TW201108445A - Inspecting apparatus, inspecting method, program and inspecting system for photovoltaic devices - Google Patents

Description

201108445 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種太陽能電池檢查裝置、太陽能電池 檢查方法、程式及太陽能電池檢查系統，特別關於指出太 陽能電池單元的缺陷。 【先前技術】 將太陽光的能量轉換為電力的太陽能電池，一般都以 矽等半導體來構成。這種太陽能電池習知可經由通電而發 光，在特許文獻1中揭露有，依據通電時太陽能電池單元 全體的發光量，來判斷該太陽能電池單元之優劣的技術。 【特許文獻1】WO//2006/059615 然而，在太陽能電池單元中，通電時發光較弱的暗區 域（dark area )也可能以缺陷的方式存在著。這種暗區域 顯然地存在有從亮度低到比周圍亮度稍低的各種亮度。 但，這種暗區域利用傳統的二值化處理來檢測時，亦 會檢測出太陽能電池單元的晶界等，而造成應作為缺陷被 檢測出的暗區域難以判別。 【發明内容】 本發明有鑒於上述情況，主要目的為提供一種可判別 應作為缺陷被檢測出之暗區域的太陽能電池檢查裝置、太 陽能電池檢查方法、程式及太陽能電池檢查系統。 為解決上述課題，本發明之太陽能電池檢查裝置包 201108445 含，取得用以表示通電狀態之一或複數個太陽能電池單元 之電池單元影像的一影像取得手段；指出在該電池單元影 像中亮度比周圍低的線狀晝素群，產生該太陽能電池單元 之裂紋的位置資訊的裂紋位置資訊產生手段；指出在該電 池單元影像中亮度在一定值以下的晝素聚集且面積在一 定值以上的晝素群，以產生該太陽能電池單元之暗區域的 位置貧訊的暗區域位置貢訊產生手段，依據該暗區域及該 裂紋的位置關係，判斷該暗區域是否因該裂紋所造成的暗 區域判斷手段。 又，本發明之太陽能電池檢查方法為，取得用以表示 通電狀態之一或複數個太陽能電池單元的一電池單元影 像；指出在該電池單元影像中亮度比周圍低的線狀晝素 群，以產生該太陽能電池單元之裂紋的位置資訊；指出在 該電池單元影像中亮度在一定值以下的晝素聚集且面積 在一定值以上的晝素群，以產生該太陽能電池單元之暗區 域的位置資訊；依據該暗區域及該裂紋的位置關係，判斷 該暗區域是否因該裂紋所造成。 又，本發明之程式係具有以下之機能以使電腦運作： 取得用以表示通電狀態之一或複數個太陽能電池之電池 單元影像的一影像取得手段；指出在該電池單元影像中亮 度比周圍低的線狀晝素群，產生該太陽能電池單元之裂紋 的位置資訊的裂紋位置資訊產生手段；指出在該電池單元 影像中亮度在一定值以下的晝素聚集且面積在一定值以 上的晝素群，以產生該太陽能電池單元之暗區域的位置資 5 201108445 訊的暗區域位置資訊產生手段；以及，依據該暗區域及該 裂紋的位置關係，判斷該暗區域是否因該裂紋所造成的暗 區域判斷手段。電腦例如為個人電腦等。又，程式可儲存 在CD-ROM等電腦可讀取的資訊記錄媒體。 再者，本發明之太陽能電池檢查系統包含，對通電狀 態之一或複數個太陽能電池單元攝影，並產生表示該太陽 能電池單元的電池單元影像的攝影部；取得該電池單元影 像的影像取得手段；指出在該電池單元影像中亮度比周圍 低的線狀晝素群，產生該太陽能電池單元之裂紋的位置資 訊的裂紋位置資訊產生手段；指出在該電池單元影像中聚 集之亮度在一定值以下的晝素且面積在一定值以上的晝 素群，以產生該太陽能電池單元之暗區域的位置資訊的暗 區域位置資訊產生手段；依據該暗區域及該裂紋的位置關 係，判斷該暗區域是否因該裂紋所造成的暗區域判斷手 段。 ------- - 本發明可發現應作為缺陷被檢測出之暗區域是因裂 紋所造成。因此，藉由進行暗區域與裂紋位置關係的判 定，可更有效地檢測出由裂紋所造成的暗區域。 又，在本發明一態樣中，該裂紋位置資訊產生手段係 指出在該電池單元影像中亮度變化的邊界部分，以產生該 太陽能電池單元之裂紋的位置資訊。且，這種邊界部分的 測定，可藉由一次微分濾鏡或二次微分濾鏡。藉此，可容 易地測定暗區域邊緣附近的裂紋。 又，在本發明一態樣中，該暗區域判斷手段依據沿著 201108445 該暗區域外緣的該裂紋長度進行該判斷。藉此，可更提升 由裂紋所造成之暗區域的檢出精度。 又，在本發明一態樣中，該暗區域判斷手段依據位於 該暗區域中的該裂紋長度進行該判斷。藉此，可更提升由 裂紋所造成之暗區域的檢出精度。 在這些態樣中，該暗區域判斷手段亦可依據該暗區域 的外緣長度與該裂紋長度的比值進行該判斷。 又，在本發明一態樣中，更包含依據因該裂紋所產生 的暗區域數量，判斷該太陽能電池單元的品質的品質判斷 手段。藉此，可判斷太陽能電池單元的品質。 又，在本發明一態樣中，更包含識別顯示因該裂紋所 產生的暗區域的顯示控制手段。藉此，可讓使用者掌握因 裂紋所產生的暗區域。 【實施方式】 關於本發明的實施態樣，以下將參照圖示加以說明。 圖1為表示本發明一實施態樣之太陽能電池檢查系統 1的構成例方塊圖。在太陽能電池檢查系統1中，通電部 3、定位部4、攝影部5、操作部8及顯示部9連接在負責 控制系統全體的控制部10 (太陽能電池檢查裝置）。 通電部3對應由控制部10輸入的指令，對作為檢測 對象的太陽能電池面板通電。通電部3經由未圖示的探針 (probe )施加電塵在太陽能電池面板的端子，以供給順向 電流給太陽能電池面板包含的各太陽能電池單元。 201108445 攝影部5由CCD攝影機等構成，對應由控制部10輸 入的指令，對通電狀態之太陽能電池面板攝影。定位部4 對應由控制部10輸入的指令，移動攝影部5至預設的攝 影位置並定位。 具體來說，攝影部5經由定位部4移動，逐一對太陽 能電池面板包含的各太陽能電池單元攝影。又，藉此得到 的表示太陽能電池單元的電池單元影像資料，並逐一輸入 至控制部10。 再者，這種太陽能電池面板的攝影係在暗室中進行。 又，因太陽能電池單元的EL (electroluminescence)光較 為微弱，作為攝影部5以感度較高的攝影機為佳。 在此，說明關於作為檢測對象的太陽能電池面板。圖 2A為表示太陽能電池面板2的示意圖。圖2B為表示太陽 能電池面板2所包含之太陽能電池單元21的示意圖。 如圖2 A所示，在太陽能電池面板2中，二維排列有 矽等半導體所構成的矩形薄板狀太陽能電池單元21，該等 太陽能電池單元21經由導線23串聯連接。該等太陽能電 池單元21設置在受光面側例如為玻璃板的層狀體25内 部。層狀體25具有在玻璃板上以充填材、太陽能電池單 元21、充填材及内側材料的順序層積的層狀構造。再者， 太陽能電池單元21的排列及數量，非以圖示態樣為限。 又，太陽能電池面板2亦可為薄膜式太陽能電池面板。 如圖2B所示，在太陽能電池單元21的受光面27,作 為將電力送出的電極，形成有一對匯流排28 ( busbar )，以 201108445 及將電力集中的複數指狀電極29。若以沿著太陽能電池單 元21之長邊為長軸方向，沿著短邊為短軸方向，匯流排 28為沿短軸方向延伸帶狀構成，且位置遠離長軸方向。該 等匯流排28與上述導線23連接。又，指狀電極29為沿 長軸方向延伸細線狀構成，且短軸方向上平行排列。再 者，匯流排28及指狀電極29的設置方式，非以圖示態樣 為限。 請再參照圖1所示，控制部10係以包含CPU (中央 處理器）及其作業區域之RAM的電腦來構成。又，控制 部10包含記憶部儲存讓CPU動作所必要的程式及資料。 