TW201321973A - 手持式電子裝置測試方法 - Google Patents

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Abstract

本發明係揭露一種手持式電子裝置測試方法，係用以對搭載有開放式作業平台以及具有觸控螢幕的手持式電子裝置進行測試。執行安裝於該開放式作業平台的螢幕測試程式以進行測試程序，該螢幕測試程式產生一測試座標，並基於此座標令該觸控螢幕執行對應該測試座標之一觸控點選動作，進而使該開放式作業平台響應該觸控點選動作執行對應的一功能動作，重覆執行此測式迴圈以模擬出使用者可能造成該手持式電子裝置當機或軟體程式毀損的觸控手法，進而提高該手持式電子裝置之測試的可靠性。

Description

手持式電子裝置測試方法
本發明係關於一種手持式電子裝置測試方法，更特別的是關於一種利用觸控螢幕之觸控動作來測試手持式電子裝置的測試方法。
隨著智慧型手機、平板電腦等手持式電子裝置的風行，各式各樣的手持式電子裝置大量地出現在市場上，且，該等智慧型手機、平板電腦等手持式電子裝置的另一特色在於：皆具有觸控式的螢幕。
觸控式螢幕雖然帶給使用者於操作上諸多的便利性，然而卻也會在使用者不經意的觸壓或特定的觸壓順序下容易造成手持式電子裝置的當機或安裝於該手持式電子裝置內之應用程式的毀損。這些皆是手持式電子裝置或安裝於其內之應用程式在設計時就須發現並解決的問題。
然而傳統上並未有此種可用來對手持式電子裝置進行使用者觸壓的模擬測試，使得手持式電子裝置往往在上市後才由使用者端發現許多缺失，手持式電子裝置的廠商才趕緊進行補救，進而造成了許多的損失。
本發明之一目的在於節省人力成本並增加發現問題的機率。
本發明之另一目的在於發現非人力測試所能遇到的隨機問題以及提高複製隨機問題的機率。
本發明之再一目的在於提高測試的可靠性。
為達上述目的及其他目的，本發明提出一種手持式電子裝置的測試方法，係用以對搭載有開放式作業平台以及具有觸控螢幕的手持式電子裝置進行測試，該測試方法包含：執行一安裝於該開放式作業平台的螢幕測試程式以開始一測試程序；該螢幕測試程式產生一測試座標，以使該開放式作業平台產生一觸控動作執行指令，並將該觸控動作執行指令及該測試座標傳遞至該觸控螢幕；該觸控螢幕響應該觸控動作執行指令，於該觸控螢幕上執行對應該測試座標之一觸控點選動作；該開放式作業平台響應該觸控點選動作執行對應的一功能動作；及於該開放式作業平台執行該功能動作成功時，回到該螢幕測試程式產生該測試座標的步驟以產生下一測試座標。
於一實施例中，於該開放式作業平台執行該功能動作失敗時，停止該測式程序，此外，後續亦可包含：記錄自該測式程序開始至停止的總時數。
於一實施例中，該測試座標係由該螢幕測試程式隨機產生。
於一實施例中，該螢幕測試程式隨機產生的該測試座標係為單一座標或複合座標。
於一實施例中，於產生該測試座標的步驟中，係隨著每一迴圈的測試依序產生直線型來回的測試座標以模擬該觸控螢幕上的直線型來回觸壓動作。
於一實施例中，於產生該測試座標的步驟中，係隨著每一迴圈的測試依序產生迴轉式循環的測試座標以模擬該觸控螢幕上的旋轉式來回觸壓動作。
於一實施例中，測試方法更包含：於該測試程序執行的總歷程到達一預定時數時，停止該測試程序。
於一實施例中，該開放式作業平台係為Android作業平台。
藉此，本發明之測試方法可模擬出使用者在日常生活上會隨機觸壓或不經意的觸壓順序，甚至是單點及多點的觸壓皆可被模擬，進而可由此種壓力測試發現手持式電子裝置可能存在的缺陷，且此種測試可被量化及分析，進而提高該手持式電子裝置之測試的可靠性。
為充分瞭解本發明之目的、特徵及功效，茲藉由下述具體之實施例，並配合所附之圖式，對本發明做一詳細說明，說明如後：
請參閱第1圖，係本發明於一實施例中手持式電子裝置之測試方法的流程圖。本發明係用以對搭載有開放式作業平台以及具有觸控螢幕的手持式電子裝置進行測試。
首先步驟S101，執行一安裝於該開放式作業平台的螢幕測試程式以開始一測試程序。該螢幕測試程式係預先安裝至該開放式作業平台上，以供後續測試程序的進行。
接著步驟S103，該螢幕測試程式被執行後及開始測試程序並產生一測試座標，以使該開放式作業平台產生一觸控動作執行指令，並將該觸控動作執行指令及該測試座標傳遞至該觸控螢幕。
步驟S103中，該測試座標係用來指定對應於該觸控螢幕上的觸點座標，以模擬出使用者觸壓的位置。該測試座標的產生可依據實際之需求設定一定的順序或交由螢幕測試程式隨機產生。有特定順序之測試係可模擬出使用者在特定狀態下(例如：在觸控螢幕上的直線型來回觸壓或旋轉式的來回觸壓可能觸壓的方式。至於隨機產生觸壓座標則可複製出使用者可能發生的隨意觸壓。在沒有開啟螢幕鎖定的保護狀態下，使用者即可能在不知情的情況下發生隨意的觸壓甚至多點的隨意觸壓，這些觸控方式亦可能造成當機或安裝於該手持式電子裝置內之應用程式的毀損。因此，藉由特定順序或隨機產生之觸壓方式將可增加發現問題的機率。隨機產生之觸壓方式更可發現非人力測試所能遇到的隨機問題以及提高複製隨機問題的機率。
步驟S103中，該螢幕測試程式使該開放式作業平台產生一觸控動作執行指令，該開放式作業平台並將該觸控動作執行指令及該測試座標一同傳遞至該觸控螢幕，使該觸控螢幕的驅動程式可根據該觸控動作執行指令及該測試座標進行後續測式步驟。
接著步驟S105，該觸控螢幕的驅動程式響應該觸控動作執行指令，於該觸控螢幕上執行對應該測試座標之一觸控點選動作。
接著步驟S107，該開放式作業平台響應該觸控點選動作執行對應的一功能動作。此步驟即模擬出使用者在觸壓該測試座標後，對於該開放式作業平台來說此觸壓動作後將要執行的程式(若有觸壓到程式ICON或螢幕上的其他執行項目)。其中，該測試座標亦有可能代表該觸控螢幕上無任何功能動作可執行之位置，此時之觸壓結果對於螢幕測試程式係屬於成功的，因觸壓該位置並不會造成當機或應用程式的毀損。
最後步驟S109，於該開放式作業平台執行模擬觸壓之位置所對應的該功能動作成功時，回到該螢幕測試程式產生該測試座標的步驟(S103)以產生下一測試座標，進而進行迴圈式的壓力測試。其中，操作者亦可設定為測試程序的總歷程到達某一特定時數(例如持續25小時的測試)時即停止迴圈式的壓力測試(圖未示)，進而可確定該手持式電子裝置是為穩定的並可確實地代表出本測試方法的可靠度。
步驟S109中，於該開放式作業平台執行模擬觸壓之位置所對應的該功能動作失敗時，停止該測式程序。
本發明之一實施例中，於步驟S109中之停止該測式程序後更可包含步驟S111：記錄自該測式程序開始至停止的總時數。執行的失敗即代表該手持式電子裝置具有不穩定之發生機率並被本發明之測試方法發現，開發者後續則需參考迴圈式的壓力測試係經過多久才發生失敗情況，以及，失效前係執行了何種程式或步驟，進而供開發者後續對該手持式電子裝置之改良。
本發明之一實施例係將此測試方法應用於搭載Android作業平台之手持式電子裝置。第2圖係Android作業平台各層級之示意圖。Android作業平台可細分為核心(Kernel)層201，函式庫(Library)203，運行元件庫(Runtime)205，應用層架構(Framework)207和應用程式層209。由於Android作業平台已是公開技術，其各層間的詳細運作在此不再贅述。欲特別說明的是，本發明實施例中之螢幕測試程式即是安裝於應用程式層209，再藉由應用層架構207、函式庫203、運行元件庫205使Android作業平台虛擬出觸控特定螢幕座標的事件，以及將觸控動作執行指令及測試座標傳遞至底層之核心層201中的螢幕驅動程式，最後再執行所點選的功能動作，並將此動作回饋至上層的應用程式，螢幕測試程式即會判斷及記錄執行結果以作為是否進入下一測試迴圈的依據。
本發明在上文中已以較佳實施例揭露，然熟習本項技術者應理解的是，該實施例僅用於描繪本發明，而不應解讀為限制本發明之範圍。應注意的是，舉凡與該實施例等效之變化與置換，均應設為涵蓋於本發明之範疇內。因此，本發明之保護範圍當以申請專利範圍所界定者為準。
S101~S111．．．步驟
201．．．核心層
203．．．函式庫
205．．．運行元件庫
207．．．應用層架構
209．．．應用程式層
第1圖為本發明於一實施例中手持式電子裝置之測試方法的流程圖。
第2圖為Android作業平台各層級之示意圖。
S101~S111．．．步驟

