TW201342143A - 輸入裝置及其控制參數調整方法 - Google Patents

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Abstract

本發明提出一種輸入裝置及其控制參數調整方法，此輸入裝置包括第一儲存單元、第二儲存單元以及控制單元。第一儲存單元用來儲存多個控制參數，其中各控制參數指示輸入裝置之輸入動作的判讀基準。第二儲存單元用來儲存韌體。控制單元耦接第一儲存單元與第二儲存單元，用來依據輸入控制訊號自控制參數選擇出最佳控制參數，並將最佳控制參數燒錄至韌體中，其中輸入控制訊號為對應輸入裝置之輸入動作所產生。

Description

輸入裝置及其控制參數調整方法
本發明是有關於一種輸入裝置，且特別是有關於一種可彈性控制參數的輸入裝置及其控制參數調整方法。
隨著科技的進步，傳統的顯示面板已漸漸地被觸控式面板所取代。一般來說，批號不同的觸控式面板，其對於觸控偵測的靈敏度也有所不同。傳統上，為了使最後製造出的觸控式面板均具有相同的靈敏度，對於靈敏度較低的觸控式面板，需要在其判斷是否受到觸控的演算法中給與其較低的判斷標準值，以避免無法偵測到觸控信號的情形發生；而對於靈敏度較高的觸控面板，則需要在其判斷是否受到觸控的演算法中給與其較高的判斷標準值，以避免因過度靈敏而造成誤動作。
為解決上述問題，習知技術的作法為針對每一批不同的觸控面板的靈敏度設計適合的判斷標準值，並將其燒錄至觸控面板的韌體中，然此種作法將大幅地降低觸控面板的產能。
本發明提出一種輸入裝置及其控制參數調整方法，可大幅地提高輸入裝置的產能。
本發明提出一種輸入裝置及其控制參數調整方法，此輸入裝置包括第一儲存單元、第二儲存單元以及控制單元。第一儲存單元用來儲存多個控制參數，其中各控制參數指示輸入裝置之輸入動作的判讀基準。第二儲存單元用來儲存韌體。控制單元耦接第一儲存單元與第二儲存單元，用來依據輸入控制訊號自控制參數選擇出最佳控制參數，並將最佳控制參數燒錄至上述之韌體中。其中輸入控制訊號為對應輸入裝置之輸入動作所產生。
本發明提出一種輸入裝置及其控制參數調整方法，其中輸入裝置包括用以儲存韌體的儲存單元，各控制參數指示輸入裝置之輸入動作的判讀基準，此輸入裝置的控制參數調整方法包括依據輸入控制訊號自多個控制參數中選擇出最佳控制參數。其中輸入控制訊號為對應輸入裝置之輸入動作所產生。以及將最佳控制參數燒錄至儲存單元中。
基於上述，本發明實施例的輸入裝置及其控制參數調整方法可透過從多個控制參數中選擇一最佳控制參數，以改善須針對因製程差異修改韌體版本的問題，進而大幅地提高輸入裝置的產能。
為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。
圖1為根據本發明之一實施例所繪示之輸入裝置功能方塊圖。
請參照圖1，輸入裝置10包括第一儲存單元120、第二儲存單元140以及控制單元160。在本實施例中，輸入裝置10可以是手持式觸控面板或桌上型觸控面板等觸控裝置。
第一儲存單元120用來儲存多個控制參數，其中控制參數可例如為判斷標準值，其用以指示輸入裝置10之輸入動作的判讀基準。舉例來說，假設輸入裝置10為一觸控面板，針對不同類型的觸控面板，控制參數可以是電容式觸控面板的電壓閥值(voltage threshold)、電阻式觸控面板的壓力閥值(pressure threshold)或光學式觸控面板的感光閥值(light-sensitive threshold)。此外，為了說明方便，以下將以儲存於第一儲存單元120中的預設的第一控制參數以及第二控制參數作為範例。其中，第一控制參數的數值大於第二控制參數的數值。在此需注意的是，所述之第一控制參數與第二控制參數僅作為區別多個具有不同數值的控制參數之用，而非用以限制本發明。
