TW202006394A - 測距方法及測距裝置 - Google Patents

Abstract

測距裝置係具有會接收朝測定對象所射出光線的反射成分之感光元件、用以進行增益不同的2種檢測來檢測感光元件中的感光之第1檢測部及第2檢測部、依據第1及第2檢測部中的檢測模式組合來計算測定距離之計算部(即距離值光量值演算處理部)。然後，第1及第2檢測部兩者會針對1次光射出來進行至少2次具有時間差之檢測而進行測距。

Description

測距方法及測距裝置

本發明係關於一種朝測定對象射出脈衝光等光線，並感光所射出之光線的反射成分，來進行到測定對象間之距離測定之測距方法及測距裝置。

作為以上述般方法來進行距離測定之技術已知有一種在例如日本專利公開第2011-21980號公報(稱作專利文獻1)中具有升壓電路與共振電路之技術。該專利文獻1中藉由併用不同的電路，並利用所檢測之反射光的光量差異等，則即便是發生霧等外部擾亂的情況，仍可測量到測定對象間之距離。

然而專利文獻1的情況，由於係依據預先設想之反射光的光量來設定升壓電路中的閾值等，故當例如測定對象為反射率非常低的物體，或是發生設想外的濃霧等外部擾亂之情況，則有可能無法確實地進行檢測。

因此，本發明之目的為提供一種即便是在測定對象為反射率低的物體或發生外部擾亂之情況下，仍可更確實地進行到測定對象間之距離測定之測距方法及測距裝置。

為達成上述目的，本發明之測距方法係藉由增益不同的第1檢測及第2檢測來接收朝測定對象所射出光線的反射成分，以測量到測定對象的距離，具有以下步驟：第1及第2檢測兩者中會針對1次光射出來進行至少2次具有時間差的檢測之步驟；以及依據第1及第2檢測的檢測模式組合來計算測定距離之步驟。

上述測距方法中，關於反射成分的感光而為增益不同的檢測方法之第1及第2檢測兩者中，係依據會針對1次光射出進行具有時間差之至少2次檢 測時的檢測模式組合來計算測定距離，藉此，則即便是例如測定對象為反射率低的物體之情況，或發生濃霧之情況，仍可確實地進行到測定對象間之距離測定。

本發明之具體面向中，第1檢測係基於接收等級的升壓之檢測，第2檢測係基於接收訊號的濾波訊號之檢測。此情況下，便可藉由接收等級的升壓來得知接收強度相對較大者，且藉由接收訊號的濾波訊號來得知接收強度相對較小者。

本發明之其他面向中，作為第1及第2檢測的檢測模式組合，在第2檢測中會進行至少2次感光確認且第1檢測中會進行1次感光確認的情況，係依據第1檢測中的感光確認或第2檢測中第2次之後的感光確認來計算測定距離。此情況下，便可依據感光確認結果來確實地進行到測定對象間之距離測定。

本發明之另一其他面向中，在第1檢測中的感光確認是在第2檢測中的2次感光確認之後的情況，係依據第1檢測中的感光確認來計算測定距離。此情況下，藉由基於第1檢測中的感光確認，便可確實地進行距離測定。

本發明之另一其他面向中，在第1檢測中的感光確認是在第2檢測中的2次感光確認之前的情況，係依據第2檢測中的第2次感光確認來計算測定距離。此情況下，此情況下，藉由基於第2檢測中的第2次感光確認，便可確實地進行距離測定。

本發明之另一其他面向中，在第1檢測中的感光確認是在第2檢測中的第1次感光確認與第2次感光確認之間的情況，會依據第1檢測中的感光確認與第2檢測中各次的感光確認之時間差，而在計算測定距離時，會決定是採用第1檢測中之感光確認及第2檢測中之第2次感光確認當中的何者。此情況下，藉由基於第1檢測方面中的感光確認與第2檢測方面中的感光確認之時間差，便可確實地進行距離測定。

本發明之另一其他面向中，在第2檢測中的第1次感光確認與第1檢測中的感光確認之時間差係大於第1檢測中的感光確認與第2檢測中的第2次感光確認之時間差的情況，會依據第1檢測中的感光確認來計算測定距 離，而若是小於的情況，則是依據第2檢測中的第2次感光確認來計算測定距離。此情況下，藉由基於第1檢測方面中的感光確認與第2檢測方面中的感光確認之時間差的大小關係，便可確實地進行距離測定。

本發明之另一其他面向中，第1檢測中，係將反射成分的接收等級達到閾值之時間點作為所感光之時間點，第2檢測中，係將反射成分之接收訊號的濾波訊號成為過零點之時間點作為所感光之時間點。此情況下，藉由基於第1檢測中之接收等級相關的閾值與第2檢測中成為過零點之時點(時間點)，便可確實地進行距離測定。

本發明之另一其他面向中，係依據從朝向測定對象射出光線時到第1檢測中的感光確認或第2檢測中的感光確認時之時間差來計算測定距離。藉由計算從光線射出時到感光確認時之時間中光線的前進距離，便可正確地進行距離測定。

為達成上述目的之測距裝置具有：感光元件，會接收朝測定對象所射出光線的反射成分；第1檢測部及第2檢測部，會進行增益不同的2種檢測來檢測感光元件中的感光；以及計算部，係依據第1及第2檢測部中的檢測模式組合來計算測定距離；第1及第2檢測部兩者會針對1次光射出來進行具有時間差之至少2次檢測。

