TW201713933A - 郵件檢測裝置及郵件檢測方法 - Google Patents

郵件檢測裝置及郵件檢測方法 Download PDF

Info

Publication number
TW201713933A
TW201713933A TW105124610A TW105124610A TW201713933A TW 201713933 A TW201713933 A TW 201713933A TW 105124610 A TW105124610 A TW 105124610A TW 105124610 A TW105124610 A TW 105124610A TW 201713933 A TW201713933 A TW 201713933A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
megahertz
wave
mail
megahertz wave
reflected
Prior art date
Application number
TW105124610A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI640760B (zh
Inventor
Guang-Sheng Wu
yan-dong Zhang
Qing Ding
Original Assignee
China Communication Technology Co Ltd
Shenzhen Victooth Terahertz Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by China Communication Technology Co Ltd, Shenzhen Victooth Terahertz Technology Co Ltd filed Critical China Communication Technology Co Ltd
Publication of TW201713933A publication Critical patent/TW201713933A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI640760B publication Critical patent/TWI640760B/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3581Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using far infrared light; using Terahertz radiation
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07CPOSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C1/00Measures preceding sorting according to destination
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07CPOSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C2201/00Measures preceding sorting according to destination
    • B07C2201/006Hazardous Substances, e.g. checking for contamination, explosives, anthrax
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/063Illuminating optical parts
    • G01N2201/0633Directed, collimated illumination
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/068Optics, miscellaneous
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/12Circuits of general importance; Signal processing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)

Abstract

