TW201243368A - Temperature compensation resistor testing circuit and method thereof - Google Patents

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201243368 六、發明說明: 【發明所屬之技術領威】 [0001]本發明涉及一種電阻測定電路,尤其涉及一種溫度補償 電阻測定電路及方法。 [先前技術] [0002]在電壓輸出電路中,常使用溫度補償電阻,用以補償周 邊溫度值漂移大的敏感元件受溫度而引起的誤差,進而 穩定電壓輸出端的電壓’提高輸出電麼的精確度。請參 閱圖1,一種習知的CPU電源電路200 ’包括脈衝寬度調製 (Pulse Width Modulation ’ PWM)控制器210、熱敏電 阻RNTC、電感L0、直流電阻DCR、第一電阻R、電容C及 輸出端V0UT。該熱敏電阻RNTC連接於PWM210的電壓偵測 端子T和地之間。該電感L0和直流電阻DCR串聯於PWM210 與輸出端V0UT之間。第一電阻R和電容C串聯,其中第一 電阻R的一端連接於電感L0和PWM210之間,電容C的一端 連接於直流電阻DCR和輸出端V0UT之間,PWM210的二個
100115784 電壓偵測引腳S-、S+分別電性連接至電容C兩端, PWM210用以依據偵測到的電容c兩端的電壓調節輸出端 V0UT的輸出電壓。在該CPtJ電源電路2〇〇中,為了防止 PWM受溫度影響而使得該輸出端V0UT的輸出電壓產生誤差 ,通常將一溫度補償電阻Rh與所述熱敏電阻RNTC串聯於 電源VCC與地之間,從而補償PWM因溫度產生的誤差。在 實際製造過程中,為了獲得理想的補償效果,一般還需 要通過人工的方法不斷更換不同阻值的溫度補償電阻Rh 進行調試,以從輸出端V〇UT獲得最佳的輸出電壓。然而 ,方法需要在測試過程中不斷的更換溫度補償電阻 表單編號A0101 第5頁/共19頁 1002026460-0 201243368 需要花費較多的測試時間及成 以確定其精確的電阻值 本0 【發明内容】 有必要提供-種測試便捷的溫度補償電 [0003] 鑒於以上情況 阻測定電路。 [0004] [0005] 另,還有必要提供-種溫度補償電阻測定方法。 一種溫度補償電阻㈣電路,用於測定電壓輸出電路所 需的溫度補償電阻的電阻值,該電屋輪出電路包括電壓 輸出端,該溫度補償電阻測定電路包括模數轉換器、控 制模組及數位電位器,該模數轉換器與所述電壓輸出端 電性連接,控制模組控制模數轉換器多次讀取該電壓輸 出端的電壓,模數轉換器將讀取到的電壓轉換成數位訊 號傳送至㈣模組,若連續兩次軌到的電壓的電壓偏 差超過預定範圍’控制模組向數位電位器發送—個電阻 值調整訊號’該數位電位器與電壓輪出電路電性連接, =位電位器根據電阻值調整訊號改變自身電阻值直至 電壓偏差在-個設定的時間段後仍未㈣所述預定範圍 [0006] 一種溫度補償電阻測定方法 需的溫度補償電阻的電阻值 用於’則弋電壓輸出電路所 該溫度補償電阻測定方法 包括如下步驟:a :讀取電餘出電路的輪出電壓;b : 間隔一定時間再次讀取電壓輸出電路的^電壓.c.比 對兩次讀取到的電壓的電壓偏差,若該電盤偏差超過預 設值,則控制數位電位器改變電阻值,並返回步驟& ;若 100115784 電壓偏差未超過預設值,則記錄該數位電 表單編號A0101 第6頁/共19頁 器的即時電 1002026460-0 201243368 [0007] Ο [0008] Ο [0009] 100115784 阻值,並執行步驟d ; d :判斷測試時間是否達到一個設 定的時間,芒去, ° 建到該設定的時間,則返回步驟a,·若達 到认疋的時間則執行步驟e ; e :記錄該數位電位器的最 、、電阻值’並作為所m補償電阻的電阻值。 本發明的*度卿纽職電料職數㈣ϋ多次讀 取電壓輸出電路輪出端的電麼值,並通過控制模組比對 兩次連續讀取到的電壓的電㈣差以適量調節數位電位 器的電阻值,進而調整電壓輸出電路的輸出電壓,以提 南輸出電Μ的精確度。該溫度補償電阻測定電路在測定 溫度補償電阻的·值時無需多次更換電阻,測試簡便 ’同時提高了電壓輪出電路的輸出電Μ的精埃度。 