TW201032104A - Noise reduction in capacitive touch sensors - Google Patents

Description

201032104 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一電容式碰觸感測器中之雜訊降低以偵測 身體之接近度及位置，更特別地，係關於一所謂主動型之 一維或二維電容式感測器，其係基於在一偵測器陣列中之 每一感測節點處量測兩個電極之間的電容式耦合。 【先前技術】 存在各種形式的觸敏控制，其使用一電容式感測器來感 測身體（例如一使用者之手指）之存在。在％〇_〇〇/44〇18中 揭示一種形式的觸敏控制。在此實例中，提供一對電極， 其充當一鍵以便因在該兩個電極之間傳送的一電荷量之一 。藉助此 改變而偵測到身體（諸如一使用者之手指）之存在 配置’該等電極中之-者（標示為X)以—驅動電路驅動， 且該對電極中之另一者（標示為Y)連接至一電荷量測電 路，該電荷量測電路在由X板驅動時偵測γ板上所存在之 一電荷量。如W〇-00/440018 t所揭示，數對電極可經配置 以形成一感測區域矩陣，該感測區域矩陣可提供一觸敏二 維位置感測器之-有效實施方式。此等二維電容式傳感 (2DCT)感測器通常與包含用於（例如）消費者電子裝置及家 庭器具中之觸敏螢幕或觸敏鍵盤、鍵之 一 採用2DCT感測器之裝置已變得日益f遍且不僅結合個 人電腦且亦在所有其他器具形式（諸如個人數位^理 (PDA)、銷售點（POS)終端機、電子資訊及售票資訊亭、廚 144003.doc 201032104 房器具及類似器具）中常見。出於許多原因，2DCT感測器 常常較佳為機械開關。舉例而言，2DCT感測器不需要移 動邓为且因此較其機械相反部分較不易於磨損。感 測器亦可以相對小的大小製成從而可提供對應小的且經緊 密封裝之小鍵盤陣列。此外，2DCT感測器可提供於一環 境密封外表面/蓋面板之下。此使得2DCT感測器在潮濕環 境中或在存在灰塵或流體進入一裝置之危險之情形下之使 φ 用處在控制下而頗具吸引力。另外，製造業常常偏好在其 產品中採用基於2DCT感測器的介面，乃因此等介面常常 被消費者視為比習用機械輸入機構（例如，按鈕）在美學上 更令人愉快。 可併入有2DCT感測器之其他裝置包含出於回饋控制目 的在機械中使用之筆式輸入板及編碼器，例如感測 器能夠報告至少一個二維座標、笛卡爾座標或以其他方 式，藉助一電容感測機構相關於一物件或人類身體部位之 ❹ 位置。 雖然觸敏電容式感測器（例如上文所述及上述揭示内容 中所揭示之彼等觸敏電容式感測器）已成功地部署於許多 應用中，但某些應用可提出偵測因身體之存在而導致的電 荷之一改變之一具有挑戰性的環境。 舉例而言，在一行動電話上使用一碰觸感測器可引起一 技術問題，乃因存在各種由射頻信號、由射頻輕射及由該 行動電話内之調變器所產生之干擾雜訊信號。類似地，一 液晶顯示器（LCD)具有因切換及再新像素而導致的特性切 144003.doc 201032104 換雜訊。其他類型的顯示器可具有其自己形式的與像素掃 描及再新有關的特性脈衝式雜訊。亦可存在 (例如由市電逢生的正弦曲線雜訊)，其可影響一鍵上2 測之電荷量。例如當-手持式裝置（例如一行動電話）正透 過幹線充電時，此影響可頗顯著。 隨附圖式之圖7以信號強度或振幅(其可係所量測之電壓 或，荷）相對於時間之一圖表的形式顯示正弦曲線雜訊之 τ實例。如圖所示，顯示多個點220以指示在其處針對一 碰觸感測H (例如上述彼等碰觸感測器）進行叢發量測之 點。如應瞭解’因正弦曲線雜訊，藉助量測電路（例如上 逑彼等量測電路）之一量測電容器自一鍵傳送之電荷量將 變化且因此在某些情形下可導致對身體之存在之-錯誤詈 測。 日、置 圖8顯示另一形式的雜訊，即矩形雜訊或脈衝式雜訊， 亦即’具有高頻分量之雜訊，例如可藉由切換碰觸面板盘 其整合在-起的一 LCD顯示器中之像素而產生的雜訊二 取樣點220顯示信號強度相對於時間之一圖表，其可由一 量測電路（例如上述彼等量測電路）中量測循環之叢發產 生。若一量測循環與一雜訊脈衝222之一上升邊緣—致（因 可由一 LCD切換事件產生），則可產生一錯誤量測，此可 再次致使一碰觸感測器錯誤地偵測身體之存在。 圖9圖解說明顯示同時發生的正弦曲線及矩形雜訊之情 形。如應瞭解，-般而t，正弦曲線雜訊與矩形雜訊兩二 可在一給定時間段期間存在。此外，藉助其性質，雜訊量 144003.doc 201032104 以及其頻率分量常常將隨時間變化。 先前技術電容式感測器採以種信號處理技術來對所獲 取的信號進行雜訊滤波。舉例而言，在過去已使用箱車平 均器及偵測積分器。