TW201316954A - 斷層影像處理方法 - Google Patents
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Abstract
本發明係提供一種斷層影像處理方法,用於一成像系統。該方法包括:接收一生物組織之至少一第一斷層影像;依據至少一影像特徵由各第一斷層影像濾除複數區域以產生至少一第二斷層影像,其中該至少一影像特徵包括該至少一第一斷層影像之亂度、亮度或其組合;以及對一層邊界表面影像進行一影像平滑處理,並依據已平滑之該層邊界表面影像及該至少一第二斷層影像產生一輸出En-Face影像,其中該層邊界表面影像係由該至少一第二斷層影像所取得。
Description
本發明係有關於光學同調斷層掃瞄系統,特別是有關於在光學同調斷層掃瞄系統中所使用的斷層影像處理方法。
近年來,在醫療或類似的領域中,光學同調斷層掃瞄(optical coherence tomography)測量方法常是一種以非侵入性的方式取得活體內部的斷層影像。為了進行正確的病理診斷,需要多個切片來判定一個可疑的病變部位(suspicious lesion),以免造成誤判。為了減低病人於取得切片時的痛苦,選擇一個最適合的切片位置中有一種最好的非侵入式方法就是使用光學同調斷層掃瞄成像技術來偵測癌症初期(precancer)或癌症(cancer)。雖然有許多非侵入式或微侵入式產品用來診斷,這些產品會具有例如:放射性、低解析度、超大尺寸或是花費昂貴等缺點。光學同調斷層掃瞄系統可取得高解析度之影像,而且可為非放射性(non-radioactivity)、非侵入式(non-invasive)或微侵入式(micro-invasive),並即時顯示影像。光學同調斷層掃瞄測量方法具有解析度可達到10um左右之優點,準確度比超音波測量方式多10倍,而且可獲得活體內部之詳細的斷層影像。
光學同調斷層掃瞄測量方式是一種用來取得特別區域的光學斷層影像的方法。舉例來說,一癌症病變部位可以
在內視鏡(endoscope)下觀察並辨識,例如是:一正交發光源內視鏡(normal illumination light endoscope)或是一特別光線內視鏡。上述區域係透過光學同調斷層掃瞄,藉以判斷癌症病變部位已侵入生物組織有多深。測量光線的光軸(optical axis)是採用二維掃瞄,藉以組合由光學同調斷層掃瞄所取得的深度資訊以得到三維資訊。
需注意的是,癌症侵入的深度傳統上是一重要的參數,用以決定治療方法(treatment modality)。然而,癌症所侵入的深度無法由傳統的結腸鏡檢查。光學同調斷層掃瞄技術不只可提供代表性的橫截面影像(cross-sectional image),並可重建醫生所熟悉的En-Face影像。因此,亟需發展一種可決定癌症侵入深度的光學同調斷層掃瞄系統,並可具有其他有意義的生物表徵。
本發明係提供一種斷層影像處理方法,用於一成像系統。該方法包括:接收一生物組織之至少一第一斷層影像;依據至少一影像特徵由各第一斷層影像濾除複數區域以產生至少一第二斷層影像,其中該至少一影像特徵包括該至少一第一斷層影像之亂度、亮度或其組合;以及對一層邊界表面影像進行一影像平滑處理,並依據已平滑之該層邊界表面影像及該至少一第二斷層影像產生一輸出En-Face影像,其中該層邊界表面影像係由該至少一第二斷層影像所取得。
本發明更提供一種斷層影像處理方法,用於一成像系統。該方法包括:利用具有一內視鏡及一探針之一光學同調斷層影像產生單元產生至少一第一斷層影像,其中該內視鏡包括一插入部位用以插入至一內腔,且該探針係用以發射及接收微弱光線且被插入該插入部位中;由該至少一第一斷層影像濾除一上層以產生至少一第二斷層影像;對一層邊界表面影像進行一影像平滑處理以產生至少一第三斷層影像,其中該層邊界表面影像係依據該至少一第二斷層影像所取得;以及依據該至少一第三斷層影像及該至少一第二斷層影像以產生一輸出En-Face影像。