第二儲存單元140用來儲存韌體(fireware)形式的資料。在本實施例中，此韌體形式的資料可以是驅動程式或演算法模組，例如，適用於控制單元160的可偵測使用者於觸控面板上的手指有無抖動或滑動的演算法模組。
在本實施例中，第一儲存單元120以及第二儲存單元140可以是磁性儲存媒體或非揮發性記憶體模組，在此並不限制第一儲存單元120以及第二儲存單元140的種類。
控制單元160耦接第一儲存單元120與第二儲存單元140，並依據輸入控制訊號ICS自儲存於第一儲存單元120的多個控制參數中選擇出一最佳控制參數。其中控制單元160可例如以應用程式處理器(Application Processor)或微控制器(MicroController)來實施。另外，輸入控制訊號ICS為對應輸入裝置10之輸入動作所產生的(例如，電容式觸控面板因使用者的觸控動作而產生相應之電壓值)。值得一提的是，在本發明之實施例中，輸入裝置10還可以包括驅動電路、單晶片或晶片組等積體電路裝置。當使用者對輸入裝置10執行輸入動作時，控制單元160可以透過上述這些積體電路取得所述之輸入動作所產生的輸入控制訊號ICS。
圖2為根據本發明之另一實施例所繪示之輸入裝置的功能方塊圖。詳細來說，輸入控制訊號ICS的產生方式可如圖2所示，請參照圖2。本實施例之輸入裝置20與圖1實施例之輸入裝置10的不同之處在於，輸入裝置20更包括感測單元220以及類比數位轉換單元240。
其中感測單元220用來偵測輸入裝置20(例如電容式觸控面板)所輸出的感測訊號SS，其中感測訊號SS對應觸控此觸控面板的觸控動作而產生，例如，按壓電容式觸控面板所產生的電容值變化訊號。另外，類比數位轉換單元240耦接於控制單元160，其用來將感測訊號SS(類比訊號形式)轉換為輸入控制訊號ICS(數位訊號形式，例如數位資料流)。一般來說，控制單元160(如，微控制器)僅能針對數位資料流作處理。
值得注意的是，本實施例雖以電容式觸控面板為例進行說明，然並不以此為限，輸入裝置20亦可以為電阻式觸控面板或光學式觸控面板。
請再次參照圖1，具體來說，控制單元160用以比較輸入控制訊號ICS與第一控制參數以及第二控制參數。其中，當輸入控制訊號ICS的數值大於第一控制參數時，控制單元160選擇第一控制參數作為最佳控制參數；當輸入控制訊號ICS的數值小於或等於第一控制參數時，控制單元160選擇第二控制參數作為最佳控制參數。
以電容式觸控面板為例，請參照圖1並同時依序參照圖3A以及圖3B，其中圖3A以及圖3B為繪示輸入控制訊號ICS與第一控制參數FCP以及第二控制參數SCP的比較示意圖。為了方便說明，在圖3A以及圖3B中以第一控制參數FCP為10V(亦即判斷標準值為10V)且第二控制參數SCP為5V(亦即判斷標準值為5V)為範例。在圖3A中，以輸入控制訊號ICS的漣波最低電壓準位為13V為例，首先控制單元160會比較輸入控制訊號ICS的電壓準位13V與第一控制參數FCP(其值為10V)。此時，因為輸入控制訊號ICS的最低電壓準位13V大於第一控制參數FCP(如圖3A的FCP(10V))，控制單元160選擇第一控制參數FCP作為最佳控制參數。而在圖3B中則以輸入控制訊號ICS的電壓準位介於10V及5V之間為例，此時輸入控制訊號ICS的電壓準位小於第一控制參數FCP(其值為10V)且大於第二控制參數SCP(其值為5V)(如圖3B的FCP(5V))，控制單元160隨即選擇第二控制參數SCP作為最佳控制參數。
請同樣再次參照圖1，在本實施例中，控制單元160還可以用來將最佳控制參數燒錄至第二儲存單元140所具有的軔體(或演算法模組)中。具體來說，在控制單元160將最佳控制參數燒錄至第二儲存單元140之後，第二儲存單元140中的韌體(或演算法模組)就可以套用此最佳控制參數，並以其作為判斷輸入控制訊號ICS是否為有效致能訊號之依據。例如，當使用者的輸入控制訊號ICS的數值大於此最佳控制參數時，控制單元160會判斷輸入裝置10當前處於被使用者觸控的狀態，並利用預設的演算法模組以及此輸入控制訊號ICS來取得輸入裝置10被使用者觸碰的座標位置。
