TW201702811A - 具使用習性調適之輸入裝置及其調適方法 - Google Patents
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Abstract
一種具使用習性調適之輸入裝置,其包括:一記憶體,儲存一預設取樣頻率及一預設取樣次數;一按鍵電路,其一按鍵被按下時產生一按鍵波形;以及一微處理器,以儲存在該記憶體中之該預設取樣頻率及該預設取樣次數對該按鍵電路產生之該按鍵波形進行取樣,以得到複數個取樣按鍵信號,判斷在相應該按鍵波形中穩定及正確的波形區段中以該預設取樣次數所取樣之該等取樣按鍵信號,以送出相應該按鍵波形之一按鍵信號。本發明另提供一種具使用習性調適之輸入裝置之調適方法。
Description
本發明有關於電腦之周邊裝置之技術領域,特別有關於一種具使用習性調適之輸入裝置及其調適方法。
電腦常用之周邊裝置中,滑鼠或鍵盤經常作為輸入裝置,在按壓此類輸入裝置上的按鍵時,按鍵下方的導電接點接觸,而在輸入裝置之按鍵電路與微處理器間傳送電信號,從而達到由輸入裝置向電腦輸入訊息的作用。
當輸入裝置之按鍵按下與放開時,由輸入裝置之按鍵電路輸入至輸入裝置之微處理器的電信號會出現按鍵信號彈跳反應時間,該按鍵信號彈跳反應時間的時間長短會直接影響按鍵反應速度的快慢,進而影響電腦輸入操作的效率。
有鑒於上述問題,本發明提供一種具使用習性調適之輸入裝置及其調適方法,收集與統計使用者使用輸入裝置之使用習性,根據該使用習性以自動或手動適當地調整對按鍵電路的按鍵波形取樣的取樣頻率及取樣次數,以獲得該按鍵波形中穩定及正確之波形區段的判斷,而大幅縮短按鍵信號彈跳反應時間的判斷時間,進而增加電腦輸入操作的效率。
本發明之第一態樣係提供一種具使用習性調適之輸
入裝置,其包括:一記憶體,儲存一預設取樣頻率及一預設取樣次數;一按鍵電路,其一按鍵被按下時產生一按鍵波形;以及一微處理器,以儲存在該記憶體中之該預設取樣頻率及該預設取樣次數對該按鍵電路產生之該按鍵波形進行取樣,以得到複數個取樣按鍵信號,判斷在相應該按鍵波形中穩定及正確的波形區段中以該預設取樣次數所取樣之該等取樣按鍵信號,以送出相應該按鍵波形之一按鍵信號。
本發明之第二態樣係提供一種具使用習性調適之輸入裝置,其包括:一記憶體,儲存一預設取樣頻率及一預設取樣次數;一按鍵電路,其一按鍵被按下時產生一按鍵波形;以及一微處理器,以該預設取樣頻率及該預設取樣次數對該按鍵電路之該按鍵波形進行取樣,以得到複數個取樣按鍵信號,且對該等取樣按鍵信號進行分析,以統計出一使用者之一使用習性資料,再根據該使用習性資料調整該預設取樣頻率及該預設取樣次數以得到一調適取樣頻率及一調適取樣次數,而再以該調適取樣頻率及該調適取樣次數對該按鍵電路之該按鍵波形進行取樣,判斷在相應該按鍵波形中穩定及正確的波形區段中以該取樣次數所取樣之該等取樣按鍵信號,以送出相應該按鍵波形之一按鍵信號。
本發明之第三態樣係提供一種具使用習性調適之輸入裝置,其包括:一記憶體,儲存一取樣頻率及一取樣次數;一按鍵電路,其一按鍵被按下時產生一按鍵波形;以及
一微處理器,以該取樣頻率及該取樣次數對該按鍵電路之該按鍵波形進行取樣,以得到複數個取樣按鍵信號,判斷在相應該按鍵波形中穩定及正確的波形區段中以該取樣次數所取樣之該等取樣按鍵信號為錯誤時產生一錯誤信號。
