區172處施加至基板102之頂表面及豎板108之底表面中的至少一者。豎板108可接著安裝至豎板108，且黏著劑109可固化以便在橋接區172處界定防液體滲透的密封件。因此，防止液體在收發器100浸沒於液體中時穿透密封件且流動至豎板108與基板102之間的橋接區172中。

可沿將頂表面與底表面分離之垂直方向界定豎板間隙107。黏著劑109可視需要以任何適合方式引入至間隙107中。舉例而言，在一個實例中，可使用毛細管作用以將黏著劑抽吸至間隙107中。另外，如圖3B中所展示，黏著劑109可連續地且不間斷地圍繞豎板孔170延伸。在將黏著劑引入至間隙107中之後，可固化黏著劑109。替代地，基板102上之電跡線可埋入基板102之頂表面下方，且連續密封件可圍繞豎板108之豎板孔170形成。舉例而言，焊接點可圍繞豎板孔170形成，該焊接點將豎板108接合至基板102。因此，可認為豎板108可安裝至基板102，使得防液體滲透的密封件在基板102與豎板108之間的間隙107中包圍豎板孔170。因此，當光學收發器100浸沒於液體中時，防止液體穿透防液體滲透的密封件且流動至間隙107中。

如上文所描述，以本文中關於接收器所描述之方式，收發器之傳輸器可為防液體滲透的。特定言之，對於傳輸器，TIA 174由光源驅動器替換，且光偵測器陣列104a由光源替換。舉例而言，光源可由雷射陣列界定，且光源驅動器可經組態為雷射驅動器。在光學收發器100中，光偵測器陣列及雷射陣列皆存在，如同雷射驅動器及TIA一般。此等組件之大小可按比例調整，使得雷射驅動器及TIA兩者裝配於豎板108之豎板孔170內。光偵測器陣列及雷射陣列兩者可按比例調整，使得其兩者可安裝成鄰近豎板中心孔170。替代地，可放大豎板中心孔170，使得光偵測器陣列及雷射陣列兩者裝配於豎板108之豎板孔170內，使得豎板孔170容納用於傳輸器及接收器兩者之組件。在另其他具體實例中，豎板108可界定第一豎板孔及第二豎板孔。雷射驅動器可安置於第一豎板孔中，且TIA可安置於第二豎板孔中。

現參考圖4A至圖4B，光學塊體110可安裝至豎板108。舉例而言，光學塊體110可密封至豎板108。特定言之，黏著劑180可施加至豎板108之頂表面或光學塊體110之底表面中的任一者或兩者，該底表面面向豎板108之頂表面。黏著劑180包圍豎板108之豎板孔170。在一個實例中，黏著劑作為黏著劑180之連續不間斷墊圈施加至豎板108之頂表面，該墊圈包圍豎板孔170之整個周邊。光學塊體110可安裝於豎板108之頂表面上，使得黏著劑焊珠180安置於光學塊體110與豎板108之間，從而界定將光學塊體附接至豎板108之密封界面。在一個實例中，在黏著劑焊珠180已施加至豎板108之頂表面之後，光學塊體110可定位於黏著劑焊珠上。

光學塊體110可根據用以組裝現有光學收發器之習知自動技術與豎板108對準。一旦光學塊體110恰當地與豎板108對準且定位於豎板108上，便可固化黏著劑焊珠180，從而固定光學塊體110相對於豎板108之位置。黏著劑焊珠180可使用任何已知方法固化，諸如紫外線光固化、熱固化、時間固化或其任何組合。在黏著劑焊珠180中使用之黏著劑可具有相對高的黏度，使得其將適應且符合光學塊體110與豎板108之間由光學塊體110之光學對準產生的不同間隙大小。在一些實例中，黏著劑可為環氧樹脂。可能需要黏著劑焊珠180在固化之後在尺寸上穩定，從而防止光學塊體相對於豎板108及電光組件104實質性移動。亦可能需要使黏著劑焊珠180對於惡劣環境具有彈性。因此，可認為光學塊體110可安裝至豎板108，使得防液體滲透的密封件安置於光學塊體110與豎板108之間的間隙中且亦包圍組件空腔162。因此，當收發器100浸沒於液體中時，防止液體穿透密封件且流動通過光學塊體110與豎板108之間的間隙且進入組件空腔162中。沿光學塊體110整個周邊的過量黏著劑可能為明顯的，此指示黏著劑界定連續且不間斷的密封件。