本發明更提供一種斷層影像處理方法,用於一成像系統,該方法包括:接收一生物組織之至少一第一斷層影像;依據至少一影像特徵由各第一斷層影像濾除複數區域以產生至少一第二斷層影像,其中該至少一影像特徵包括該至少一第一斷層影像之亂度、亮度或其組合;以及依據該至少一第二斷層影像產生一輸出En-Face影像。
為使本發明之上述目的、特徵和優點能更明顯易懂,下文特舉一較佳實施例,並配合所附圖式,作詳細說明如下。
第1圖係顯示依據本發明一實施例之成像系統的方塊圖。第2A~2F圖係顯示依據本發明一實施例之斷層影像處理流程的示意圖,其中斷層影像包括一生物組織。請參考第1圖及第2A~2F圖,成像系統100係包括一影像擷
取單元110、一感興趣區域選擇單元120、一第一邊界偵測單元130、一合併單元140、一第二邊界偵測單元150、一記憶體單元160及一影像後處理單元200。影像擷取單元110係用以擷取光學信號以取得在一維度的A掃描(A-scan)信號,並依據所擷取的A掃描信號以產生至少一第一斷層影像(B-scan影像),其中斷層影像中之一者係顯示於第2A圖。更詳細而言,如第2A圖所示,影像擷取單元110係可為一光學同調斷層掃瞄影像產生單元(OCT image-producing unit),用以偵測在一組織(tissue)之掃瞄表面的光學結構資訊,藉以由一光偵測單元(未繪示)所偵測的干涉信號來設定該第一斷層影像。
感興趣區域選擇單元120係用以接收來自影像擷取單元110的第一斷層影像,並由各第一斷層影像過濾複數區域以產生至少一第二斷層影像。感興趣區域選擇單元120可將第一斷層影像分離為一上層(top layer)及一下層(bottom layer)。更進一步,各斷層影像之上層或下層可依據使用者之需求而進行保留。因為生物組織之上層的影像特徵是均勻的(例如:低亂度)或是具有較高的亮度,因此可依據斷層影像的影像特徵,例如是亂度(或均勻度)、亮度、標準差、材質或其組合,用以定義生物組織上層及下層之間的層邊界(layer boundary),但本發明不限於此。舉例來說,由亂度(entropy)所定義的層邊界係可經由下列公式計算所得:
其中x i 係表示像素值,且p係表示機率質量函式(probability mass function)。由亮度值所定義的層邊界係可藉由一預定閥值計算所得。因此,藉由感興趣區域選擇單元120過濾斷層影像後,在各過濾後的斷層影像中可保留下層,如第2C圖所示。另一方面,感興趣區域選擇單元120亦可濾除各第一斷層影像中的下層。需注意的是,上述實施例中所定義的層邊界並不是黏膜(mucosa)及黏膜下層(submucosa)之間的邊界。所過濾的區域(上層或下層)可包括黏膜、黏膜下層或其組合。
第一邊界偵測單元130係用以接收來自影像擷取單元110的第一斷層影像,由該第一斷層影像偵測該生物組織的上邊界,並產生至少一第三斷層影像,如第2B圖所示。
合併單元140係分別對來自感興趣區域選擇單元120的第二斷層影像及來自第一邊界偵測單元130的第三斷層影像進行一交集(AND)運算以產生一第四斷層影像。換句話說,合併單元140可取得來自感興趣區域選擇單元120的第二斷層影像及來自第一邊界偵測單元130的第三斷層影像的交錯區域(intersection region)。第二邊界偵測單元150係用以接收來自合併單元140的第四斷層影像,並由第四斷層影像偵測該生物組織之下邊界以產生至少一第五斷層影像。因此,可取得在來自影像擷取單元110的第一斷層影像中之生物組織的上邊界及下邊界。第二邊界偵測單元150更可用以將第五斷層影像儲存至記憶體單元160。
在另一實施例中,影像後處理單元200係包括一影像
