TW201331796A

TW201331796A - 能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統及其方法

Info

Publication number: TW201331796A
Application number: TW101102614A
Authority: TW
Inventors: Yen-Lin Chen; chao-wei Yu; Chuan-Yen Chiang; Yang-Lang Chang; Wen-Yew Liang
Original assignee: Univ Nat Taipei Technology
Priority date: 2012-01-20
Filing date: 2012-01-20
Publication date: 2013-08-01
Also published as: US20130187867A1; US8941609B2

Abstract

本發明係揭露一種能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統及其方法。此系統包含影像擷取模組、運算模組及處理模組。影像擷取模組擷取觸控影像。運算模組將觸控影像轉換為直方圖，並選擇一灰階門檻值以利用二分法切割此直方圖以產生觸控亮點之切割影像，再計算切割影像之類別間變異量及總畫素變異量以估測切割影像之分離度。處理模組判斷分離度是否符合預設門檻值，若是，則利用此灰階門檻值對觸控影像執行二值化以產生二值化影像；若否，則重覆上述步驟，直到分離度符合預設門檻值為止。如此，此觸控事件辨識程序能根據觸控亮點的移動資訊來辨識有意義的觸控事件，如手指的移動、旋轉、按壓、停留及點擊等。

Description

能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統及其方法

本發明係有關於一種多點觸控系統，特別是有關於一種能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統及其方法。

近年來，由於市場的需求，結合觸控面板的3C產品陸續出現在市場上，也因為市場的激烈競爭，各個廠商也不斷地推出各式各樣結合觸控面板的3C產品，其中，多點觸控系統係利用攝影機擷取使用者移動的手指觸碰在觸控板上所產生的亮點，並根據亮點之運動軌跡來執行相應的操作指令。然而，習知技藝之觸控系統欲存在著許多令人垢病的缺點。

台灣專利公告第M399375號新型專利係揭露一種顯示器觸控系統，其係利用光感測器搭配攝影機來偵測使用者手指的觸控點，並計算其位移及速度的變化。然而，當觸控點增加時，光感測器的數量也必須增加，以提高其辨識率，因此會增加系統的成本，並降低使用上的彈性。

台灣專利公告第M3998155號新型專利係揭露一種光學式觸控系統，其係利用雷射光感測模組及一個以上的感測單元來偵測感應區域上的光遮斷點，進而判斷觸控點的位置。然而，當多個手指同時在偵測區域移動時，由於手指跟手指間的遮蔽，進而使感測單元容易偵測失誤。

美國公告第7598949號專利係揭露一種多點觸控發光二極體顯示器，其係利用多個發射式LED及感測式的LED來建立一個感測區域，以感測手指所觸控到的感測區域的座標，並需要利用二個以上的攝影機來擷取其觸控介面的資訊。然而，LED在環境光線產生變化時，會產生判斷上的失誤，而在觸控點增加時，觸控點與觸控點之間很容易造成遮蔽，導致攝影機拍攝不到而造成失誤。

因此，如何提出一種多點觸控系統，不需要增加額外的元件，也能在準確地偵測多個手指在偵測區域移動時所產生的觸控亮點，同時在受到紅外光雜訊影響或處於各種不同環境照明的條件之下，也能保持極佳的穩定性及適應性，即為本發明所欲解決的問題。

有鑑於上述習知技藝之問題，本發明之其中一目的就是在提供一種能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統及其方法，以解決習知技藝之問題。

根據本發明之其中一目的，提出一種能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統，係包含影像擷取模組、運算模組及處理模組。影像擷取模組係擷取來自多點觸控系統之觸控板之觸控影像。運算模組係接收觸控影像，並將觸控影像轉換為直方圖（Histogram），並選擇灰階門檻值以利用二分法切割直方圖以產生切割影像，再計算切割影像之畫素類別之類別間變異量（Between-Class-Variance）及總畫素變異量以估測切割影像之畫素類別之分離度（Separability Factor，SF）。一處理模組係判斷分離度是否符合預設門檻值；若是，則利用灰階門檻值對觸控影像執行二值化以產生二值化影像，並根據二值化影像中各個觸控亮點之運動軌跡輸出操作指令；若否，則控制運算模組重新選擇灰階門檻值並重覆上述步驟，直到分離度符合預設門檻值為止。