上述測距裝置中，關於反射成分的感光會進行增益不同的2種檢測之第1檢測部及第2檢測部兩者中，藉由依據會針對1次光射出進行具有時間差之至少2次檢測時的檢測模式組合來計算測定距離，則即便是例如測定對象為反射率低的物體之情況，或發生濃霧之情況，仍可確實地進行到測定對象間之距離測定。

本發明之具體面向中，第1檢測部係依據接收等級的升壓來檢測感光元件中的感光，第2檢測部係依據接收訊號的濾波訊號來檢測感光元件中的感光。此情況下，依據感光確認結果，便可確實地進行到測定對象間之距離測定。

依據本發明，便可提供一種即便是在測定對象為反射率低的物體或發生外部擾亂之情況下，仍可更確實地進行到測定對象間之距離測定之測距方法及測距裝置。

1‧‧‧測距裝置

2‧‧‧2維掃描鏡

3‧‧‧雷射射光部

4‧‧‧雷射感光部

4a‧‧‧感光元件

5a‧‧‧反射鏡

5b‧‧‧射光/感光分離器

6‧‧‧射/感光窗

9‧‧‧測距計測部

9a‧‧‧測距部

9b‧‧‧距離值光量值演算處理部

10‧‧‧控制部

11‧‧‧掃描器驅動部

12‧‧‧濾波器

13‧‧‧掃描器控制部

21‧‧‧鏡子

31‧‧‧發光偵測部

DT1‧‧‧第1檢測部

DT2‧‧‧第2檢測部

E11‧‧‧第1回波檢測部

E12‧‧‧第2回波檢測部

E21‧‧‧第1回波檢測部

E22‧‧‧第2回波檢測部

IF‧‧‧外部介面

LC‧‧‧光量檢測電路

LCdA/D‧‧‧轉換電路

OB‧‧‧測定對象

RC1‧‧‧升壓測距電路

RC2‧‧‧共振測距電路

圖1係顯示本發明之實施型態相關之測距裝置一光學系統例之立體圖。

圖2係顯示測距裝置一構成例之方塊圖。

圖3係顯示測距計測部一構成例之方塊圖。

圖4係用以說明反射成分一檢測例之圖式。

圖5係用以說明反射成分的感光之概略波形圖。

圖6係例示反射成分的檢測模式之波形圖。

圖7係顯示反射成分的檢測模式相對應之第1及第2檢測部中之感光確認結果的樣態之時序圖。

圖8係顯示測距裝置對於第1及第2檢測部中的感光確認結果所進行之輸出選擇一處理動作例之流程圖。

以下，參閱圖式來針對本發明一實施型態相關之測距裝置以及使用該測距裝置之測距方法加以說明。本實施型態之測距裝置為一種例如確認行進中的列車前方等之情況下，在測量到人、貨物或汽車等測定對象間的距離時，即便是測距視野包含有霧、雨、雪等外部擾亂的情況仍可進行測定之裝置。此外，此處舉一典型的例子，係針對當發生霧的情況，到測定對象間之測距來加以說明。

如圖1所例示般，本實施型態之測距裝置1係構成為包含有2維掃描鏡(掃描器)2、雷射射光部3、雷射感光部4、射光/感光分離器5b、以及玻璃板等透明板所構成而能夠讓雷射光穿透的射/感光窗6。朝向測定對象OB之雷射光(脈衝雷射)的射光，以及來自測定對象OB之反射光的感光係透過射/感光窗6來進行。

測距裝置1會依據從雷射射光部3朝向測定對象OB之雷射光的放射時間點與雷射感光部4所感光之來自測定對象OB的反射光之感光時間點的時 間差，以及雷射光的傳遞速度，來計算到測定對象OB間之距離。亦即，測距裝置1為利用光脈衝飛行時間測量法之量測裝置。

接下來，參閱圖2及圖3之方塊圖來針對測距裝置1的一構成例加以說明。測距裝置1例如圖2所示，除了上述2維掃描鏡2等以外，係具有會控制各種動作之控制部10。控制部10雖會進行例如2維掃描鏡2的驅動控制等之各種驅動動作或各種訊號處理，但此處尤其是為了進行距離計算而具有測距計測部9。此外，有關測距計測部9的一具體構成例，將參閱圖3來敘述於後。

首先，圖2中，測距裝置1當中的雷射射光部3係構成為包含有例如雷射驅動器、雷射元件(半導體雷射)、透鏡等射光光學系統等，會發出雷射光(脈衝光)。此外，從雷射元件所發出之雷射光(射光光束)係透過射光光學系統而放射，並藉由反射鏡5a而朝向射光/感光分離器5b被反射，再透過射光/感光分離器5b而朝向2維掃描鏡2並在2維掃描鏡2被反射，藉此掃描測定對象OB(參閱圖1)的表面。

測距裝置1當中的2維掃描鏡2係構成為包含有例如框體狀的可動部，或成為連接於可動部來使其旋轉的旋轉軸之樑(扭力彈簧)等，鏡子21會2維地震動。來自雷射射光部3之雷射光係在會改變方向之鏡子21被反射，藉此對測定對象OB進行2維掃描。