本發明公開了一種郵件檢測裝置及方法,其中,所述裝置包括:寬頻兆赫產生器、準直器、分束器、固定反射器、移動反射器、聚波器、面陣探測器、採集卡及訊息處理模組;其中,訊息處理模組,用於當移動反射器靜止時,根據採集卡發送的電訊號,產生待檢郵件的兆赫圖像;當根據待檢郵件的兆赫圖像發現可疑物時,控制所述移動反射器發生位移,並根據移動反射器發生位移過程中採集卡發送的電訊號序列,產生可疑物的光譜訊息。

Description

郵件檢測裝置及郵件檢測方法
本發明關於郵件檢測技術領域,尤其關於一種郵件檢測裝置及方法。
郵件,包括郵政信件及快遞信件。通常,郵件的外包裝及內容物都是紙質的,但也存在將非紙質品放入郵件夾帶的情況,甚至有人會將違禁品通過郵件的方式傳遞。現有檢測郵件中是否含有違禁品的方式主要包括:(1)使用金屬探測器探測郵件內是否包含金屬物品;(2)使用X射線對郵件進行成像,判斷郵件內是否有可疑物;(3)利用緝毒犬靈敏的嗅覺,檢測郵件中是否含有可卡因、大麻、海洛因等毒品。
但是,第(1)種方式只對金屬違禁品有效;而第(2)種方式只能判斷出是否有可疑物,具體可疑物是否是違禁品則需要人為參與判斷或採取進一步檢測措施,而X射線對人體傷害很大;第(3)種方式除了只對毒品有效外,還需要將郵件打開才可實施。因此,這些檢測郵件的方式的適用範圍有局限,其檢測結果不理想。
當前兆赫技術方興未艾,所謂兆赫(英文:terahertz,簡寫為THz)是頻率單位,等於1,000,000,000,000Hz,通常用於表示電磁波頻率。兆赫波是指頻率在0.1THz到 10THz範圍的電磁波,及無線電波一樣,兆赫能夠透過大部分非極性材料,如紙張、木材及塑料等。另外很多物質顯示出獨特的兆赫光譜吸收特性,因此,可根據物質的兆赫光譜吸收特性鑒別出郵件裏面物質的種類。
為解決先前存在的技術問題,本發明實施例期望提供一種郵件檢測裝置及方法,既能完成對郵件的透視成像,又可以獲取郵件中可疑物的光譜訊息。
本發明實施例的技術方案是這樣實現的。本發明實施例提供一種郵件檢測裝置,該裝置包括:寬頻兆赫產生器、準直器、分束器、固定反射器、移動反射器、聚波器、面陣探測器、採集卡及訊息處理模組;其中,寬頻兆赫產生器,用於產生並發出寬頻的初始兆赫波;準直器,用於對所述初始兆赫波進行準直,形成平行兆赫波;分束器,用於將平行兆赫波分為兩束,即第一兆赫波與第二兆赫波;固定反射器,位置固定,用於反射第一兆赫波,形成第一反射兆赫波;移動反射器,位置可以移動,用於反射第二兆赫波,形成第二反射兆赫波;聚波器,用於將第一反射兆赫波、第二反射兆赫波匯聚至面陣探測器;當移動反射器發生位移,第一反射兆赫波與第二反射兆赫波形成的干擾兆赫波時,將所述干擾兆赫波匯聚至面陣探測器;面陣探測器,用於探測兆赫波的強度訊號,將兆赫波的強度訊號轉換成電訊號發送至採集卡;採集卡,用於採集面陣探測器的發送的電訊號並傳輸至訊息處理模組;訊息處理模 組,用於當移動反射器靜止時,根據採集卡發送的電訊號,產生待檢郵件的兆赫圖像;當根據待檢郵件的兆赫圖像發現可疑物時,控制所述移動反射器發生位移,並根據移動反射器發生位移過程中採集卡發送的電訊號序列,產生可疑物的光譜訊息。
上述方案中,所述訊息處理模組包括:圖像產生單元,用於當移動反射器靜止時,根據採集卡發送的電訊號,產生待檢郵件的兆赫圖像;控制位移單元,用於當根據郵件的兆赫圖像發現可疑物時,控制所述移動反射器發生位移;光譜產生單元,用於根據移動反射器發生位移的過程中採集卡發送的電訊號序列,產生可疑物的光譜訊息。
上述方案中,所述訊息處理模組還包括:違禁品確定單元,用於根據可疑物的光譜訊息,確定該可疑物是否是違禁品。
上述方案中,所述訊息處理模組還包括:報警單元,用於當根據可疑物的光譜確定可疑物是違禁品時,發送報警訊息。
上述方案中,所述裝置還包括:傳送裝置,位於所述準直器後或所述聚波器前,用於傳送待檢郵件。
本發明實施例還提供一種郵件檢測方法,該方法包括:產生並發出寬頻的初始兆赫波;對所述初始兆赫波進行準直,形成平行兆赫波;將平行兆赫波分為兩束,即第一兆赫波與第二兆赫波;在第一兆赫波傳播方向上設置固定反射器,形成第一反射兆赫波;在第二兆赫波傳播方向 上設置移動反射器,形成第二反射兆赫波;當移動反射器靜止時,第一反射兆赫波及第二反射兆赫波不發生干擾,對二者進行匯聚及探測;將探測到的兆赫波轉化為電訊號,根據所述電訊號產生待檢郵件的兆赫圖像;當根據待檢郵件的兆赫圖像發現可疑物時,控制所述移動反射器發生位移,使第一反射兆赫波及第二反射兆赫波發生干擾,匯聚及探測移動反射器發生位移過程中的干擾兆赫波,將探測到的一系列干擾兆赫波轉化為電訊號序列,根據所述電訊號序列,產生可疑物的光譜訊息;將待檢郵件置於平行兆赫波後,或者第一反射兆赫波與第二反射兆赫波匯聚之前。
上述方案中,所述根據待檢郵件的兆赫圖像發現可疑物包括:採用最大類間方差法(OTSU算法)對兆赫圖像進行灰度臨界值分割,轉換為二值圖像;對二值圖像連通域分析判斷像素數量;當像素的數量大於預定臨界值確定待檢郵件中有可疑物。