根據本發明之另一目的，再提出一種能自動根據環境光線變化來最佳化多點觸控系統之觸控亮點之方法，係包含下列步驟：利用影像擷取模組擷取來自多點觸控系統之觸控板之觸控影像；透過運算模組接收觸控影像，並將觸控影像轉換為直方圖，並選擇灰階門檻值以利用二分法切割直方圖以產生切割影像，再計算切割影像之類別間變異量及一總畫素變異量以估測切割影像之畫素類別之分離度；以及藉由處理模組判斷分離度是否符合預設門檻值；若是，則利用灰階門檻值對觸控影像執行二值化以輸出二值化影像，並根據二值化影像中之各個觸控亮點之運動軌跡輸出操作指令；若否，則控制運算模組重新選擇灰階門檻值並重覆上述步驟，直到分離度符合預設門檻值為止。

較佳的，分離度SF可符合下列關係式：

SF=V_BC(T)/V_T=1-V_WC(T)/V_T 0≦SF≦1
其中，V_BC為分割影像之類別間變異量，V_T為該分割影像之總畫素變異量，V_WC為該分割影像之類別內變異量，T為多灰階門檻值的集合。。

較佳的，預設門檻值可為接近1的值，使分割影像的所有畫素類別能更明確的被分離。

較佳的，運算模組可計算分割影像之畫素類別之類別內變異量，並根據分割影像中之類別內變異量貢獻值最大的畫素類別來重新選取灰階門檻值。

較佳的，多點觸控系統更可包含追蹤模組，係連結於處理模組，並追蹤各個觸控亮點，以計算各個觸控亮點之運動軌跡。

較佳的，追蹤模組可根據各個觸控亮點之中心點，計算出每一個時間點上，各個觸控亮點所在的位置及運動方向，以得知各個觸控亮點的運動軌跡。

較佳的，操作指令可包含移動、旋轉、按壓、停留以及點擊。

承上所述，依本發明之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統及其方法其可具有一或多個下述優點：

(1)　本發明之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統及其方法係利用自動多門檻值之快速明亮點之切割技術，因此即使多點觸控系統受到紅外光雜訊影響或處於各種不同環境照明的條件之下，均能保持極佳的穩定性及適應性。

(2)　本發明之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統及其方法係可自動找出最佳的灰階門檻值，以對觸控影像進行切割，因此可以更有效地辨識觸控影像中的觸控亮點。

(3)　本發明之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統及其方法在觸控影像之觸控亮點增加時，也能精準的辨識各個觸控亮點，不需要增加額外的感測模組或攝影機，因此能夠大幅的降低系統的成本，提高使用上的彈性。

(4)　本發明之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統及其方法能根據各個觸控亮點之中心點，計算出每一個時間點上，各個觸控亮點所在的位置及運動方向，因此能夠更精準的辨識各個觸控亮點的運動軌跡。

(5)　本發明之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統及其方法利用簡單的疊代法，即能夠精準的辨識各個觸控亮點，因此能夠大幅的降低系統的運算複雜度。

以下將參照相關圖式，說明依本發明之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統及其方法之實施例，為使便於理解，下列所述實施例中之相同元件係以相同之符號標示來說明。

受抑內全反射（Frustrated Total Internal Reflection，FTIR）系統的實作是由Jeff Han在2006年所提出的，其係使用一塊特殊材質的壓克力板製作成螢幕觸控板，並在壓克力的邊緣投射紅色LED光源，使得光源在其壓克力板內側做全反射。當手指碰到壓克力板時，壓克力板內部的紅外光會因介質不同而改變其反射角，反射入CCD內形成亮點，然後再經由影像處理將其亮點做擷取分析。FTIR系統的優點在於其觸控面板是採到壓克力板，因此可以支援大尺寸的觸控硬體，這樣在成本上就佔了極大的優勢，相當適合家庭使用。本發明以FTIR系統為基礎來做改良，使其在多變的光照下依然能夠訊速的、正確的且有效的選取出顯著的觸控特徵，並精準的辨識觸控點的運動軌跡。　