進一步地，在測定對象OB被反射之反射雷射光會再次在2維掃描鏡2被反射。當中，在射光/感光分離器5b被反射的成分會被雷射感光部4感光。

雷射感光部4係構成為除了例如會接收朝測定對象OB所射出之雷射光的反射成分之感光元件(光電二極體)4a以外，亦包含有感光光學系統、前置放大器、A/D轉換器等，會使在射光/感光分離器5b被反射之雷射光的成分(反射成分)成為例如可被檢測之脈衝波的狀態，並輸出至控制部10的測距計測部9。

另一方面，雷射射光部3除了上述以外，係設置有會偵測所放射的雷射光之發光偵測部31。發光偵測部31係構成為包含有例如感光元件(光電二極體)，藉由接收所放射之雷射光(脈衝光)的一部分來計時放射時間點。 亦即，發光偵測部31會生成計時開始脈衝。進一步地，發光偵測部31會將所生成之計時開始脈衝輸出至控制部10的測距計測部9。

控制部10當中的測距計測部9係具有測距部9a與距離值光量值演算處理部9b。測距部9a會依據來自雷射射光部3之計時開始脈衝，以及來自雷射感光部4之被反射之雷射光的反射成分相關之脈衝波，來進行關於雷射光(脈衝光)之時間差或光量測量，距離值光量值演算處理部9b則是會依據測距部9a中之測量結果來計算到測定對象OB間的距離或光量值。亦即，距離值光量值演算處理部9b係具有會計算測定距離之計算部的功能。

此外，控制部10除了測距計測部9以外，係具有例如用以進行2維掃描鏡2的2維驅動之掃描器驅動部11、或用以捕捉2維掃描鏡2的掃描位置(姿勢)之濾波器12、以及進一步地對掃描器驅動部11傳送驅動訊號且從濾波器12接收關於掃描位置的訊號之掃描器控制部13。

又，控制部10可透過外部介面IF來傳送測距計測部9所計算之關於距離值或光量值的資訊，或是掃描器控制部13所取得之關於2維掃描鏡2的掃描位置之資訊。

接下來，參閱圖3之方塊圖來針對上述測距計測部9的一構成例更加詳細地說明。

如圖3所示，本實施型態中，測距計測部9的測距部9a係具有用以進行增益不同的2種檢測(第1檢測及第2檢測)來檢測雷射感光部4之感光元件(光電二極體)4a中的感光之第1檢測部DT1及第2檢測部DT2。測距計測部9會依據第1檢測部DT1及第2檢測部DT2中的檢測模式組合來生成計時停止脈衝。

又，作為計算部之距離值光量值演算處理部9b會由藉由來自雷射射光部3的計時開始脈衝與測距部9a中所生成的計時停止脈衝所求得之時間差來計算測定距離。

特別是本實施型態中，第1及第2檢測部DT1、DT2兩者會針對來自雷射射光部3的1次光射出來進行具有時間差之2次檢測。藉此，即便是例如測定對象OB為反射率低的物體之情況，或發生濃霧之情況，藉由可確實地生成計時停止脈衝，便可確實地進行至測定對象OB之距離測定。

以下，參閱圖3來針對測距計測部9當中具有第1及第2檢測部DT1、DT2之測距部9a的構成來更詳細地說明。

首先，測距部9a中的第1檢測部DT1為一種會針對感光元件4a中所感光之感光訊號，而依據接收等級的升壓來進行檢測之高接收等級用感光檢測部，係具有例如低增益放大器與比較器所構成之升壓測距電路RC1。另外，第1檢測部DT1會針對升壓測距電路RC1所檢測之接收訊號，而進行具有時間差之2次檢測來作為第1檢測，係具有第1回波檢測部E11與第2回波檢測部E12。此外，各回波檢測部E11、E12中會針對測量時間進行數位轉換，並將測量結果傳送至會計算測定距離之計算部(即距離值光量值演算處理部9b)。

另一方面，測距部9a中的第2檢測部DT2為一種會針對感光元件4a中所感光之感光訊號，而依據該接收訊號的濾波訊號來進行檢測之低接收等級用感光檢測部，係具有例如共振電路、高增益放大器及比較器所構成之共振測距電路RC2。另外，第2檢測部DT2會對共振測距電路RC2所檢測之接收訊號進行具有時間差之2次檢測來作為第2檢測，係具有第1回波檢測部E21與第2回波檢測部E22。此外，各回波檢測部E21、E22中會針對測量時間進行數位轉換，並將測量結果傳送至距離值光量值演算處理部9b。

接下來，針對各檢測部DT1、DT2中每1次檢測所進行之檢測方法一例來加以說明。此外，以下，各次檢測中若有檢測到接收(感光)的情況，則會以有感光確認等來表示。

首先，第1檢測部DT1如前述般為高接收等級用感光檢測部，係一種藉由檢測波形的升壓值來檢測感光時間點，並依據檢測結果來生成計時停止脈衝之升壓邊緣檢測方式。亦即，係預先設定升壓邊緣檢測方式中的閾值，並以低增益放大器來將從感光元件4a所輸入之脈衝波(輸出訊號)增幅，再以比較器來判定所增幅之波形訊號是否已達到閾值，藉此決定各次檢測中的感光確認．未確認。此外，此情況下，從感光元件4a所輸入之作為脈衝波之反射成分的接收等級達到閾值之時點(邊緣點)會成為所感光之時間點，亦即，生成計時停止脈衝之時間點。