如上文所描述，光學塊體110進一步界定自第一空腔155延伸至組件空腔162之至少一個導管159。在一個實例中，至少一個導管自光學塊體110之頂表面延伸至光學塊體110之底表面。因此，導管159之頂端對第一空腔155敞開（參見圖2），且導管159之底端對組件空腔162敞開。因此，導管159提供自組件空腔162至第一空腔155之連續通道。另外，如上文所描述，第一空腔155在收發器100之組裝期間對周圍環境敞開。第一空腔155可由光學塊體110之頂表面界定。因此，至少一個導管159可類似地延伸穿過光學塊體110之頂表面。另外，組件空腔162可由光學塊體110之底表面界定。因此，至少一個導管159可延伸穿過光學塊體110之底表面。組件空腔162藉由黏著劑焊珠180以上文所描述之方式相對於豎板108密封。

因此，一旦光學塊體110已緊固至豎板108，組件空腔162便可經由導管159與第一空腔155與周圍環境之壓力平衡。此避免在對準光學塊體110及將光學塊體110緊固至豎板108之步驟期間在組件空腔162中截留氣體。經截留氣體可以其他方式引起組件空腔162與周圍環境之間的壓差，此可導致未對準且損害豎板108與光學塊體110之間的密封。至少一個導管159可視需要藉由雷射機械加工或任何適合替代方法來製造。至少一個導管159安置於光學塊體110之位置處，使得該導管不干擾穿過光學塊體110之光傳播路徑中之任一者。在一個實例中，至少一個導管159可包括一對導管159。導管可經定位以使得光纖112相對於配置光纖112所沿之列方向安置於導管159之間。亦即，光纖112可沿列方向配置成彼此鄰近。導管159中之每一者可相對於列方向安置於光纖112之外側。然而，應理解，導管159可替代地視需要定位。在一個實例中，導管159之形狀可為圓柱形。然而，導管159可視需要界定任何適合替代形狀。

現參考圖5，且如上文所描述，可相對於流體流動密封至少一個導管159之上端。特定言之，至少一個閉合構件156可在第一空腔155之開口153上方延伸，從而將至少一個導管159與周圍環境隔離。在一個實例中，閉合構件156可經組態為緊固至光學塊體110之頂表面的板157。閉合構件156可在第一空腔155之至少一部分上方延伸。因此，閉合構件156可將收發器光學路徑150（參見圖2）與存在於周圍環境中之污染物或液體隔離。在一個實例中，閉合構件156可具有實質上等於光學塊體之膨脹係數（例如，在25%內）的膨脹係數，從而避免光學收發器100之製造期間的彎曲。舉例而言，光學塊體110及板157兩者可由Ultem™材料製成，該材料為由在俄亥俄州曼圖亞有營業所之Aetna Plastics市售的聚醚醯亞胺。閉合構件156覆蓋開口153且將其密封至第一空腔155。就此而言，閉合構件156將第一空腔155及組件空腔162及至少一個導管159與收發器100之周圍環境隔離。

在一個實例中，黏著劑190可將閉合構件156緊固至光學塊體110之頂表面。黏著劑190可施加至光學塊體110之頂表面及閉合構件156之底表面中的任一者或兩者，該底表面面向光學塊體110之頂表面。黏著劑190可作為包圍第一空腔155之開口的連續不間斷墊圈而施加。開口可由光學塊體110之頂表面界定。閉合構件156可接著安裝至光學塊體110之頂表面上，使得黏著劑190經組態以將閉合構件156緊固至光學塊體110。在閉合構件156已安裝至光學塊體110之後，未固化黏著劑190可藉由任何已知方法固化，諸如先前所描述之彼等方法。在一些實例中，黏著劑190可為環氧樹脂。可能需要環氧樹脂在固化之後在尺寸上穩定且在惡劣環境中有彈性。