【實施方式】 請參閱圖2,本發料較佳實施方式提供-種溫度補償電 阻測定電路100,其用於測定一電壓輸出電路的溫度補償 電阻的理想阻值,以提高該電壓輸出電路的輸出電壓的 精確度。在本實施例中,以用於測定圖】所示的CPU電源 電路2 0 0的溫度補償電阻R h的理想電阻值為例說明該溫度 補償電阻測定電路1〇〇。 該溫度補償電阻測定電路1〇〇包括模數轉換器1〇、控制模 組20、開關22、數位電位器30及顯示模組40。該開關22 、模數轉換器10、數位電位器30、顯示模組40均與控制 模組20電性連接’該數位電位器3〇與CPU電源電路200的 PWM210及熱敏電阻RNTC同時電性連接。 該模數轉換器10為24位元的模數轉換晶片,其包括輸入 端子VIN、時鐘端子SCL、資料端子SDA及控制端子CS。 表單編號A0101 第7頁/共19頁 1002026460-0 [0010] 201243368 該輸入端子VIN電性連接於CPU電源電路200的輸出端 VOUT,以讀取該輸出端VOUT的電壓。該時鐘端子SCL、 資料端子SDA及控制端子CS與控制模組20電性連接。該模 數轉換器10用以將輸入端子VIN讀取到的電壓值通過模數 轉換轉換為一組數位訊號,並將該組數位訊號通過資料 端子SDA傳送至控制模組20。 [0011] 在本實施例中,該控制模組20為一單片機,其包括使能 引腳RC1、控制引腳RC2、時鐘引腳RC3、資料引腳仳4及 一組輸入輸出引腳RB2、RB3、RB4、RB5、RB6及RB7 » 該使能引腳RC1與開關22電性連接,以在開關22的觸發下 啟動,進而使控制模組20開始運行。該控制引腳RC2與模 數轉換器10的控制端子CS電性連接,以控制模數轉換器 10每隔-段時間(如10秒鐘)讀取一次輸出端V,的電 壓。該時鐘引腳RC3、資料引腳RC4分別與模數轉換器1〇 的時鐘端子SCL、資料端子SdA電性連接,輸入輸出引腳 RB2-RB7與數位電位器3〇電性連接。該控制模組则以 比對模數轉換器1()連續兩次讀取的輸出端彻T的電壓, 並判斷錢續兩次讀取的電髮的電壓偏差是否超過一預 設值(如G.lmV)。若該«偏差超過該預設值則控制 模組20依據電壓偏差的程度向數位電位㈣發送一個電 阻值調整訊號,以輕數位電位⑽的電阻值,進而改 變輸出端VOUT的電壓值;若該電壓偏差未超過該預設值 ’控制松組20將記錄此時數位電位器如的即時電阻值; 若該錢偏差在-設定時間(如15分鐘)後仍未超過該 預設值,控制模組20將記錄此時數位電位謂的最終電 100115784 表單編號A0101 第8頁/共19頁 1002026460-0 201243368 [0012] Ο Ο [0013] [0014] [0015] 阻值,並作為溫度補償電阻Rh的電阻值。 該數位電位器30包括位址引腳A3、A2、A1和A0、資料埠 SD、SC及電阻測定引腳RH1、RH2。該位址引腳A3、A2、 A1和A0分別與控制模組20的輸入輸出引腳RB4、RB5、 RB6及RB7對應電性連接,所述控制模組2〇通過位址引腳 A3、A2、A1及A0初始化該數位電位器30並與其建立通訊 。該資料埠SD、SC分別與控制模組2〇的輸入輸出引腳 RB2、RB3電性連接,該控制模組2〇通過資料埠sd向數位 電位器30傳送電阻值調整訊號,數位電位器3〇通過資料 埠SD向控制模組20回饋即時電阻值訊號。該電阻測定引 腳RH1與電源VCC電性連接,電阻測定引腳抓2同時與熱 敏電阻RNTC和PWM210的電壓偵測端子τ電性連接,即該 數位電位器30連接於電源VCC與熱敏電阻RNTC之間。當 該電壓偵測端子T偵測到熱敏電阻RNTC的對地電壓與 PWM210預設的啟動電壓相等時’ ”…^啟動溫度補償功 能,進而可改變輸出端VOUT的電壓。 該顯示模組40用以顯示控制模組2〇測定的數位電位器3〇 的即時電阻值,該數位電位器30在測試中最終選定的電 阻值可作為理想的溫度補償電阻值,供操作者據此為cpu 電源電路200安裝阻值對應的溫度補償電阻此。 可以理解,本發明的顯示模組4〇也可省略,對應的增加 一個揚聲器,該揚聲器與控制模組2〇電性連接,並通過 音頻的方式播報該溫度補償電阻仙的電阻值。 下面結合圖3說明本發明的溫度補償電阻測定電路丨〇 〇用 100115784 表單編號A0101 第9頁/共19頁 1002026460-0 201243368 ;、丨&電壓輸出電路(如CPU電源電路200 )的溫度補償 電阻的> [0016] [0017] [0018] [0019] [0020] [0021] [0022] [0023] 々去’該溫度補償電阻測定方法包括如下步驟: 步驟S1 · v* •按下開關22,啟動控制模組20。 步驟S2 · ^ •模數轉換器1〇讀取CPU電源電路200的輸出端 νουτ的番『、 是壓71,並將該電壓π轉換為數位訊號後通過資 料端子SDA傳送至控制模組2〇 ; 步驟. .控制模組20控制模數轉換器1〇延時一段時間( 如1 0秒逢备、y 董)後由模數轉換器10再次讀取輸出端仰…的電