上述方案中,所述控制所述移動反射器發生位移包括:控制所述移動反射器均速移動,移動速度與探測兆赫波的速度相匹配。
上述方案中,所述產生可疑物的光譜訊息包括:獲取 干擾兆赫波訊息:;其中,I(δ)表 示光程差為δ時探測到的干擾兆赫波訊號強度,v表示波數,B(v)表示經儀器特性修正後的波數為v的單色光強度,當v變化時B(v)也就是光譜;對其進行傅立葉逆轉換, 得到:;由於I(δ)是一個偶函數, 因此得到:,即可疑物的光譜訊息。
上述方案中,所述方法還包括:根據可疑物的光譜訊息,確定該可疑物是否是違禁品。
本發明實施例所提供的郵件檢測裝置及方法,利用寬頻兆赫波作為檢測波,並通過將兆赫波分束及設置固定反射鏡及移動反射鏡,從而既能完成對郵件的透視成像,又可以獲取郵件中可疑物的光譜訊息;同時,使用兆赫波來代替X射線對郵件進行成像可避免X射線對人體的傷害;此外,由於物質對兆赫光譜的吸收特性不同,因此本方案並不局限於只檢測特定的違禁品種類。
101‧‧‧寬頻兆赫產生器
102‧‧‧準直器
103‧‧‧分束器
104‧‧‧固定反射器
105‧‧‧移動反射器
106‧‧‧聚波器
107‧‧‧面陣探測器
108‧‧‧採集卡
109‧‧‧訊息處理模組
201~206‧‧‧步驟
圖1為本發明實施例提供的郵件檢測裝置的組成結構示意圖。
圖2為本發明實施例提供的不含可疑物的郵件的兆赫圖像示例。
圖3為本發明實施例提供的含有可疑物的郵件的兆赫圖像示例。
圖4為本發明實施例提供的郵件檢測方法的實行流程示意圖。
為了更清楚地說明本發明實施例及技術方案,下面將結合附圖及實施例對本發明的技術方案進行更詳細的說明,顯然,所描述的實施例是本發明的一部分實施例,而 不是全部實施例。基於本發明的實施例,本技術領域中具有通常知識者在不逸離本發明精神的前提下所獲得的所有其他實施例,都屬於本發明保護的範圍。
以下述及之“第一”、“第二”等術語,其用以區別所指的元素,而非用以排序或限定所指元素的差異性,且也非用以限制本發明的範圍。
圖1為本發明實施例提供的郵件檢測裝置的結構示意圖,如圖1所示,該裝置包括:寬頻兆赫產生器101、準直器102、分束器103、固定反射器104、移動反射器105、聚波器106、面陣探測器107、採集卡108及訊息處理模組109;其中,寬頻兆赫產生器101,用於產生並發出寬頻的初始兆赫波;準直器102,用於對所述初始兆赫波進行準直,形成平行兆赫波;分束器103,用於將平行兆赫波分為兩束,即第一兆赫波與第二兆赫波;固定反射器104,位置固定,用於反射第一兆赫波,形成第一反射兆赫波;移動反射器105,位置可以移動,用於反射第二兆赫波,形成第二反射兆赫波;聚波器106,用於將第一反射兆赫波、第二反射兆赫波匯聚至面陣探測器107;當移動反射器105發生位移,第一反射兆赫波與第二反射兆赫波形成的干擾兆赫波時,將所述干擾兆赫波匯聚至面陣探測器107;面陣探測器107,用於探測兆赫波的強度訊號,將兆赫波的強度訊號轉換成電訊號發送至採集卡108;採集卡108,用於採集面陣探測器107的發送的電訊號並傳輸至訊息處理模組109;訊息處理模組109,用於當移動反射器 105靜止時,根據採集卡108發送的電訊號,產生待檢郵件的兆赫圖像;當根據待檢郵件的兆赫圖像發現可疑物時,控制所述移動反射器105發生位移,並根據移動反射器105發生位移過程中採集卡108發送的電訊號序列,產生可疑物的光譜訊息。
具體的,寬頻兆赫產生器101產生並發出的兆赫波稱為初始兆赫波,其中包含不同頻率的兆赫波(即寬頻兆赫波),這樣才能保證當它照射在待檢郵件上時,即使郵件中的可疑物品吸收一部分頻率的兆赫波,仍有可以透射可疑物品的部分頻率的兆赫波用於產生可疑物品的光譜訊息。在一個實施例中,所述初始兆赫波的頻率範圍為0.2THz到3THz。
準直器102可以由凸透鏡實現,也可以由離軸抛物面反射鏡實現,如果以凸透鏡實現,通常選用高透明度樹脂(例如TPX)或高密度聚乙烯(HDPE)製作凸透鏡。經過準直器102的準直,初始兆赫波稱為平行兆赫波。
在一個實施例中,將待檢郵件置於準直器102後,使平行兆赫波照射在待檢郵件上,部分兆赫波透射過待檢郵件,透射過待檢郵件的兆赫波仍為平行兆赫波。
分束器103可以由半透半反鏡實現,用於將平行兆赫波分為兩束,即第一兆赫波與第二兆赫波;第一兆赫波及第二兆赫波的傳播方向不同。
固定反射器104可以由反射鏡實現,固定於第一兆赫波的傳播方向上的一點,反射第一兆赫波形成第一反射兆 赫波。
移動反射器105可以由反射鏡實現,位於第二兆赫波的傳播方向上,可以沿第二兆赫波的傳播方向移動,用於反射第二兆赫波,形成第二反射兆赫波。移動反射器105靜止時停留的位置距分束器103的距離與固定反射器104距分束器103的距離相同。