另一方面，第2檢測部DT2如前述般為低接收等級用感光檢測部，係以所謂的過零檢測方式來檢測感光時間點，並依據檢測結果來生成計時停止脈衝。亦即，係以共振電路來使從感光元件4a所輸入之脈衝波(輸出訊號)所含的特定頻率成分共振(濾波)，而作為濾波訊號來選出，所選出之濾波訊號成為過零點之時點便會成為所感光之時間點，亦即，生成計時停止脈衝之時間點。

本實施型態的情況，各檢測部DT1、DT2中會針對雷射射光部3之1次光射出來分別進行2次上述般的檢測動作，因此，總計便會進行4次檢測處理，最多可進行4次感光確認，考慮到此時的檢測結果與檢測狀況，可從感光確認伴隨的計時停止脈衝當中來選擇適當的一個。

此外，測距計測部9除了上述各檢測部DT1、DT2以外，係具有會針對感光元件4a中的感光進行光量檢測之光量檢測電路LC，或使光量檢測電路LC中的檢測結果成為數位訊號並傳送至距離值光量值演算處理部9b之A/D轉換電路LCd等。

接下來，參閱圖4，舉一發生外部擾亂情況的例子，係針對當發生霧的情況中到測定對象間之測距的一實驗例來加以說明。圖4係用以說明關於反射成分的檢測樣態一例之圖式。此範例中，係例示在可產生霧之實驗室等中，將例如白色牆壁般之反射性高的物體設置在從例如本實施型態之測距裝置1或傳統測距裝置的設置位置要更為前方15m左右的位置來作為測定對象OB之狀況下，改變霧的濃度之情況的實驗結果。圖4中，橫軸表示距離或相當於距離之測距裝置中，為了測距而測定的時間差，縱軸表示相當於所感光之反射成分的接收強度之電壓值。此外，此範例中，電壓值變得愈負係意指捕獲到愈大的訊號接收。

圖4所示之各曲線C0~C3當中，曲線C0表示沒有霧的情況。此情況下，如圖示般，係成為僅在存在有測定對象OB之位置相對應的部位處具有大的波峰之波形，而藉由捕獲此波形來進行測定對象OB的位置檢測。此外，在成為曲線C0般之狀況下，使用本實施型態之測距裝置1的情況，關於各檢測部DT1、DT中的2次檢測，係皆僅進行各1次感光確認(單回波)。

另一方面，曲線C1係表示發生視野200m，亦即以肉眼可確認到前方200m之程度的霧之情況。同樣地，曲線C2係表示發生視野100m的霧之情況，曲線C3係表示發生視野50m的霧之情況。此外，發生視野50m左右的霧之情況，被認為會成為列車略為難以運行的狀態。

由圖式可明白得知，若霧的濃度愈增加，則存在有測定對象OB之位置相對應部位處的波峰便會變得愈低。亦即，接收強度變弱。另一方面，可得知隨著霧的濃度增加，較測定對象OB的位置要前方之位置處會發生具有別的波峰之波形。此被認為是反射至霧的成分被檢測出所伴隨的波形。因該霧而造成的波峰如圖示般，可得知若霧的濃度愈增加則變得愈大，但關於該波峰的位置(被檢測到的距離)，則是即便霧的濃度增加卻幾乎未改變。此外，在成為曲線C1~C3般之狀況下，使用本實施型態之測距裝置1的情況，關於各檢測部DT1、DT2中所分別進行之2次檢測，便會成為至少其中一者已進行2次感光確認(雙回波)。

此處，2次檢測中，當2次皆已進行感光確認之雙回波的情況，被認為在相對較早的時間被檢測出之第1次感光為因霧而產生的反射，而在相對較慢的時間被檢測出之第2次感光則為顯示作為目的之測定對象OB的位置之反射。因此，上述般之情況下，正確地掌握第2次的感光時間點便非常地重要。

另一方面，在關於測定對象OB之檢測中，若自測距裝置之距離愈遠離，則相對應之波形的波峰便會愈降低。又，即便是自測距裝置之距離為相同，當測定對象OB的反射性變得愈低，則波形的波峰便會愈降低。因此，考慮到檢測方式會依各種狀況而改變，必須要能夠對應於狀況來正確地判斷，因此預先掌握各檢測部DT1、DT2的特性亦非常重要。

接下來，參閱圖5來針對構成測距計測部9之各檢測部DT1、DT2的特性加以說明。圖5係用以說明反射成分的感光之概略圖。圖5中，例如波形α係概略顯示關於雷射射光部3之發光偵測部31所檢測雷射光(脈衝光)PL1的一範例之樣態。又，波形β係概略顯示關於第1檢測部DT1中所檢測接收訊號的一範例之樣態。另外，波形γ、δ係概略顯示第2檢測部DT2中所檢測接收訊號的一範例之樣態。此處，如圖所示，因例如霧的發生等， 相對於以波形α所示之1次光射出，會產生因霧所造成的反射(第1回波)EC1與測定對象所造成的反射(第2回波)EC2。

