TW201423035A - 光耦合透鏡檢測系統及其檢測方法 - Google Patents

光耦合透鏡檢測系統及其檢測方法 Download PDF

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Abstract

一種光耦合透鏡檢測系統，其包括光耦合透鏡及反射鏡。光耦合透鏡包括垂直的光入射面及光出射面、與光入射面及光出射面均相連且呈45度夾角的反射面、對應的第一及第二會聚透鏡、第一定位柱、翻轉90度後在光入射面上的投影的中心與第一定位柱的中心完全重合的第二定位柱、對應的第一及第二對位柱。第一定位柱、第一對位柱及第一會聚透鏡位於光入射面。第二定位柱、第二對位柱及第二會聚透鏡位於光出射面。反射鏡的一端抵觸於反射面與光出射面的交線上，另一端遠離光出射面。反射鏡與光出射面之間的夾角為45度，反射鏡的鏡面朝向光出射面。

Description

光耦合透鏡檢測系統及其檢測方法
本發明涉及一種光耦合透鏡檢測系統及一種光耦合透鏡檢測方法。
光耦合透鏡通常由射出成型方式製得，其一般包括光入射面、與該光入射面垂直的光出射面、與該光入射面及該光出射面均傾斜相連的反射面、位於該光入射面上的至少一個第一會聚透鏡以及位於該光出射面上的至少一個第二會聚透鏡。該至少一個第一會聚透鏡與該至少一個第二會聚透鏡一一對應，且各第一會聚透鏡與對應的第二會聚透鏡的半徑相同。該反射面用於將由第一會聚透鏡會聚後出射的光線反射至對應的第二會聚透鏡，及將由第二會聚透鏡會聚後出射的光線反射至對應的第一會聚透鏡。然而，只有在各第一會聚透鏡的中心與對應的第二會聚透鏡翻轉90度後在該光入射面上的投影的中心完全重合，經該第一會聚透鏡出射的光線才能被該反射面反射後全部進入對應的第二會聚透鏡，以及經該第二會聚透鏡出射的光線才能被該反射面反射後全部進入對應的第一會聚透鏡，此時該光耦合透鏡的光耦合效率最高。
由於射出成型模具製造的偏差，成型後的光耦合透鏡的各第一會聚透鏡的中心與對應的第二會聚透鏡翻轉90度後在該光入射面上的投影的中心可能會有偏差。技術人員通常會在光耦合透鏡成型完成後對其品質進行檢測，以確認二者是否存在偏差。因此，設計一種能檢測成型後的光耦合透鏡的各第一會聚透鏡的中心與對應的第二會聚透鏡翻轉90度後在該光入射面上的投影的中心之間是否存在偏差的光耦合透鏡檢測系統及檢測方法成為技術人員亟需解決的問題。
有鑒於此，有必要提供一種光耦合透鏡檢測系統及一種光耦合透鏡檢測方法，其能檢測光耦合透鏡的各第一會聚透鏡的中心與對應的第二會聚透鏡翻轉90度後在該光入射面上的投影的中心是否存在偏差。
一種光耦合透鏡檢測系統，其包括光耦合透鏡及反射鏡。該光耦合透鏡包括光入射面、與該光入射面垂直的光出射面、與該光入射面及該光出射面均相連且呈45度夾角的反射面、至少一個第一會聚透鏡、至少一個第二會聚透鏡、第一定位柱、第二定位柱、兩個第一對位柱及兩個第二對位柱。該第一定位柱、該兩個第一對位柱及該至少一個第一會聚透鏡相互間隔地設置於該光入射面上。該第二定位柱、該兩個第二對位柱及該至少一個第二會聚透鏡相互間隔地設置於該光出射面上。該至少一個第一會聚透鏡與該至少一個第二會聚透鏡一一對應。該第二定位柱翻轉90度後在該光入射面上的投影的中心與該第一定位柱的中心完全重合。該兩個第一對位柱與該兩個第二對位柱一一對應。各第一會聚透鏡分別相對該兩個第一對位柱的位置與對應的第二會聚透鏡相對對應的第二對位柱的位置一致。該反射鏡的一端抵觸於該反射面與該光出射面相交的交線上，另一端遠離該光出射面。該反射鏡與該光出射面之間的夾角為45度，且該反射鏡的鏡面朝向該光出射面。
