TW201343041A - 機櫃管理系統及具有該機櫃管理系統的機櫃 - Google Patents

Abstract

一種機櫃管理系統，用於測量一櫃體的可用容積，所述機櫃管理系統包括多個光發射器、多個光接收器以及電性連接至多個所述光接收器的處理器；每一個所述光發射器用於發射一光束；每一個所述光接收器與對應的光發射器發射的光束相對準；每一所述光接收器用於接收到對應的所述光發射器發射的光束時輸出相應的第一感應訊號至所述處理器；所述處理器用於根據接收到的第一感應訊號的個數統計所述櫃體可用的層數的個數以得到所述櫃體總的可用容積。本發明還涉及一種具有所述機櫃管理系統的機櫃。

Description

機櫃管理系統及具有該機櫃管理系統的機櫃

本發明涉及一種機櫃管理系統，尤其涉及一種對伺服器機櫃內的可用容積進行測試的機櫃管理系統及具有該機櫃管理系統的機櫃。

管理人員在管理大型伺服器機房時，需要瞭解每個伺服器機櫃內還剩多少U（U是伺服器機櫃高度的單位，1U=4.445cm）的空間，即容積可用。目前的方法一般是由管理人員親自打開各個伺服器機櫃進行查看。然而，當各個伺服器機櫃較分散的時候，例如一些集裝箱資料中心（container data center，CDC）的機櫃可能設置在郊區，這樣則不便於管理人員查看伺服器機櫃內的可用容積。

有鑒於此，有必要提供一種便於管理人員瞭解機櫃，如伺服器機櫃內可用容積的機櫃管理系統。

另，還有必要提供一種具有上述機櫃管理系統的機櫃。

一種機櫃管理系統，用於測量一櫃體的可用容積，所述櫃體包括相對設置的第一壁及第二壁，所述機櫃管理系統包括多個光發射器、與多個光發射器數量相同且一一對應的多個光接收器以及與多個所述光接收器均電性連接的處理器；多個所述光發射器間隔地設置於該第一壁上，每一個所述光發射器用於發射一光束；多個所述光接收器間隔地設置於該第二壁上，且每一個所述光接收器與對應的光發射器發射的光束相對準；每一所述光接收器用於在接收到對應的所述光發射器發射的光束時輸出一感應訊號至所述處理器；所述處理器用於根據接收到的所述感應訊號的個數統計所述櫃體可用的層數以得到所述櫃體總的可用容積。

一種機櫃，包括櫃體及用於測量所述櫃體的可用容積的機櫃管理系統，所述櫃體包括相對設置的第一壁及第二壁，所述機櫃管理系統包括多個光發射器、與多個光發射器數量相同且一一對應的多個光接收器以及與多個所述光接收器均電性連接的處理器；多個所述光發射器間隔地設置於該第一壁上，每一個所述光發射器用於發射一光束；多個所述光接收器間隔地設置於該第二壁上，且每一個所述光接收器與對應的光發射器發射的光束相對準；每一所述光接收器用於在接收到對應的所述光發射器發射的光束時輸出一感應訊號至所述處理器；所述處理器用於根據接收到的所述感應訊號的個數統計所述櫃體可用的層數以得到所述櫃體總的可用容積。

所述的容積測試裝置藉由將多個光發射器間隔地設置於櫃體的其中一個壁，將與多個光發射器一一對應的多個光接收器間隔設置於另一相對的壁上，如此，每一組光發射器及光接收器即可對應檢測櫃體的其中一層的使用情況。並且，藉由光接收器根據是否接收到光發射器發射的光束輸出相應的第一感應訊號或第二感應訊號，再藉由處理器根據接收到的第一感應訊號或第二感應訊號即可方便地判斷出櫃體內每一層的使用情況，如此，即可方便地獲得櫃體的可用容積。

本發明較佳實施方式的機櫃可以為伺服器機櫃或者集裝箱資料中心機櫃等。下面以所述機櫃為伺服器機櫃為例對本發明進行說明。

請參閱圖1及圖2，本發明較佳實施方式的伺服器機櫃包括櫃體10及設置於該櫃體10內的機櫃管理系統30。所述櫃體10由四個壁圍成，並且包括本體部11及可相對於本體部11開啟及關閉的前門13。於本實施方式中，四個所述壁分別為第一端壁111、第二端壁131以及相對設置的兩個側壁113。其中，第二端壁131為前門13的內壁，第一端壁111以及兩個側壁113圍成本體部11。

