TW201525499A - 直流電源測試系統 - Google Patents

Abstract

一種直流電源測試系統，用以對一直流電源之輸出電壓進行測試，所述直流電源測試系統包括一訊號發生器、一模數轉換器、一測試儀器、一第一開關電路及一第二開關電路，所述訊號發生器輸出一第一類比控制訊號與一第二類比控制訊號，所述模數轉換器接收所述第一類比控制訊號，並將所述第一類比控制訊號轉換為數位控制訊號，所述第一開關電路包括複數負載，所述第一開關電路接收所述數位控制訊號，並根據所述數位控制訊號選擇相應之負載接入所述直流電源，所述直流電源輸出一工作電壓，所述第二開關電路接收所述第二類比控制訊號，並根據所述第二類比控制訊號打開從而將所述工作電壓輸出給相應之負載，所述測試儀器電性連接所述直流電源以檢測其工作電壓。

Description

直流電源測試系統

本發明涉及一種直流電源測試系統，特別涉及一種可對直流電源於不同負載條件下之輸出電壓進行測試之直流電源測試系統。

隨著伺服器功能之逐漸增強，人們對伺服器之穩定性之要求亦越來越高。伺服器中通常具有複數直流電源為其供電，因此於伺服器生產與組裝完成後需要對其直流電源進行供電測試。習知之測試方法需要藉由一直流電子負載儀逐一之對各個電源於不同負載條件下之輸出電壓進行測試，從而對各個電源於不同電流值與電流轉換速度下輸出電壓之穩定性進行測試。習知之直流電子負載儀無法類比電源於小電流值高電流轉換速度下之測試條件，導致測試結果不準確。

有鑑於此，有必要提供一種可對直流電源於不同負載條件下之輸出電壓進行測試之直流電源測試系統。

一種直流電源測試系統，用以對一直流電源之輸出電壓進行測試，所述直流電源測試系統包括一訊號發生器、一模數轉換器、一測試儀器、一第一開關電路及一第二開關電路，所述訊號發生器輸出一第一類比控制訊號與一第二類比控制訊號，所述模數轉換器接收所述第一類比控制訊號，並將所述第一類比控制訊號轉換為數位控制訊號，所述第一開關電路包括複數負載，所述第一開關電路接收所述數位控制訊號，並根據所述數位控制訊號選擇相應之負載接入所述直流電源，所述直流電源輸出一工作電壓，所述第二開關電路接收所述第二類比控制訊號，並根據所述第二類比控制訊號打開從而將所述工作電壓輸出給相應之負載，所述測試儀器電性連接所述直流電源以檢測其工作電壓。

相較於先前技術，本發明提供的直流電源測試系統藉由所述第一開關電路接收所述數位控制訊號，並根據所述數位控制訊號選擇相應之負載接入所述直流電源，所述第二開關電路接收所述第二類比控制訊號，並根據所述第二類比控制訊號打開從而將所述工作電壓輸出給相應之負載，所述測試儀器電性連接所述直流電源以檢測其工作電壓，所述直流電源測試系統藉由所述訊號發生器選擇不同之負載對所述直流電源進行檢測，可模擬出小電流值高電流轉換速度下之測試條件，測試結果準確度高。

圖1為本發明直流電源測試系統之一較佳實施方式之一框圖。

圖2為圖1中直流電源測試系統之一較佳實施方式之一電路圖。

請參閱圖1，於本發明之一較佳實施方式中，一直流電源測試系統用以對一直流電源90之輸出電壓進行測試，所述直流電源測試系統包括一主控設備10、一訊號發生器20、一模數轉換器30、一驅動器40、一第一開關電路50、一第二開關電路60、一電子負載儀70及一測試儀器80。所述主控設備10內儲存有複數測試指令，所述主控設備10根據相應之測試指令發出一控制指令與一電壓指令。所述訊號發生器20接收所述控制指令，並根據所述控制指令輸出一第一類比控制訊號與一第二類比控制訊號。所述直流電源90接收所述電壓指令，並根據所述電壓指令輸出相應之工作電壓。所述模數轉換器30接收所述第一類比控制訊號，並將所述第一類比控制訊號轉換為複數數位控制訊號。所述驅動器40接收所述複數數位控制訊號，並將所述複數數位控制訊號放大後輸出。所述第一開關電路50接收所述放大後之複數數位控制訊號，並根據所述放大後之複數數位控制訊號選擇相應之負載接入所述直流電源90。所述第二開關電路60接收所述第二類比控制訊號，並根據所述第二類比控制訊號打開從而將所述工作電壓輸出給相應之負載。所述電子負載儀70用以為相應之負載提供一最小工作電流。所述測試儀器80電性連接所述直流電源90以檢測其工作電壓是否穩定。其中，所述測試儀器80為一示波器。