壓V2,-V 為電壓V2經模數轉換後再次傳送至控制模組2〇 ; '4 .控制模組20判斷兩次讀取到的電壓VI及V2之間 的電;iti β 墒差疋否小於一預定範圍(例如lmV);若小於該預 定範麼| f L例如lmV),則執行步驟S5 ;若大於該預定範圍( 例如lmV) ’則執行步驟S6 ; 步驟Sg , 值、.控制模組20記錄此時數位電位器30的即時電阻 並通過顯示模組40顯示該即時電阻值,其後直接執 行步驟S7 ; 步驟, 發送控制核組20依據電壓偏差程度向數位電位器3〇 值迗電随值調整訊號’以適量改變數位電位器3〇的電阻 而改變輸出i^VOUT的電壓值,其後返回步驟S2 ; 步 S 7 · ,若·控制模組20判斷測試時間是否達到設定的時間 右未達到預設時間,則返回步驟S2 ;若達到預設時間 ’則執行步驟S8 ; v驟S8 .控制模組2〇記錄此時數位電位器3〇的最終電阻 100115784 表單編號A0101 第10頁/共19頁 1002026460-0 201243368 值’並通過顯示模組4〇顯示該最終電阻值作為理想的溫 度補償電阻值; [0024] 最後,操作者可依據該數位電位器3〇的最終電阻值為cpu 電源電路200安裴阻值對應的溫度補償電阻Rh。 [0025] 本發明的溫度補償電_定電路_通祕數轉換器1〇多 人讀取電壓輸出電路輸出端的電壓值,並通過控制模組 2〇比對兩次連續讀取到的電壓的電壓偏差以適量調節數 位電位器30的電阻值,進而調整電壓輸出電路的輪出電 〇 壓,以提高輸出電壓的精確度。該溫度補償電阻測定電 路100在測定溫度補償電阻的電阻值時無需多次更換電阻 ,只需依據電壓偏差調節數位電位器30的電阻值即可。 該溫度補償電阻測定方法測試簡便,同時提高了電壓輸 出電路的輸出電壓的精破度。 [0026] 综上所述,本發明符合發明專利要件,爰依法提出專利 申請。惟,以上所述者僅為本發明之較佳實施方式,舉 Q 凡熟悉本案技藝之人士,於爰依本發明精神所作之等效 修飾或變化,皆應涵蓋於以下之申請專利範圍内。 【圖式簡單說明】 [0027] 圖1係習知的中央處理器電源電路圖; [0028] 圖2係本發明較佳實施方式的溫度補償電阻測定電路的功 能模組圖; [0029] 圖3係本發明較佳實施方式的溫度補償電阻測定方法的流 程圖。 【主要元件符號說明】 1002026460-0 100115784 表單編號A0101 第11頁/共19頁 201243368 [0030] 溫度補償電阻測定電路:100 [0031] 模數轉換器 :10 [0032] 輸入端子: VIN [0033] 時鐘端子: SCL [0034] 資料端子: SDA [0035] 控制端子: CS [0036] 控制模組: 20 [0037] 使能引腳: RC1 [0038] 控制引腳: RC2 [0039] 時鐘引腳: RC3 [0040] 資料引腳: RC4 [0041] 輸入輸出引腳:RB2、RB3、RB4、RB5、RB6、RB7 [0042] 開關:22 [0043] 數位電位器 :30 [0044] 位址引腳: A3、A2、Al、A0 [0045] 資料埠:SD、SC [0046] 電阻測定引腳:RH1、RH2 [0047] 顯示模組: 40 [0048] CPU電源電路:200 100115784 表單編號A0101 第12頁/共19頁 1002026460-0 201243368 [0049] [0050] [0051] [0052] [0053] [0054] [0055] Ο [0056] • [0057] [0058] [0059] Ο