第一反射兆赫波及第二反射兆赫波將再次照射在分束器103上,由於分束器對於兆赫波是半反半透的,因而經過分束器103的第一反射兆赫波及第二反射兆赫波中將有部分兆赫波的傳播方向相同,在它們相同的傳播方向上設置聚波器106,從而匯聚第一反射兆赫波及第二反射兆赫波,並將它們匯聚至面陣探測器107。
在一個實施例中,將待檢郵件置於聚波器106前,使經過分束器103的第一反射兆赫波及第二反射兆赫波照射在待檢郵件上,部分兆赫波透射過待檢郵件照射在聚波器106上,由聚波器106匯聚至面陣探測器107。
當移動反射器105發生位移時,第一反射兆赫波與第二反射兆赫波將發生干擾,形成干擾兆赫波,聚波器106將所述干擾兆赫波匯聚至面陣探測器107。
面陣探測器107的作用類似於相機中的電荷耦合元件(CCD),用於探測兆赫波的強度訊號,將兆赫波的強度訊號轉換成電訊號發送至採集卡108。這裏,採用面陣探測器可大大提高對兆赫波的探測速度。
採集卡108採集面陣探測器107的發送的電訊號並傳 輸至訊息處理模組109。採集卡108可以由數據採集卡實現,例如:凌華公司生產的PCI-9812數據採集卡。
訊息處理模組109可以由中央處理器(CPU)、微處理器(MPU)、數位訊號處理器(DSP)、或現場可編程門陣列(FPGA)實現,當移動反射器105靜止時,訊息處理模組109根據採集卡108發送的電訊號,產生待檢郵件的兆赫圖像;當根據待檢郵件的兆赫圖像發現可疑物時,訊息處理模組109控制所述移動反射器105發生位移,如此,第一反射兆赫波與第二反射兆赫波將發生干擾,則面陣探測器107探測到的是干擾兆赫波的訊號,在移動反射器105發生位移的過程中,採集卡108將採集到一系列透射過待檢郵件及其中的可疑物的兆赫波轉化來的電訊號,組成電訊號序列發送至訊息處理模組109;訊息處理模組109根據所述電訊號序列,進行傅立葉轉換,便可產生可疑物的光譜訊息。
進一步的,上述郵件檢測裝置中,所述訊息處理模組109可包括:圖像產生單元,用於當移動反射器105靜止時,根據採集卡108發送的電訊號,產生待檢郵件的兆赫圖像;控制位移單元,用於當根據郵件的兆赫圖像發現可疑物時,控制所述移動反射器105發生位移;光譜產生單元,用於根據移動反射器105發生位移的過程中採集卡108發送的電訊號序列,產生可疑物的光譜訊息。
具體的,由於移動反射器105靜止時停留的位置距分束器103的距離與固定反射器104距分束器103的距離相 同,因此第一反射兆赫波及第二反射兆赫波不會發生干擾,此時,圖像產生單元可根據採集卡108發送的電訊號,產生待檢郵件的兆赫圖像。由於兆赫波能夠穿透紙張、塑料等材質,因此,如果待檢郵件的兆赫圖像幾乎是透明的,如圖2所示,則可初步判斷該郵件中沒有可疑物,但當兆赫圖像中出現深色或黑色區域,則判斷該郵件中存在可疑物。圖3示出了,當郵件中含有金屬鑰匙時,該郵件的兆赫圖像中鑰匙的圖像。
在一個實施例中,所述根據待檢郵件的兆赫圖像發現可疑物包括:採用最大類間方差法(OTSU算法)對兆赫圖像進行灰度臨界值分割,轉換為二值圖像;對二值圖像連通域分析判斷像素數量;當像素的數量大於預定臨界值確定待檢郵件中有可疑物。這裏,預定臨界值可以是5%左右。
當根據郵件的兆赫圖像發現可疑物時,控制位移單元便控制移動反射器105發生位移,這樣第一反射兆赫波及第二反射兆赫波由於有了光程差,而將發生干擾。
較佳的,控制位移單元控制所述移動反射器105進行均速移動,移動速度與探測兆赫波的速度相匹配。也就是說,移動反射器105的移動速度,要與面陣探測器107的探測速度相匹配,如果面陣探測器107的探測速度較慢,則移動反射器105的移動速度也需要慢,反之,如果面陣探測器107的探測速度較快,則移動反射器105的移動速度也可隨之加快。一般,移動反射器105的移動速度控制 在0.08厘米/秒至4.1厘米/秒。
在移動反射器105發生位移的過程中,面陣探測器107將探測到一系列干擾兆赫波,採集卡108也就會採集到一系列電訊號(即電訊號序列)發送至訊息處理模組109,光譜產生單元根據所述電訊號序列便可產生可疑物的光譜訊息。具體的,以xy代表面陣探測器探測的二維圖像,以λ代表移動反射器105每次移動時訊息處理模組109獲得的一系列二維圖像。這一系列圖像組成一個三維數組。沿著λ的方向每一個像素點是一個一維數組。對這個一維數組進行傅立葉轉換可以得到每個像素的光譜訊息。
更具體的,光譜產生單元產生可疑物的光譜訊息包 括:獲取干擾兆赫波訊息:;其中,I (δ)表示光程差為δ時探測到的干擾兆赫波訊號強度,v表示波數,B(v)表示經儀器特性修正後的波數為v的單色光強度,當v變化時B(v)也就是光譜;對其進行傅立葉逆 轉換,得到:;由於I(δ)是一個偶 函數,因此得到:,即可疑物的光譜 訊息。
進一步的,上述郵件檢測裝置中,所述訊息處理模組109還包括:違禁品確定單元,用於根據可疑物的光譜訊息,確定該可疑物是否是違禁品。