本發明之第四態樣係提供一種具使用習性調適之輸入裝置之調適方法,其包括下列步驟:按下一按鍵電路之一按鍵,由該按鍵電路產生一按鍵波形;以及由一微處理器以在一記憶體中之一預設取樣頻率及一預設取樣次數對該按鍵電路產生之該按鍵波形進行取樣,以得到複數個取樣按鍵信號,並判斷在相應該按鍵波形中穩定及正確的波形區段中以該預設取樣次數所取樣之該等取樣按鍵信號,以送出相應該按鍵波形之一按鍵信號。
本發明之第五態樣係提供一種具使用習性調適之輸入裝置之調適方法,其包括下列步驟:按下一按鍵電路之一按鍵,由該按鍵電路產生一按鍵波形;由一微處理器以在一記憶體中之一預設取樣頻率及一預設取樣次數對該按鍵電路產生之該按鍵波形進行取樣,以得到複數個取樣按鍵信號;由該微處理器對該等取樣按鍵信號進行分析,以統計出一使用者之一使用習性資料;由該微處理器根據該使用習性資料調整該預設取樣頻率及該預設取樣次數,以得到一調適取樣頻率及一調適取樣次數;以及由該微處理器以該調適取樣頻率及該調適取樣次數對該按鍵
電路之該按鍵波形進行取樣,以得到該等取樣按鍵信號,判斷在相應該按鍵波形中穩定及正確的波形區段中以該調適取樣次數所取樣之該等取樣按鍵信號,以送出相應該按鍵波形之該按鍵信號。
本發明之第六態樣係提供一種具使用習性調適之輸入裝置之調適方法,其包括下列步驟:按下一按鍵電路之一按鍵,由該按鍵電路產生一按鍵波形;由一微處理器以在一記憶體中之一取樣頻率及一取樣次數對該按鍵電路產生之該按鍵波形進行取樣,以得到複數個取樣按鍵信號;以及由該微處理器判斷在相應該按鍵波形中穩定及正確的波形區段中以該取樣次數所取樣之該等取樣按鍵信號為錯誤時產生一錯誤信號。
10‧‧‧輸入裝置
12‧‧‧微處理器
14‧‧‧記憶體
16‧‧‧按鍵電路
18‧‧‧顯示裝置
20‧‧‧電腦
圖1為本發明之具使用習性調適之輸入裝置之方塊圖;圖2為本發明之第一實施例之具使用習性調適之輸入裝置之調適方法之流程圖;圖3為本發明之第二實施例之具使用習性調適之輸入裝置之調適方法之流程圖;以及圖4為本發明之第三實施例之具使用習性調適之輸入裝置之調適方法之流程圖。
為使熟習本發明所屬技術領域之一般技藝者能更進一步了解本發明,下文特列舉本發明之數個較佳實施例,並配合所
附圖式,詳細說明本發明的構成內容及所欲達成之功效。
圖1為本發明之具使用習性調適之輸入裝置之方塊圖。在圖1中,連接至電腦20之輸入裝置10包括一微處理器12、一記憶體14、一具有數個按鍵(未圖示)之按鍵電路16及一顯示裝置18。其中,輸入裝置10可以是一滑鼠或一鍵盤等周邊裝置。其中,顯示裝置18可視需求而決定是否在輸入裝置10中配置。
記憶體14儲存一預設取樣頻率及一預設取樣次數,在本實施例中,對一按鍵波形取樣之預設取樣頻率係設定為100ms、預設取樣次數係設定對一個按鍵波形中取樣100次取樣信號中取其中的30次取樣信號,該30次取樣信號可以是選擇在按鍵波形中穩定及正確的波形區段所取樣之信號,去除按鍵波形中有雜訊波形區段所取樣之信號,以及減少在按鍵波形中穩定及正確的波形區段所取樣之信號,如此可大幅縮短按鍵信號彈跳反應時間的判斷時間,進而增加電腦輸入操作的效率。前述之預設取樣頻率及預設取樣次數係作為本發明之範例,並非用以侷限本發明,可以適當地選擇預設取樣頻率及預設取樣次數來實現本發明之操作。