排列單元210、一影像平滑單元220、一影像分割單元230及一信號計算單元240。影像排列單元210係用以將儲存於記憶體單元160中的複數張第五斷層影像依序排列,以產生至少一第六斷層影像。影像平滑單元220係套用一二維濾波器至第六斷層影像之上方像素(各第六斷層影像頂端之像素所形成的層邊界表面影像),藉以移除異常點(exceptional points)以產生至少一第七斷層影像。舉例來說,可取得各第六斷層影像最上方的像素,因此一張第六斷層影像中所取得的像素可視為一條直線,故組合所有第六斷層影像中所取得的直線可形成一二維平面(層邊界表面影像或俯視圖)。如第2D圖所示,在各第六斷層影像之上邊界有多個異常點。更進一步而言,各第六斷層影像係互相平行。上邊界(top border)係為朝著一特定方向的邊界,或是相鄰於生物組織表面的邊界。取得各第六斷層影像的上邊界後,若由生物組織的表面看過去,各上邊界可視為一條直線。二維平面可視為由第六斷層影像所形成的一立體結構影像(stereoscopic structure image)的層邊界表面影像(俯視圖),但本發明並不限於此。
如第2E圖所示,在利用影像平滑單元220套用一二維濾波器後,可移除異常點,並且各第六斷層影像的上邊界會被稍微調整過。在一實施例中,二維濾波器係可為一3x3(或5x5)高斯濾波器(非限定),如第3A及3B圖所示,二維濾波器係為一滑動窗(sliding window),用以對二維平面上的各像素進行二維摺積(two-dimensional
convolution),藉以平滑該二維平面,但本發明並不限於此。
在又一實施例中,影像分割單元230係用以取得在第七斷層影像調整後的上邊界及下邊界之間的區域,以產生至少一第八斷層影像,如第2F圖所示。信號計算單元240係用以依序整合(或合併)於各第八斷層影像中所取得的區域,藉以產生一En-Face影像,如第2G圖所示。又,信號計算單元240更可將所輸出的En-Face影像播放於一顯示器。由於在本發明中,生物組織之表面的均勻部分已被濾除,因此En-face影像中的腺窩形態(pit patterns)與先前技術相比會變得更清晰。然而,本發明並未使用快速傅立葉轉換(Fast Fourier Transform)或是Hilbert Huang轉換方法以濾除異常點,因此成像系統100的運作速度較先前技術快。
第4圖係顯示依據本發明一實施例中用於成像系統100之斷層影像處理方法的流程圖。在步驟S400中,影像擷取單元110係擷取來自一生物組織的光線以獲得複數張A掃瞄影像,並依據A掃瞄影像產生至少一第一斷層影像(B掃瞄影像)。在步驟S410,感興趣區域選擇單元120係接收該至少一第一斷層影像,並利用至少一影像特徵(例如是亂度、亮度、標準差、材質或其組合)由各第一斷層影像中濾除區域,藉以產生至少一第二斷層影像。在步驟S420中,第一邊界偵測單元130係由該至少一第一斷層影像偵測該生物組織的上邊界,藉以產生至少一第三斷層影像。在步驟S430中,合併單元140係由第二斷層影像及第三斷
層影像取得一交錯區域,藉以產生至少一第四斷層影像。在步驟S440,第二邊界偵測單元150係由第四斷層影像偵測該生物組織的下邊界,藉以產生至少一第五斷層影像。第二邊界偵測單元150更將該至少一第五斷層影像儲存至記憶體單元160。
在步驟S450,影像排列單元210係取得儲存於記憶體單元160中的第五斷層影像,並將將第五斷層影像依序排列以產生至少一第六斷層影像(層邊界表面影像)。需注意的是各第六斷層影像係互相平行。在步驟S460,影像平滑單元220係對該第六斷層影像進行一影像平滑處理以減少第六斷層影像之異常點,並產生至少一第七斷層影像。需注意的是第七斷層影像係由複數直線所組成,其中各直線係在第六斷層影像由一特定方向的邊界(例如:上邊界)所取得。如前述實施例,影像平滑處理係指套用一二維濾波器至第六斷層影像上方邊界的各像素。
在步驟S470,影像分割單元230係由第七斷層影像取得該生物組織的上邊界及下邊界之間的區域,以產生至少一第八斷層影像。在步驟S480,信號計算單元240係在正交於第八斷層影像之表面的方向整合第八斷層影像,以產生輸出En-Face影像。