機櫃管理系統30包括光發射器31、光接收器33以及處理器35。光發射器31與光接收器33數量相同且均為多個。光發射器31及光接收器33分別設置於櫃體10的相對兩個壁上。也就是說，多個光發射器31可以間隔設置於第一端壁111上，而多個光接收器33間隔設置於前門13的第二端壁131上；或者多個光發射器31還可以間隔設置於其中一個側壁113上，而多個光接收器33間隔設置於另一個側壁113上。

下面以多個光發射器31設置於第一端壁111上，而多個光接收器33設置於前門13的第二端壁131上為例對本發明進行說明。

多個光發射器31及多個光接收器33均電性連接至處理器35。

請一併參閱圖3，多個光發射器31沿第一端壁111的高度方向上等間隔設置於第一端壁111上，且相鄰兩個光發射器31之間的距離為1U。每一光發射器31用於在處理器35的控制下發射一光束311。

多個光接收器33沿前門13的高度方向上等間隔設置於第二端壁131上，多個光接收器33與多個光發射器31一一對應，且每一光接收器33與對應的光發射器31發射的光束311相對準。每一組光發射器31及光接收器33對應櫃體10的1U的高度，相應地對應櫃體10的一層，即單位容積。每一光接收器33均電性連接至處理器35。每一光接收器33用於在接收到對應的光發射器31發射的光束311時，輸出一感應訊號至處理器35。例如，當某一光發射器31所在的1U的高度範圍內沒有其他設備時，該光發射器31發射的光束311則可被其對應的光接收器33接收到，此時該對應的光接收器33則輸出所述感應訊號（例如一高電平訊號）至處理器35。而當其中某一個光發射器31與其對應的光接收器33之間設置有伺服器、電源等設備時，由於所述設備的阻擋，該光接收器33無法接收到其對應的光發射器31發射的光束311，因此，光接收器33則無法輸出所述感應訊號至處理器35，例如，此時光接收器33可發送一低電平訊號至處理器35。

處理器35用於控制每一光發射器31發射或停止發射光束311，以及根據每一光接收器33是否輸出所述感應訊號判斷該光接收器33所在的1U高度對應的層是否可用，並統計可用的層數，從而得到櫃體10總的可用容積。

具體地，在需要對櫃體10進行可用容積測試時，處理器35控制每一光發射器31發射光束311，而在完成對櫃體10的可用容積測試時，控制每一光發射器31停止發射光束311。

當處理器35接收到其中一個光接收器33發送的所述感應訊號後，則可判斷出該光接收器33所對應的層，即單位容積可用；而當處理器35沒有從另一個光接收器33接收到所述感應訊號，則可判斷出該光接收器33所對應的層，即單位容積不可用。當處理器35接收到多個所述感應訊號時，則統計可用的單位容積的個數，從而得到伺服器機櫃總的可用容積。

可以理解，處理器35還可以用於給每一光接收器33分配一對應的編號，每一編號對應櫃體10的其中一層，如此，當其中一光接收器33接收到對應的光發射器31發送的光束311後，處理器35根據該光接收器33的編號，即可相應判斷出該光接收器33所對應的層的具體位置；或者根據未接收到光束311的光接收器33的編號，判斷出已被使用的層的具體位置。

請參閱圖1及圖4，由於前門13在實際使用時可相對於櫃體10開啟或關閉，當前門13相對櫃體10開啟時，由於此時前門13的第二端壁131沒有與第一端壁111相對準，使得第二端壁131上的光接收器33無法與其對應的光發射器31相對準而無法接收到光束311。因此，機櫃管理系統30還包括感應組件37，用於感應前門13是否關閉，以提高測試精度。當感應組件37感應到前門13關閉時，即每一光發射器31與對應的光接收器33對準時，處理器35才控制光發射器31及光接收器33開始工作。