在原理上，可使用其他類型的標㈣ 波，例如變動率遽波器、高頻率通過遽波器、低頻率通過 濾波器及帶通濾波器。 然而，鑒於雜訊之固有不可預測性及可變形，挑選適當 Φ 的濾波器頗困難。即使可預測主要雜訊分量之頻率，亦不 可預測其隨時間之量值。此外，在即時應用（例如碰觸資 料處理）中，任一遽波需要頗迅速。另-方面，藉助碰觸 資料處理，通常期望信號「在晶片上」預處理（亦即，在 與用於自碰觸面板接收碰觸資料之晶片相同的晶片中）， 而非在較尚系統層級處（亦即，在一個人電腦或具有一 當前技術水平的中央處理單元之其他電子系統上）。通 常，原始碰觸資料最初由一微控制器以嚴格受限的數值處 Ο 理及記憶體技術規範加以處理，但仍期望確保該微控制器 進行量測以降低供應至較高層級系統組件之碰觸資料中之 雜訊。 【發明内容】 根據本發明，提供一種電容式碰觸感測器，其用於偵測 身體之接近度及位置，該感測器包括：一個或多個X線； 複數個Υ線，每一者經配置以使其一部分毗鄰於該等X線 中之每一者之一部分以形成複數個感測電容器；一電荷量 測電容器，其連接至每一 Υ線；一個或多個驅動電路，其 144003.doc 201032104 等經配置以驅動該等X線中之各別X線以使電荷能夠自與 彼X線相關聯之該等感測電容器傳送至連接至該等γ線之 該等各別量測電容器；及—控制器，其可運作以經由該等 X線之各別驅動電路來致動該等χ線中之各別χ線，且量測 來自該等量測電容器中之每_者之指示所傳送電荷量之一 信號值，該控制器經組態以便在尋求量測來自一特定X線 之一組Υ信號值時，對所量測之至少第—γ信號值應用一 測試其測試該γ信號值是否具有位於一可接受範圍外之一 量值，其中回應於該測試，若該丫信號值位於該可接受範 圍外’則重新致動該相同X線以㈣彼乂線起始至該等量測 電容器中之另一電荷傳送。 本發明採用拒絕有雜訊信號值並重新獲取替代信號值之 方法。此不同於如先前技術，獲取資料並接著重新處理其 以移除或抑制有雜訊資料之方法。該等先前技術雜訊降低 技術可有益地與本發明之方法結合應用，但將藉由在源處 拒絕有雜訊資料且在源處㈣代非杨訊資㈣換其來使 其任務較容易。 』節省了相當多的獲取時間’乃因若第一γ線顯示一有雜 訊信號，則其他γ線亦將遭到破壞，此乃因將已同時由一 =同=線驅動了所有該等¥線。*第—¥線處拒狀線資 Υ線，：卽省了將原本由控制器花費用來處理其他㈤)個 同X後番^時間’從而允3午该裝置花費此時間改為針對相 同X線重新獲取新近資料。 該測試可基於以下僅應用於所量測之第—γ信號值：若 144003.doc 201032104 該第一 γ信號值具有指示不存在雜訊之— 可能其他γ信號值亦不遭到破壞，乃因县準則很 對每- Υ線之充電在相同時間窗期間發生。&電夺态針 該可接受範圍可僅具有一上限、僅 、’一下限、或齡接 地具有兩者’從而低於該下限及/或高於該 號值被認為是不可接受的。 k 在本發明之實施例中’若該測試證實該γ信號值位於今 ⑩彳接受範圍外，則該控制器不量測來自相同組之任何其： 二：未里測之Υ“虎值，乃因不必如此，且這樣做將只是 浪費時間。該控制器可接著繼續使所有該等量測電容器放 電以為一新的電荷傳送做準備。 本發明亦提供-種㈣身體至具有1容式碰觸感測号 之一碰觸面板之接近度及位置之方法，該電容式碰觸感測 器包括：一個或多個X線及複數蚊線，每一 γ線經配置以 使其-部分田比鄰於該等X線中之每一者之一部分以形成複 ❹數個感測電容器；一電荷量測電容器，其連接至每—Υ 線；-個或多個驅動電路，其等經配置以驅動該等χ線中 之各別X線；及-控制器，其可運作以量測來自該等電荷 量測電容器之信號值，該方法包括： a)驅動該等X線中之一者以使電荷能夠自與彼x線相關 聯之該等感測電容器傳送至連接至該等丫線之該等各別量 測電容器； b) 量測來自該等量測電容器中之一者之一信號值；及 c) 測試該Y信號值是否具有位於一可接受範圍内之一量 144003.doc 201032104 值’且測試是否重新驅動該相同X線以針對彼χ線起始至 該等量測電容器中之另一電荷傳送。 較佳地，步驟b)僅應用於來自一給定χ線之所量測之第 一 γ信號值。 本發明對具有一 m X n 乂及丫線柵格之二維碰觸感測器尤 其有益，例如用於上覆顯示器或其他碰觸面板之感測器。 特定而言，本發明避免其中浪費一相當多的時間量獲得與 一 m χ n栅格有關的一碰觸資料訊框，且該等χ線中之一者 上之資料有雜訊並且因此該訊框之完整性受到危害之情❹ 形。本發明因此避免一訊框因雜訊僅存在於該訊框之"η 上而受到危害，且改為花費只不過多一點的時間來以好資 料替換遭到破壞之χ線。 本發明亦可應用於一維碰觸感測器’例如一圓形輪（例 如一滾輪）或一線性滑動器，亦即，具有1 χ η個感測節點 之一維陣列。 