針對以上，首先如前述般，第1檢測部DT1為一種會檢測接收訊號的升壓值來作為感光時間點之高接收等級用感光檢測部，只有超過閾值的較大訊號會成為檢測對象。因此，有可能會發生例如圖5中所例示之波形β的情況般，縱使存在有第1回波EC1及第2回波EC2，但在第1檢測部DT1中並未被檢測到波峰低的第1回波EC1，而僅會檢測到波峰高的第2回波EC2。然而，以第1檢測部DT1來進行檢測的情況，由於會檢測到較大接收訊號的波形升壓，故已進行感光確認的情況，被認為可更正確地捕獲其感光時間點，亦即計時停止脈衝的生成時間點。

接下來，第2檢測部DT2如前述般，為一種依據共振電路來使特定頻率成分共振，亦即依據接收訊號的濾波訊號，來檢測會成為該訊號的過零點ZC之時點而作為感光時間點之低接收等級用感光檢測部。亦即，藉由利用共振，則在接收訊號較小的情況，仍可確實地捕獲該訊號。因此，例如圖5中的波形γ所示般，當存在有第1回波EC1及第2回波EC2的情況，便可針對該等兩者來進行檢測。然而，若接收訊號過大，則會有共振電路輸出飽和之虞。例如波形δ所例示情況中的第2回波EC2般，會使從虛線所示般本來欲捕獲的波形形狀崩壞，導致成為過零點ZC之時間點偏移，便有時間點的取得缺乏正確性之可能性。此外，圖示之情況，會有計時停止脈衝的生成時間點較實際而更為延遲之虞。

基於上述般之特性，本實施型態中，係分別以第1檢測部DT1及第2檢測部DT2來進行2次檢測，並由檢測結果來決定應將哪個計時停止脈衝或是對應於其之回波使用於設想距離的計算。

以下，參閱圖6，來針對設想會發生之幾種接收訊號(雷射光的反射成分)的波形模式加以說明。

此外，圖6當中，波形α係與圖5的情況同樣地概略顯示關於雷射射光部3的發光偵測部31所檢測之雷射光(脈衝光)PL1一範例之樣態。亦即，係顯示計時開始脈衝。其他波形A1、A2、B1、B2、X1、X2則是例示設想為實際上有可能會發生之接收訊號的波形，此處係以升壓邊緣檢測方式所 測得第1檢測部DT1中用以進行感光確認之閾值來作為升壓測距閾值，並以利用共振之過零檢測方式所測得第2檢測部DT2中用以進行感光確認之閾值來作為共振測距閾值而假設性地顯示。亦即，若具有各閾值以上的波峰波形，則是意指在分別對應於其之檢測部DT1、DT2中已進行感光確認。此情況下，高接收等級用之第1檢測部DT1相關的閾值(即升壓測距閾值)會高於低接收等級用之第2檢測部DT2相關的閾值(即共振測距閾值)。

以上的說明中，首先，如波形A1所例示般，作為感光元件4a中的接收訊號，有可能是僅存在有波峰較大的第1回波EC1之情況。作為典型例，即當沒有霧或非常地稀薄，而並未發生反射成分，且測定對象OB的反射率較高之狀況的情況便有可能會成為如此。

接下來，如波形A2所例示般，作為感光元件4a中的接收訊號，有可能是僅存在有波峰較小的第1回波EC1之情況。作為典型例，即當沒有霧或非常地稀薄，雖未產生反射成分，但測定對象OB的反射率較低之狀況的情況則有可能會成為如此。

接下來，如波形B1所例示般，作為感光元件4a中的接收訊號，有可能是存在有波峰較小的第1回波EC1與第2回波EC2之情況。作為典型例，即當具有某種程度的霧，且測定對象OB的反射率較低之狀況的情況則有可能會成為如此。

接下來，如波形B2所例示般，作為感光元件4a中的接收訊號，有可能是存在有波峰較大的第1回波EC1與第2回波EC2之情況。作為典型例，即當為某種程度以上較濃的霧，且測定對象OB的反射率亦較高之狀況的情況則有可能會成為如此。

接下來，如波形X1所例示般，作為感光元件4a中的接收訊號，有可能是存在有波峰較小的第1回波EC1與波峰較大的第2回波EC2之情況。作為典型例，即當具有某種程度的霧，且測定對象OB的反射率較高之狀況的情況則有可能會成為如此。

最後，如波形X2所例示般，作為感光元件4a中的接收訊號，有可能是存在有波峰較大的第1回波EC1與波峰較小的第2回波EC2之情況。作 為典型例，即當為某種程度以上較濃的霧，而測定對象OB的反射率較低之狀況的情況則有可能會成為如此。

此外，總結以上的結果，首先，關於霧，可能會是沒有霧的情況(亦即沒有因霧而產生的反射成分之情況)(第2回波EC2：無)、具有某種程度的反射成分之情況(第1回波EC1：小)、以及濃霧的情況(亦即霧因霧而產生的反射成分較多之情況(第1回波EC1：大)之3種型態。另一方面，關於測定對象，可能會是反射率較低的情況(第1回波EC1或第2回波EC2：小)與反射率較高的情況(第1回波EC1或第2回波EC2：大)之2種型態。由以上的結果設想了上述6個情況(樣態)。