一種光耦合透鏡檢測方法，其包括以下步驟：提供一個光耦合透鏡及一個反射鏡；該光耦合透鏡包括光入射面、與該光入射面垂直的光出射面、與該光入射面及該光出射面均相連且呈45度夾角的反射面、至少一個第一會聚透鏡、至少一個第二會聚透鏡、第一定位柱、第二定位柱、兩個第一對位柱及兩個第二對位柱，該第一定位柱、該兩個第一對位柱及該至少一個第一會聚透鏡相互間隔地設置於該光入射面上，該第二定位柱、該兩個第二對位柱及該至少一個第二會聚透鏡相互間隔地設置於該光出射面上，該至少一個第一會聚透鏡與該至少一個第二會聚透鏡一一對應，該第二定位柱翻轉90度後在該光入射面上的投影的中心與第一定位柱的中心完全重合，該兩個第一對位柱與該兩個第二對位柱一一對應，各第一會聚透鏡分別相對該兩個第一對位柱的位置與對應的第二會聚透鏡相對對應的第二對位柱的位置一致；該反射鏡的一端抵觸於該反射面與該光出射面相交的交線上，另一端遠離該光出射面，該反射鏡與該光出射面之間的夾角為45度，且該反射鏡的鏡面朝向該光出射面；及於垂直該光入射面的方向觀察該反射鏡及該光入射面，且以該第一定位柱及該第二定位柱經該反射鏡所成的像作為參考點並依據對稱原則判斷各第一對位柱的第一中心與對應的第二對位柱經反射鏡所成的像的第二中心之間是否存在偏差以得出該光耦合透鏡的各第一會聚透鏡的中心與對應的第二會聚透鏡翻轉90度後在該光入射面上的投影的中心之間是否存在偏差。
相較於先前技術，該光耦合透鏡檢測系統及該光耦合透鏡檢測方法設置一與該光出射面之間的夾角為45度的反射鏡，於垂直該光入射面的方向觀察該反射鏡及該光入射面，且以該第一定位柱及該第二定位柱經該反射鏡所成的像作為參考點並依據對稱原則判斷各第一對位柱的第一中心與對應的第二對位柱經反射鏡所成的像的第二中心之間是否存在偏差以得出該光耦合透鏡的各第一會聚透鏡的中心與對應的第二會聚透鏡翻轉90度後在該光入射面上的投影的中心之間是否存在偏差。
下面結合附圖將對本發明實施方式作進一步的詳細說明。
請參閱圖1，為本發明第一實施方式提供的光耦合透鏡檢測系統100。該光耦合透鏡檢測系統100包括一個光耦合透鏡10、一個反射鏡20、一個影像攝取裝置30以及一個分析計算裝置40。
請參閱圖2，該光耦合透鏡10為直三稜柱體結構，其包括一個光入射面11、一個光出射面12、一個反射面13、一個第一定位柱14、兩個第一對位柱15、兩個第一會聚透鏡16、一個第二定位柱17、兩個第二對位柱18以及兩個第二會聚透鏡19。
該光入射面11與該光出射面12垂直，且該光入射面11與該光出射面12相交形成第一交線HH’。該反射面13與該光入射面11及該光出射面12均相連，且該反射面13與該光出射面12相交形成第二交線LL’。該反射面13與該光入射面11之間的夾角為45度，該反射面13與該光出射面12之間的夾角為45度。