、應瞭解，如上所界定之本發明係關於所謂主動型電容式 感測器，亦即，基於在兩個電極之間 〇 極與-系統接地之間)量測電容式麵合之彼等電容= 器。在美國專利第Μ52,514號中描述主動電容式感測技術 之基本原理。 时本發明亦可應用於所謂的被動型或單端型電容式感測 _ 益，亦即，依賴於量測一感測電極至一系統參考電位（大 地)之電容之彼等電容式感測器。例如，纟美國專利第 V30, ！ 65號及美國專利第M6M36號中描述此技術之基本 144003.doc -10- 201032104 原理’該等專利之内容以全文引用方式併入本文中。根據 本發明之此替代形式，提供一種電容式碰觸感測器，其用 於偵測身體之接近度及位置，該感測器包括：複數個感測 節點，其等分佈於一感測區域上方以形成複數個感測電容 器，電荷董測電容器，其連接至每一感測電容器；及一 控制器’其可運作以量測來自該等量測電容器中之一者之 指示自每一感測節點處之該等感測電容器傳送之電荷量之 ❹-信號值，該控制器經組態以便在尋求量測來自該感測區 域之一組信號值時，對所量測之至少第一信號值應用一測 試，其測試該信號值是否具有位於一可接受範圍外之一量 值，其中回應於該測試，若該信號值位於該可接受範圍 外，則重新致動該相同感測節點以針對彼感測節點起始至 該等量測電容器中之另一電荷傳送。 【實施方式】 圖la係在不存在一致動體（通常一使用者之手指或尖筆） ❹之情形下穿過一觸敏控制面板15之一示意性橫截面。 圖lb對應於^la，但顯示在存在—致_(以—使用者 之手指的形式）之情形下的相同橫截面。 圖la及lb中所示之碰觸感測器對應於其中—對橫向電極 形成一碰觸感測器之-實例。如圖la中所示，在以下福述 中形成-驅動板或X板及-接收板或¥板之—對電極⑽、 1〇4安置於一觸敏控制面板15之表面之下。電極100、104 =一介電層16(例如-玻璃或塑膠面板)之下。如圖la 及lb中所示，碰觸感測器1G經配置以因自丫板⑽傳送之一 144003.doc •11 · 201032104 電荷置之一改變而偵測一身體（例如一使用者之手指2〇)之 存在如圖1a中所示，當X板100由一電路充電或驅動時， 在碰觸面板表面15上方或下方形成由線18及19所圖解說明 之一電場，因此電荷傳送至¥板1〇4。χ板及γ板】〇〇、1〇4 形成一電容式可充電感測節點1〇，該節點在下文稱為一 鍵。如圖ib中所示，因電場18由於使用者之手指2〇之存在 而導致的干擾，控制面板15之表面上方之電場因由使用者 之手指20(如接地34所示意性地圖解說明）所提供之大地效 應或接地效應而受到干擾。 在圖2中顯示圖la& lb中所示之碰觸感測器的一等效電 路圖。在圖2中，以一電路圖的形式圖解說明等效電容。 在鍵之X板1〇〇與丫板104之間形成之一電容係一電容ce 105(在此技術中有時亦稱為Cx)，其實質上係一耦合電容 器。身體20之存在具有引入分流電容3〇、32、33之一效 應，该4分流電容接著藉由至接地34之一等效接地電容器 22經由身體20接地。因此，身體2〇之存在影響自鍵之γ板 傳送之電荷量，且因此提供一種偵測身體2〇之存在的方 式。此乃因鍵CE 105之又板100與丫板104之間的電容隨著 接地電容22、30、32、33的增加而減小。 热悉此項技術者應瞭解，圖1&及lb正基於在兩個電極之 間（而非一單個感測電極與一系統接地之間）量測電容式耦 合繪示一所謂的主動電容式感測器。在美國專利第 6,452,5 14號中描述主動電容式感測技術之基本原理。在一 主動型感測器中，給一個電極（所謂的驅動電極）供應一振 144003.doc -12- 201032104 蓋驅動信號。該驅動传 。’u至感測電極之電容式耗合的程度 係藉由量測由該振蓋驅動信號傳送至該感測電極之電荷量 來敎。所傳送之電荷量（亦即，在感測電極處所看到之 信號的強度)係該等電極之間的電容式耦合之一度量。當 該等電極附近不存在指向物件時，該感測電極上之所量測 之i» U丨景值或靜態值。然而，當—指向物件(例 如-使用者之手指）接近該等電極（或更特定而言接近分離 Φ 亥等電極之區附近）時，該指向物件充當一虛擬接地並自 該驅動電極吸收一些驅動信號(電荷此用於減小驅動信 號之耦合至感測電極之分量的強度。因此，用感測電極上 之所量測之信號之一減少來指示一指向物件之存在。 圖3提供電路圖，其藉由感測自圖2中所示之X板1 00傳 送至Y板104之一電荷量來形成一碰觸感測器且包含已根據 自WO-00/44018複製之一電荷量測電路，霤〇 〇〇/44〇18對 應於美國專利第6,452,514號。 # 如圖所示，一駆動電路101連接至鍵之X板100且鍵之γ 板104連接至一電荷量測電路1〇8之一輸入1〇6，其中該X板 及Y板共同形成電容器105。