具體的,根據可疑物的光譜訊息可以確定可疑物的物質種類,從而確定該可疑物是否是違禁品。通過光譜判斷物質種類是現有的方式,不同的物質都有自己的特徵吸收 峰,可以成為物質的指紋譜。通過測量到的兆赫光譜與光譜資料庫中的光譜訊息進行比對,當特徵吸收峰的位置重合就可以確定該物質的具體種類。
進一步的,上述郵件檢測裝置中,所述訊息處理模組109還包括:報警單元,用於當根據可疑物的光譜確定可疑物是違禁品時,發送報警訊息。
進一步的,上述任意一種郵件檢測裝置中還包括:傳送裝置,位於所述準直器102後或所述聚波器106前,用於傳送待檢郵件。
本發明實施例還提供一種郵件檢測方法,如圖4所示,該方法包括以下步驟:步驟201,產生並發出寬頻的初始兆赫波;步驟202,對所述初始兆赫波進行準直,形成平行兆赫波;步驟203,將平行兆赫波分為兩束,即第一兆赫波與第二兆赫波;步驟204,在第一兆赫波傳播方向上設置固定反射器,形成第一反射兆赫波;在第二兆赫波傳播方向上設置移動反射器,形成第二反射兆赫波;步驟205,當移動反射器靜止時,第一反射兆赫波及第二反射兆赫波不發生干擾,對二者進行匯聚及探測;將探測到的兆赫波轉化為電訊號,根據所述電訊號產生待檢郵件的兆赫圖像;步驟206,當根據待檢郵件的兆赫圖像發現可疑物時,控制所述移動反射器發生位移,使第一反射兆赫波及第二反射兆赫波發生干擾,匯聚及探測移動反射器發生位移過程中的干擾兆赫波,將探測到的一系列干擾兆赫波轉化為電訊號序列,根據所述電訊號序列,產生可疑物 的光譜訊息;這裏,將待檢郵件置於平行兆赫波後,或者第一反射兆赫波與第二反射兆赫波匯聚之前。
進一步的,上述郵件檢測方法中,所述根據待檢郵件的兆赫圖像發現可疑物包括:採用最大類間方差法(OTSU算法)對兆赫圖像進行灰度臨界值分割,轉換為二值圖像;對二值圖像連通域分析判斷像素數量;當像素的數量大於預定臨界值確定待檢郵件中有可疑物。
進一步的,上述郵件檢測方法中,所述控制所述移動反射器發生位移包括:控制所述移動反射器均速移動,移動速度與探測兆赫波的速度相匹配。
進一步的,上述郵件檢測方法中,所述產生可疑物的光譜訊息包括:獲取干擾兆赫波訊息: ;其中,I(δ)表示光程差為δ時探測 到的干擾兆赫波訊號強度,v表示波數,B(v)表示經儀器特性修正後的波數為v的單色光強度,當v變化時B(v)也就是光譜;對其進行傅立葉逆轉換,得到: ;由於I(δ)是一個偶函數,因此得 到:,即可疑物的光譜訊息。
上述郵件檢測方法還可包括:根據可疑物的光譜訊息,確定該可疑物是否是違禁品。
本技術領域中具有通常知識者應明白,本發明的實施例可提供為方法、系統、或電腦程式產品。因此,本發明可採用硬體實施例、軟體實施例、或結合軟體及硬體方面的實施例的形式。而且,本發明可採用在一個或多個其中 包含有電腦可用程式代碼的電腦可用儲存介質(包括但不限於磁盤儲存器及光學儲存器等)上實施的電腦程式產品的形式。
本發明是參照根據本發明實施例的方法、設備(系統)、及電腦程式產品的流程圖及/或方圖來描述的。應理解可由電腦程式指令實現流程圖及/或方框圖中的每一流程及/或方框、以及流程圖及/或方框圖中的流程及/或方框的結合。可提供這些電腦程式指令到通用電腦、專用電腦、嵌入式處理機或其他可編程資料處理設備的處理器以產生一個機器,使得通過電腦或其他可編程數據處理設備的處理器執行的指令產生用於實現在流程圖一個流程或多個流程及/或方框圖一個方框或多個方框中指定的功能的裝置。
這些電腦程序指令也可存儲在能引導電腦或其他可編程資料處理設備以特定方式工作的電腦可讀儲存器中,使得儲存在該電腦可讀儲存器中的指令產生包括指令裝置的製造品,該指令裝置實現在流程圖一個流程或多個流程及/或方框圖一個方框或多個方框中指定的功能。
這些電腦程序指令也可裝載到電腦或其他可編程資料處理設備上,使得在電腦或其他可編程設備上執行一系列操作步驟以產生電腦實現的處理,從而在電腦或其他可編程設備上執行的指令提供用於實現在流程圖一個流程或多個流程及/或方框圖一個方框或多個方框中指定的功能的步驟。
以上所述,僅為本發明的較佳實施例而已,並非用於 限定本發明的保護範圍。
101‧‧‧寬頻兆赫產生器
102‧‧‧準直器
103‧‧‧分束器
104‧‧‧固定反射器
105‧‧‧移動反射器
106‧‧‧聚波器
107‧‧‧面陣探測器
108‧‧‧採集卡
109‧‧‧訊息處理模組

Claims (10)