該第一定位柱14、該兩個第一對位柱15及該兩個第一會聚透鏡16相互間隔地設置於該光入射面11上。該第一定位柱14為半圓柱體結構，且該第一定位柱14垂直該光入射面11延伸。該兩個第一對位柱15為圓柱體結構，且各第一對位柱15垂直該光入射面11延伸。該兩個第一對位柱15與該兩個第一會聚透鏡16排列成一條直線，且該兩個第一會聚透鏡16位於該兩個第一對位柱15之間。本實施方式中，該兩個第一對位柱15與該兩個第一會聚透鏡16排列成一條直線係指各第一對位柱15的中心與各第一會聚透鏡16的中心位於同一條直線上。
該第二定位柱17、該兩個第二對位柱18及該兩個第二會聚透鏡19相互間隔地設置於該光出射面12上。該第二定位柱17為半圓柱體結構，且該第二定位柱17垂直該光出射面12延伸。該第二定位柱17翻轉90度後在該光入射面11上的投影的中心與該第一定位柱14的中心完全重合。該兩個第二對位柱18與該兩個第一對位柱15一一對應。該兩個第二對位柱18為圓柱體結構，且各第二對位柱18垂直光出射面12延伸。該兩個第二會聚透鏡19與該兩個第一會聚透鏡16一一對應。該兩個第二對位柱18與該兩個第二會聚透鏡19排列成一條直線，且該兩個第二會聚透鏡19位於該兩個第二對位柱18之間。本實施方式中，該兩個第二對位柱18與該兩個第二會聚透鏡19排列成一條直線係指各第二對位柱18的中心與各第二會聚透鏡19的中心位於同一條直線上。各第一會聚透鏡16分別相對該兩個第一對位柱15的位置與對應的第二會聚透鏡19相對對應的第二對位柱18的位置一致。具體來說，若以該第一定位柱14的中心為原點在該光入射面11內建立一個第一平面直角座標系，以該第二定位柱17的中心為原點在該光出射面12內建立一個第二平面直角座標系，各第一會聚透鏡16相對該兩個第一對位柱15的座標差值與對應的第二會聚透鏡19相對對應的第二對位柱18的座標差值相同。另外，第一會聚透鏡16及第二會聚透鏡19的尺寸一般都會很小，第一對位柱15相對第一會聚透鏡16的尺寸要大很多，例如，第一對位柱15的半徑為第一會聚透鏡16的半徑的十倍以上。第二對位柱18相對第二會聚透鏡19的尺寸要大很多，例如，第二對位柱18的半徑為第二會聚透鏡19的半徑的十倍以上。
該反射鏡20為呈平板結構的平面反射鏡，其包括一個鏡面22及與該鏡面22相背的背面24。該反射鏡20的一端抵觸於該第二交線LL’上，另一端遠離該光出射面12。該反射鏡20與該光出射面12之間的夾角為45度，且該鏡面22朝向該光出射面12。該反射鏡20用於使整個該光出射面12及位於該光出射面12上的所有物體成像於其中。
請結合圖1及圖2，該影像攝取裝置30為數位相機，其位於該光入射面11的正上方，即該影像攝取裝置30的光軸M垂直該光入射面11。該影像攝取裝置30用於拍攝包括整個光入射面11及整個鏡面22的圖像。
請結合圖1及圖3，該分析計算裝置40與該影像攝取裝置30電性連接。該分析計算裝置40用於以該影像攝取裝置30拍攝的圖像中的該第一定位柱14及該圖像中的該第二定位柱的像17a作為參考點並依據對稱原則分析該圖像中各第一對位柱15的第一中心O與對應的第二對位柱18經該反射鏡20成像所得的第二對位柱的像18a的第二中心O1之間是否存在偏差並在存在偏差時計算出偏差量以得出該光耦合透鏡10的各第一會聚透鏡16的中心與對應的第二會聚透鏡19翻轉90度後在該光入射面11上的投影的中心之間是否存在偏差及存在偏差時的偏差量。
請一並參閱圖1及圖2，本發明第二實施方式提供一種利用上述光耦合透鏡檢測系統100對該光耦合透鏡10進行檢測的光耦合透鏡檢測方法，其包括以下步驟：