且，操作部8為鍵盤及滑鼠等所構成，並發送依據使用者 之操作產生的操作輸入資料至控制部10。顯示部9由液晶 顯示器等所構成，對應由控制部10輸入的顯示指令顯示 影像。 圖3為表示控制部10之功能構成例的方塊圖。圖4 為表示實施控制部10的太陽能電池檢查方法流程圖。控 制部10藉由CPU執行儲存在記憶部的程式，使通電控制 部11、位置控制部12、影像取得部13、裂紋位置資訊產 生部14、暗區域位置資訊產生部15、暗區域判斷部16、 品質判斷部17及顯示控制部19具有功能。 通電控制部Π係控制通電部3以對太陽能電地面板2 所包含的太陽能電池21單元通電。藉此，各太陽能電池 單元21可發出EL光。在此，電壓值、電流值及通電時間 等的通電條件的資料係儲存在控制部10的記憶部。 201108445 位置控制部12係控制定位部4以進行攝影部5的位 置控制。具體來說，位置控制部12係順序移動攝影部5 至可對各太陽能電池單元21攝影的各攝影位置。攝影位 置依據太陽能電池單元21的尺寸、數量及排列間隔等來 訂定，並作為資料儲存在控制部10的記憶部。 影像取得部13由攝影部5取得用以表示通電狀態之 太陽能電池單元21的電池單元影像資料（S1)。又，影像 取得部13並對取得之電池單元影像進行後續處理（S2)。 電池單元影像的後續處理例如包括，規格化太陽能電 池單元21 EL光亮度的縮放比例（scaling)處理，擷取太 陽能電池單元21區域的電池單元區域擷取處理，去除太 .陽能電池單元21的匯流排28部分的匯流排除外處理，以 及補正因影像部5鏡片所造成之亮度差的明暗（shading) 處理等。 接著，影像取得部13輸出實行過後續處理的電池單 元影像資料至裂紋位置資訊產生部14及暗區域位置資訊 產生部15。 圖5為表示電池單元影像30之一例的示意圖。在電 池單元影像30中，太陽能電池單元21的缺陷部分以亮度 較低的暗部表現。而缺陷部分例如具有裂紋3 2 a〜3 2 c及暗 區域34a、34b等。 裂紋32a〜32c以電池單元影像30中亮度低的線狀晝 素群來表現。裂紋32a〜32c與發光良好部分有很大的亮度 差。這些裂紋32a〜32c可能因導線23銲接至匯流排28 201108445 時的熱，或加工及輸送時的荷重及衝擊而產生。 暗區域34a、34b在電池單元影像30中以一定面積以 上亮度低的晝素群來表現。這些暗區域34a、34b係因裂紋 32a、32b阻隔電流供給而產生。換言之，暗區域34a、34b 係因裂紋32a、32b而產生。因此，暗區域34a、34b的外 緣至少一部分大多與裂紋32a、32b重疊。 又，暗區域34a、34b的亮度並非一致的。例如與周圍 比較亮度略低的暗區域34a，以及亮度明顯較低的暗區域 34b。再者，亮度明顯較低的暗區域34b外緣有裂紋32b 產生，因此，會產生因兩者亮度相同程度而難以判別的情 況。 其他，在電池單元影像30中，還顯示太陽能電池單 元21之晶界36。這些晶界36並非太陽能電池單元21的 缺陷。在電池單元影像30中，以亮度較周圍略低的晝素 群表現。且，晶界3 6大多形狀較小。 請再參照圖3及圖4,裂紋位置資訊產生部14係測定 電池單元影像30中的裂紋32a〜32c位置，並產生表示該 等裂紋32a〜32c位置的裂紋位置資訊（S3)。這些產生的 裂紋位置資訊並輸出至暗區域判斷部16、品質判斷部17 及顯示控制部19。 具體來說，裂紋位置資訊產生部14擷取電池單元影 像30.中亮度變化的邊界部分，以測定裂紋32a〜32c位置。 而邊界部分的擷取可利用拉氏濾鏡（Laplace filter,二次微 分濾鏡）來完成。然其非限制性，亦可利用一次微分濾鏡。 11 201108445 一圖6,產生裂紋位置資訊的說明圖。對於上述圖5所 示^電池單元影像30應用拉氏遽鏡，如圖6所示，操取 出亮度變化的邊界部分仏〜42〇、40。