  1. 一種郵件檢測裝置,包括:寬頻兆赫產生器、準直器、分束器、固定反射器、移動反射器、聚波器、面陣探測器、採集卡及訊息處理模組;其中,前述寬頻兆赫產生器,用於產生並發出寬頻的初始兆赫波;前述準直器,用於對前述初始兆赫波進行準直,形成平行兆赫波;前述分束器,用於將前述平行兆赫波分為兩束,即第一兆赫波與第二兆赫波;前述固定反射器,位置固定,用於反射前述第一兆赫波,形成第一反射兆赫波;前述移動反射器,位置可以移動,用於反射前述第二兆赫波,形成第二反射兆赫波;前述聚波器,用於將前述第一反射兆赫波、前述第二反射兆赫波匯聚至前述面陣探測器;當前述移動反射器發生位移,前述第一反射兆赫波與前述第二反射兆赫波形成干擾兆赫波時,將前述干擾兆赫波匯聚至前述面陣探測器;前述面陣探測器,用於探測兆赫波的強度訊號,將前述兆赫波的強度訊號轉換成電訊號發送至前述採集卡;前述採集卡,用於採集前述面陣探測器的發送的前述電訊號並傳輸至前述訊息處理模組; 前述訊息處理模組,用於當前述移動反射器靜止時,根據前述採集卡發送的前述電訊號,產生待檢郵件的兆赫圖像;當根據前述待檢郵件的兆赫圖像發現可疑物時,控制前述移動反射器發生位移,並根據前述移動反射器發生位移過程中前述採集卡發送的電訊號序列,產生前述可疑物的光譜訊息。
  2. 如請求項1所記載的郵件檢測裝置,還包括:圖像產生單元,用於當前述移動反射器靜止時,根據前述採集卡發送的前述電訊號,產生前述待檢郵件的兆赫圖像;控制位移單元,用於當根據前述待檢郵件的兆赫圖像發現可疑物時,控制前述移動反射器發生位移;光譜產生單元,用於根據移動反射器發生位移的過程中採集卡發送的電訊號序列,產生可疑物的光譜訊息。
  3. 如請求項2所記載的郵件檢測裝置,還包括:違禁品確定單元,用於根據前述可疑物的光譜訊息,確定前述可疑物是否是違禁品。
  4. 如請求項3所記載的郵件檢測裝置,其中前述訊息處理模組還包括:報警單元,用於當根據前述可疑物的光譜訊息確定前述可疑物是違禁品時,發送報警訊息。
  5. 如請求項1至4任一項所記載的郵件檢測裝置,還包括: 傳送裝置,位於前述準直器後或前述聚波器前,用於傳送待檢郵件。
  6. 一種郵件檢測方法,包括:產生並發出寬頻的初始兆赫波;對前述初始兆赫波進行準直,形成平行兆赫波;將前述平行兆赫波分為兩束,即第一兆赫波與第二兆赫波;在前述第一兆赫波傳播方向上設置固定反射器,形成第一反射兆赫波;在前述第二兆赫波傳播方向上設置移動反射器,形成第二反射兆赫波;當前述移動反射器靜止時,前述第一反射兆赫波及前述第二反射兆赫波不發生干擾,對二者進行匯聚及探測;將探測到的兆赫波轉化為電訊號,根據前述電訊號產生待檢郵件的兆赫圖像;當根據前述待檢郵件的前述兆赫圖像發現可疑物時,控制前述移動反射器發生位移,使前述第一反射兆赫波及前述第二反射兆赫波發生干擾,匯聚及探測前述移動反射器發生位移過程中的干擾兆赫波,將探測到的一系列前述干擾兆赫波轉化為電訊號序列,根據前述電訊號序列,產生可疑物的光譜訊息;將前述待檢郵件置於前述平行兆赫波後,或者前述第一反射兆赫波與前述第二反射兆赫波匯聚之前。
  7. 如請求項6所記載的郵件檢測方法,其中前述根據前述待檢郵件的前述兆赫圖像發現可疑物包括: 採用最大類間方差法(OTSU算法)對前述兆赫圖像進行灰度臨界值分割,轉換為二值圖像;對前述二值圖像連通域分析判斷像素數量;當前述像素數量大於預定臨界值,確定前述待檢郵件中有可疑物。
  8. 如請求項6所記載的郵件檢測方法,其中前述控制前述移動反射器發生位移包括:控制前述移動反射器均速移動,移動速度與探測兆赫波的速度相匹配。
  9. 如請求項6所記載的郵件檢測方法,其中前述產生可疑物的光譜訊息包括: 獲取干擾兆赫波訊息:;其 中,I(δ)表示光程差為δ時探測到的干擾兆赫波訊號強度,v表示波數,B(v)表示經儀器特性修正後的波數為v的單色光強度,當v變化時B(v)也就是光譜;對其進行傅立葉逆轉換,得到: 由於I(δ)是一個偶函數,因此得到: ,即前述可疑物的前述光譜訊 息。
  10. 如請求項6所記載的郵件檢測方法,還包括:根據前述可疑物的前述光譜訊息,確定該可疑物是否是違禁品。
TW105124610A 2015-08-04 2016-08-03 郵件檢測裝置及郵件檢測方法 TWI640760B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
??201510470876.7 2015-08-04
CN201510470876.7A CN105181623B (zh) 2015-08-04 2015-08-04 一种邮件检测装置和方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201713933A true TW201713933A (zh) 2017-04-16
TWI640760B TWI640760B (zh) 2018-11-11

Family

ID=54903856

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW105124610A TWI640760B (zh) 2015-08-04 2016-08-03 郵件檢測裝置及郵件檢測方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9945776B2 (zh)