當使用輸入裝置10之使用者按下按鍵電路16之按鍵時,按鍵電路16產生按鍵波形並送至微理處器12。微處理器12以儲存在記憶體14中之預設取樣頻率及預設樣次數對按鍵電路16產生之按鍵波形進行取樣,以得到數個取樣按鍵信號,微理處器12在相應按鍵波形中穩定及正確的波形區段中判斷以預設取樣次數所取樣之取樣按鍵信號,以送出相應按鍵波形之一按鍵信號至電腦20。
微處理器12對該等取樣按鍵信號進行分析,以統計出一使用者之一使用習性資料,並將該使用習性資料儲存於記憶體14
中。其中,使用習性資料包括使用者一整天按下按鍵的次數、按下按鍵的時間長度及連續按下按鍵的時間間隔等資料。
在另一實施例中,為了縮短按鍵信號彈跳反應時間的判斷時間,進而增加電腦輸入操作的效率,以收集與統計使用者使用輸入裝置之使用習性,並根據該使用習性由微處理器12自動適當地調整對按鍵電路16的按鍵波形取樣的一調適取樣頻率及一調適取樣次數,同樣可以獲得按鍵波形中穩定及正確之波形區段的判斷,例如將為100ms之預設取樣頻率調整為200ms之調適取樣頻率為,將在一個按鍵波形中取樣100次取樣信號中取其中的30次取樣信號之預設取樣次數調整為在一個按鍵波形中取樣100次取樣信號中取其中的20次取樣信號之調適取樣次數。微處理器12將調適取樣頻率及調適取樣次數儲存在記憶體14中。
微處理器12以儲存在記憶體14中之調適取樣頻率及調適取樣次數對按鍵電路16產生之按鍵波形進行取樣,以得到數個取樣按鍵信號,微理處器12在相應按鍵波形中穩定及正確的波形區段中判斷以調適取樣次數所取樣之取樣按鍵信號,以送出相應按鍵波形之一按鍵信號至電腦20。
在又一實施例中,微處理器12以儲存在記憶體14中之預設取樣頻率及預設樣次數或調適取樣頻率及調適取樣次數對按鍵電路16產生之按鍵波形進行取樣,以得到數個取樣按鍵信號,微理處器12在相應按鍵波形中穩定及正確的波形區段中判斷以取樣次數所取樣之該等取樣按鍵信號為錯誤時產生一錯誤信號,並將錯誤信號傳送至輸入裝置10之顯示裝置18或電腦20。
顯示裝置18接收到微處理器12送出之錯誤信號後顯
示一故障提示或顯示為錯誤波形之按鍵波形。電腦20接收到微處理器12送出之錯誤信號後在電腦20之螢幕(未圖示)顯示故障提示或顯示為錯誤波形之按鍵波形。當使用者由顯示裝置18或電腦20之螢幕觀看到故障提示或為錯誤波形之按鍵波形時,使用者得知產生錯誤之按鍵波形的按鍵及其電接點係為故障,使用者便可以將故障之按鍵及其電接點進行更換。
參照上述具使用習性調適之輸入裝置之方塊圖以說明本發明之下列數個實施例之具使用習性調適之輸入裝置之調適方法。
第一實施例
圖2為本發明之第一實施例之具使用習性調適之輸入裝置之調適方法之流程圖。在第一實施例中,使用輸入裝置之使用者依據其自身的使用習性,預先將如上述之預設取樣頻率(100ms)及預設樣次數(在一個按鍵波形中取樣100次取樣信號中取其中30次取樣信號)等資料儲存在記憶體14中。
在圖2中,為滑鼠或鍵盤之輸入裝置10連接至電腦20,當按下輸入裝置10之按鍵電路16之按鍵時,由按鍵電路16產生按鍵波形並送至微理處器12(步驟S30)。
由微處理器12以儲存在記憶體14中之預設取樣頻率及預設樣次數對按鍵電路16產生之按鍵波形進行取樣,以得到數個取樣按鍵信號(例如100個取樣按鍵信號),由微理處器12在相應按鍵波形中穩定及正確的波形區段中判斷以預設取樣次數所取樣之取樣按鍵信號(在一個按鍵波形中取樣100個取樣按鍵信號中取30個取樣按鍵信號),當微理處器12以所取樣之取樣按鍵信號判斷出按