圖4為根據本發明之又一實施例所繪示之輸入裝置功能方塊圖。
請參照圖4，輸入裝置40包括第一儲存單元120、第二儲存單元140、控制單元460以及控制參數調整單元465。在此需注意的是，第一儲存單元120以及第二儲存單元140均分別類似於圖1中的第一儲存單元120以及第二儲存單元140，故在此不再重複贅述，僅針對控制單元460以及控制參數調整單元465作詳細說明。
控制參數調整單元465，用來比較輸入控制訊號ICS與第一控制參數以及第二控制參數之大小，並依據比較結果調整最佳控制參數，其中當輸入控制訊號ICS大於第一控制參數時，控制參數調整單元465將最佳控制參數調整為第一控制參數；當輸入控制訊號ICS小於或等於第一控制參數時，控制參數調整單元465將最佳控制參數調整為第二控制參數，並將最佳控制參數傳送給控制單元460。在本發明之一實施例中，控制參數調整單元465可例如以比較器來實施。
此外，控制單元460耦接於控制參數調整單元465，用來透過控制參數調整單元465選擇出調整後的最佳控制參數，並將最佳控制參數傳送給燒錄裝置180進行燒錄動作。
在此需注意的是，如圖4所示，在本實施例中，控制參數調整單元465為設置於控制單元460中的硬體裝置，且本發明不以此為限。
舉例來說，圖5為根據本發明之又一實施例所繪示之輸入裝置功能方塊圖，請參照圖5。
在本實施例中，控制參數調整單元545也可以是以韌體形式儲存於第二儲存單元140中。輸入裝置40包括第一儲存單元120、第二儲存單元140、控制單元560以及控制參數調整單元545。在此需注意的是，第一儲存單元120以及第二儲存單元140均分別類似於圖1中的第一儲存單元120以及第二儲存單元140，故在此不再重複贅述。
具體來說，本實施例與圖4不同之處在於，本實施例中的控制單元560可以直接透過儲存於第二儲存單元140中的韌體形式的控制參數調整單元545以選擇出調整後的最佳控制參數，而不必如圖4所示需要在控制單元460中加入額外的硬體裝置(即控制參數調整單元465)。此外，控制參數調整單元545調整最佳控制參數的作動方法類似於圖4中的控制參數調整單元465，故在此不再贅述。
值得注意的是，上述本實施例雖皆以觸控面板為例進行說明，然並不以此為限，輸入裝置20亦可例如為其它需調整控制參數的電子產品，例如滑鼠、鍵盤、搖桿等等。
圖6為根據本發明之一實施例所繪示之控制參數調整方法的流程示意圖。歸納上述輸入裝置之控制參數調整方法可包括如圖6所示之步驟，請同時參照圖1與圖6。
在步驟S620中，控制單元160依據輸入控制訊號ICS自多個控制參數中選擇出最佳控制參數，其中輸入控制訊號ICS為對應輸入裝置之輸入動作所產生。需注意的是，在本發明之一實施例中，控制單元也可以透過控制參數調整單元執行所述之選擇動作，其中，控制參數調整單元可以是以韌體或硬體的方式實施。
在步驟S640中，控制單元160將最佳控制參數燒錄至儲存單元中，例如控制單元160將最佳控制參數燒錄至儲存單元所具有的韌體中，並以其作為判斷輸入控制訊號ICS是否為有效致能訊號之依據。
以下請同時參照圖2與圖7，其中圖7為根據本發明之一實施例所繪示之當輸入裝置為觸控面板時的控制參數調整方法的流程示意圖。本實施例之控制參數調整方法與圖6之控制參數調整方法的不同之處在於，本實施例之控制參數調整方法更包括步驟S705與S715。
在步驟S705中，感測單元220偵測觸控面板所輸出的感測訊號SS，其中所述之感測訊號SS對應觸控所述之觸控面板的觸控動作而產生。