請參閱第1圖，其係為本發明之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統之第一實施例之方塊圖。如圖所示，多點觸控系統1係包含影像擷取模組11、運算模組12及處理模組13。影像擷取模組11擷取此多點觸控系統1之觸控板之觸控影像111。運算模組12係接收觸控影像111，並將此觸控影像111轉為直方圖（Histogram）121，並選擇一個灰階門檻值，再利用二分法122切換此直方圖121，以產生切割影像123。之後，運算模組12則計算切割影像123之類別間變異量（Between-Class-Variance）1231及總畫素變異量1232，以估測切割影像123之畫素類別之分離度（Separability Factor，SF）1233。處理模組13則判斷分離度1233是否符合預設門檻值，以進行進一步的處理。

其中，此分離度可以利用類別間變異量及總畫素變異量的比值來決定，並符合下列關係式：

SF=V_BC(T)/V_T=1-V_WC(T)/V_T 0≦SF≦1

其中，V_BC為該分割影像之類別間變異量，V_T該分割影像之總畫素變異量，V_WC為該分割影像之類別內變異量，T為多灰階門檻值的集合。

在上式中灰階畫素總變異量V_T作為正規劃參數使用，因此SF之值會落在0≦SF≦1之間。當SF值接近其最小值0時，代表影像中的所有畫素之灰階值相當集中於一個均勻的值內，相對的，當其值接近最大值1時，表示所有像素類別有很明確的分離。因此，可以針對將SF值最大化作為一個預設門檻值，以此來設計門檻值選擇與影像切割方法。

因此，此預設門檻值可為一接近1的值，例如0.9，若分離度1233大於或等於0.9，處理模組13則可判定此門檻值可將觸控影像111中各個畫素類別有效地分離，處理模組13則可利用此門檻值來將觸控影像111執行二值化，以產生二值化影像131。若分離度1233小於0.9，處理模組13則可判定此門檻值無法將觸控影像111中各個畫素類別有效地分離，此時，處理模組13則控制運算模組12重新選擇門檻值，並重覆上述步驟，直到分離度1233符合該預設門檻0.9為止。

最後，處理模組13則可根據二值化影像131中各個觸控亮點之運動軌跡132，並根據其軌跡特徵來判斷其所相對應的事件，例如移動、旋轉、按壓、停留以及點擊等，以輸出操作指令133。

值得一提的是，本發明能利用上述之自動多門檻值之快速明亮點之切割技術來執行影像處理，因此即使多點觸控系統受到紅外光雜訊影響或處於各種不同環境照明的條件之下，仍然能夠保持極佳的穩定性及適應性，更能夠快速有效地辨別觸控影像中的觸控亮點。另外，本發明可應用於受抑內全反射系統中，故不需要增加額外的感測模組或攝影機，也能夠精確的辨別觸控影像中的觸控亮點，因此能夠大幅的降低系統的成本，提高使用上的彈性。

請參閱第2圖，其係為本發明之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統之第一實施例之流程圖。本實施例係包含下列步驟：

在步驟S21中，利用影像擷取模組擷取來自多點觸控系統之觸控板之觸控影像。

在步驟S22中，透過運算模組接收觸控影像，並將觸控影像轉換為直方圖，並選擇灰階門檻值以利用二分法切割此直方圖以產生切割影像。

在步驟S23中，由運算模組計算切割影像之類別間變異量及總畫素變異量，並根據兩者之比值以估測切割影像之畫素類別之分離度。

在步驟S24中，藉由處理模組判斷該分離度是否大於0.9？若是，則進入步驟S25；若否，則進入步驟S26。　

在步驟S25中，處理模組利用此灰階門檻值對觸控影像執行二值化以輸出二值化影像，並根據二值化影像中之各個觸控亮點之運動軌跡輸出操作指令。

在步驟S26中，處理模組控制運算模組重新選擇灰階門檻值並重覆上述步驟，直到分離度符合預設門檻值為止。

請參閱第3圖，其係為本發明之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統之第二實施例之方塊圖。如圖所示，多點觸控系統3係包含影像擷取模組31、運算模組32、處理模組33及追蹤模組34。如同前述，影像擷取模組31擷取觸控影像311。運算模組32接收觸控影像311，並將其轉換為直方圖321，並選擇一個灰階門檻值，以利用二分法322切割此直方圖321，以產生切割影像323。運算模組32則計算切割影像323之類別間變異量3231及總畫素變異量3232，以估測切割影像323之畫素類別之分離度（Separability Factor，SF）3233。處理模組33則判斷分離度3233是否符合預設門檻值0.9，以進行進一步的處理。