其中，邊界部分似 42c、46分別與裂紋32a〜32c對應，邊界部分46與曰 界36對應。 〃 Βθ 裂紋位置資訊產生部14從擷取出的邊界部分42a〜 42C、46中，區分出線狀延伸的邊界部分42a〜42c，以測 定裂紋32a〜32c的位置。上述區分方式例如可藉由求得， 圍，構成各邊界部分42a〜42e、46之畫素群的最小矩形的 縱橫比（aspect rati0，長軸方向的長度與寬度方向的長度 比）來實行。藉由這種區分方式，可防止對應晶界％較 小略圓形的邊界部分46被測定為裂紋。 又，在本實施態樣中，因經由拉氏濾鏡擷取出亮度變 ，的邊界部分，如上述圖5所示，即使亮度關較低的暗 區域34b與其外緣的裂紋32b亮度程度相同，仍可測定裂 紋32的位置。 如此測定後表示裂紋32a〜32c位置的裂紋位置資 訊，例如包含各裂紋32a〜32c坐標資訊。具體來說，各裂 紋32a〜32c定義為直線的組合，因此裂紋位置資訊中包含 各直線的起點及終點坐標資訊。 凊再參照圖3及圖4所示，暗區域位置資訊產生部15 對電池單元影像30進行二值化處理，測定一定值以上面 積的暗畫素群，產生表示暗區域34a、34b等之位置的暗區 域位置資訊（S4)。產生的暗區域位置資訊並輸出至暗區 12 201108445 域判斷部16。 在此，二值化處理的閾值設定為，與周圍比較亮度略 低的暗區域34a(參照圖5)的各晝素判斷為暗晝素的程度。 圖7為產生暗區域位置貧訊的說明圖。對於如上述圖 5所示之電池單元影像30，經由如上述的閾值進行二值化 處理，如圖7所示，除了因裂紋32a〜32c所造成的暗區域 34a、34b，對應晶界36的暗區域56亦被擷取出來。 又，除此之外，更可能因太陽能電池單元21外周緣 部分的亮度較中央部分的亮度略為降低，以及個別太陽能 電池單元21的亮度不均勻等因素，而擷取出非二值化處 理之目的的暗區域。 因此，暗區域位置資訊除了包含顯示因裂紋32a〜32c 所造成的暗區域34a、34b的位置資訊外，亦包含顯示對應 晶界3 6之暗區域5 6專非目的暗區域的位置育訊。 再者，暗區域位置資訊包含暗區域34a、34b等的坐標 資訊。又，暗區域位置資訊包含暗區域34a、34b等的外緣 坐標資訊。具體來說，各暗區域34a、34b等的外緣定義為 直線的組合，因此暗區域位置資訊中包含各直線的起點及 終點坐標資訊。又，暗區域位置資訊包含暗區域34a、34b 的面積資訊。 請再參照圖3及圖4所示，暗區域判斷部16依據輸 入的裂紋位置資訊及暗區域位置資訊，從上述S4擷取出 的暗區域34a、34b、56中，判斷出因裂紋32a〜32c所造 成的暗區域34a、34b (S5)。接著，暗區域判斷部16對應 13 201108445 判斷結果修正暗區域位置資訊，絲出至品f判斷部η 及顯示控制部19。 圖8為暗區域判斷的說明圖。在圖中係放大顯示，裂 紋位置資訊中表示的裂紋32a位置，與暗區域位置資訊中 表示的暗區域34a位置兩者的關係。如圖所示，裂紋32a 的邛勿位於沿著暗區域34a外緣部分的位置。因此，暗 區域判斷部16依據位於暗區域34a中的裂紋323長度進行 判斷。具體來說，位於暗區域34a中的裂紋32a長度，相 對於暗區域34a的外緣長度若為預設的比例以上（例如三 成以上），即判斷暗區域34a係因裂紋32&所造成。 且口裂紋32a亦可能位於暗區域34a外側，在那種 情況下，經由上述暗區域位置資訊產生部15二值化處理 的閾值，亦可判斷沿著暗區域34a外緣向外預設範圍内， 是否存在有裂紋32a。 品質判斷部17依據電池單元影像3〇中測定的裂紋 32a〜32c數量，以及因裂紋32a、32b所產生的暗區域34a、 34b的數量，判斷電池單元影像3〇表示的太陽能電池單元 21的品質，並進行等級的區分（S6)。