EP (1) EP3165901B1 (zh)
CN (1) CN105181623B (zh)
TW (1) TWI640760B (zh)
WO (1) WO2017020402A1 (zh)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105655267A (zh) * 2016-01-04 2016-06-08 京东方科技集团股份有限公司 一种用于对基板进行检测的预警系统及生产设备
CN109696422A (zh) * 2018-12-27 2019-04-30 雄安华讯方舟科技有限公司 太赫兹近场成像装置和方法
CN110390310A (zh) * 2019-07-26 2019-10-29 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司 一种指纹识别装置及指纹锁
CN112505798B (zh) * 2020-11-27 2022-07-01 河北雄安太芯电子科技有限公司 基于太赫兹的物体检测方法

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000079248A1 (fr) * 1999-06-21 2000-12-28 Hamamatsu Photonics K.K. Spectrometre a ondes terahertz
US6665075B2 (en) * 2000-11-14 2003-12-16 Wm. Marshurice University Interferometric imaging system and method
JP2004101510A (ja) * 2002-07-15 2004-04-02 Tochigi Nikon Corp パルス光を用いた分光計測方法および装置
JP2005114413A (ja) * 2003-10-03 2005-04-28 Si Seiko Co Ltd 物質検出方法とその装置
WO2005119214A1 (en) * 2004-05-26 2005-12-15 Picometrix, Llc. Terahertz imaging in reflection and transmission mode for luggage and personnel inspection
CN101566589B (zh) * 2008-12-15 2011-08-10 深圳先进技术研究院 太赫兹成像装置和太赫兹成像方法
GB0903689D0 (en) * 2009-03-03 2009-04-15 Sigmavision Ltd Vehicle tyre measurement
JP5534315B2 (ja) * 2010-03-01 2014-06-25 独立行政法人理化学研究所 物性測定装置、物性測定方法及びプログラム
CN102175662B (zh) * 2011-03-07 2013-04-24 周利坤 一种便携式太赫兹遥感探测器及远程探测方法
JP5305482B2 (ja) * 2011-03-28 2013-10-02 日本電気株式会社 撮像装置、撮像方法
CN102759753B (zh) * 2011-04-29 2015-08-26 同方威视技术股份有限公司 隐藏危险品检测方法及设备
DE102012003201A1 (de) * 2012-02-17 2013-08-22 Hübner GmbH Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung von Postsendungen im Hinblick auf gefährliche Inhaltsstoffe
JP2014001925A (ja) * 2012-06-14 2014-01-09 Canon Inc 測定装置及び方法、トモグラフィ装置及び方法
CN103767682B (zh) * 2012-10-19 2018-02-13 深圳先进技术研究院 太赫兹光谱成像系统和方法
US9494464B2 (en) * 2013-02-20 2016-11-15 Battelle Energy Alliance, Llc Terahertz imaging devices and systems, and related methods, for detection of materials