感應組件37包括磁吸開關K、上拉電阻R以及電源VCC。電源VCC依次藉由上拉電阻R以及磁吸開關K接地。上拉電阻R與磁吸開關K之間的節點電性連接至處理器35。處理器35藉由檢測上拉電阻R與磁吸開關K之間的節點的電平高低相應判斷出前門13為開啟或關閉。具體地，當前門13開啟時，磁吸開關K斷開，上拉電阻R與磁吸開關K之間的節點呈高電平，處理器35即可根據該高電平判斷出前門13開啟；而當前門13關閉時，磁吸開關K閉合，上拉電阻R與磁吸開關K之間的節點呈低電平，處理器35即可根據該低電平判斷出前門13關閉。

請複參閱圖2，磁吸開關K包括第一磁鐵371、固定於第一磁鐵371的第一鐵塊373、與第一磁鐵磁性相吸的第二磁鐵375以及固定於第二磁鐵375的第二鐵塊377。第一鐵塊373藉由導線（圖未示）電性連接至上拉電阻R；第二鐵塊377藉由導線接地。第一磁鐵371固定於第二端壁131上，第二磁鐵375固定於本體部11上，並且當前門13完全關閉時，第一磁鐵371及第二磁鐵375相吸並使得第一鐵塊373及第二鐵塊377相互接觸從而在電源VCC與地之間建立一電流通路。如此，當前門13開啟時，由於第一鐵塊373及第二鐵塊377之間相互分離而使得磁吸開關K斷開；當前門13關閉時，由於第一鐵塊373及第二鐵塊377之間相互接觸而使得磁吸開關K閉合。

請複參閱圖1，可以理解，機櫃管理系統30還可包括設置於櫃體10外並電性連接至處理器35的顯示器38，處理器35可將檢測結果，即櫃體10的可用容積輸出至顯示器38以藉由顯示器38進行顯示。

可以理解，機櫃管理系統30還可包括設置於櫃體10內並電性連接至處理器35的無線發射電路391及設置於櫃體10外並電性連接至顯示器38的無線接收電路393。處理器35獲得的櫃體10的可用容積可藉由無線發射電路391採用無線的方式發送至無線接收電路393，無線接收電路393再將接收到的櫃體10的可用容積輸出至顯示器38進行顯示。

所述的機櫃管理系統30藉由將多個光發射器31間隔地設置於櫃體10的其中一個壁，將與多個光發射器31一一對應的多個光接收器33間隔設置於另一相對的壁上，如此，每一組光發射器31及光接收器33即可對應檢測櫃體10的其中一個單位容積的使用情況。並且，藉由光接收器33根據是否接收到光發射器31發射的光束311而是否輸出所述感應訊號，再藉由處理器35根據接收到的感應訊號即可方便地判斷出櫃體10內每一個單位容積的使用情況，如此，即可方便地獲得櫃體10的可用容積。

綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之實施方式，本發明之範圍並不以上述實施方式為限，舉凡熟悉本案技藝之人士，於援依本案發明精神所作之等效修飾或變化，皆應包含於以下之申請專利範圍內。

10．．．櫃體

11．．．本體部

111．．．第一端壁

113．．．側壁

13．．．前門

131．．．第二端壁

30．．．機櫃管理系統

31．．．光發射器

311．．．光束

33．．．光接收器

35．．．處理器

37．．．感應組件

371．．．第一磁鐵

373．．．第一鐵塊

375．．．第二磁鐵

377．．．第二鐵塊

38．．．顯示器

391．．．無線發射電路

393．．．無線接收電路

K．．．磁吸開關

R．．．上拉電阻

VCC．．．電源

圖1為本發明較佳實施方式的機櫃管理系統的功能模組圖。

圖2為具有圖1所示機櫃管理系統的伺服器機櫃在前門開啟狀態下的立體圖。

圖3為圖2所示伺服器機櫃的側視示意圖。

圖4為圖1所示機櫃管理系統的感應組件的電路圖。

30．．．機櫃管理系統

31．．．光發射器

33．．．光接收器

35．．．處理器

37．．．感應組件

38．．．顯示器

391．．．無線發射電路

393．．．無線接收電路

Claims (10)