輸入106連接至一第一可控開 關110且連接至一量測電容器Cs 112一個側，電荷累積於 該量測電容器Cs 112上作為電容式耦合之一度量。量測電 谷态112之另一側經由一第二開關114連接至量測電路1 〇8 之一輸出116’該輸出作為一電壓VOUT饋送至一控制器 118。一第一輸入控制通道103用於控制驅動電路ι〇1之運 作。 144003.doc -13- 201032104 在所圖解說明之電路圖中’採用一習慣講法，即當開關 110、114中之每一者之一控制輸入為「〇」時代表該控制 輸入為斷開的，而在該控制輸入為Γι」時則代表其為接 通的。開關m、114中之每—者之另一側係連接至接地， 使得若該控制輸入為厂1」，則該連接輸入將被連接至接 地。對驅動電路101亦採用類似的習慣講法，即在控制輸 入⑻為「〇」時’該X板被連接至接地，而在該控制輸入 為「1」時，該X板則被連接至一參考電壓「V」。 參 圖4係時序圖’其顯示碰觸感測器之運作，且特定而 言係顯示該量測電路經配置以量測自鍵j 〇之χ板i 〇 〇傳送至 Y板1 04之電荷量之功能。 ❹ 圖中顯示了四個時序圖13〇、132、134、138以圖解說明 圖3中所示之量測電路1〇8之料。一第一時序圖13〇表示 施加至第二開關114之控制輸入。因此’在左手側上，顯 示該控制輪人之邏輯值，而在右手側上，將連接點ιΐ4 ι 處之效應顯示為「z」（其中連接點1141係隔離或浮動）或 接地（針對為1之一邏輯控制輸入）。類似地，—時序圖 針對邏輯控制輸入值「〇」或「丨」圖解說明一連接點 110.1處於子動（z)或接地⑼。一第三時序圖134顯示提供 至鍵之X板1GG之-驅動信號之—相對時序，在此情形下， 與兩個開關110、114之時序圖130、132形成對比，時序圖 134之值為一絕對值以使得左手側圖解說明電壓在〇 v與參 考電壓之間變化（參考電壓係用㈣X板100充電之電壓）。 最後之時序圖U8提供對量測電容器112上因根據由時序圖 144003.doc •14- 201032104 130、132、134所圖解說明之開關110、114之斷開及接通 以及X板100之驅動而產生之實例性信號強度或電壓之一圖 解說明。現將解釋時序圖130、132、134、13 8於下： 在一第一時間tl，使用各別開關11〇及114之為高（1)之控 制線146及148以及驅動電路1 〇 1之為低（〇)之控制線丨03來初 始化（亦即，重設）電荷量測電路1〇8。控制線146、148、 103係連接至控制器11 8之線。因此，即將丫板丨04、X板 100及電荷量測電容器112設定為接地。相應地，跨越電荷 量測電路112之輸出電壓處於零。應瞭解，在其他實施例 中，至接地及VDD之連接可相反。 在一第二時間t2，將至控制開關114之邏輯輸入設定為 〇 ’藉此斷開該開關且使連接點1 14.1浮動，如此將輸出電 壓116連接至量測電容器1 j 2之一侧。 在一第二時間t3 ’將至開關11 〇之控制輸入設定為低 (〇) ’藉此使連接點110.1(其以前為ΥΑ)浮動，在一時間 Φ t4，將驅動電路101之控制輸入103設定為高（1)，藉此將鍵 10之X板100連接至參考電壓「V」。接著，為使量測電容 器Cs充電歷經6與16之間的一期間s，而將至開關ιΐ4之控 制輸入設定為高（1)，藉此使ΥΒ接地以將鍵1〇之¥板1〇4上 所感生之電荷傳送至電荷量測電容器i 12上，直至在將至 開關114之控制輸入設定為低（〇)時之時間“，此再次使連 接點114· 1浮動。t5與t6之間的時間稱為停留時間。在使量 測電容器Cs充電歷經15與t6之間的-第 在…將至開關u。之控制輸入設定為高⑴，接 144003.doc 15 201032104 點110 1接地，該連接點連接至電荷量測電容器Cs 1 i2之另 一側。因此，可量測跨越該量測電容器之電壓。將在15與 t6之間的停留時間中自丫板1〇4傳送至量測電容器Cs 上 之電荷量表示為輸出電壓VOUT。 在時間t8，至驅動電路1〇1之控制輸入1〇3變低（〇)，藉此 將鍵10之X板1〇〇連接至接地，此結束一第—量測循環。