將影像攝取裝置30相對光入射面11放置且使該影像攝取裝置30的光軸M垂直該光入射面11。
影像攝取裝置30拍攝包括整個光入射面11及整個反射鏡20的圖像。
以該圖像中的第一定位柱14及該圖像中的第二定位柱的像作為參考點並依據對稱原則分析各第一對位柱15的第一中心O與對應的第二對位柱的像的第二中心之間是否存在偏差以得出各第一會聚透鏡16的中心與對應的第二會聚透鏡19翻轉90度後在該光入射面11上的投影的中心之間是否存在偏差。
下面以該影像攝取裝置30拍攝的圖像為如圖3所示的第一圖像I1為例具體說明該光耦合透鏡檢測方法中的分析步驟：
該第一圖像I1中包括該光入射面11、該第一交線HH’、該第一定位柱14、該兩個第一對位柱15、該兩個第一會聚透鏡16、該第二定位柱17、該兩個第二對位柱18、該兩個第二會聚透鏡19、該反射鏡20、位於該反射鏡20內的光出射面的像12a，第二定位柱的像17a，兩個第二對位柱的像18a以及兩個第二會聚透鏡的像19a。
分析計算裝置40以該第一圖像I1中的第一定位柱14及第二定位柱的像17a作為參考點分析兩個第一中心的連線OO與兩個第二中心的連線O1O1是否關於該第一交線HH’對稱。由於第一圖像I1中的第一中心的連線OO與第二中心的連線O1O1關於該第一交線HH’對稱，則判斷各第一對位柱15的第一中心O與對應的第二對位柱的像18a的第二中心O1之間不存在偏差。根據鏡像對稱原理可知，該各第一對位柱15的第一中心與各第二對位柱18的中心之間不存在偏差。由於各第一會聚透鏡16分別相對該兩個第一對位柱15的位置與對應的第二會聚透鏡19相對對應的第二對位柱18的位置一致，則可得出各第一會聚透鏡16的中心與對應的第二會聚透鏡19翻轉90度後在該光入射面11上的投影的中心之間亦不存在偏差。
請參閱圖4，在無偏差的情況下，該光耦合透鏡10的工作原理如下：發光模組(圖未示)發出的光線經該第一會聚透鏡16會聚後以平行光的形態被該反射面13反射至該第二會聚透鏡19，最後由該第二會聚透鏡19會聚至外部光纖(圖未示)。同樣地，來自外部光纖(圖未示)的光線經該第二會聚透鏡19會聚後以平行光的形態被該反射面13反射至該第一會聚透鏡16，最後由該第一會聚透鏡16會聚至收光模組(圖未示)中。
下面以該影像攝取裝置30拍攝的圖像為如圖5所示的第二圖像I2為例具體說明該光耦合透鏡檢測方法中的分析步驟：
該第二圖像I2中包括該光入射面11、該第一交線HH’、該第一定位柱14、該兩個第一對位柱15、該兩個第一會聚透鏡16、該第二定位柱17、該兩個第二對位柱18、該兩個第二會聚透鏡19、該反射鏡20、位於該反射鏡20內的光出射面的像12b，第二定位柱的像17b，兩個第二對位柱的像18b以及兩個第二會聚透鏡的像19b。
分析計算裝置40以該第二圖像I2中的第一定位柱14及第二定位柱的像17b作為參考點分析兩個第一中心的連線OO與兩個第二中心的連線O2O2是否關於該第一交線HH’對稱。由於該第二圖像I2中的第一中心的連線OO與第二中心的連線O2O2關於該第一交線HH’不對稱，則判斷各第一對位柱15的第一中心O與對應的第二對位柱的像18b的第二中心O2之間存在偏差，即可得知各第一會聚透鏡16中心與對應的第二會聚透鏡19翻轉90度後在該光入射面11上的投影的中心之間亦存在偏差。