關於品質等級的資 訊，輸出至顯示控制部19。在此，可單純利用裂紋32a〜 32c以及暗區域34a、34b數量的合計、亦可利用對應該等 種類之權重加總（weighted sum )、亦可利用對應該等大小 之權重加總，以進行品質的判斷。且，在電池單元影像3〇 顯示複數太陽能電池單元21的情況時，判斷各太陽能電 池單元21的品質。 201108445 顯示控制部19識別顯示電池影像30中測定的裂紋 32a〜32c及因裂紋32a、32b所產生的暗區域34a、34b， 產生顯示用影像（S7)，並進行將顯示用影像顯示在顯示 部9的顯示控制（S8)。圖9為表示顯示用影像60之一例 的示意圖。顯示控制部19在電池影像30的裂紋32a〜32c 及暗區域34a、34b位置，分別合成對應的裂紋識別影像 62a〜62c及暗區域識別影像64a、64b，並產生顯示用影像 60 ° 因此，在因裂紋32a、32b所產生之暗區域34a、34b 的位置，合成暗區域識別影像64a、64b，即可識別顯示因 裂紋32a、32b所產生之暗區域34a、34b與晶界36等。 又，顯示控制部19依據由品質判斷部17輸入的資 訊，亦可識別顯示各太陽能電池單元21的品質等級。 以上為關於本發明之實施態樣的說明，但本發明非以 上述實施態樣為限，相同領域者自可依其需求實施不同的 變化態樣。 例如，裂紋位置資訊產生部14係經由拉氏濾鏡進行 裂紋32a〜32c位置的指出，然其非限制性，亦可擷取出電 池影像30中較周圍亮度低的線狀晝素群，並將其測定為 裂紋32a〜32c。 在此情況下，如圖5所示，由於亮度明顯較低的暗區 域34b以及暗區域34b外緣之裂紋32b的亮度程度相同， 因此裂紋32b的測定較為困難。例如，暗區域位置資訊產 生部15若利用別的方式擷取出亮度明顯較低的暗區域 15 201108445 34b ’亦可不測定裂紋32b。換言之，暗區域位置資訊產生 15除了上述的二值化處理之外，亦可以擷取亮度明顯 較低的暗區域34b、且以不擷取晶界36之程度的亮度閾值 的方式進行二值化處理，而藉此擷取出的暗區域34b不管 有無裂紋32b，都作為缺陷並視為被檢測出的暗區域。 又’例如’經由暗區域判斷部16的判斷，非以上述 實施態樣為限，例如圖10所示之位置關係，若檢測出裂 紋32z及暗區域34z的情況下，裂紋32z在暗區域34z外 緣一部分的延長線上’亦可判定暗區域34z係因裂紋32z 所產生。 【圖式簡單說明】 【圖1】為表示本發明一實施態樣之太陽能電池檢查 系統的構成例方塊圖。 【圖2A】為表示太陽能電池面板的示意圖。 【圖2B】為表示太陽能電池單元的示意圖。 【圖3】為表示本發明一實施態樣之太陽能電池檢查 裝置的功能構成例方塊圖。 【圖4】為表示本發明一實施態樣之太陽能電池檢查 方法的流程圖。 【圖5】為表示電池單元影像之一例的示意圖。 【圖6】為產生裂紋位置資訊的說明圖。 【圖7】為產生暗區域位置資訊的說明圖。 【圖8】為判斷暗區域的說明圖。 201108445 【圖9】為顯示用影像.的一例的示意圖。 【圖10】為判斷暗區域的變化態樣的說明圖。 【主要元件符號說明】 1 :太陽能電池檢查系統 10 :太陽能電池檢查裝置（控制部） 11 :通電控制部 12:位置控制部| 13 :影像取得部 14 :裂紋位置資訊產生部 15 :暗區域位置資訊產生部 16:暗區域判斷部 17 :品質判斷部 19 :顯示控制部 2 :太陽能電池面板 21 ： 太陽能電池單元 23 ： 導線 25 ： 層狀體 27 ： 受光面 28 ： 匯流排 29 ： 指狀電極 3 :通電部 30 :電池單元影像 32a〜32c :裂紋 17 201108445 34a、34b :暗區域 36 :晶界 4 :定位部 42a〜42c、46 :邊界部分 5 =攝影部 56 :暗區域 60 :顯示用影像 62a〜62c :裂紋識別影像 64a、64b :暗區域識別影像 8 :操作部 9 :顯示部