以下，參閱圖7之時序圖，來針對上述般6個情況相對應之第1及第2檢測部DT1、DT2中的各2次檢測相關之感光確認狀況的樣態來加以考察。

圖7係顯示反射成分的檢測模式相對應之第1及第2檢測部DT1、DT2中的感光確認結果樣態，圖式中，時序圖T1~T4係分別對應於圖6所示上述6個情況當中之波形A1、A2、B1、B2的4個情況。另一方面，時序圖T5可對應於上述6個情況當中之波形X1、X2的2個情況。關於時序圖T5，雖係由設想為波形X1的狀況與設想為波形X2的狀況，來設想為成為時序圖T5a般的情況與成為時序圖T5b的般的情況，但有關該等情況將詳述於後。

此外，各時序圖T1~T5、T5a、T5b中，上層係顯示第1檢測部DT1之檢測中已進行感光確認的次數，下層係顯示第2檢測部DT2之檢測中已進行感光確認的次數。亦即，顯示各時序圖中脈衝已成為開啟並經感光確認之時間點。又，此亦對應於波形的波峰是否超過圖6中所示之各閾值。

首先，時序圖T1係對應於圖6之波形A1的情況。波形A1的情況，係存在有波峰較大的第1回波EC1，對應於此，第1及第2檢測部DT1、DT2兩者的檢測中，已分別進行各1次感光確認(單回波)。此情況下，第2檢測部DT2中，由於有可能是共振電路輸出已飽和而欠缺正確性，故藉由採用第1檢測部DT1的檢測中之感光時間點(計時停止脈衝)，便可正確地計時。

接下來，時序圖T2係對應於圖6之波形A2的情況。波形A2的情況，係存在有波峰較小的第1回波EC1，對應於此，僅在第2檢測部DT2的檢 測中已進行1次感光確認(單回波)。此情況下，係採用第2檢測部DT2的檢測中之感光時間點(計時停止脈衝)。

接下來，時序圖T3係對應於圖6之波形B1的情況。波形B1的情況係存在有波峰較小的第1回波EC1與第2回波EC2，對應於該等，僅在第2檢測部DT2的檢測中已進行2次感光確認(雙回波)。此情況下，係採用第2檢測部DT2之第2次檢測中的感光時間點(計時停止脈衝)。

接下來，時序圖T4係對應於圖6之波形B2的情況。波形B2的情況係存在有波峰較大的第1回波EC1與第2回波EC2，對應於該等，則是在第1及第2檢測部DT1、DT2兩者的檢測中均已分別進行各2次感光確認(雙回波)。此情況下，第2檢測部DT2中，由於有可能是共振電路輸出已飽和而欠缺正確性，故係採用第1檢測部DT1之第2次檢測中的感光時間點(計時停止脈衝)。

接下來，時序圖T5如前述般係對應於圖6的波形X1或波形X2之情況。波形X1及波形X2的情況皆是在第1及第2檢測部DT1、DT2當中之第1檢測部DT1的檢測中已進行1次感光確認(單回波)，而在第2檢測部DT2的檢測中，則是進行2次感光確認(雙回波)。亦即，此情況下，若僅比較例如第1檢測部DT1方面與第2檢測部DT2方面中的感光確認次數，便會無法區別是成為波形X1之情況與波形X2之情況中的何者之狀態。典型來說如圖示般，有可能為第1檢測部DT1中的感光確認是在第2檢測部DT2中的第1次感光確認與第2次感光確認之間之情況。

關於上述般狀況，首先，如波形X1般的情況，若存在有波峰較小的第1回波EC1與波峰較大的第2回波EC2的話，則第1檢測部DT1中的1次感光確認有可能會是在第2回波EC2方面，此情況下，第1檢測部DT1中之感光確認的時間點便應該會接近第2檢測部DT2中之第2次感光確認的時間點。另一方面，波形X2般的情況則與上述相反，第1檢測部DT1中之感光確認的時間點應該會接近第2檢測部DT2中之第1次感光確認的時間點。因此，當成為時序圖T5般的情況，如時序圖T5a、T5b所例示般，係依據第1檢測DT1中的感光確認與第2檢測DT2中的各次感光確認之時間差，來判別是波形X1的情況或是波形X2的情況。

具體而言，例如時序圖T5a所示般，當第2檢測部DT2中的第1次之感光確認時R21與第1檢測部DT1中的感光確認時R1之時間差Tx係大於第1檢測部DT1中的感光確認時R1與第2檢測部DT2中的第2次之感光確認時R22之時間差Ty的情況，便判斷為是波形X1的情況，而採用第1檢測部DT1中的感光確認時R1來作為感光時間點(計時停止脈衝)。亦即，此情況下，在捕獲第2回波EC2(即測定對象OB)之第2次的第2檢測部DT2的檢測中，由於共振電路輸出有可能已飽和而缺乏正確性，故是採用第1檢測部DT1的檢測中之感光時間點(計時停止脈衝)。

另一方面，如時序圖T5b所示般，當時間差Tx係小於時間差Ty的情況，便判斷為是波形X2的情況，而採用第2檢測部DT2中的第2次之感光確認時R22來作為感光時間點(計時停止脈衝)。