請參閱圖2，所述模數轉換器30包括一類比訊號輸入端PA1與複數第一數位訊號輸出端PB1-PB8。所述驅動器40包括複數第一數位訊號輸入端PC1-PC8與複數第二數位訊號輸出端PD1-PD3。所述類比訊號輸入端PA1電性連接所述訊號發生器20以接收所述第一類比控制訊號。所述複數第一數位訊號輸出端PB1-PB8電性連接所述複數第一數位訊號輸入端PC1-PC8以輸出所述複數數位控制訊號。所述複數第二數位訊號輸出端PD1-PD3輸出所述放大後之複數數位控制訊號。

所述第一開關電路50包括一第一場效應電晶體Q1、一第二場效應電晶體Q2、一第三場效應電晶體Q3、一第一電阻R1、一第二電阻R2及一第三電阻R3。每一第一場效應電晶體Q1、第二場效應電晶體Q2及第三場效應電晶體Q3分別包括一閘極、一源極及一汲極。所述第一場效應電晶體Q1、第二場效應電晶體Q2及第三場效應電晶體Q3之閘極分別電性連接所述複數第二數位訊號輸出端PD1-PD3以接收所述放大後之複數數位控制訊號。所述第一場效應電晶體Q1、第二場效應電晶體Q2及第三場效應電晶體Q3之汲極分別經由所述第一電阻R1、所述第二電阻R2及所述第三電阻R3接收所述直流電源90輸出之工作電壓。其中，所述第一場效應電晶體Q1、所述第二場效應電晶體Q2及所述第三場效應電晶體Q3為N溝道場效應電晶體。所述第一電阻R1、所述第二電阻R2及所述第三電阻R3之阻值各不相同。

所述第二開關電路60包括一第四場效應電晶體Q4、一二極體D及一第四電阻R4。所述第四場效應電晶體Q4包括一閘極、一源極及一汲極。所述二極體D之陽極與所述第四電阻R4之一端電性相連後接收所述第二類比控制訊號。所述二極體D之陰極與所述第四電阻R4之另一端電性連接所述第四場效應電晶體Q4之閘極。所述第四場效應電晶體Q4之源極接地。所述第四場效應電晶體Q4之汲極電性連接所述第一場效應電晶體Q1、第二場效應電晶體Q2及第三場效應電晶體Q3之源極。所述第四場效應電晶體Q4之汲極電性連接所述電子負載儀70以接收所述最小工作電流。其中，所述第四場效應電晶體Q4為N溝道場效應電晶體。

工作時，所述主控設備10根據相應之測試指令發出所述控制指令給所述訊號發生器20，並發出所述電壓指令給所述直流電源90。所述訊號發生器20根據所述控制指令輸出所述第一類比控制訊號與所述第二類比控制訊號。所述直流電源90根據所述電壓指令輸出相應之工作電壓。所述模數轉換器30將所述第一類比控制訊號轉換為複數數位控制訊號。所述驅動器40將所述複數數位控制訊號放大後輸出。所述第一場效應電晶體Q1、第二場效應電晶體Q2及第三場效應電晶體Q3之閘極接收所述放大後之複數數位控制訊號，並根據相應之放大後之數位控制訊號導通或截止，從而選擇所述第一電阻R1、所述第二電阻R2及所述第三電阻R3中之其中一個或多個接入所述直流電源90。同時所述第四場效應電晶體Q4之閘極接收所述第二類比控制訊號，並根據所述第二類比控制訊號打開從而將所述工作電壓輸出給接入所述直流電源90之電阻。其中，藉由選擇接入所述直流電源90之不同電阻可對所述直流電源90之輸出電流進行調節，此時於所述測試儀器80上即可觀察到所述直流電源90於不同大小輸出電流下之工作電壓是否穩定。同時，藉由控制所述第四場效應電晶體Q4之閉合與斷開可對所述直流電源90輸出電流之切換頻率進行調節，此時於所述測試儀器80上即可觀察到所述直流電源90於不同之輸出電流切換頻率下之工作電壓是否穩定。所述直流電源90根據所述電壓指令輸出不同之工作電壓，進而可對所述直流電源90輸出之多個工作電壓進行檢測。

本發明提供的直流電源測試系統藉由所述第一開關電路接收所述數位控制訊號，並根據所述數位控制訊號選擇相應之負載接入所述直流電源，所述第二開關電路接收所述第二類比控制訊號，並根據所述第二類比控制訊號打開從而將所述工作電壓輸出給相應之負載，所述測試儀器電性連接所述直流電源以檢測其工作電壓，所述直流電源測試系統藉由所述訊號發生器選擇不同之負載對所述直流電源進行檢測，可模擬出小電流值高電流轉換速度下之測試條件，測試結果準確度高。