第5圖係顯示依據本發明另一實施例之成像系統500的方塊圖。成像系統500係包括一探針510、一內視鏡520、一頻率過濾單元530、一記憶體單元540、一影像平滑單元550、一信號計算單元560以及一光學同調斷層影像產生單
元(OCT image producing unit)570。請參考第1圖及第5圖,成像系統100中的部分元件係與成像系統500中之元件不同,例如影像擷取單元110、感興趣區域選擇單元120及第一邊界偵測單元130。舉例來說,影像擷取單元110係可由探針510、內視鏡520及光學同調斷層影像產生單元570所取代。感興趣區域選擇單元120及第一邊界偵測單元130係可由頻率過濾單元530所取代。
第6A~6F圖係顯示依據本發明一實施例中具有探針的光學同調斷層掃瞄系統的即時處理流程的示意圖。在一實施例中,成像系統500可進一步用於即時內視鏡診斷。請參考第5圖及第6圖,具有探針510的內視鏡520係與光學同調斷層影像產生單元570一同使用,如第6A圖所示。內視鏡520係包括一插入部位,用以插入一內腔(lumen)中。探針510係可發射及接收微弱光線,且可被插入活體的內腔中以觀察在黏膜上出現腺窩(crypt)結構的器官(例如:胃、十二指腸、空腸、迴腸、結腸或直腸等等)。接著,光學同調斷層影像產生單元570係可接收來自探針510及內視鏡520的A掃瞄影像以產生至少一第一斷層影像。
第6B~6D圖係為探針510插入內腔的橫截面視角圖。當探針510被插入內腔,探針510會發射及接收微弱光線,以使探針510可收集到內腔中的散射光線,因此光學同調斷層影像產生單元570係可接收來自探針510及內視鏡520的A掃瞄影像以產生至少一第一斷層影像,其中各箭頭680係表示一A掃瞄影像。然而,生物組織的表面
可能不具有相關的腺窩以供診斷,且並可移除掉其表面以觀察生物組織之內部。第6C圖係顯示由頻率過濾單元530所定義的各斷層影像之上邊界。在一實施例中,頻率過濾單元530係安裝專用硬體以對來自光學同調斷層影像產生單元570的A掃瞄影像執行一維快速傳利葉轉換之濾波器計算,但本發明並不限於此。當光學同調斷層影像產生單元570接收來自探針510及內視鏡520之A掃瞄影像,A掃瞄影像會被傳送至頻率過濾單元530,以使生物組織之上層(top layer)可快速地由A掃瞄影像中濾除,藉以利用專用硬體增進顯示斷層影像(B掃瞄影像)之速度以達成即時顯示並便於診斷。同時,在進行濾波後,頻率過濾單元530係產生至少一第二斷層影像,並將所產生的第二斷層影像儲存至記憶體單元540。在第6D圖中,在生物組織之上邊界以上的上層係直接由第二斷層影像(B掃瞄影像)移除以便進行快速觀察。
請進一步參考第6B~6C及10A~10B圖,其中第6B圖中的各箭頭即代表一一維干涉信號(A掃瞄影像),如第10A圖所示。在各一維干涉信號經過一維快速傅利葉轉換之濾波器(註:高通濾波器),可得到濾波後的一維干涉信號,如第10B圖所示。因此,在頻率過濾單元530利用專用硬體以對來自光學同調斷層影像產生單元570的A掃瞄影像進行高通濾波,可達到接近即時(real time)之處理速度,再進行光學同調斷層影像之成像,例如第6C圖所示。
然而,在各第二斷層影像之上方像素中會有一些異常
點會導致誤診(misdiagnosis),如第6E圖所示。影像平滑單元550係套用一二維濾波器至二維平面(層邊界表面影像或俯視圖),該二維平面係由各第二斷層影像之上方像素所組成,藉以減少異常點並產生至少一第三斷層影像,如第6F圖所示。接著,將第三斷層影像依序整合,可得到En-Face影像,因此可利用配備有探針510及內視鏡520的成像系統500輕易地用視覺判斷在生物組織上的腺窩。