PWM控制器:210 電壓偵測端子:τ 電壓偵測引腳:S-、S + 熱敏電阻:RNTC 電感:LO 直流電阻:DCR 第一電阻:R 電容:C 輸出端:VOUT 溫度補償電阻:Rh 電源:VCC 100115784 表單編號A0101 第13頁/共19頁 1002026460-0

Claims (1)

  1. 201243368 七、申請專利範圍:
    2 .
    一種溫度補償電_定電路1於測定《輪出電路所需 的溫度補償電阻的電阻值,該_輸出電路⑽電 端,其改良在於:該溫度補償電阻測定電路包括模數轉換 器、控制模組及數位電㈣,該模數轉換器與所述電壓輸 出端電性連接’控難組控制模數轉換器多次讀取該電壓 輸出端的電壓’模數轉換器將讀取到的電壓轉換成數位訊 號傳达至控制模組,若連續兩次讀取到的電壓的電壓偏差 超過預疋乾圍,控制模組向數位電位器發送一個電阻值調 整訊號,該數位電位器與電壓輪出電路電性連接,該數位 電位器根據電阻值調整訊號改變自身電阻值直至電壓偏差 在一個设定的時間段後仍未超過所述預定範圍。 如申請專利範圍第丨項所述之溫度補償電阻測定電路其 中所述溫度補償電阻測定電路還包括顯示模組,該顯示模 組與控制模組電性連接,所述數位電位器將即時電阻值傳 送至控制模組,並通過顯示模組顯示。 如申清專利範圍第2項所述之溫度補償電阻測定電路,其 中當所述電盤偏差在預定時間内未超過所述預定範圍,該 顯不模組顯示該數位電位器的最終電阻值’以作為所述溫 度補償電阻的理想電阻值。 如申請專利範圍第1項所述之溫度補償電阻測定電路,其 中所述數位電位器包括位址引腳及資料埠,所述控制模組 通過該位址弓丨腳初始化該數位電位器並與數位電位器建立 通sfl,該控制模組通過該資料埠向數位電位器傳送所述電 阻值調整訊楚’該數位電位器通過資料埠向控制模組回饋 100115784 表單編號A0101 第14頁/共19頁 1002026460-0 201243368 即時電阻值。 5 .如申請專利範圍第1項所述之溫度補償電阻測定電路,其 中所述控制模組包括控制引腳,該控制引腳與模數轉換器 電性連接,以控制模數轉換器每隔一段時間讀取一次所述 電壓輸出端的電壓。 6 .如申請專利範圍第1項所述之溫度補償電阻測定電路,其 中所述電壓輸出電路包括熱敏電阻及脈衝寬度調製控制器 ,該脈衝寬度調整控制器包括電壓偵測端子,該電壓偵測 端子通過熱敏電阻接地,所述數位電位器包括二個電阻測 定引腳,該數位電位器通過二個電阻測定引腳電性連接於 一個電源和熱敏電阻之間,並與電壓偵測端子電性連接。 7 .如申請專利範圍第6項所述之溫度補償電阻測定電路,其 中當該電壓偵測端子偵測到熱敏電阻的對地電壓與脈衝寬 度調製控制器預設的啟動電壓相等時,脈衝寬度調製控制 器啟動溫度補償功能,進而改變所述電壓輸出端的電壓。 8 . —種溫度補償電阻測定方法,用於測定電壓輸出電路所需 的溫度補償電阻的電阻值,其特徵在於:該溫度補償電阻 〇 測定方法包括如下步驟: a:讀取電壓輸出電路的輸出電壓; b :間隔一定時間再次讀取電壓輸出電路的輸出電壓; c :比對兩次讀取到的電壓的電壓偏差,若該電壓偏差超 過預設值,則控制數位電位器改變電阻值,並返回步驟a ;若電壓偏差未超過預設值,則記錄該數位電位器的即時 電阻值,並執行步驟d ; d :判斷測試時間是否達到一個設定的時間,若未達到該 設定的時間,則返回步驟a ;若達到設定的時間則執行步 100115784 表單編號A0101 第15頁/共19頁 1002026460-0 201243368 驟e ; e :記錄該數位電位器的最終電阻值,並作為所述溫度補 償電阻的電阻值。 9 .如申請專利範圍第8項所述之溫度補償電阻測定方法,其 中所述步驟a和步驟b中還均包括將電壓轉換為數位訊號的 步驟。 10 .如申請專利範圍第8項所述之溫度補償電阻測定方法,其 中所述步驟e中還包括顯示該數位電位器的最終電阻值的 步驟。 100115784 表單編號A0101 第16頁/共19頁 1002026460-0
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9063191B2 (en) 2012-02-24 2015-06-23 Power Probe, Inc. Electrical test device and method
US9429606B2 (en) * 2013-09-30 2016-08-30 Siemens Industry, Inc. Increasing resolution of resistance measurements