1. 一種機櫃管理系統，用於測量一櫃體的可用容積，所述櫃體包括相對設置的第一壁及第二壁，其改良在於：所述機櫃管理系統包括多個光發射器、與多個光發射器數量相同且一一對應的多個光接收器以及與多個所述光接收器均電性連接的處理器；多個所述光發射器間隔地設置於該第一壁上，每一個所述光發射器用於發射一光束；多個所述光接收器間隔地設置於該第二壁上，且每一個所述光接收器與對應的光發射器發射的光束相對準；每一所述光接收器用於在接收到對應的所述光發射器發射的光束時輸出一感應訊號至所述處理器；所述處理器用於根據接收到的所述感應訊號的個數統計所述櫃體可用的層數以得到所述櫃體總的可用容積。
2. 如申請專利範圍第1項所述之機櫃管理系統，其中多個光發射器等間隔地設置於所述第一壁上，且相鄰兩個所述光發射器之間的距離為1U。
3. 如申請專利範圍第1項所述之機櫃管理系統，其中所述處理器還用於在需要對所述櫃體進行可用容積測量時，控制每一所述光發射器發送所述光束；在完成對所述櫃體的可用容積測試時，控制每一所述光發射器停止發射所述光束。
4. 如申請專利範圍第1項所述之機櫃管理系統，其中所述機櫃管理系統還包括電性連接至所述處理器的顯示器，所述顯示器用於顯示處理器輸出的所述櫃體的可用容積。
5. 如申請專利範圍第1項所述之機櫃管理系統，其中所述機櫃管理系統還包括電性連接至所述處理器的無線發射電路以及電性連接至所述顯示器的無線接收電路，所述處理器將所述櫃體的可用容積藉由無線接收電路採用無線的方式發送至所述無線接收電路，所述無線接收電路再將接收到的所述櫃體的可用容積輸出至所述顯示器進行顯示。
6. 如申請專利範圍第1項所述之機櫃管理系統，其中所述處理器還用於給每一所述光接收器分配一對應的編號，每一編號對應櫃體的其中一層，當其中一個所述光接收器接收到對應的所述光發射器發送的所述光束後，所述處理器根據該光接收器的編號，相應判斷出該光接收器所對應的層的具體位置；或者根據未接收到光束的所述光接收器的編號，判斷出已被使用的層的具體位置。
7. 一種機櫃，包括櫃體，所述櫃體包括相對設置的第一壁及第二壁，其改良在於：所述機櫃還包括申請專利範圍1至6任一項所述的機櫃管理系統。
8. 如申請專利範圍第7項所述之機櫃，其中所述機櫃包括本體部及可相對於本體部開啟或關閉的前門，所述第一壁為所述本體部朝向所述前門的端壁，所述第二壁為所述前門朝向所述本體部的內壁，所述機櫃管理系統還包括感應組件，所述感應組件用於感應所述前門是否關閉，並將相應的感應訊號傳送至所述處理器，當所述感應組件感應到所述前門關閉時，所述處理器控制所述光發射器及所述光接收器開始工作。
9. 如申請專利範圍第8項所述之機櫃，其中所述感應組件包括磁吸開關、上拉電阻以及電源，所述電源依次藉由所述上拉電阻以及所述磁吸開關接地；所述上拉電阻與磁吸開關之間的節點電性連接至所述處理器，所述處理器藉由檢測上拉電阻與磁吸開關之間的節點的電平高低相應判斷出前門為開啟或關閉。
10. 如申請專利範圍第9項所述之機櫃，其中所述磁吸開關包括第一磁鐵、固定於所述第一磁鐵的第一鐵塊、與所述第一磁鐵磁性相吸的第二磁鐵以及固定於所述第二磁鐵的第二鐵塊；所述第一鐵塊連接至所述上拉電阻；所述第二鐵塊接地；所述第一磁鐵固定於所述前門上，所述第二磁鐵固定於所述本體部上，當前門完全關閉時，第一磁鐵及第二磁鐵相吸並使得第一鐵塊及第二鐵塊相互接觸從而在電源與地之間建立一電流通路。