亦再次參考圖2，當閉合構件156已安裝至光學塊體110且光學塊體110已安裝至豎板108時，第一空腔155、組件空腔162及至少一個導管159界定密封的防液體滲透圍封體積161。閉合構件156可足夠薄以使得為可撓性的。因此，閉合構件156可視需要選擇性地向上或向下彎曲以便使密封連續體積161內之壓力與周圍環境之壓力平衡。限制圍封連續體積161與周圍環境之間的壓差降低了光學塊體110之運動風險，此可造成光學路徑150之未對準。舉例而言，閉合構件156可實質上為0.005''厚，但可使用更薄及更厚的閉合構件。此類薄板可回應於密封連續體積161與周圍環境之間的可能壓差而具可撓性及彎曲或稍微偏移位置，以使彼差最小化。最小化密封連續體積161與周圍環境之間的壓差降低了電光元件104與光纖112之間的光學路徑之可能未對準的風險。在一個實例中，閉合構件156可經組態為板157。在一個實例中，具有長方體形狀之板157可具有實質上平坦的頂表面及底表面。然而，應認識到，閉合構件156可視需要界定任何適合大小及形狀。閉合構件156可安裝至光學塊體110，使得光學塊體110與密封部件之間的間隙具有包圍第一空腔155之防滲透密封件。雖然在一個實例中閉合構件156藉由黏著劑緊固至光學塊體，但應瞭解，閉合構件156可視需要根據任何適合替代方法緊固至光學塊體110。

如上文所描述，第二自由空間光傳播路徑可藉由相對於豎板108密封光學塊體110及相對於基板102密封豎板108來密封。另外，當導管59將組件空腔162與第一空腔155接合時，第二自由空間光傳播路徑可藉由密封第一空腔155來密封。替代地或另外，第二自由空間光傳播路徑可藉由將黏著劑置放於組件空腔162中來密封，使得黏著劑自電光元件延伸至光學塊體110之第一表面。黏著劑可為環氧樹脂。可能需要環氧樹脂為密封自光學塊體110之第一表面延伸至電光元件104之間隙的光學透明環氧樹脂或黏著劑。因此，第二自由空間傳播路徑延伸穿過黏著劑。光學透明填充材料可為折射率匹配材料，使得電光元件104及光學塊體110之第一表面處的光學反射足夠低或經最小化。舉例而言，光學透明填充材料可具有介於電光元件104之折射率與光學塊體110之折射率之間的折射率。光學透明填充材料經組態以將第二自由空間光傳播路徑與其周圍環境隔離。因此，若組件空腔162未經液體密封，則光學透明填充材料防止進入組件空腔162之液體干擾光在組件空腔162中之自由空間傳播。因此，光學信號可經由填充材料選擇性地自傳輸器中之電光元件傳播至光學耦合器110之第一表面，且自光學耦合器110之第一表面傳播至接收器中之電光元件104。

現參考圖6，密封光學收發器100可浸沒於安置於容器200中之液體201中。液體201可為經組態以自光學收發器100移除足夠的熱以防止光學收發器100在正常操作期間過熱之冷卻劑液體。液體201可經組態為可購自在聖保羅明尼蘇達州有營業所之3M公司的FC-43液體。當然，液體201可視需要為任何適合替代液體。光纖帶狀纜線116可在MT套圈處終止，該MT套圈亦可浸沒於液體201中且仍根據規範起作用。替代地，光纖帶狀纜線116可在經引導遠離光學塊體110時自液體顯現。

應瞭解，在一些實例中，光學路徑150與液體201密封隔離，儘管光學塊體110不是囊封水密性外殼亦如此。因此，液體201能夠流動至接觸塊體110的至少外部表面且接觸該外部表面。在一些實例中，光學收發器100之密封件防止液體201進入第一空腔155及組件空腔162。替代地，在上文所描述之一些實例中，液體201可進一步能夠流動至第一空腔155中。替代地或另外，液體201可能夠流動至組件空腔162中。在所有實例中，可防止液體流動至光學路徑150中，從而影響沿光學路徑150行進之光的自由空間傳播。