在此情況下，該光耦合透鏡檢測方法還包括計算各第一會聚透鏡16中心與對應的第二會聚透鏡19翻轉90度後在該光入射面11上的投影的中心之間的偏差量的步驟。具體為：以該第二定位柱的像17b的中心為原點在該光出射面的像12b內建立一個平面直角座標系，並虛擬出該第一對位柱15的中心O關於該第一交線HH’對稱的對稱點O1，量測該第二對位柱的像18b的中心O2的座標值(X2,Y2)及該對稱點O1的座標值(X1,Y1)，則偏差量為(ΔX, ΔY)，其中ΔX =X2-X1，ΔY=Y2-Y1。同理，即可知道各第一會聚透鏡16的中心與對應的第二會聚透鏡19翻轉90度後在該光入射面11上的投影的中心之間的偏差量為(ΔX, ΔY)。該偏差量可以為後續修正用於成型該光耦合透鏡10的模仁入子提供參考依據。例如，若測量出偏差量為(ΔX, ΔY)，則在設計模仁入子時，成型第二對位柱18的模穴的中心以及成型第二會聚透鏡19的模穴的中心在對應的方向(正負值可以確定偏移方向)上補償對應的量。
該光耦合透鏡檢測系統100及該光耦合透鏡檢測方法設置一與該光出射面12之間的夾角為45度的反射鏡20，於垂直該光入射面11的方向觀察該反射鏡20及該光入射面11，且以該第一定位柱14及該第二定位柱17經該反射鏡20所成的像17a，17b作為參考點並依據對稱原則判斷各第一對位柱15的第一中心O與對應的第二對位柱18經反射鏡20所成的像的第二中心之間是否存在偏差以得出該光耦合透鏡10的各第一會聚透鏡16的中心與對應的第二會聚透鏡19翻轉90度後在該光入射面11上的投影的中心之間是否存在偏差。另外，分析計算裝置40的精密度不夠高時，若存在偏差且偏差量很小，分析計算裝置40很難做出明確判斷，該第一定位柱14及該第二定位柱17經該反射鏡所成的像17a，17b作為參考點，便會協助分析計算裝置40快速且明確判斷是否存在偏差。
可以理解，光耦合透鏡檢測系統100中的第一會聚透鏡16的數量及第二會聚透鏡19的數量並不局限於本實施方式中的兩個，還可以係任意數量。另外，第一定位柱14及第二定位柱17並不局限於為半圓柱體結構，還可以係任意形狀的結構，只需要滿足第二定位柱17翻轉90度後在光入射面11上的投影的中心與第一定位柱14的中心完全重合即可。該兩個第一對位柱15與該兩個第二對位柱18不局限於為為圓柱體結構，還可以係任意形狀的結構。
請參閱圖6，為本發明第三實施方式提供的光耦合透鏡檢測系統200。該光耦合透鏡檢測系統200與第一實施方式中的光耦合透鏡檢測系統100的區別在於僅包括光耦合透鏡10及反射鏡20。該光耦合透鏡檢測系統200對該光耦合透鏡10進行檢測時，分析步驟由人眼300直接觀察判斷而實現，並無需利用影像攝取裝置及分析計算裝置。
本實施方式中的光耦合透鏡檢測系統200及其檢測方法的有益效果與第一實施方式中的光耦合透鏡檢測系統100及其檢測方法的有益效果類似，只是該光耦合透鏡檢測系統200及其方法僅能檢測出各第一會聚透鏡16的中心與對應的第二會聚透鏡19翻轉90度後在該光入射面11上的投影的中心之間是否存在偏差，並無法計算出偏差量。而且，在檢測過程中，第一定位柱14及第二定位柱17經該反射鏡20所成的像作為參考點對檢測的準確性更為重要。