第7圖係顯示依據本發明另一實施例之用於成像系統500之斷層影像處理方法。在步驟S700,將探針510及內視鏡520插入至一活體的一內腔中以藉由光學同調斷層影像產生單元570取得微弱光線以產生至少一第一斷層影像。在步驟S710中,頻率過濾單元530係定義在內腔中所觀察的器官之上邊界,並由第一斷層影像中移除在該上邊界以上的上層以產生至少一第二斷層影像。
在步驟S720中,頻率過濾單元530更將第二斷層影像儲存至記憶體單元540。在步驟S730,影像平滑單元550係取得儲存於記憶體單元540中的第二斷層影像,並對一層邊界表面影像(layer boundary surface image)進行一影像平滑處理(例如:套用一二維濾波器)以產生至少一第三斷層影像,其中該層邊界表面影像係由各第二斷層影像在一特定方向之邊界所組成。更進一步而言,第二斷層影像可建構一個立體結構影像(stereoscopic structure image),且層邊界表面影像係可由該立體結構影像上方觀察所取得。在步驟S740,信號計算單元560係依據第三斷層影像產生一
輸出En-Face影像。
需注意的是,在成像系統100中的影像處理運算係較為複雜以增進輸出En-face影像之品質及準確度。然而,影像處理會花費大量時間及硬體資源以計算極大量的運算。在一實施例中,成像系統100係可為一獨立(stand-alone)成像系統以在得生物組織之斷層影像後進行影像後處理,但本發明並不限於此。在即時內視鏡診斷中,影像處理運算不應太過複雜以對具有內視鏡之成像系統的造成嚴重負擔,因此為了在成像系統500中進行即時觀察及診斷,在成像系統100中的部分影像處理運算係被省略。
在又一實施例中,成像系統100之部分元件可被省略,例如是影像平滑單元220。如第8圖所示,成像系統800中之元件均可分別對應至第1圖中之成像系統100之元件110~160、200~210及230及240,其細節請參考第1圖之實施例,但成像系統800並不包括影像平滑單元220。換言之,成像系統800在影像排列單元210之前的流程均與成像系統100相同,但成像系統800並未濾除第六斷層影像之異常點,此部分請參考前述實施例。第六斷層影像在經過影像分割單元230後可取得在第六斷層影像的上邊界及下邊界之間的區域,以產生至少一第七斷層影像,如第2F圖所示。信號計算單元240係依序整合(或合併)於各第七斷層影像中所取得的區域,藉以產生一En-Face影像,如第2G圖所示。需注意的是,本發明之成像系統800雖然未濾除異常點,但仍然可正常運作,並產生En-Face影
像,但其所輸出的En-face之影像品質與成像系統100相比略差。
第9圖係顯示依據本發明另一實施例中用於成像系統800之斷層影像處理方法的流程圖。第9圖之流程係大致上與第4圖之流程相同,其差別僅在於成像系統800並未對斷層影像進行影像平滑處理。換言之,第9圖之流程係省略步驟S460,其餘步驟之細節請參考前述實施例,於此不再贅述。需注意的是,本案之成像系統100及800係可利用影像特徵將生物組織之斷層影像進行準確的分層,因此本發明相較於習知技術係可產生更為準確的En-face影像。
惟以上所述者,僅為本發明之較佳實施例而已,當不能以此限定本發明實施之範圍,即大凡依本發明申請專利範圍及發明說明內容所作之簡單的等效變化與修飾,皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。另外本發明的任一實施例或申請專利範圍不須達成本發明所揭露之全部目的或優點或特點。此外,摘要部分和標題僅是用以輔助專利文件搜尋之用,並非用以限制本發明之權利範圍。
100、500、800‧‧‧成像系統
110‧‧‧影像擷取單元
120‧‧‧感興趣區域選擇單元
130‧‧‧第一邊界偵測單元
140‧‧‧合併單元
150‧‧‧第二邊界偵測單元
160、540‧‧‧記憶體單元
200‧‧‧影像後處理單元
210‧‧‧影像排列單元
220、550‧‧‧影像平滑單元