鍵波形的正確狀態時,送出相應按鍵波形之一按鍵信號至電腦20(步驟S32)。
由微處理器12對該等取樣按鍵信號進行分析,以統計出使用者之使用習性資料,並將使用習性資料儲存於記憶體14中(步驟S34)。其中,使用習性資料包括使用者一整天按下按鍵的次數、按下按鍵的時間長度及連續按下按鍵的時間間隔等資料。
第二實施例
圖3為本發明之第二實施例之具使用習性調適之輸入裝置之調適方法之流程圖。在第二實施例中,預先將如上述之預設取樣頻率(100ms)及預設樣次數(在一個按鍵波形中取樣100次取樣信號中取其中30次取樣信號)等資料儲存在記憶體14中。
在圖3中,為滑鼠或鍵盤之輸入裝置10連接至電腦20,當按下輸入裝置10之按鍵電路16之按鍵時,由按鍵電路16產生按鍵波形並送至微理處器12(步驟S40)。
由微處理器12以儲存在記憶體14中之預設取樣頻率及預設樣次數對按鍵電路16產生之按鍵波形進行取樣,以得到數個取樣按鍵信號(例如100個取樣按鍵信號),由微理處器12在相應按鍵波形中穩定及正確的波形區段中判斷以預設取樣次數所取樣之取樣按鍵信號(在一個按鍵波形中取樣100個取樣按鍵信號中取30個取樣按鍵信號),當微理處器12以所取樣之取樣按鍵信號判斷出按鍵波形的正確狀態時,送出相應按鍵波形之一按鍵信號至電腦20(步驟S42)。
由微處理器12對該等取樣按鍵信號進行分析,以統計出使用者之使用習性資料,並將使用習性資料儲存於記憶體14中
(步驟S44)。其中,使用習性資料包括使用者一整天按下按鍵的次數、按下按鍵的時間長度及連續按下按鍵的時間間隔等資料。
由微處理器12在收集與統計使用者使用輸入裝置之使用習性後所得到之使用習性資料,以根據該使用習性資料由微處理器12自動適當地調整對按鍵電路16的按鍵波形取樣之上述調適取樣頻率(200ms)及調適取樣次數(例如在一個按鍵波形中取樣100個取樣按鍵信號中取20個取樣按鍵信號),同樣可以獲得按鍵波形中穩定及正確之波形區段的判斷(步驟S46)。由微處理器12將調適取樣頻率及調適取樣次數儲存在記憶體14中。
由微處理器12以儲存在記憶體14中之調適取樣頻率及調適取樣次數對按鍵電路16產生之按鍵波形進行取樣,以得到數個取樣按鍵信號(例如100個取樣按鍵信號),由微理處器12在相應按鍵波形中穩定及正確的波形區段中判斷以調適取樣次數所取樣之取樣按鍵信號(在一個按鍵波形中取樣100個取樣按鍵信號中取20個取樣按鍵信號),當微理處器12以所取樣之取樣按鍵信號判斷出按鍵波形的正確狀態時,送出相應按鍵波形之一按鍵信號至電腦20(步驟S48)。
第三實施例
圖4為本發明之第三實施例之具使用習性調適之輸入裝置之調適方法之流程圖。在第三實施例中,預先將如上述之預設取樣頻率(100ms)及預設樣次數(在一個按鍵波形中取樣100次取樣信號中取其中30次取樣信號)等資料儲存在記憶體14中。
在圖4中,為滑鼠或鍵盤之輸入裝置10連接至電腦20,當按下輸入裝置10之按鍵電路16之按鍵時,由按鍵電路16產生
按鍵波形並送至微理處器12(步驟S50)。
由微處理器12以儲存在記憶體14中之預設取樣頻率及預設樣次數對按鍵電路16產生之按鍵波形進行取樣,以得到數個取樣按鍵信號(例如100個取樣按鍵信號),由微理處器12在相應按鍵波形中穩定及正確的波形區段中判斷以取樣次數(在一個按鍵波形中取樣100個取樣按鍵信號中取30個取樣按鍵信號)所取樣之該等取樣按鍵信號為錯誤時產生一錯誤信號,並將錯誤信號傳送至顯示裝置18或電腦20(步驟S52)。