綜上所述，本發明確已符合發明專利之要件，遂依法提出專利申請。惟，以上該者僅為本發明之較佳實施方式，自不能以此限制本案之申請專利範圍。舉凡熟悉本案技藝之人士爰依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
100、200．．．光耦合透鏡檢測系統
10．．．光耦合透鏡
11．．．光入射面
12．．．光出射面
13．．．反射面
14．．．第一定位柱
15．．．第一對位柱
16．．．第一會聚透鏡
17．．．第二定位柱
18．．．第二對位柱
19．．．第二會聚透鏡
20．．．反射鏡
22．．．鏡面
24．．．背面
30．．．影像攝取裝置
40．．．分析計算裝置
12a、12b．．．光出射面的像
17a、17b．．．第二定位柱的像
18a、18b．．．第二對位柱的像
19a、19b．．．第二會聚透鏡的像
圖1係本發明第一實施方式提供的光耦合透鏡檢測系統的立體示意圖。
圖2係圖1中光耦合透鏡檢測系統的部分立體示意圖。
圖3係圖1中的光耦合透鏡檢測系統中的影像攝取裝置拍攝的第一圖像。
圖4係圖1中的光耦合透鏡檢測系統中的光耦合透鏡的光路示意圖。
圖5係圖1中的光耦合透鏡檢測系統中的影像攝取裝置拍攝的第二圖像。
圖6係本發明另一實施方式提供的光耦合透鏡檢測系統的立體示意圖。
10．．．光耦合透鏡
11．．．光入射面
12．．．光出射面
13．．．反射面
14．．．第一定位柱
15．．．第一對位柱
16．．．第一會聚透鏡
17．．．第二定位柱
18．．．第二對位柱
19．．．第二會聚透鏡
20．．．反射鏡
22．．．鏡面
24．．．背面

Claims (10)

  1. 一種光耦合透鏡檢測系統，其包括：
    光耦合透鏡，其包括光入射面、與該光入射面垂直的光出射面、與該光入射面及該光出射面均相連且呈45度夾角的反射面、至少一個第一會聚透鏡、至少一個第二會聚透鏡、第一定位柱、第二定位柱、兩個第一對位柱及兩個第二對位柱，該第一定位柱、該兩個第一對位柱及該至少一個第一會聚透鏡相互間隔地設置於該光入射面上，該第二定位柱、該兩個第二對位柱及該至少一個第二會聚透鏡相互間隔地設置於該光出射面上，該至少一個第一會聚透鏡與該至少一個第二會聚透鏡一一對應，該第二定位柱翻轉90度後在該光入射面上的投影的中心與該第一定位柱的中心完全重合，該兩個第一對位柱與該兩個第二對位柱一一對應，各第一會聚透鏡分別相對該兩個第一對位柱的位置與對應的第二會聚透鏡相對對應的第二對位柱的位置一致；及
    反射鏡，其一端抵觸於該反射面與該光出射面相交的交線上，另一端遠離該光出射面，該反射鏡與該光出射面之間的夾角為45度，且該反射鏡的鏡面朝向該光出射面。
  2. 如請求項1所述之光耦合透鏡檢測系統，其中，該光耦合透鏡檢測系統還包括影像攝取裝置，該影像攝取裝置的光軸垂直該光入射面並用於拍攝包括該光入射面及該反射鏡的圖像。
  3. 如請求項2所述之光耦合透鏡檢測系統，其中，該光耦合透鏡還包括分析計算裝置，該分析計算裝置與該影像攝取裝置電性連接，該分析計算裝置用於以該圖像中的第一定位柱及該圖像中的該第二定位柱經該反射鏡所成的像為參考點並依據對稱原則分析該圖像中各第一對位柱的第一中心與對應的第二對位柱經該反射鏡所成的像的第二中心之間是否存在偏差並在存在偏差時計算出偏差量以得出該光耦合透鏡的各第一會聚透鏡的中心與對應的第二會聚透鏡翻轉90度後在該光入射面上的投影的中心之間是否存在偏差及存在偏差時的偏差量。