在時間t9，發生一量測叢發之下一量測循環。在〇，至 開關110之控制輸入變低（〇)，藉此使γΑ浮動，接著在時間 tio，至驅動電路101之控制輸入1〇3再次變高（1)，藉此將χ 板⑽連接至參考電壓「V」。一進一步電荷包接著自其處 累積有在先前循環中所傳送之電荷之取樣電容器之丫板 傳送至量測電容器112。與第—叢發—樣，在點ui，至開 關114之控制輸入變高⑴’藉此使點⑴越地並將電荷驅 動至量測電容器上’直至在至開關114之控制輸入變低時 之tl2 ’此再次使抑浮動。因此，在⑴與⑴之間的停留 /月門電荷再人自γ板丨〇4傳送，藉此增加跨越量測電容器G 之如表示為輸出電壓V〇UT之電壓。在⑴，將至開關 之控制輸入設定為高⑴，藉此使YA接地，且在tl4,至驅 動電路之控制輸人1G3變低⑼，藉此將鍵1()之 連接至接地，此社击兮结 匕、·〇末竣弟二量測循環。因此，與第—量 循環一樣，已自YjG禮 ^ 板傳送—電荷量，此接著已增加跨越電 荷量測電容器112夕带廠 2之电壓，該電壓表示自Y板1〇4傳送之— 電荷量。 Y板上所存在之轉移至 在一叢發之數個量測循環之後 144003.doc • 16 - 201032104 直測電容器112之電荷量一致，藉此提供對鍵上所存在之 由驅動信號產生經由驅動電路1 〇丨到達X板1 〇〇之電荷之一 表不。藉助一放電電阻器14〇確定量測電容器} 12上之電荷 l。放電電阻器140之一個侧連接至該量測電容器，且另 一側SMP連接至一放電開關142。放電開關142經由一控制 通道144自控制器118接收一控制信號。控制器ιΐ8經控制 以在量測循環期間使SMp接地，且藉由將SMp連接至一電 壓VDD來透過放電電阻器14〇使量測電容器cs ιΐ2放電。 控制器118接著藉由在量測電容器以上之電荷放電為〇之前 對預定時脈週期之數目進行計數來確定所存在之電荷量。 因此’時脈週期之數目為各別所量測之電荷信號提供一相 對信號樣本值。 在替代實施例中’替代針對控制器118進行配置以產生 預定數目個量測循環且接著量測γ板上所存在之電荷，該 控制器可運作以繼續該等量測叢發直至達到一預定臨限電 Μ。達到該預定臨限值所需之量測循環或循環之叢發之數 目接著提供對自X板傳送至γ板之電荷量之—指示，且因 此對該X板與該Υ板之間的電耗合之一指示。目此，一身 體接近該麵合之存在將改變該電輕合，且因此達到該臨限 值所需之循環數目，此因此可由該控制器偵測。 _吏用相同的構造及運作原理，可形成-觸敏_矩陣或 3以提供—2DCT感測器。-使用者可接著在-給定時 z Μ區域上選擇—個（或在某些情形中，複數個）位 144003.doc -17- 201032104 圖5顯示採用參照圖3及圖4所述類別之一感測器陣列之 種一維碰觸感測器。電荷量測電路1 與驅動電路 101,1 ι〇1·2、ι〇1.3、101.4結合使用且經配置以驅動不同 的感測點205。如圖所示，驅動電路1〇11、1〇12、 101.3 1 〇 1.4中之每一者由控制器j丨8加以控制以使用第一 控制輸入103.1、103.2、103.3、103.4以與X板1〇〇在圖3中 所驅動且圖4中所表不之方法相同的方式來驅動對應線 XI X2 X3、X4中之每一者。亦顯示_輸入】〇7，其提供 參考電壓「V」。 點205中之每一者處耦合電容器之輸出連接至量測電容 器Cs 112.1、112.2、112.3、112.4之一個側，該等量測電 ，器經配置以量測丫板（Υ!、γ2、γ3、γ4)上所存在之電荷 量，從而提供輸出信號116」、116 2、U6 3、116 4以便以 與圖3及圖4中所示之電路之運作方式相同的方式㈣測— 物件之存在。此係藉由以與上文參照圖3及圖4所解釋之配 置對應之方式施加控制信號給開關u〇a、u〇b、、 110d、114a、114b、114c、ll4d來達成。 在圖5中，為清楚起見，已省略了來自圖3之某些細節。 特定而言，未顯示電阻器14〇、其開關142及致動線⑷。 注意’通常可由來自控制器118之—單個致動線144來致動 開關M2中之每-者’ π因其僅需要被共同切換以執行其 上述功能。另一選擇為，若硬體可用，則可由多個 「SMP」電阻器並行量測電容器cs。 在WO-_44〇18中揭*關於此—矩陣電路之運作之更多 144003.doc -18· 201032104 細節。 該控制器如上文所解釋地運作以根據鍵205之電容之一 改變、透過在量測循環之—叢發期間該等鍵之矩陣令之一 者上所感生之一電荷量之—pL. Ο, 、 改·文來偵測該鍵上方一物件之 存在。然而，存在一雜訊信號可將電荷感生至一碰觸感測 器之鍵上並提供-錯誤偵測或防止進行一债測。 圖6係顯㈣於根據本發明之—實施例使用上述電路獲 ❹ H觸資龍框之處理料流程之—流㈣。將該流程 圖推廣到具有任意個χ線及¥線之—碰觸感測器栅格。存 在Μ個X、、泉.X】，χ2 · & &。此外，存在,ν,個γ線： Υι，Υ2…Υη…ΥΝ。除非另外說明，否則將假定，該處理 程序之邏輯功能係自控制器118驅動（例如藉由在控制器 118中運行一應用程式），程式碼儲存於（例如）控制器灯名中 之非揮發性記憶體中。此外，除非另外說明，否則將假 定，處理程序參數（假定計數器）儲存於控制器118中，例如 ❹ 儲存於形成控制器118之一部分之一微處理器之暫存器 中。 