已觀察到，光學收發器100可經受在液體201中2000個小時之連續浸沒而無密封光學收發器100之任何顯著效能降級。另外，光學收發器100已通過達60 PSI之過壓的以下標準測試，由此光學收發器100被置放於經加壓至60 PSI之壓力腔室中以被動地評估本文中所描述之密封件的完整性。另外，光學收發器100藉由施加主動壓力而在35 PSI下受測試。換言之，收發器100被置放於經加壓至35 PSI之壓力腔室中，且收發器100經啟動且在經加壓腔室中經歷正常操作。已進一步發現光學收發器達成足夠的射頻（radio frequency；RF）及光學效能。光學收發器100進一步經組態以儲存於範圍可低至-55℃之低溫下。另外，在自-45℃至85℃之100個溫度循環之過程內，光學收發器100之操作不受影響。

雖然密封光學收發器100可在操作期間浸沒於液體中，但這不是必需的。密封光學收發器100可藉由在附接鰭片散熱片上方流動之強制空氣冷卻。替代地，光學收發器可藉由使其與經流體冷卻之冷硬板接觸來冷卻。密封光學收發器100之優點為其對可能存在於周圍環境中之污染物不敏感。此類污染物包括但不限於粉塵及鹽水噴霧。

在一些應用中，密封光學收發器100可塗佈有保形層以提供額外環境隔離。舉例而言，可存在於基板102上之電性組件及/或電性信號線可藉由保形塗佈與周圍環境隔離。密封光學收發器100之電接觸區域可保持暴露，使得可對密封光學收發器100進行電連接。大體而言，保形塗佈覆蓋物將覆蓋光學互連元件之大部分暴露表面區域。密封收發器100之優點為其光學路徑150在不使用昂貴金屬外殼或電饋通件之情況下與環境污染隔離。在某些實例中，保形塗佈覆蓋物可為胺甲酸乙酯。

在其他應用中，已發現，可將非導電潤滑劑施加至光學收發器之暴露或未密封金屬結構，諸如電接觸墊105，以便從而界定非導電保護塗層。潤滑劑可為觸變性的，使得互補電性組件可與電接觸墊105配合，從而在互補電性組件與電接觸墊之間建立電連接。因為光學塊體110相對於液體入口密封，所以可藉由將光學收發器浸沒於潤滑劑浴液中來施加潤滑劑。因為光學塊體110為防液體滲透的，所以潤滑劑僅施加至光學塊體110及光學收發器100之外部表面。替代地，潤滑劑可噴塗至實質性整個光學收發器100或光學塊體110上。當然，應瞭解，潤滑劑可視需要以任何適合方式施加。另外，潤滑劑可替代地選擇性地施加至待用潤滑劑塗佈之所要結構。潤滑劑可為抗腐蝕的以便防止塗佈有潤滑劑之金屬表面在鹽噴霧、霧及諸如95%濕度之高濕度存在下腐蝕。另外，潤滑劑可防止真菌在塗佈有潤滑劑之底層結構上生長。

應注意，諸圖中所展示之具體實例之說明及論述係僅出於例示性目的，且不應被視為限制本發明。所屬技術領域中具有知識者將瞭解，本發明涵蓋各種具體實例。另外，應理解，上文關於上述具體實例所描述的概念可單獨地或與其他上述具體實例中之任一者組合地使用。應進一步瞭解，上文關於一個所說明具體實例所描述之各種替代性具體實例可應用至如本文中所描述之所有具體實例，除非以其他方式指示。諸如頂部、底部、上部及下部之各種定向術語理解為相對於收發器之典型定向，其中收發器基板擱置於水平表面上。