  4. 如請求項1所述之光耦合透鏡檢測系統，其中，該至少一個第一會聚透鏡位於該兩個第一對位柱之間，該至少一個第一會聚透鏡與該兩個第一對位柱排列成一條直線，該至少一個第二會聚透鏡位於該兩個第二對位柱之間，該至少一個第二會聚透鏡與該兩個第二對位柱排列成一條直線。
  5. 如請求項1所述之光耦合透鏡檢測系統，其中，該兩個第一對位柱及該兩個第二對位柱為圓柱體，該第一定位柱及該第二定位柱為半圓柱體。
  6. 一種光耦合透鏡檢測方法，其包括以下步驟：
    提供一個光耦合透鏡及一個反射鏡；該光耦合透鏡包括光入射面、與該光入射面垂直的光出射面、與該光入射面及該光出射面均相連且呈45度夾角的反射面、至少一個第一會聚透鏡、至少一個第二會聚透鏡、第一定位柱、第二定位柱、兩個第一對位柱及兩個第二對位柱，該第一定位柱、該兩個第一對位柱及該至少一個第一會聚透鏡相互間隔地設置於該光入射面上，該第二定位柱、該兩個第二對位柱及該至少一個第二會聚透鏡相互間隔地設置於該光出射面上，該至少一個第一會聚透鏡與該至少一個第二會聚透鏡一一對應，該第二定位柱翻轉90度後在該光入射面上的投影的中心與第一定位柱的中心完全重合，該兩個第一對位柱與該兩個第二對位柱一一對應，各第一會聚透鏡分別相對該兩個第一對位柱的位置與對應的第二會聚透鏡相對對應的第二對位柱的位置一致；該反射鏡的一端抵觸於該反射面與該光出射面相交的交線上，另一端遠離該光出射面，該反射鏡與該光出射面之間的夾角為45度，且該反射鏡的鏡面朝向該光出射面；及
    於垂直該光入射面的方向觀察該反射鏡及該光入射面，且以該第一定位柱及該第二定位柱經該反射鏡所成的像作為參考點並依據對稱原則判斷各第一對位柱的第一中心與對應的第二對位柱經該反射鏡所成的像的第二中心之間是否存在偏差以得出該光耦合透鏡的各第一會聚透鏡的中心與對應的第二會聚透鏡翻轉90度後在該光入射面上的投影的中心之間是否存在偏差。
  7. 如請求項6所述之光耦合透鏡檢測方法，其中，該觀察及判斷步驟包括：
    提供一個影像攝取裝置及一個分析計算裝置；
    將該影像攝取裝置相對該光入射面放置且使該影像攝取裝置的光軸垂直該光入射面；
    使該影像攝取裝置拍攝包括該光入射面及該反射鏡的圖像；
    使分析計算裝置以該圖像中的第一定位柱及該圖像中的第二定位柱經該反射鏡所成的像作為參考點並依據對稱原則分析該第一中心與對應的第二中心之間是否存在偏差。
  8. 如請求項7所述之光耦合透鏡檢測方法，其中，當該第一中心與對應的第二中心之間存在偏差時，該方法進一步包括計算該第一中心與對應的第二中心之間的偏差量的步驟以得出該光耦合透鏡的各第一會聚透鏡的中心與對應的第二會聚透鏡翻轉90度後在該光入射面上的投影的中心之間的偏差量。
  9. 如請求項6所述之光耦合透鏡檢測方法，其中，該至少一個第一會聚透鏡位於該兩個第一對位柱之間，該至少一個第一會聚透鏡與該兩個第一對位柱排列成一條直線，該至少一個第二會聚透鏡位於該兩個第二對位柱之間，該至少一個第二會聚透鏡與該兩個第二對位柱排列成一條直線。
  10. 如請求項6所述之光耦合透鏡檢測方法，其中，該兩個第一對位柱及該兩個第二對位柱為圓柱體，該第一定位柱及該第二定位柱為半圓柱體。
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