230‧‧‧影像分割單元
240、560‧‧‧信號計算單元
510‧‧‧探針
520‧‧‧內視鏡
530‧‧‧頻率過濾單元
570‧‧‧光學同調斷層影像產生單元
第1圖係顯示依據本發明一實施例之成像系統100的功能方塊圖。
第2A~2G圖係顯示依據本發明一實施例中在成像系統100之斷層影像處理流程的示意圖。
第3A~3B圖係顯示依據本發明一實施例之二維高斯濾波器的示意圖。
第4圖係顯示依據本發明一實施例中用於成像系統100之斷層影像處理方法的流程圖。
第5圖係顯示依據本發明另一實施例之成像系統500的功能方塊圖。
第6A~6F圖係顯示依據本發明另一實施例中在成像系統500之斷層影像處理流程的示意圖。
第7圖係顯示依據本發明另一實施例中用於成像系統500之斷層影像處理方法的示意圖。
第8圖係顯示依據本發明又一實施例之成像系統800的功能方塊圖。
第9圖係顯示依據本發明又一實施例中用於成像系統800之斷層影像處理方法的流程圖。
第10A~10B圖係顯示依據本發明一實施例之對干涉信號進行濾波的示意圖。
100‧‧‧成像系統
110‧‧‧影像擷取單元
120‧‧‧感興趣區域選擇單元
130‧‧‧第一邊界偵測單元
140‧‧‧合併單元
150‧‧‧第二邊界偵測單元
160‧‧‧記憶體單元
200‧‧‧影像後處理單元
210‧‧‧影像排列單元
220‧‧‧影像平滑單元
230‧‧‧影像分割單元
240‧‧‧信號計算單元
Claims (25)
- 一種斷層影像處理方法,用於成像系統,該方法包括:接收生物組織之至少一第一斷層影像;依據至少一影像特徵由各第一斷層影像濾除複數區域以產生至少一第二斷層影像,其中該至少一影像特徵包括該至少一第一斷層影像之亂度、亮度或其組合;以及對層邊界表面影像進行影像平滑處理,並依據已平滑之該層邊界表面影像及該至少一第二斷層影像產生一輸出En-Face影像,其中該層邊界表面影像係由該至少一第二斷層影像所取得。
- 如申請專利範圍第1項所述之斷層影像處理方法,其中該至少一影像特徵更包括該至少一第一斷層影像之標準差、材質或其組合。
- 如申請專利範圍第1項所述之斷層影像處理方法,在濾除該等區域後之步驟更包括:產生至少一第三斷層影像;以及由該至少一第一斷層影像偵測該生物組織之上邊界,以產生至少一第四斷層影像。
- 如申請專利範圍第3項所述之斷層影像處理方法,更包括:由該至少一第三斷層影像及該至少一第四斷層影像取得交錯區域,以產生至少一第五斷層影像。
- 如申請專利範圍第4項所述之斷層影像處理方法,更包括: 由該至少一第五斷層影像偵測該生物組織之下邊界以產生至少一第六斷層影像;以及將該第六斷層影像儲存至記憶體單元。
- 如申請專利範圍第5項所述之斷層影像處理方法,更包括:將該至少一第六斷層影像依序排列以產生該至少一第二斷層影像。
- 如申請專利範圍第5項所述之斷層影像處理方法,其中各第二斷層影像係為一平行斷層影像,且該方法更包括:對該層邊界表面影像進行該影像平滑處理以產生至少一第七斷層影像,其中該層邊界表面影像係由各第二斷層影像在一特定方向之一邊緣所取得。
- 如申請專利範圍第1項所述之斷層影像處理方法,其中該影像平滑處理係表示套用二維濾波器至該層邊界表面影像的各像素。
- 如申請專利範圍第7項所述之斷層影像處理方法,更包括:由該至少一第七斷層影像取得該上邊界及該下邊界之間的複數中間區域以產生至少一第八斷層影像。
- 如申請專利範圍第9項所述之斷層影像處理方法,更包括:將該至少一第八斷層影像在垂直於該至少一第八斷層影像之一方向進行整合以產生該輸出En-face影像。
- 一種斷層影像處理方法,用於成像系統,該方法包括:利用具有內視鏡及探針之光學同調斷層影像產生單元產生至少一第一斷層影像,其中該內視鏡包括插入部位用以插入至內腔,且該探針係用以發射及接收微弱光線且被插入該插入部位中;由該至少一第一斷層影像濾除上層以產生至少一第二斷層影像;對層邊界表面影像進行影像平滑處理以產生至少一第三斷層影像,其中該層邊界表面影像係依據該至少一第二斷層影像所取得;以及依據該至少一第三斷層影像及該至少一第二斷層影像以產生一輸出En-Face影像。