如以上所述，本實施型態中，依據第1檢測部DT1側中的感光確認與第2檢測部DT2側中的感光確認之時間差的大小關係，藉此便可確實地進行距離測定。

接下來，參閱圖8之流程圖，來針對測距裝置1對於第1及第2檢測部DT1、DT2中的感光確認結果所進行輸出選擇的一處理動作例來加以說明。

首先，當測距計測部9接收來自雷射感光部4(感光元件4a)的接收訊號後，會針對第1及第2檢測部DT1、DT2中的各2次檢測，來確認第2檢測部DT2中的感光確認是否為1次(步驟S101)。步驟S101中，若在判定第2檢測部DT2中的感光確認為1次的情況(步驟S101：Yes)，則測距計測部9便會進一步地確認第1檢測部DT1中是否已進行感光確認(進行1次感光確認)(步驟S102)。步驟S102中，若在判定第1檢測部DT1中已進行感光確認的情況(步驟S102：Yes)，則測距計測部9便會判斷是相當於圖6的波形A1，即圖7之時序圖T1的情況，而採用第1檢測部DT1的檢測中之感光時間點(計時停止脈衝)，且基於此來進行測定距離的計算(步驟S103)。

另一方面，步驟S102中，若在判定第1檢測部DT1中尚未進行感光確認的情況(步驟S102：No)，則測距計測部9會判斷是相當於圖6的波形A2，即圖7之時序圖T2的情況，而採用第2檢測部DT2的檢測中之感光時間點(計時停止脈衝)，且基於此來進行測定距離的計算(步驟S104)。

接下來，步驟S101中，若在判定第2檢測部DT2中並非進行1次而是2次感光確認的情況(步驟S101：No)，則測距計測部9會進一步地確認第1檢測部DT1中是否已進行感光確認(1次感光確認)(步驟S105)。步驟S105中，若在判定第1檢測部DT1中尚未進行感光確認的情況(步驟S105：No)，則測距計測部9會判斷是相當於圖6的波形B1，即圖7之時序圖T3的情況，而採用第2檢測部DT2之第2次檢測中的感光時間點(計時停止脈衝)，且基於此來進行測定距離的計算(步驟S106)。

另一方面，步驟S105中，若在判定第1檢測部DT1中已進行感光確認的情況(步驟S105：Yes)，則測距計測部9會進一步地確認第1檢測部DT1中是否已進行1次感光確認(步驟S107)。步驟S107中，若在判定第1檢測部DT1中並非進行1次而是2次感光確認的情況(步驟S107：No)，則測距計測部9會判斷是相當於圖6的波形B2，即圖7之時序圖T4的情況，而採用第1檢測部DT1之第2次檢測中的感光時間點(計時停止脈衝)，且基於此來進行測定距離的計算(步驟S108)。

接下來，步驟S107中，若在判定第1檢測部DT1中的感光確認為1次之情況(步驟S107：Yes)，亦即，若在判斷第1檢測部DT1中已進行1次感光確認，且在第2檢測部DT2中已進行2次感光確認之情況，則測距計測部9會判斷為是如圖7之時序圖T5般的情況，並進一步地考察感光確認時的時間差(步驟S109)。亦即，測距計測部9在步驟S109中會確認時間差Tx是否大於時間差Ty。步驟S109中，若在判斷時間差Tx係大於時間差Ty的情況(步驟S109：Yes)，則測距計測部9會判斷是相當於圖6的波形X1，即圖7之時序圖T5a的情況，而採用第1檢測部DT1中的感光確認來作為感光時間點(計時停止脈衝)，且基於此來進行測定距離的計算(步驟S110)。

另一方面，步驟S109中，若在判斷時間差Tx係大於時間差Ty的情況(步驟S109：No)，則測距計測部9會判斷是相當於圖6的波形X2，即圖7之時序圖T5b的情況，而採用第2檢測部DT2中的第2次感光確認來作為感光時間點(計時停止脈衝)，且基於此來進行測定距離的計算(步驟S111)。

如以上所述，此處，例如作為第1及第2檢測部DT1、DT2的檢測模式組合，是在第2檢測部DT2中已進行至少2次感光確認且在第1檢測部 DT1中已進行1次感光確認的情況，係依據第1檢測部DT1中的感光確認或第2檢測部DT2中的第2次感光確認來計算測定距離。另外，當第1檢測部DT1中的感光確認是在第2檢測部DT2中的第1次感光確認與第2次感光確認之間的情況，則是依據第1檢測部DT1中的感光確認與第2檢測部DT2中的各次感光確認之時間差Tx、Ty，而在計算測定距離時，會決定是採用第1檢測部DT1中之感光確認及該第2檢測部DT2中之第2次感光確認當中的何者。藉此，便可計算出正確的測定距離。

又，以上當中，步驟S109中，在例如第1檢測部DT1中的感光確認是在第2檢測部DT2中的2次感光確認之後的情況亦被包含於時間差Tx被判斷為是大於時間差Ty之情況(步驟S109：Yes)，此情況亦會依據第1檢測部DT1中的感光確認來計算測定距離。另一方面，在例如第1檢測部DT1中的感光確認是在第2檢測部DT2中的2次感光確認之前的情況，則是被包含於時間差Tx被判斷為並未大於時間差Ty之情況(步驟S109：No)，此情況亦會依據第2檢測部DT2中的第2次感光確認來計算測定距離。