100:密封光學收發器/光學收發器/收發器 102:基板 104:電光元件/電光組件 104a:光偵測器陣列/陣列 105:電接觸墊 107:豎板間隙/間隙 108:豎板 109:黏著劑 110:光學塊體/光學耦合器/接觸塊體 111:光纖終端間隙 112:光纖 116:光纖帶狀纜線 118:填充材料 119:光學透明填充材料/填充材料/填充劑 124:反射表面 150:光學路徑 151:第一區段 152:第二區段 153:開口 155:第一空腔 156:閉合構件 157:板 159:導管 161:密封連續體積/圍封體積/圍封連續體積/體積 162:組件空腔/第二空腔 163:導管閉合構件 170:豎板孔/豎板中心孔 172:橋接區 174:轉阻放大器/TIA 180:黏著劑/黏著劑焊珠 190:黏著劑 200:容器 201:液體 203:控制器 300:光學接收器

以下詳細描述在結合附圖閱讀時將得到更好理解，出於說明之目的而在圖式中展示實例具體實例。然而，應理解本發明並不限於所展示之精確配置及工具。在圖式中：

[圖1]為根據一個具體實例之密封光學收發器的透視圖；

[圖2]為圖1中所說明之密封光學收發器的橫截面圖；

[圖3A]為圖2中所說明之密封光學收發器之經部分組裝光學接收器的俯視平面圖，其展示安裝至基板之豎板（riser）；

[圖3B]為圖3A中所說明之經部分組裝光學接收器之一部分的截面側視圖，其展示密封至基板之豎板；

[圖3C]為展示經組態以密封基板與豎板之間的間隙之黏著劑之基板的俯視平面圖；

[圖4A]展示施加至圖3A中所說明之密封光學接收器之豎板的黏著劑焊珠（adhesive bead）；

[圖4B]展示在已固化黏著劑焊珠之後展示的密封至圖4A中所說明之豎板之光學塊體接收器的光學塊體；

[圖5]展示圖3A中所說明之密封光學接收器的第一空腔密封件；

[圖6]展示在操作中浸沒於安置於容器中之液體中的密封光學收發器；且

[圖7]為類似於圖2之收發器的橫截面圖，但係根據替代具體實例建構。

100:密封光學收發器/光學收發器/收發器

102:基板

104:電光元件/電光組件

108:豎板

109:黏著劑

110:光學塊體/光學耦合器/接觸塊體

111:光纖終端間隙

112:光纖

116:光纖帶狀纜線

118:填充材料

124:反射表面

150:光學路徑

151:第一區段

152:第二區段

153:開口

155:第一空腔

156:閉合構件

157:板

159:導管

161:密封連續體積/圍封體積/圍封連續體積/體積

162:組件空腔/第二空腔

170:豎板孔/豎板中心孔

174:轉阻放大器/TIA

180:黏著劑/黏著劑焊珠

190:黏著劑

Claims (47)