步驟S 1顯示獲取一訊框之第一步驟，其係用於將χ線及 Υ線之§十數器初始化為1及η=1。 在步驟S2中，驅動第爪個χ線，亦即，在第一示例中為 XI。此處，將假定，按順序1到Μ驅動該等χ線。然而，驅 動次序任意且不影響功能性。參照圖5，控制器118驅動線 103.4以達成χ〗線之驅動。 在步驟S3中，自輸入線Ιΐ6·η中之相關者對第η個Υ線取 144003.doc -19- 201032104 樣或輪詢。在第-示例中，輪詢γ]β輪詢次序任意且對功 :性無影響。控制器118選擇將由該控制器内部之一多工 器（未顯示）輪詢之γ線。 在步驟S4中，由該控制器讀取感測節點（m，η)之信號值 I ’刻吕號值表示為I(Xm，γη)。參照圖5，藉由在輸入連接 處透過各別連接線116·η自電荷量測電路⑽接受輸 取該信號值。

在步驟S5中’應用—邏輯測試以弄清該信號值是否大於 -最小臨限及/或小於一最小臨限。在下文，假定，測試 最大臨限值及最小臨限值兩者，但視情況僅可測試該等臨 限值中之一者。該邏輯測試因此係：

Imin<I(Xm5 Yn)<Imax 若不滿足該條件，則該處理程序流程在重設該等γ線之 計數器（亦即，在此實例中，設定η=1)之後跳回重做步驟 S2，此係步驟S6。參照圖5，該控制器將接通所有開關 110η、114η以使電荷累積電容器Cs U2n放電以為開始一 新的循環作準備，亦即，返回至圖4中之時間tl。接著重 ® 新驅動相同X線且再次嘗試該等Y線透過該控制器之内部 多工器之順序輪詢。 視情況，步驟S5之測試可僅選擇性地應用於每—χ線之 者，便利地僅針對第一 y線，亦即，在此實例 中’當n=l時。該邏輯測試接著將係：

Imin<I(Xm，Yn)<Imax且 n=l 右滿足该條件，則繼續處理所獲取之碰觸資料訊框。 144003.doc -20· 201032104 在步驟S7中，在訊框處理完成之前，將信號值i(xm, Yn)儲存於控制器118中。 在步驟S8中，測試測試是否 若η〇Ν，則在步驟S9中遞增η，且處理程序流程返回至 步驟S3以輪詢下一 γ線。 若㈣，則已自-特定X線讀出了所有㈣，且流程繼續 進行。 在步驟S10中，測試是否m=M。 若m<>M，貝，J在步驟S11中遞增m，i處理程序流程返回 至步驛S2以驅動下一 X線。 若m=M’則已驅動了所有义線且已完成獲取訊框，亦 即，已自構成該陣列之m x n個感測節點獲取了一全碰觸 資料集。 在步驟s12中，現已使包括信號值狀叫γη)之全碰觸資 料訊框有效且適於由進一步處理用作一碰觸資料集。此進 一步處理可在該碰觸資料集順序輪出至另-裝置（例如， -較高系統層級’例如—控制個人電腦或類似地基於⑽ 之系統）之前在控制器内執行。另一選擇為，該訊框之碰 觸資料集可自控制器直接輸出而不進行進一步處理。注 意’參照-完全訊框不必意味著針對所有將存在信號 值，但此將係標準使用模式之情形。通常，某-進-步處 理將在控制器上發生且接著更遙遠地「在晶片外」。 端視在-時間間隔序列内收集碰觸資料集之實施方案， 該處理程序流㈣接著时^步地重複。 】4400_3.doc -21- 201032104 以進-步處理可最初係信號處理以降低雜訊，後跟碰觸 u以在-赌㈣⑽隨碰觸，或料科勢辨識處理 以識別按壓、輕敲、雙敲、挨近、輕彈或任—其他手勢。 因此應瞭解，本發明之方法採用拒絕有雜訊信號值並重 新獲取其之方法。此不同於獲取資料並接著重新處理其以 移除或抑制雜訊效應之方法。然而，我們通常不提倡僅遵 循拒絕有雜訊信號值並重新獲取其之方法，而是在大多數 情形下遵循如下方法將較佳：拒絕有雜訊信號值並重新獲 取其，且接著亦應用習用重新處王里，優點係較好品質的資 料被輸入至重新處理演算法中。在某些情形下，若根據圖 6之方法供應之資料訊框中之雜訊足夠低，則後處理可決 定不應用某些或全部可用濾波器，藉此加速資料處理。 節省了相當多的獲取時間，乃因若第一 γ線顯示一有雜 訊信號，則其他Υ線亦將遭到破壞。此乃因將已同時驅動 了所有該等Υ線，因此假定雜訊時間區域化（與空間區域化 相對），則該等Υ線將全部已經歷了相同雜訊。參照圖4， 停留時間中之任一雜訊將破壞所有Υ線。在第一 γ線處拒 絕X線資料’因此節省了將原本由控制器花費用來處理其 他（η-1)個Υ線信號之時間，從而允許該裝置花費此時間改 為針對相同X線重新獲取新近資料。舉例而言，若一給定 X線之弟二樣本在已在處理第一 Υ線時拒絕了第一樣本之 後提供可接受的資料，則針對彼X線獲取資料所花費之額 外時間僅係獲取一 X線之第1個資料所花費之時間。本發明 之成本/益處因此隨著Υ線之數目而增加，其中成本為時 144003.doc -22- 201032104 間。 