由顯示裝置18接收到微處理器12送出之錯誤信號後顯示故障提示或顯示為錯誤波形之按鍵波形;或由電腦20接收到微處理器12送出之錯誤信號後在電腦20之螢幕(未圖示)顯示故障提示或顯示為錯誤波形之按鍵波形(步驟S54)。
當使用者由顯示裝置18或電腦20之螢幕觀看到故障提示或為錯誤波形之按鍵波形時,使用者得知產生錯誤之按鍵波形的按鍵及其電接點係為故障,使用者便可以將故障之按鍵及其電接點進行更換。
本發明係提供一種具使用習性調適之輸入裝置及其調適方法,其優點在於收集與統計使用者使用輸入裝置之使用習性,根據該使用習性以自動或手動適當地調整對按鍵電路的按鍵波形取樣的取樣頻率及取樣次數,以獲得該按鍵波形中穩定及正確之波形區段的判斷,而大幅縮短按鍵信號彈跳反應時間的判斷時間,進而增加電腦輸入操作的效率,而且經由判斷按鍵波形得知按鍵及其電接點是否故障。
雖然本發明已參照較佳具體例及舉例性附圖敘述如
上,惟其應不被視為係限制性者。熟悉本技藝者對其形態及具體例之內容做各種修改、省略及變化,均不離開本發明之申請專利範圍之所主張範圍。
10‧‧‧輸入裝置
12‧‧‧微處理器
14‧‧‧記憶體
16‧‧‧按鍵電路
18‧‧‧顯示裝置
20‧‧‧電腦
Claims (17)
- 一種具使用習性調適之輸入裝置,其包括:一記憶體,儲存一預設取樣頻率及一預設取樣次數;一按鍵電路,其一按鍵被按下時產生一按鍵波形;以及一微處理器,以儲存在該記憶體中之該預設取樣頻率及該預設取樣次數對該按鍵電路產生之該按鍵波形進行取樣,以得到複數個取樣按鍵信號,判斷在相應該按鍵波形中穩定及正確的波形區段中以該預設取樣次數所取樣之該等取樣按鍵信號,以送出相應該按鍵波形之一按鍵信號。
- 如申請專利範圍第1項之輸入裝置,其中,該微處理器對該等取樣按鍵信號進行分析,以統計出一使用者之一使用習性資料,並將該使用習性資料儲存於該記憶體中,而該使用習性資料包括該使用者一整天按下該按鍵的次數、按下該按鍵的時間長度及連續按下該按鍵的時間間隔。
- 如申請專利範圍第1項之輸入裝置,其中,該輸入裝置係一滑鼠或一鍵盤。
- 一種具使用習性調適之輸入裝置,其包括:一記憶體,儲存一預設取樣頻率及一預設取樣次數;一按鍵電路,其一按鍵被按下時產生一按鍵波形;以及一微處理器,以該預設取樣頻率及該預設取樣次數對該按鍵電路之該按鍵波形進行取樣,以得到複數個取樣按鍵信號,且對該等取樣按鍵信號進行分析,以統計出一使用者之一使用習性資料,再根據該使用習性資料調整該預設取樣頻率及該預設取樣次數以得到一調適取樣頻率及一調適取樣次數,而再以該調適取樣頻率及該調 適取樣次數對該按鍵電路之該按鍵波形進行取樣,判斷在相應該按鍵波形中穩定及正確的波形區段中以該取樣次數所取樣之該等取樣按鍵信號,以送出相應該按鍵波形之一按鍵信號。
- 如申請專利範圍第4項之輸入裝置,其中,該微處理器將該調適取樣頻率、該調適取樣次數及該使用習性資料儲存於該記憶體中,而該使用習性資料包括該使用者一整天按下該按鍵的次數、按下該按鍵的時間長度及連續按下該按鍵的時間間隔。
- 如申請專利範圍第4項之輸入裝置,其中,該輸入裝置係一滑鼠或一鍵盤。