如以上的說明，本實施型態相關之測距裝置1及使用其之測距方法中，雖係針對構成測距計測部9之測距部9a中反射成分的感光，而在藉由增益不同的檢測方法(即第1及第2檢測)來分別進行檢測之第1及第2檢測部DT1、DT2兩者中，會進行至少2次對於1次光射出而具有時間差之檢測。然後，依據第1及第2檢測部DT1、DT2中進行時的檢測模式組合，而在計算部(即距離值光量值演算處理部9b)中計算測定距離。藉此，即便是在例如測定對象為反射率低的物體之情況或發生濃霧之情況，仍可確實地進行到測定對象間之距離測定。

〔其他〕

本發明並未限定於上述實施型態，可在未背離其要旨之範圍內而以各種樣態來加以實施。

首先，上述說明中，雖係針對1次光射出而分別以第1檢測部DT1及第2檢測部DT2來進行2次檢測，並由檢測結果來決定應採用哪個計時停止脈衝或對應於其之回波，但檢測次數不限於2次，亦可為3次以上。又， 上述說明中，雖係說明以霧作為外部擾亂之範例，但亦可對應於雨、雪等外部擾亂。

又，上述說明中，雖已針對2維掃描鏡2中各點的檢測結果來加以說明，但亦可藉由標記等之處理來將各點的檢測結果，於掃描區域整體的畫素或固定以上的畫素中，亦即2維區域中來處理。此外，此情況下，亦可由所獲得之2維形狀來確認外部擾亂的特性。

又，上述說明中，雖係使測距裝置1為一種當確認行走中的列車前方等時，會有測距視野中包含有霧、雨、雪等外部擾亂的情況之裝置，但並未侷限於此，而亦可為被使用於例如門的挾入檢測、周邊檢測、障礙物檢測等之裝置，且被使用在屋外。

又，上述實施型態中，2維掃描鏡2中雖可考慮使用例如電磁驅動式的2維檢流計鏡來作為光掃描部，但本發明並未侷限於此，而亦可應用於以電磁驅動式、靜電方式、壓電方式、熱方式等各種驅動方式來搖晃驅動具有光反射面的可動部之構成的光掃描部。

1‧‧‧測距裝置

2‧‧‧2維掃描鏡

3‧‧‧雷射射光部

4‧‧‧雷射感光部

5b‧‧‧射光/感光分離器

6‧‧‧射/感光窗

OB‧‧‧測定對象

Claims (11)

1. 一種測距方法，係藉由增益不同的第1檢測及第2檢測來接收朝測定對象所射出光線的反射成分，以測量到測定對象的距離，具有以下步驟：

   該第1及第2檢測兩者中會針對1次光射出來進行至少2次具有時間差的檢測之步驟；以及

   依據該第1及第2檢測的檢測模式組合來計算測定距離之步驟。
2. 如申請專利範圍第1項之測距方法，其中該第1檢測係基於接收等級的升壓之檢測；

   該第2檢測係基於接收訊號的濾波訊號之檢測。
3. 如申請專利範圍第1或2項之測距方法，其中作為該第1及第2檢測的檢測模式組合，該第2檢測中會進行至少2次感光確認且該第1檢測中會進行1次感光確認的情況，係依據該第1檢測中的感光確認或該第2檢測中第2次之後的感光確認來計算測定距離。
4. 如申請專利範圍第3項之測距方法，其中該第1檢測中的感光確認是在該第2檢測中的2次感光確認之後的情況，係依據該第1檢測中的感光確認來計算測定距離。
5. 如申請專利範圍第3項之測距方法，其中該第1檢測中的感光確認是在該第2檢測中的2次感光確認之前的情況，係依據該第2檢測中的第2次感光確認來計算測定距離。
6. 如申請專利範圍第3項之測距方法，其中該第1檢測中的感光確認是在該第2檢測中的第1次感光確認與第2次感光確認之間的情況，會依據該第1檢測中的感光確認與該第2檢測中各次的感光確認之時間差，而在計算測定距離時，會決定是採用該第1檢測中之感光確認及該第2檢測中之第2次感光確認當中的何者。
7. 如申請專利範圍第6項之測距方法，其中該第2檢測中的第1次感光確認與該第1檢測中的感光確認之時間差係大於該第1檢測中的感光確認與該第2檢測中的第2次感光確認之時間差的情況，會依據該第1檢測中 的感光確認來計算測定距離，而若是小於的情況，則是依據該第2檢測中的第2次感光確認來計算測定距離。
8. 如申請專利範圍第1項之測距方法，其中該第1檢測中，係將反射成分的接收等級達到閾值之時間點作為所感光之時間點；

   該第2檢測中，係將反射成分之接收訊號的濾波訊號成為過零點之時間點作為所感光之時間點。
9. 如申請專利範圍第1項之測距方法，其係依據從朝向測定對象射出光線時到該第1檢測中的感光確認或該第2檢測中的感光確認時之時間差來計算測定距離。
10. 一種測距裝置，具有：

    感光元件，會接收朝測定對象所射出光線的反射成分；

    第1檢測部及第2檢測部，會進行增益不同的2種檢測來檢測該感光元件中的感光；以及

    計算部，係依據該第1及第2檢測部中的檢測模式組合來計算測定距離；

    該第1及第2檢測部兩者會針對1次光射出來進行具有時間差之至少2次檢測。
11. 如申請專利範圍第10項之測距裝置，其中該第1檢測部係依據接收等級的升壓來檢測該感光元件中的感光；

    該第2檢測部係依據接收訊號的濾波訊號來檢測該感光元件中的感光。

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