綜上所述，本發明確已符合發明專利之要件，遂依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士爰依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。

10‧‧‧主控設備

20‧‧‧訊號發生器

30‧‧‧模數轉換器

40‧‧‧驅動器

50‧‧‧第一開關電路

60‧‧‧第二開關電路

70‧‧‧電子負載儀

80‧‧‧測試儀器

90‧‧‧直流電源

Q1‧‧‧第一場效應電晶體

Q2‧‧‧第二場效應電晶體

Q3‧‧‧第三場效應電晶體

Q4‧‧‧第四場效應電晶體

D‧‧‧二極體

R1‧‧‧第一電阻

R2‧‧‧第二電阻

R3‧‧‧第三電阻

R4‧‧‧第四電阻

無

10‧‧‧主控設備

20‧‧‧訊號發生器

30‧‧‧模數轉換器

40‧‧‧驅動器

50‧‧‧第一開關電路

60‧‧‧第二開關電路

70‧‧‧電子負載儀

80‧‧‧測試儀器

90‧‧‧直流電源

Claims (9)

1. 一種直流電源測試系統，用以對一直流電源之輸出電壓進行測試，所述直流電源測試系統包括一訊號發生器、一模數轉換器及一測試儀器，所述直流電源測試系統還包括一第一開關電路與一第二開關電路，所述訊號發生器輸出一第一類比控制訊號與一第二類比控制訊號，所述模數轉換器接收所述第一類比控制訊號，並將所述第一類比控制訊號轉換為數位控制訊號，所述第一開關電路包括複數負載，所述第一開關電路接收所述數位控制訊號，並根據所述數位控制訊號選擇相應之負載接入所述直流電源，所述直流電源輸出一工作電壓，所述第二開關電路接收所述第二類比控制訊號，並根據所述第二類比控制訊號打開從而將所述工作電壓輸出給相應之負載，所述測試儀器電性連接所述直流電源以檢測其工作電壓。
2. 如請求項1所述的直流電源測試系統，其中：所述直流電源測試系統還包括一主控設備，所述主控設備內儲存有測試指令，所述主控設備根據測試指令發出一控制指令，所述訊號發生器根據所述控制指令輸出所述第一類比控制訊號與所述第二類比控制訊號。
3. 如請求項2所述的直流電源測試系統，其中：所述主控設備根據測試指令發出一電壓指令，所述直流電源接收所述電壓指令，並根據所述電壓指令輸出相應之工作電壓。
4. 如請求項1所述的直流電源測試系統，其中：所述直流電源測試系統還包括一驅動器，所述驅動器接收所述數位控制訊號，並將所述數位控制訊號放大後輸出給所述第一開關電路。
5. 如請求項1所述的直流電源測試系統，其中：所述直流電源測試系統還包括一電子負載儀，用以為相應之負載提供一最小工作電流。
6. 如請求項1所述的直流電源測試系統，其中：所述第一開關電路包括一第一場效應電晶體與一第一電阻，所述第二開關電路包括一第四場效應電晶體，所述第一場效應電晶體與所述第四場效應電晶體分別包括一閘極、一源極及一汲極，所述第一場效應電晶體之閘極接收所述放大後之數位控制訊號，所述第一場效應電晶體之源極電性連接所述第四場效應電晶體之汲極，所述第一場效應電晶體之汲極經由所述第一電阻接收所述直流電源輸出之工作電壓，所述第四場效應電晶體之閘極接收所述第二類比控制訊號，所述第四場效應電晶體之源極接地。
7. 如請求項6所述的直流電源測試系統，其中：所述第一開關電路還包括一第二場效應電晶體、一第三場效應電晶體、一第二電阻及一第三電阻，所述第二場效應電晶體與所述第三場效應電晶體分別包括一閘極、一源極及一汲極，所述第二場效應電晶體與所述第三場效應電晶體之閘極接收所述放大後之數位控制訊號，所述第二場效應電晶體與所述第三場效應電晶體之源極電性連接所述第四場效應電晶體之汲極，所述第二場效應電晶體與所述第三場效應電晶體之汲極分別經由所述第二電阻與所述第三電阻接收所述直流電源輸出之工作電壓。
8. 如請求項7所述的直流電源測試系統，其中：所述第一場效應電晶體、所述第二場效應電晶體、所述第三場效應電晶體及所述第四場效應電晶體為N溝道場效應電晶體。
9. 如請求項7所述的直流電源測試系統，其中：所述第一電阻、所述第二電阻及所述第三電阻之阻值各不相同。