- 一種具使用習性調適之輸入裝置,其包括:一記憶體,儲存一取樣頻率及一取樣次數;一按鍵電路,其一按鍵被按下時產生一按鍵波形;以及一微處理器,以該取樣頻率及該取樣次數對該按鍵電路之該按鍵波形進行取樣,以得到複數個取樣按鍵信號,判斷在相應該按鍵波形中穩定及正確的波形區段中以該取樣次數所取樣之該等取樣按鍵信號為錯誤時產生一錯誤信號。
- 如申請專利範圍第7項之輸入裝置,進一步包括一顯示裝置,接收到該微處理器發出之該錯誤信號後顯示一故障提示或顯示該按鍵波形。
- 如申請專利範圍第7項之輸入裝置,其中,該微處理器送出該錯誤信號或該按鍵波形至一電腦,而由該電腦根據該錯誤信號在其一螢幕顯示一故障提示或顯示該按鍵波形。
- 如申請專利範圍第7項之輸入裝置,其中,該輸入裝置係一滑鼠或一鍵盤。
- 一種具使用習性調適之輸入裝置之調適方法,其包括下列步驟:按下一按鍵電路之一按鍵,由該按鍵電路產生一按鍵波形;以及由一微處理器以在一記憶體中之一預設取樣頻率及一預設取樣次數對該按鍵電路產生之該按鍵波形進行取樣,以得到複數個取樣按鍵信號,並判斷在相應該按鍵波形中穩定及正確的波形區段中以該預設取樣次數所取樣之該等取樣按鍵信號,以送出相應該按鍵波形之一按鍵信號。
- 如申請專利範圍第11項之調適方法,進一步包括下列步驟:由該微處理器對該等取樣按鍵信號進行分析,以統計出一使用者之一使用習性資料;其中,由該微處理器將該使用習性資料儲存於該記憶體中,而該使用習性資料包括該使用者一整天按下該按鍵的次數、按下該按鍵的時間長度及連續按下該按鍵的時間間隔。
- 一種具使用習性調適之輸入裝置之調適方法,其包括下列步驟:按下一按鍵電路之一按鍵,由該按鍵電路產生一按鍵波形;由一微處理器以在一記憶體中之一預設取樣頻率及一預設取樣次數對該按鍵電路產生之該按鍵波形進行取樣,以得到複數個取樣按鍵信號;由該微處理器對該等取樣按鍵信號進行分析,以統計出一使用者之一使用習性資料;由該微處理器根據該使用習性資料調整該預設取樣頻率及該預設取樣次數,以得到一調適取樣頻率及一調適取樣次數;以及 由該微處理器以該調適取樣頻率及該調適取樣次數對該按鍵電路之該按鍵波形進行取樣,以得到該等取樣按鍵信號,判斷在相應該按鍵波形中穩定及正確的波形區段中以該調適取樣次數所取樣之該等取樣按鍵信號,以送出相應該按鍵波形之該按鍵信號。
- 如申請專利範圍第13項之調適方法,其中,由該微處理器將該調適取樣頻率、該調適取樣次數及該使用習性資料儲存於該記憶體中,而該使用習性資料包括該使用者一整天按下該按鍵的次數、按下該按鍵的時間長度及連續按下該按鍵的時間間隔。
- 一種具使用習性調適之輸入裝置之調適方法,其包括下列步驟:按下一按鍵電路之一按鍵,由該按鍵電路產生一按鍵波形;由一微處理器以在一記憶體中之一取樣頻率及一取樣次數對該按鍵電路產生之該按鍵波形進行取樣,以得到複數個取樣按鍵信號;以及由該微處理器判斷在相應該按鍵波形中穩定及正確的波形區段中以該取樣次數所取樣之該等取樣按鍵信號為錯誤時產生一錯誤信號。
- 如申請專利範圍第15項之調適方法,其中,由一顯示裝置接收到該微處理器發出之該錯誤信號後顯示一故障提示或該按鍵波形。
- 如申請專利範圍第15項之調適方法,其中,由該微處理器送出該錯誤信號或該按鍵波形至一電腦,而由該電腦根據該錯誤信號在其一螢幕顯示一故障提示或顯示該按鍵波形。
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