最小臨限值及最大臨限值㈣η及W較佳地設定為顧及 一典型碰觸之信號值之位準，亦即，設定為低於或高於一 適合參考值之偏移。該等臨限值可在工廉中設定為裝置測 試及組態之-部分，或其可由裝置自身在正常使用中（例 如在初始化時）设定或在訊框獲取期間週期性地（例如每，】， 個訊框）設定，其中j可（例如）係1〇、5〇或1〇〇。 ❹舉例而言’若正常碰觸產生為3〇之一信號值，則—及 Imax可設定為高於及低於該正常信號值之某—量。此可顧 及正常信號值之統計分佈（例如使用標準差，例如高於及 低於平均正常信號值之丨或2個標準差）來設定。另—選擇 為，其可更簡單地設定為始終處於高於及低於正常信號值 之一固定量（例如，在此實例中1〇)或（例如）由計算為自該 正常信號值至零或至一雜訊位準或至一偵測臨限值途中之 —分數之一量設定。具體而言，若正常信號值為3〇且顧及 〇 零設定該等臨限值，則可決定在至零之半途中一絕對值處 選擇該等臨限值，此將意指為15及45之值，亦即， 3〇士 15。類似地，若雜訊位準為6，則在至該雜訊位準之中 途選擇該等臨限值，則其將係18及42，亦即，3〇±12。亦 可期望關於該正常信號值不對稱地設定該等臨限值。通 常’將期望Imax比Imin(例如正常信號值接近其兩倍）更接 近於正常信號值，例如，關於為3〇之一正常信號值， Imin=l〇且lmax=4〇。Imin之值當然應設定處於高於雜訊位 準。 144003.doc -23- 201032104 杈佳地，基於周圍環境雜訊位準或 飞干均雜訊自適應地設 疋忒等l限值，以便該方法僅強迫 里新獲取少數資料。明 顯地，若該等臨限值提供一太窄 遇過頻帶，則在一些點 處，將抑制該裝置之整個功能，乃 u將決不輸出碰觸資 料。另一方面’若該等臨限值提供—太寬通過頻帶，則在 一些點處’將不得到益f將始終接受而不重新獲取 個別X線資料。應瞭解’存在用於量測碰觸資料且更一般 而言針對任何資料中之平均雜訊或周圍環㈣訊之 法。 自適應地調整該等臨限值之另— 典力 万法係基於拒絕之數 目。若樣本拒絕為位於可接受範圍外之一比例太高，則可 增加該範圍。 該方法亦可根據上述内容藉由限制拒絕之數目（例如藉 ，由將一計數器併入處理程序流程中與步驟86相連之拒絕路 徑中）來加以修改’該計數器具有-飽和值，此後針對該 訊框或針對某一其他數目個訊框或固定時間間隔不准許進 一步拒絕，亦即，臨時停用步驟85之測試。 ❹ 。本發明因此提供一種用於避免由雜訊破壞訊框資料之簡 單方法。在一資料訊框之僅一個部分中之雜訊往往將危害 整個訊框之解釋情形下，此頗重要。 雖’、、：已參知具有一 mxn感測節點栅格之一種二維碰觸感 測器之貫例描述了本發明，但本發明亦可應用於—維碰 觸感測益，例如一圓形輪（例如一滾輪）或一線性滑動器， 亦即，具有1 χη個感測節點之一維陣列。 144003.doc -24- 201032104 總之，藉由拒絕並重新獲取有雜訊信號來達成—維< _ 維電容式感測器陣列中之雜訊降低。該感測器陣列係由分 別用於驅動功能及感測功能之交叉的X線及γ線形成，依 次驅動該等X線中之每一者以自該感測器陣列獲取—全資 料訊框。一控制器依次致動該等X線，且針對每_ χ線， 將電荷傳送至連接至該等γ線中之各別γ線之電荷量測電 容器。該控制器量測來自該等量測電容器中之一第—者之 參 一信號值’並接著測試彼Y信號值是否具有位於—可接受 範圍内之一量值。若不具有，則全部重設該等量測電容器 而不量測其信號值’且該控制器重新驅動相同又線以針對 彼X線起始至該等量測電容器中之另一電荷傳送。接著再 一次嘗試針對彼X線獲取γ信號值。因此拒絕有雜訊信號 值，且該感測器重新獲取替代信號值。此不同於如先前技 術中獲取資料並接著重新處理其以移除或抑制有雜訊資料 之方法。 參 【圖式簡單說明】 為更好地理解本發明並顯示實現本發明的方式，現以實 例方式參照隨附圖式，其中： 圖la係提供一觸敏感冑器之一示意性方塊圖，且圖叫系 對接近圖13之感測器安置之一使用者之手指之一實例性圖 解說明； 圖2係圖解說明圖lb中所示之碰觸感測器之一等效電路 圖之—示意性方塊圖； 圖3係結合圓113中所示之碰觸感測器用於形成一碰觸感 144003.doc -25· 201032104 測器之一電路之一示意性方塊圖； 圖4係圖解說明圖3中所示之感 時序圖； 電路之運作之一貫例性 圖5係圖解說明根據本發明之一杳— 命—丄 實知例之提供一種二维 電谷式傳感感測器配置之一觸敏矩陣之一電路圖；、· 。圖6係顯示用於自圖5之電路獲取—碰觸資料訊框之處理 程序流程之一流程圖； 圖7係信號強度相對於時間之一 ,^ ^ 圓衣其表不—感測鍵 〇 上所存在之-電壓或電荷，㈣測鍵已受収弦曲線雜訊 (例如幹線雜訊）的影響； 圖8係信號強度相對於時間之一圖表，其表示在存在矩 形雜訊（例如1LCD雜訊）之情形下一感測鍵上之 ^ 荷；及 或電 圖9係信號強度相對於時間之一圖表，其表示在存在正 弦曲線及矩形雜訊之情形下一感測鍵上之電壓或電荷。 【主要元件符號說明】 10 碰觸感測器 15 觸敏控制面板 16 介電層 20 使用者之手指 22 接地電容器 30 分流電容 32 分流電容 33 分流電容 144003.doc -26 - 201032104