Claims (1)

1. 201108445 七、申請專利範圍： 1、 一種太陽能電池檢查裝置，包含： 一影像取得手段，取得用以表示通電狀態之一或複數 個太陽能電池單元的一電池單元影像； 一裂紋位置資訊產生手段，指出在該電池單元影像中 亮度比周圍低的線狀晝素群，以產生該太陽能電池 單元之裂紋的位置資訊； 一暗區域位置資訊產生手段，指出在該電池單元影像 中亮度在一定值以下的晝素聚集且面積在一定值以 上的晝素群，以產生該太陽能電池單元之暗區域的 位置資訊；以及 一暗區域判斷手段，依據該暗區域及該裂紋的位置關 係，判斷該暗區域是否因該裂紋所造成。 2、 如申請專利範圍第1項所述之太陽能電池檢查裝置， 其中該裂紋位置資訊產生手段係測定該電池單元影像 中亮度變化的邊界部分，以產生該太陽能電池單元之 裂紋的位置貧訊。 3、 如申請專利範圍第2項所述之太陽能電池檢查裝置， 其中該裂紋位置資訊產生手段係藉由一次微分濾、鏡來 測定該邊界部分。 4、 如申請專利範圍第2項所述之太陽能電池檢查裝置， 其中該裂紋位置資訊產生手段係藉由二次微分濾鏡來 測定該邊界部分。 5、 如申請專利範圍第1項所述之太陽能電池檢查裝置， 19 201108445 其中該暗區域判斷手段依據沿著該暗區域外緣的該裂 紋長度進行該判斷。 6、 如申請專利範圍第1項所述之太陽能電池檢查裝置， 其中該暗區域判斷手段依據位於該暗區域中的該裂紋 長度進行該判斷。 7、 如申請專利範圍第5或6項所述之太陽能電池檢查裝 置，其中該暗區域判斷手段依據該暗區域的外緣長度 與該裂紋長度的比值進行該判斷。 8、 如申請專利範圍第1項所述之太陽能電池檢查裝置， 更包含： 一品質判斷手段，依據因該裂紋所產生的暗區域數 量，判斷該太陽能電池單元的品質。 9、 如申請專利範圍第1項所述之項所述之太陽能電池檢 查裝置，更包含： 一顯示控制手段，識別顯示因該裂紋所產生的暗區域。 10、 一種太陽能電池檢查方法，包含： 取得用以表示通電狀態之一或複數個太陽能電池單元 的一電池單元影像； 指出在該電池單元影像中亮度比周圍低的線狀晝素 群，以產生該太陽能電池單元之裂紋的位置資訊； 指出在該電池單元影像中亮度在一定值以下的晝素聚 集且面積在一定值以上的晝素群，以產生該太陽能 電池單元之暗區域的位置資訊；以及 依據該暗區域及該裂紋的位置關係，判斷該暗區域是 20 201108445 否因該裂紋所造成。 11、 一種應用在電腦的程式，包含： 一影像取得手段，取得用以表示通電狀態之一或複數 個太陽能電池單元的一電池單元影像； 一裂紋位置資訊產生手段，指出在該電池單元影像中 亮度比周圍低的線狀晝素群，以產生該太陽能電池 單元之裂紋的位置資訊； 一暗區域位置資訊產生手段，指出在該電池單元影像 中亮度在一定值以下的晝素聚集且面積在一定值以 上的晝素群，以產生該太陽能電池單元之暗區域的 位置資訊；以及 一暗區域判斷手段，依據該暗區域及該裂紋的位置關 係，判斷該暗區域是否因該裂紋所造成。 12、 一種太陽能電池檢查系統，包含： 一攝影部，對通電狀態之一或複數個太陽能電池單元 攝影，並產生表示該太陽能電池單元的一電池單元 影像； 一影像取得手段，取得該電池單元影像； 一裂紋位置資訊產生手段，指出在該電池單元影像中 亮度比周圍低的線狀晝素群，以產生該太陽能電池 單元之裂紋的位置資訊； 一暗區域位置資訊產生手段，指出在該電池影像中亮 度在一定值以下的晝素聚集且面積在一定值以上的 晝素群，以產生該太陽能電池之暗區域的位置資 21 201108445 訊；以及 一暗區域判斷手段，依據該暗區域及該裂紋的位置關 係，判斷該暗區域是否因該裂紋所造成。 22