在步驟S715中，類比數位轉換單元240對所述之感測訊號進行類比數位轉換，以得到輸入控制訊號ICS。其中，經過類比數位轉換後的輸入控制訊號ICS為數位信號形式。
詳細來說，在圖6與圖7的步驟S620中所述之依據輸入控制訊號自多個控制參數中選擇出最佳控制參數的步驟可如圖8所示。圖8為根據本發明之另一實施例所繪示之控制參數調整方法的流程示意圖，請參照圖8。
在步驟S810中，判斷輸入控制訊號是否大於第一控制參數，若輸入控制訊號大於第一控制參數，在步驟S810之後接續執行步驟S830；而若輸入控制訊號小於或等於第一控制參數，則在步驟S810之後接續執行步驟S850。在本實施例中，可以由控制單元判斷輸入控制訊號是否大於第一控制參數，且本發明不以此為限。在本發明之一實施例中，此步驟也可以是由控制參數調整單元執行。
在步驟S830中，選擇第一控制參數做為最佳控制參數。
在步驟S850中，選擇第二控制參數做為最佳控制參數。值得一提的是，在本實施例的步驟S830以及步驟S850中的動作，均可以由控制單元來執行，然而，在本發明之一實施例中，控制單元也可以透過參數調整單元執行步驟S830以及步驟S850中的動作。
在步驟S640中，將最佳控制參數燒錄至儲存單元中。
圖9為根據本發明之另一實施例所繪示之當輸入裝置為觸控面板時的控制參數調整方法的流程示意圖。如在圖9所示，圖8實施例之控制參數調整方法亦可更包括圖7實施例中之步驟S705~S715，由於步驟S705~S715之說明已在圖7實施例中教示，因而在此不再贅述。
值得注意的是，上述之實施例雖皆以觸控面板為例進行說明，然並不以此為限，本發明提出之控制參數調整方法亦可適用於其它需調整控制參數的電子產品，例如滑鼠、鍵盤、搖桿等等。
對於上述方法，由上述的實施例可獲得足夠的教示、建議與實施說明，故在此不再贅述。
綜上所述，本發明提出的輸入裝置以及控制參數調整方法可根據輸入控制訊號以從多個控制參數中選擇一最佳控制參數，以及將此最佳控制參數燒錄至此輸入裝置中以作為判斷觸控動作的閥值，以改善相同的觸控式面板卻需要多種演算法搭配多種判斷標準值的問題。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，故本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
10、20、40、50．．．輸入裝置
120．．．第一儲存單元
140．．．第二儲存單元
160、460、560．．．控制單元
220．．．感測單元
240．．．類比數位轉換單元
465、545．．．控制參數調整單元
S620~S640、S705~S715、S810~S850．．．步驟
FCP．．．第一控制參數
SCP．．．第二控制參數
SS．．．感測訊號
ICS．．．輸入控制訊號
圖1為根據本發明之一實施例所繪示之輸入裝置功能方塊圖。
圖2為根據本發明之另一實施例所繪示之輸入裝置功能方塊圖。
圖3A與圖3B為根據本發明之一實施例所繪示之輸入控制訊號ICS與第一控制參數FCP以及第二控制參數SCP的比較示意圖。
圖4為根據本發明之又一實施例所繪示之輸入裝置功能方塊圖。
圖5為根據本發明之又一實施例所繪示之輸入裝置功能方塊圖。
圖6為根據本發明之一實施例所繪示之控制參數調整方法的流程示意圖。
圖7為根據本發明之一實施例所繪示之控制參數調整方法的流程示意圖。
圖8為根據本發明之另一實施例所繪示之控制參數調整方法的流程示意圖。
圖9為根據本發明之另一實施例所繪示之控制參數調整方法的流程示意圖。
10．．．輸入裝置
120．．．第一儲存單元
140．．．第二儲存單元
160．．．控制單元
ICS．．．輸入控制訊號

Claims (10)