JPWO2014132620A1 (ja) * 2013-02-26 2017-02-02 味の素株式会社 毛髪等の繊維状物質の検出方法および装置
JP6195052B2 (ja) * 2013-03-08 2017-09-13 セイコーエプソン株式会社 標本検査装置
JP2016176689A (ja) * 2013-07-04 2016-10-06 株式会社日立ハイテクノロジーズ 干渉測定方法、及びその装置
CN103822577B (zh) * 2014-03-13 2017-04-05 中国电子科技集团公司第三十八研究所 单像素太赫兹全息成像装置和方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN105181623B (zh) 2017-11-28
EP3165901A1 (en) 2017-05-10
EP3165901B1 (en) 2020-02-12
EP3165901A4 (en) 2018-04-11
TWI640760B (zh) 2018-11-11
CN105181623A (zh) 2015-12-23
US20170184495A1 (en) 2017-06-29
US9945776B2 (en) 2018-04-17
WO2017020402A1 (zh) 2017-02-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20200249156A1 (en) Advanced thz system and method
JP4963640B2 (ja) 物体情報取得装置及び方法
US7263160B2 (en) Method and device for examining an object
US9442212B2 (en) Methods and devices for inspecting liquid
WO2016070739A1 (zh) 多能谱x射线光栅成像系统与成像方法
Brahm et al. Volumetric spectral analysis of materials using terahertz-tomography techniques
TW201713933A (zh) 郵件檢測裝置及郵件檢測方法
US8536530B2 (en) Terahertz wave transceiver and tomographic image acquisition apparatus
CN106353834A (zh) 一种太赫兹成像系统及太赫兹安检装置
US20070140423A1 (en) Imaging system with long-standoff capability
US20190265383A1 (en) Generation of diffraction signature of item within object
EP3388868B1 (en) Inspection devices and methods for inspecting a container
JP2017075945A (ja) 連続波THzビームスキャンを用いた高速三次元映像検出装置
US20090314943A1 (en) System and method for terahertz imaging
JP2009503557A (ja) 放射線を用いて液体物品に対する保安検査を行う方法及び装置
Brahm et al. Optical effects at projection measurements for terahertz tomography
JP2010133934A5 (zh)
JP5855027B2 (ja) 物体を識別および認証するための方法およびシステム
CN206114926U (zh) 一种太赫兹成像系统及太赫兹安检装置
CN107193051A (zh) 一种太赫兹传送带检测系统
US20210025836A1 (en) Substance identification device and method for extracting statistical feature based on cluster analysis
US9262692B2 (en) Methods and systems for detection and identification of concealed materials
KR102045079B1 (ko) 테라헤르츠파를 이용한 검사 장치
US7477725B2 (en) Computed examination of an object by using coherent-scattered radiation
CN113205516A (zh) 一种实现物品检测的方法和系统