Claims (9)

  1. 一種手持式電子裝置測試方法，係用以對搭載有開放式作業平台以及具有觸控螢幕的手持式電子裝置進行測試，該測試方法包含：執行一安裝於該開放式作業平台的螢幕測試程式以開始一測試程序；產生一測試座標，以使該開放式作業平台產生一觸控動作執行指令，並將該觸控動作執行指令及該測試座標傳遞至該觸控螢幕；該觸控螢幕響應該觸控動作執行指令，於該觸控螢幕上執行對應該測試座標之一觸控點選動作；該開放式作業平台響應該觸控點選動作執行對應的一功能動作；及於該開放式作業平台執行該功能動作成功時，回到產生該測試座標的步驟以產生下一測試座標。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之測試方法，更包含：於該開放式作業平台執行該功能動作失敗時，停止該測式程序。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之測試方法，其中，於該開放式作業平台執行該功能動作失敗後停止測試程序的步驟後更包含：記錄自該測式程序開始至停止的總時數。
  4. 如申請專利範圍第1項中所述之測試方法，其中該測試座標係由該螢幕測試程式隨機產生。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之測試方法，其中，該螢幕測試程式隨機產生的該測試座標係為單一座標或複合座標。
  6. 申請專利範圍第1項所述之測試方法，其中，於產生該測試座標的步驟中，係隨著每一迴圈的測試依序產生直線型來回的測試座標以模擬該觸控螢幕上的直線型來回觸壓動作。
  7. 申請專利範圍第1項所述之測試方法，其中，於產生該測試座標的步驟中，係隨著每一迴圈的測試依序產生迴轉式循環的測試座標以模擬該觸控螢幕上的旋轉式來回觸壓動作。
  8. 申請專利範圍第1項所述之測試方法，其中更包含：於該測試程序執行的總歷程到達一預定時數時，停止該測試程序。
  9. 如申請專利範圍第1項所述之測試方法，其中該開放式作業平台係為Android作業平台。
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