  1. 一種輸入裝置，包括：一第一儲存單元，儲存多個控制參數，其中各該控制參數指示該輸入裝置之輸入動作的判讀基準；一第二儲存單元，具有一韌體；以及一控制單元，耦接該第一儲存單元與該第二儲存單元，依據一輸入控制訊號自該些控制參數選擇出一最佳控制參數，並將該最佳控制參數燒錄至該韌體中，其中該輸入控制訊號為對應該輸入裝置之輸入動作所產生。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之輸入裝置，其中該些控制參數包括一第一控制參數以及一第二控制參數，且該第一控制參數之值大於該第二控制參數之值，該控制單元比較該輸入控制訊號與該第一控制參數以及該第二控制參數之大小，並依據比較結果選擇出該最佳控制參數，其中當該輸入控制訊號大於該第一控制參數時，該控制單元選擇該第一控制參數做為該最佳控制參數，當該輸入控制訊號未大於該第一控制參數時，該控制單元選擇該第二控制參數做為該最佳控制參數。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之輸入裝置，其中該些控制參數包括一第一控制參數以及一第二控制參數，且該第一控制參數之值大於該第二控制參數之值，該輸入裝置更包括：一控制參數調整單元，用以比較該輸入控制訊號與該第一控制參數以及該第二控制參數之大小，並依據比較結果調整該最佳控制參數，該控制單元透過該控制參數調整單元選擇出調整後的該最佳控制參數，其中當該輸入控制訊號大於該第一控制參數時，該控制參數調整單元將該最佳控制參數調整為該第一控制參數，而當該輸入控制訊號未大於該第一控制參數時，該控制參數調整單元將該最佳控制參數調整為該第二控制參數。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之輸入裝置，其中該控制參數調整單元以一韌體形式儲存在該第二儲存單元中。
  5. 如申請專利範圍第3項所述之輸入裝置，其中該控制參數調整單元以一硬體形式設置在該控制單元中。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之輸入裝置，其中該輸入裝置為一觸控面板，該輸入裝置更包括：一感測單元，偵測該觸控面板所輸出的一感測訊號，其中該感測訊號對應觸控該觸控面板的一觸控動作而產生；以及一類比數位轉換單元，耦接該感測單元以及該控制單元，將該感測訊號轉換為該輸入控制訊號。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之輸入裝置，其中該控制單元為應用程式處理器或微控制器。
  8. 一種輸入裝置的控制參數調整方法，其中該輸入裝置包括用以儲存一韌體的一儲存單元，各該控制參數指示該輸入裝置之輸入動作的判讀基準，該輸入裝置的控制參數調整方法包括：依據一輸入控制訊號自多個控制參數中選擇出一最佳控制參數，其中該輸入控制訊號為對應該輸入裝置之輸入動作所產生；以及將該最佳控制參數燒錄至該韌體中。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之輸入裝置的控制參數調整方法，其中該些控制參數包括一第一控制參數以及一第二控制參數，且該第一控制參數之值大於該第二控制參數之值，上述依據該輸入控制訊號自該些控制參數中選擇出該最佳控制參數的步驟包括：判斷該輸入控制訊號是否大於該第一控制參數；若該輸入控制訊號大於該第一控制參數，選擇該第一控制參數做為該最佳控制參數；以及若該輸入控制訊號未大於該第一控制參數，選擇該第二控制參數做為該最佳控制參數。
  10. 如申請專利範圍第8項所述之輸入裝置的控制參數調整方法，其中該輸入裝置為一觸控面板，該輸入裝置的控制參數調整方法更包括：偵測該觸控面板所輸出的一感測訊號，其中該感測訊號對應觸控該觸控面板的一觸控動作而產生；以及對該感測訊號進行一類比數位轉換，以得到該輸入控制訊號。
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