1. 一種光學互連元件，其包含： 光學塊體，其具有內部光傳播路徑； 電光元件；及 組件空腔，其中自由空間光傳播路徑延伸穿過該組件空腔且與該光學塊體中之該內部光傳播路徑和該電光元件光學對準，且該自由空間光傳播路徑與周圍環境密封隔離，使得防止該光學互連元件外部之環境污染物到達第二光傳播路徑。
2. 如請求項1之光學互連元件，其中該光學塊體包括重導向該光學塊體中之第一光傳播路徑的反射表面。
3. 如請求項1或2之光學互連元件，其中該光學塊體包括鄰近該反射表面之第一空腔，且閉合構件安裝至該光學塊體，使得該光學塊體與該閉合構件之間的間隙具有包圍該第一空腔之防滲透密封件。
4. 如請求項3之光學互連元件，其中該閉合構件為可撓性板，該可撓性板經組態以回應於該周圍環境與該第一空腔之間的壓差而彎曲以便減小該周圍環境與該第一空腔之間的該壓差。
5. 如請求項3或4之光學互連元件，其中該光學塊體包含將該組件空腔置放成與該周圍環境流體連通之導管。
6. 如請求項5之光學互連元件，其中該導管將該組件空腔及該第一空腔置放成彼此流體連通，使得該導管、該組件空腔及該第一空腔組合以界定密封、防液體滲透的圍封體積。
7. 如請求項5之光學互連元件，其中該導管將該組件空腔置放成與該周圍環境流體連通而不穿過該第一空腔。
8. 如請求項1至7中任一項之光學互連元件，其進一步包含： 基板； 豎板(riser)，其安裝於該基板上，該豎板具有豎板孔，其中該電光元件鄰近中心的該豎板孔安裝於該豎板上；及 密封件，其在該豎板與該基板之間延伸，其中該密封件包圍該豎板孔以便防止環境液體經由該間隙進入該豎板孔。
9. 如請求項8之光學互連元件，其中該光學塊體安裝至該豎板，且該光學塊體與該豎板之間的間隙具有包圍該組件空腔之防滲透密封件。
10. 如請求項1至9中任一項之光學互連元件，其中該電光元件具有覆蓋該光學互連元件之大部分暴露表面區域的保形塗佈物。
11. 如請求項1至10中任一項之光學互連元件，其中該光學互連元件包含光學收發器、光學傳輸器及光學接收器中之至少一者。
12. 如請求項1至11中任一項之光學互連元件，其中該電光元件為雷射二極體陣列或光偵測器陣列。
13. 如請求項1至12中任一項之光學互連元件，其中該光學互連元件進一步包含塗佈該光學互連元件之外部金屬結構的抗腐蝕潤滑劑。
14. 一種操作如請求項1至13中任一項之互連元件的方法，該方法包含以下步驟： 將該互連元件浸沒於液體中； 使光沿該內部光傳播路徑及該自由空間光傳播路徑行進；及 防止該液體行進至該自由空間光傳播路徑中。
15. 如請求項14之方法，該方法進一步包含以下步驟： 使該互連元件經受鹽噴霧； 防止外部金屬表面在該鹽噴霧之存在下腐蝕。
16. 如請求項15之方法，其中該外部金屬表面塗佈有抗腐蝕潤滑劑。
17. 如請求項16之方法，其中該抗腐蝕潤滑劑為非導電的。
18. 如請求項15至17中任一項之方法，其中該外部金屬表面包含電接觸墊。
19. 一種組裝具有包括第一空腔之光學塊體之光學互連元件的方法，該方法包含以下步驟： 將電光元件安裝至豎板； 將該豎板安裝至基板； 將該光學塊體安裝至該豎板； 將閉合構件安裝至該光學塊體，其中該光學塊體與該閉合構件之間的間隙具有包圍該第一空腔之防滲透密封件。
20. 如請求項19之方法，其中該光學塊體與該豎板之間的間隙具有包圍組件空腔之防滲透密封件。
21. 如請求項19或20之方法，其中該豎板與該基板之間的間隙具有包圍中心的豎板孔之防滲透密封件。
22. 如請求項19至21中任一項之方法，其進一步包含施加覆蓋該光學互連元件之大部分暴露表面區域之保形塗佈物的步驟。
23. 如請求項19至22中任一項之方法，其中在該光學塊體已安裝至該豎板之後安裝該閉合構件，使得安裝該閉合構件不干擾該光學塊體之光學對準。
24. 如請求項19至23中任一項之方法，其中該光學互連元件係選自包含光學收發器、光學傳輸器及光學接收器之群組。
25. 如請求項19至24中任一項之方法，其中該電光元件為雷射二極體陣列或光偵測器陣列。
26. 一種光學互連元件，其包含： 光學塊體，其具有第一空腔；及 閉合構件，其中該光學塊體與該閉合構件之間的間隙具有包圍該第一空腔之防滲透密封件。