當分離度3233大於或等於預設門檻值0.9時，處理模組33則可利用此門檻值來對觸控影像311執行二值化，以產生二值化影像331。此時，追蹤模組34則可追蹤此二值化影像331中之各個觸控亮點，並根據各個觸控亮點之中心點，計算出每一個時間點上，各個觸控亮點所在的位置及運動方向，以得知各個觸控亮點的運動軌跡341。而處理模組則可根據此運動軌跡341來輸出操作指令333，使多點觸控系統3根據此操作指令333來執行使用者的指令。

而當分離度3233小於預設門檻值0.9時，運算模組32則計算分割影像323之畫素類別之類別內變異量，並根據分割影像323中之類別內變異量貢獻值最大的畫素類別來重新選取門檻值，並重覆上述步驟，直到分離度1233符合預設門檻值0.9為止。

值得一提的是，基於以上之統計分離度鑑別準則（Separability Factor，SF），亮點物件的切割可由遞迴的方式將多點觸控系統所取得的觸控影像內的同質物件依序切出，直到觸控影像內的同質物件已完全切割出為止，且無須考慮物件數量及光照環境。為了要利用最少的遞回切割次數達到最大化分離度（SF）(例如：SF趨近於1.0)，因此需盡可能的將切割出之畫素類別之類別內變異量降到最低。為了達成此目標，切割演算法在每次的遞回運算中，需選擇類別內變異量貢獻值最大的畫素類別，來加以進行二元切割，如此將會在最少次數的遞回切割達到最大值。這樣一來，則可以大幅地降低系統所需要的運算資源。

而在另一方面，本發明更可以利用追蹤模組來追蹤此二值化影像中之各個觸控亮點，並根據各個觸控亮點之中心點，計算出每一個時間點上，各個觸控亮點所在的位置及運動方向，因此能夠更精確地估測各個觸控亮點的運動軌跡。

最後，處理模組33則可根據二值化影像331中各個觸控亮點之運動軌跡332，以輸出操作指令333。

請參閱第4圖，其係為本發明之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統之第二實施例之流程圖。本實施例係包含下列步驟：

在步驟S41中，利用影像擷取模組擷取來自多點觸控系統之觸控板之觸控影像。

在步驟S42中，透過運算模組接收觸控影像，並將觸控影像轉換為直方圖，並選擇灰階門檻值以利用二分法切割此直方圖以產生切割影像。

在步驟S43中，由運算模組計算切割影像之類別間變異量及總畫素變異量，並根據兩者之比值以估測切割影像之畫素類別之分離度。

在步驟S44中，藉由處理模組判斷該分離度是否大於0.9?。若是，則進入步驟S45；若否，則進入步驟S48。

在步驟S45中，處理模組利用此灰階門檻值對觸控影像執行二值化以輸出二值化影像。

在步驟S46中，追蹤模組追蹤二值化影像中之各個觸控亮點，以計算各個觸控亮點之運動軌跡。

在步驟S47中，處理模組根據此運動軌跡輸出操作指令。

在步驟S48中，處理模組控制運算模組計算分割影像之畫素類別之類別內變異量，並根據分割影像中之類別內變異量貢獻值最大的畫素類別來重新選擇灰階門檻值並重覆上述步驟，直到分離度符合預設門檻值為止。

請參閱第5圖，其係為本發明之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統之一實施例之示意圖。如同前述，本發明所提出的各種技術手段均能夠應用於受抑內全反射系統（FTIR）。如圖所示，使用者利用受抑內全反射系統來執行多點觸控的功能，此時，攝影機則會擷取觸控板的觸控影像，再利用本發明所提出的自動多門檻值之快速亮點切割技術，即可得到清楚的觸控影像。

儘管前述在說明本發明之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統之的過程中，亦已同時說明本發明之能自動根據環境光線變化來最佳化多點觸控系統之觸控亮點之方法的概念，但為求清楚起見，以下仍另繪示流程圖詳細說明。