- 如申請專利範圍第11項所述之斷層影像處理方法,更包括:套用快速傅立葉轉換濾波器,用以由該至少一第一斷層影像濾除該上層。
- 如申請專利範圍第12項所述之斷層影像處理方法,更包括:對該層邊界表面影像之各像素套用二維濾波器以產生該至少一第三斷層影像。
- 如申請專利範圍第11項所述之斷層影像處理方法,更包括:將該至少一第三斷層影像在垂直於該至少一第八斷層 影像之一方向進行整合以產生該輸出En-face影像。
- 一種斷層影像處理方法,用於成像系統,該方法包括:接收生物組織之至少一第一斷層影像;依據至少一影像特徵由各第一斷層影像濾除複數區域以產生至少一第二斷層影像,其中該至少一影像特徵包括該至少一第一斷層影像之亂度、亮度或其組合;以及依據該至少一第二斷層影像產生一輸出En-Face影像。
- 如申請專利範圍第15項所述之斷層影像處理方法,其中該至少一影像特徵更包括該至少一第一斷層影像之標準差、材質或其組合。
- 如申請專利範圍第15項所述之斷層影像處理方法,更包括:對層邊界表面影像進行影像平滑處理,其中該層邊界表面影像係由該至少一第二斷層影像所取得;以及依據已平滑之該層邊界表面影像及該至少一第二斷層影像產生該輸出En-Face影像。
- 如申請專利範圍第15項所述之斷層影像處理方法,在濾除該等區域後之步驟更包括:產生至少一第三斷層影像;以及由該至少一第一斷層影像偵測該生物組織之上邊界,以產生至少一第四斷層影像。
- 如申請專利範圍第18項所述之斷層影像處理方法,更包括: 由該至少一第三斷層影像及該至少一第四斷層影像取得一交錯區域,以產生至少一第五斷層影像。
- 如申請專利範圍第18項所述之斷層影像處理方法,更包括:由該至少一第五斷層影像偵測該生物組織之下邊界以產生至少一第六斷層影像;以及將該第六斷層影像儲存至記憶體單元。
- 如申請專利範圍第20項所述之斷層影像處理方法,更包括:將該至少一第六斷層影像依序排列以產生該至少一第二斷層影像。
- 如申請專利範圍第15項所述之斷層影像處理方法,其中各第二斷層影像係為平行斷層影像,且該方法更包括:對該層邊界表面影像進行該影像平滑處理以產生至少一第七斷層影像,其中該層邊界表面影像係由各第二斷層影像在一特定方向之一邊緣所取得。
- 如申請專利範圍第15項所述之斷層影像處理方法,其中該影像平滑處理係表示套用二維濾波器至該層邊界表面影像的各像素。
- 如申請專利範圍第22項所述之斷層影像處理方法,更包括:由該至少一第七斷層影像取得該上邊界及該下邊界之間的複數中間區域以產生至少一第八斷層影像。
- 如申請專利範圍第24項所述之斷層影像處理方法,更包括:將該至少一第八斷層影像在垂直於該至少一第八斷層影像之一方向進行整合以產生該輸出En-face影像。
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TWI494784B (zh) * | 2013-05-23 | 2015-08-01 | ||
TWI781575B (zh) * | 2020-04-13 | 2022-10-21 | 台達電子工業股份有限公司 | 適用於斷層造影系統的門控方法 |
-
2012
- 2012-06-11 TW TW101120860A patent/TW201316954A/zh unknown
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TWI494784B (zh) * | 2013-05-23 | 2015-08-01 | ||
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