34 接地 100 X板 101 驅動電路 101.1 驅動電路 101.2 驅動電路 101.3 驅動電路 101.4 驅動電路 103 第一輸入控制通道 103.1 第一控制輸入 103.2 第一控制輸入 103.3 第一控制輸入 103.4 第一控制輸入 104 Y板 105 電容器 106 輸入 107 輸入 108 3?測電路 110 開關 110a 開關 110b 開關 110c 開關 llOd 開關 110.1 連接點 112 電荷量測電容器 -27· 144003.doc 201032104 112.1 量測電容器 112.2 量測電容器 112.3 量測電容器 112.4 量測電容器 114 開關 114a 開關 114b 開關 114c 開關 114d 開關 114.1 連接點 116 輸出 116.1 輸出信號 116.2 輸出信號 116.3 輸出信號 116.4 輸出信號 118 控制器 140 電阻器 142 放電開關 144 致動線 146 控制線 148 控制線 205 感測器點

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Claims (1)

1. 201032104 七、申請專利範圍： 1.—種電容式碰觸感測器，其用於制—身體之接近度及 位置，該感測器包括： 一個或多個X線； 複數個Y線’每-者經配置以使其—部分础鄰於該等X 線中之每—者之—部分㈣成複數個感測電容器； 連接至每一 Y線的—電荷量測電容器，· 個或多個驅動電路’其等經配置以驅動該等X線中 之各別X線以使電荷能夠自與彼乂線相關聯之該等感測電 容器傳送至連接至該等Y線之該等各別量測電容器；及 -控制器’其可運作以經由該等x線之各別驅動電路 來致動該等X線中之各別又線，且量測來自該等量測電容 器中之每-者之指示所傳送電荷量之—信號值，該控制 器經Μ態以便在尋求量測來自一特定乂線之一組¥信號值 時’對所量測之至少第一γ信號值應用一測試，其測試 φ 該Υ信號值是否具有位於一可接受範圍外之一量值，其 中回應於該測S，若㈣信號值位於該可接受範圍外； 則重新致動該相同X線以針對彼乂線起始至該等量測電容 器中之另一電荷傳送。 2. 如6月求項i之感測器’其中該測試僅應用於該所量測之 第一 丫信號值。 3. 如請求項i之感測器，其中該可接受範圍具有一上限， 從而高於該上限之任一信號值被認為是不可接受的。 4. 如請求項丨之感測器，其中該可接受範圍具有一下限， 144003.doc 201032104 從而低於該下限之任一信號值被認為是不可接受的。 5·如請求項丨之感測器，其中該可接受範圍具有一下限及 -上限’從而低於該下限或高於該上限之任一信號值被 認為是不可接受的。 6. 如請求項！之感測器，其中，若該測試證實該γ信號值位 於該可接受範圍外，則該控制器不量測來自相同組之任 何其他至今未量測之γ信號值。 7. 如請求们之感測器，其中1該測試證實該Y信號值位 於該可接受範圍外’則該控制器使所有該等量測電容器 放電以為一新的電荷傳送做準備。 8. -種债測-身體至具有一電容式碰觸感測器之一碰觸面 板之接近度及位置之方法’該電容式碰觸感測器包括： 一個或多個X線及複數個丫線，每一γ線經配置以使其一 部分眺鄰於該等X線中之每—者之—部分以形成複數個 感測電容H 電荷量測電容器，其連接至每一讀； 個或夕個驅動電路，其等經配置以驅動該等X線中之 各別X線，及一控制器，其可運作以量測來自該等電荷 量測電谷器之信號值，該方法包括： a)驅動該等X線中之一者以使電荷能夠自與彼X線 相關聯之該等感測電容H傳送至連接至該等讀之該等 各別量測電容器； b) 量測來自該等量測電容器中之一者之一信號值；及 c) 測5式该γ仏號值是否具有位於一可接受範圍内之 里值，且右否則重新驅動該相同χ線以針對彼X線起始 144003.doc 201032104 至該等量測電容器中之另一電荷傳送。 9.如請求項8之方法，其中步驟b)僅應用於來自一給定X線 之所量測之第一 Y信號值。

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