CN108931956B (zh) * 2018-09-03 2024-03-26 康泰医学系统(秦皇岛)股份有限公司 体温信号模拟输出设备及方法
CN110764554A (zh) * 2019-11-13 2020-02-07 杭州浅海科技有限责任公司 一种应用在分光光度计法分析仪器中的温度控制系统及方法
US11860189B2 (en) 2019-12-12 2024-01-02 Innova Electronics Corporation Rotational electrical probe
US10795390B1 (en) * 2020-01-28 2020-10-06 Alpha And Omega Semiconductor (Cayman) Ltd. DC resistance sense temperature compensation
CN112067896B (zh) * 2020-09-08 2023-04-21 安康陕变智能电力装备制造有限公司 一种变比直阻有载阻抗一体化智能测试仪

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3302106A (en) * 1963-05-29 1967-01-31 Beckman Instruments Inc Resistance measuring apparatus including an automatic balancing bridge
US3871359A (en) * 1973-06-25 1975-03-18 Interscience Technology Corp Impedance measuring system
US4408157A (en) * 1981-05-04 1983-10-04 Associated Research, Inc. Resistance measuring arrangement
US6280081B1 (en) * 1999-07-09 2001-08-28 Applied Materials, Inc. Methods and apparatus for calibrating temperature measurements and measuring currents
US7256505B2 (en) * 2003-03-05 2007-08-14 Microstrain, Inc. Shaft mounted energy harvesting for wireless sensor operation and data transmission
CN1963908A (zh) * 2005-11-10 2007-05-16 昆达电脑科技(昆山)有限公司 液晶显示器元件的温度补偿装置及其方法
US7342407B2 (en) * 2006-01-31 2008-03-11 Advantest Corporation Temperature compensation circuit and testing apparatus
CN101865718B (zh) * 2009-04-17 2013-09-11 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 液面检测电路、装置及其校准方法
US8337082B2 (en) * 2009-05-08 2012-12-25 Canon U.S. Life Sciences, Inc. Systems and methods for auto-calibration of resistive temperature sensors
TWI435544B (zh) * 2010-02-05 2014-04-21 Realtek Semiconductor Corp 阻抗校正裝置及其方法
CN101820245B (zh) * 2010-05-14 2012-10-31 衡阳中微科技开发有限公司 永磁发电机稳压装置及采用脉冲宽度调制技术调节电压的方法

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