請參閱第6圖，其係為本發明之能自動根據環境光線變化來最佳化多點觸控系統之觸控亮點之方法之流程圖。

在步驟S61中，利用影像擷取模組擷取來自多點觸控系統之觸控板之觸控影像。

在步驟S62中，透過運算模組接收觸控影像，並將觸控影像轉換為直方圖，並選擇灰階門檻值以利用二分法切割直方圖以產生切割影像，再計算切割影像之類別間變異量及總畫素變異量以估測切割影像之畫素類別之分離度。

在步驟S63中，藉由處理模組判斷分離度是否符合預設門檻值；若是，則利用灰階門檻值對觸控影像執行二值化以輸出二值化影像，並根據二值化影像中之各個觸控亮點之運動軌跡輸出操作指令；若否，則控制運算模組重新選擇灰階門檻值並重覆上述步驟，直到分離度符合預設門檻值為止。

本發明之能自動根據環境光線變化來最佳化多點觸控系統之觸控亮點之方法的詳細說明以及實施方式已於前面敘述本發明之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統時描述過，在此為了簡略說明便不再重覆敘述。

綜上所述，本發明之能能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統及其方法能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統及其方法係利用創新的影像切割技術，使多點觸控系統受到紅外光雜訊影響或處於各種不同環境照明的條件之下，依然能保持極佳的穩定性及適應性，且能夠大幅地降低系統的運算複雜度。另外，本發明可自動找出最佳的灰階門檻值，以對觸控影像進行切割，因此可以更有效地辨識觸控影像中的觸控亮點。再者，本發明即使在觸控亮點增加時，不需要增加額外的感測模組或攝影機，也能精準的辨識各個觸控亮點，因此能夠大幅的降低系統的成本，提高使用上的彈性。而本發明更可利用追蹤模組根據各個觸控亮點之中心點，計算出每一個時間點上，各個觸控亮點所在的位置及運動方向，因此能夠更精準的辨識各個觸控亮點的運動軌跡。

可見本發明在突破先前之技術下，確實已達到所欲增進之功效，且也非熟悉該項技藝者所易於思及，其所具之進步性、實用性，顯已符合專利之申請要件，爰依法提出專利申請，懇請貴局核准本件發明專利申請案，以勵創作，至感德便。

以上所述僅為舉例性，而非為限制性者。任何未脫離本發明之精神與範疇，而對其進行之等效修改或變更，均應包含於後附之申請專利範圍中。

1、3．．．多點觸控系統

11、31．．．影像擷取模組

111、311．．．觸控影像

12、32．．．運算模組

121、321．．．直方圖

122、322．．．二分法

123、323．．．分割影像

1231、3231．．．類別間變異量

1232、3232．．．總畫素變異量

1233、3233．．．分離度

13、33．．．處理模組

131、331．．．二值化影像

132、341．．．運動軌跡

133、333．．．操作指令

S21~26、S41~48、S61~63．．．步驟流程

第1圖　係為本發明之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統之第一實施例之方塊圖。
第2圖　係為本發明之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統之第一實施例之流程圖。
第3圖　係為本發明之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統之第二實施例之方塊圖。
第4圖　係為本發明之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統之第二實施例之流程圖。
第5圖　係為本發明之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統之一實施例之示意圖。
第6圖　係為本發明之能自動根據環境光線變化來最佳化多點觸控系統之觸控亮點之方法之流程圖。