27. 如請求項26之光學互連元件，其中該光學塊體具有由鄰近該第一空腔之反射表面重導向的第一光傳播區段。
28. 如請求項27之光學互連元件，其中該反射表面包含全內反射(TIR)表面。
29. 如請求項27之光學互連元件，其中該反射表面包含金屬表面。
30. 如請求項26至29中任一項之光學互連元件，其進一步包含延伸穿過該光學塊體中之組件空腔且與該第一光傳播路徑光學對準的第二光傳播區段。
31. 如請求項30之光學互連元件，其中該第二光傳播區段界定與環境污染物隔離之自由空間光傳播路徑。
32. 如請求項31之光學互連元件，其中該自由空間光傳播路徑安置於與周圍環境密封隔離之組件空腔中。
33. 一種光學互連元件，其包含： 光學塊體； 光纖，其延伸穿過該光學塊體之開口且進入第一空腔中； 電光組件，其相對於該光學塊體受支撐，其中光經歷沿光學路徑之至少一部分的自由空間傳播，該光學路徑在該光纖之端面與該電光組件之間延伸， 其中當該光學互連元件浸沒於液體中時，該液體接觸該光學塊體之外部表面且防止該液體流動至該光學路徑中。
34. 如請求項33之光學互連元件，其中該光學互連元件浸沒於該液體中。
35. 如請求項33或34之光學互連元件，其中該光學路徑界定該光學路徑之第一自由空間光傳播路徑，其中該第一自由空間光傳播路徑在該光纖之該端面與接觸塊體之間延伸。
36. 如請求項35之光學互連元件，其中該光纖之該端面安置於該光學塊體之第一空腔中，且防止該液體行進至該第一空腔中。
37. 如請求項35之光學互連元件，其中該光纖之該端面安置於該光學塊體之第一空腔中，且防止進入該第一空腔之該液體行進至該第一自由空間光傳播路徑中。
38. 如請求項33至37中任一項之光學互連元件，其中該光學路徑界定該光學路徑之第二自由空間光傳播路徑，其中該第一自由空間光傳播路徑在該光學塊體之表面與該電光元件之間延伸。
39. 如請求項38之光學互連元件，其中該光學塊體界定在該光學塊體之該表面與該電光元件之間延伸的第二空腔，該第二自由空間光傳播路徑延伸穿過該第二空腔，且防止該液體行進至該第一空腔中。
40. 如請求項38之光學互連元件，其中該光學塊體界定在該光學塊體之該表面與該電光元件之間延伸的第二空腔，該第二自由空間光傳播路徑延伸穿過該第二空腔，且防止進入該第一空腔之該液體行進至該第一自由空間光傳播路徑中。
41. 一種防止液體進入光學收發器之光學路徑的方法，該方法包含以下步驟： 將該光學收發器浸沒於液體中，其中該光學收發器包括安裝至豎板之光學塊體、安裝至該豎板之電光元件及延伸穿過該光學塊體之開口的光纖； 引導光以沿該電光元件與該光纖之端面之間的光學路徑行進，其中該光經歷沿該光學路徑之至少一部分的自由空間傳播， 防止該液體流動至該光學路徑中，其中該液體接觸該接觸塊體之外部表面。
42. 如請求項41之方法，其中該光纖之該端面安置於該光學塊體之第一空腔中，且該防止步驟包含防止該液體流動至該第一空腔中。
43. 如請求項41之方法，其中該光纖之該端面安置於該光學塊體之第一空腔中，且該防止步驟包含允許該液體流動至該第一空腔中及防止流動至該第一空腔中之該液體流動至該光學路徑之自由空間傳播路徑，其中該自由空間傳播路徑界定於該光纖之該端面與該光學塊體之間。
44. 如請求項41至43中任一項之方法，其中該光學塊體界定第二空腔，該光學路徑之第二自由空間光傳播路徑在該光學塊體與該電光元件之間延伸，且該防止步驟包含防止該液體流動至該第二空腔中。
45. 如請求項41至43中任一項之方法，其中該光學塊體界定第二空腔，該光學路徑之第二自由空間光傳播路徑在該光學塊體與該電光元件之間延伸，且該防止步驟包含允許該液體流動至該第二空腔中及防止流動至該第二空腔中之該液體流動至該第二自由空間光傳播路徑中。
46. 如請求項41之方法，其中該光學塊體密封至該豎板以便防止該液體穿透該密封件及流動至界定於該豎板與該光學塊體之間的間隙中。
47. 如請求項41或46之方法，其中該收發器進一步包括基板，該豎板安裝至該基板，且該豎板密封至該基板以便防止液體穿透該密封件及在該豎板與該基板之間流動。

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