1．．．多點觸控系統

11．．．影像擷取模組

111．．．觸控影像

12．．．運算模組

121．．．直方圖

122．．．二分法

123．．．分割影像

1231．．．類別間變異量

1232．．．總畫素變異量

1233．．．分離度

13．．．處理模組

131．．．二值化影像

132．．．運動軌跡

133．．．操作指令

Claims

一種能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統，係包含：
一影像擷取模組，係擷取來自該多點觸控系統之觸控板之一觸控影像；
一運算模組，係接收該觸控影像，並將該觸控影像轉換為一直方圖（Histogram），並選擇一灰階門檻值以利用二分法切割該直方圖以產生一切割影像，再計算該切割影像之畫素類別之一類別間變異量（Between-Class-Variance）及一總畫素變異量以估測該切割影像之畫素類別之一分離度（Separability Factor，SF）；以及
一處理模組，係判斷該分離度是否符合一預設門檻值；若是，則利用該灰階門檻值對該觸控影像執行二值化以產生一二值化影像，並根據該二值化影像中各個觸控亮點之一運動軌跡輸出一操作指令；若否，則控制該運算模組重新選擇該灰階門檻值並重覆上述步驟，直到該分離度符合該預設門檻值為止。
如申請專利範圍第1項所述之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統，其中該分離度SF係符合下列關係式：
SF=V_BC(T)/V_T=1-V_WC(T)/V_T 0≦SF≦1
其中，V_BC為該分割影像之類別間變異量，V_T為該分割影像之總畫素變異量，V_WC為該分割影像之類別內變異量，T為多灰階門檻值的集合。
如申請專利範圍第2項所述之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統，其中該預設門檻值係為接近1的值，使該分割影像的所有畫素類別能更明確的被分離。
如申請專利範圍第2項所述之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統，其中該運算模組係計算該分割影像之畫素類別之一類別內變異量，並根據該分割影像中之該類別內變異量貢獻值最大的畫素類別來重新選取該門檻值。
如申請專利範圍第1項或第2項所述之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統，更包含一追蹤模組，係連結於該處理模組，並追蹤各個該觸控亮點，以計算各個該觸控亮點之該運動軌跡。
如申請專利範圍第5項所述之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統，其中該追蹤模組係根據各個該觸控亮點之中心點，計算出每一個時間點上，各個該觸控亮點所在的位置及運動方向，以得知各個該觸控亮點的該運動軌跡。
如申請專利範圍第6項所述之能根據環境光線變化來最佳化觸控亮點之多點觸控系統，其中該操作指令包含移動、旋轉、按壓、停留以及點擊。
一種能自動根據環境光線變化來最佳化多點觸控系統之觸控亮點之方法，係包含下列步驟：
利用一影像擷取模組擷取來自一多點觸控系統之觸控板之一觸控影像；
透過一運算模組接收該觸控影像，並將該觸控影像轉換為一直方圖，並選擇一灰階門檻值以利用二分法切割該直方圖以產生一切割影像，再計算該切割影像之一類別間變異量及一總畫素變異量以估測該切割影像之畫素類別之一分離度；以及
藉由一處理模組判斷該分離度是否符合一預設門檻值；若是，則利用該灰階門檻值對該觸控影像執行二值化以輸出一二值化影像，並根據該二值化影像中之各個觸控亮點之一運動軌跡輸出一操作指令；若否，則控制該運算模組重新選擇該灰階門檻值並重覆上述步驟，直到該分離度符合該預設門檻值為止。
如申請專利範圍第8項所述之能自動根據環境光線變化來最佳化多點觸控系統之觸控亮點之方法，其中該分離度SF係符合下列關係式：
SF=V_BC(T)/V_T=1-V_WC(T)/V_T 0≦SF≦1
其中，V_BC為該分割影像之類別間變異量，V_T為該分割影像之總畫素變異量，V_WC為該分割影像之類別內變異量，T為多灰階門檻值的集合。
如申請專利範圍第9項所述之能自動根據環境光線變化來最佳化多點觸控系統之觸控亮點之方法，其中該預設門檻值係為接近1的值，使該分割影像的所有畫素類別能更明確的被分離。
如申請專利範圍第9項所述之能自動根據環境光線變化來最佳化多點觸控系統之觸控亮點之方法，更包含下列步驟：
利用該運算模組係計算該分割影像之畫素類別之一類別內變異量，並根據該分割影像中之該類別內變異量貢獻值最大的畫素類別來重新選取該門檻值。
如申請專利範圍第8項或第9項所述之能自動根據環境光線變化來最佳化多點觸控系統之觸控亮點之方法，更包含下列步驟：
利用一追蹤模組追蹤該二值化影像中之各個該觸控亮點，以計算各個該觸控亮點之該運動軌跡。
如申請專利範圍第12項所述之能自動根據環境光線變化來最佳化多點觸控系統之觸控亮點之方法，更包含下列步驟：
由該追蹤模組根據各個該觸控亮點之中心點，計算出每一個時間點上，各個該觸控亮點所在的位置及運動方向，以得知各個該觸控亮點的該運動軌跡。
如申請專利範圍第13項所述之能自動根據環境光線變化來最佳化多點觸控系統之觸控亮點之方法，其中該操作指令包含移動、旋轉、按壓、停留以及點擊。