200928837 六、發明說明： . 【發明所屬之技術領域】 本發明主要是關於一種複雜電子電路之設計及驗證方法，以及可用於設 計複雜電子電路之技術。本發明特別是關於一種檢驗及驗證電子電路設計 之方法論’特別適用在系統晶片（SyStem-on-a-chip, SOC)型態及超大型積 體電路型態之電子電路》 【先前技術】 隨著積體電路之集積化程度提高’目前技術已可將許多複雜的電子邏 © 輯系統製作在單一積體電路（1C)上。此種1C在業界通常稱為「系統晶片」 (systemonachip，SOC)或「超大型積體電路」（uitraiarge Sideintegrated circuit ’ ULSI)，其内包含多數之複雜元件（例如微處理器' 數位信號處理 器 '週邊及記憶體控制器等）。上述元件中，有多數可以自許多商業供應商 取得個別之「現貨上架」（0ff_the-Shelf)型電子電路設計，加以利用。這種 電子電路設計在此行業人士通稱為「IP」。 這裡所稱的「圯」’是代表「intellectualproperty」（智慧財產權）《»電子 電路的設計者將其設計成品提供給客戶時，是以資料檔的型式為之。檔案 内含常用之電子設計自動化（electronic design automation-EDA)工具可讀 之資料。客戶則將所得到的IP整合到其自有之電路設計中。由於p的供應 商並不提供物品的製造，其電子電路設計通常是呈設計資料的型態，以電 子型式表示，而儲存在例如一儲存媒介物（例如一光碟片）中，或以位元 串流型態，由一伺服器透過網際網路下載。在此行業中已普遍將此種電子 電路設計產品稱為「IP」。 美國專利第6,701，491號之發明名稱為「InpUt/〇utpUtpr〇bing卿肌灿 and input/output probing method using the same, and mixed emulation/— method based on it j(輸入輸出探針裝置及以該裝置探測 輸入/輸出之紐，以及以該裝置作混合模擬之方法），發明人為Yang。該 200928837 發明提供-互動環境給IC設計人員，以在—硬體加速器與—軟體模擬器 、間，向前及向後執行模擬程序。因應這種作業，該發明將記憶體狀態與邏 輯記憶節點狀態，在該加速器與該模擬器間抽換。該發明並執行一完全之 * 上下文切換（⑺_tsw_ ’以在該硬體加賴上產生—分時環境，使該 硬體加速器可由多數ic設計人員所共用。通常而言，多數之加速器可以類 似方法與多數之模㈣及多數之X伽互相連結，贿設狀員可以進行 互動式之操作，並在硬體模擬與軟體模擬之間來回切換。 該Yang發明也揭示一種混合的軟硬體模擬方法。在該發明中，輸入/ 輸出硬體探測是以硬體模擬方式執行，以供驗證之用。使用至少一半導體 晶片，以實現一延伸之設計驗證目標電路，其方式是在其設計驗證目標電 路上，外加一 IOP (輸入/輸出探測）探針辅助電路。該I〇p探針輔助線路 包括一輸入/輸出探針介面模組。在該發明之系統中，是以一輸入/輸出探針 系統控制器產生該IOP探針輔助電路，供給該設計驗證目標電路。該設計 驗證目標電路或是由裝載在一原型化機板上之一個或多數半導體晶片所提 供’或是以硬體描述語言（hardware description language，HDL)代碼加以 界定；該代碼說明該IOP探針輔助線路之行為，以供在一模擬器中進行模 擬。其後進行一次或多次硬鱧模擬及軟趙模擬，次數視必要而定。其方法 〇 為以自動化之方式，在一適用之原型化機板與一適用之模擬器間，交換其 狀態資訊。此外’在該使用I0P探針輔助線路所執行之輸入/輸出探測中， 該狀態資訊是在該原型化機板與該模擬器之間，以自動化之方式作完全之 交換。該發明另揭示一使用該I0P探針輔助線路的混合式模擬方法，其操 作模態是由一依時間順序排列之預定切換條件加以決定，在處理過程中， 該操作模態在硬體模擬與軟體模擬間切換，直到其操作模態切換仔列清空 為止。 美國專利第6,389,379號發明名稱為「Converification system and method」（共驗證系統及方法），發明人為Lin等人。該專利案揭示一共驗^ 系統及相關之方法。該共驗證系統包括一可重新構裝之計算系統及—可重 200928837 新構裝之計算硬體_，可重新構裝之計算祕包含—cpu及記憶體， 用以處理資料’供將仙者設計全部雜體方式作麵化。在某些情形下， 並不需有目標系統及外部I/O裝置，因其可以軟禮方式加以模型化 。而在其 ，他情形’則將該目標系統及外部I/O S置辆合到該共驗證系統 ，以獲得較高 之速度’並供使用實際之資料，而不只是提供模擬的測試基準資料（test bench data) 〇
Lin等人所揭示的共驗證方法乃是用來對一使用者設計驗證其連結至 外界I/O裝置時’能否正常操作。該發明之方法首先以軟趙方式產生該使 用者&权第—模型，供顯使用；其姐硬體型式產生代表該使用者設 計-部份之第二模型，該第二模型受該軟體型式之第一模型控制。祥言之， 在該發明中’對雜體型式之第—觀與該硬體型式之第二模型所做的資 料”糾賈；軟幾產生的時鐘信號作同步化。在除錯時該發明則是以 軟體模擬選定的除錯測試點，以硬體加速所選㈣_測·，錄· 該軟體型式之第-模型、該硬體型式之第二模型、及該外界ι/〇裝置間之資 料傳遞’使得軟體型式的第_麵可以取得全部的遞送資料。 在已知技術中，對於包含有使用者設計，並整合一或多數第三人正之 系統要進行十、除錯、檢驗及驗證，其實相當困難。這是因為使用者 〇 通常是從設計-電路行為描述，或設計-IP之觀模麵始著手設計，以 致於在該使用者設計與該IP間之介面，無法完全控繼犯之邏輯行為4 外，要產生以電路行為模擬模型、邏輯閉及内建軟想所界定的使用者設計， 實際上極端困難。在此種系統令，要將系統内的錯誤加以隔離，也相當困 難例如要在聲a或影像輸出資料串流中找出錯誤並非容易，除非使 用者能真的「聽到」或「看到」所產生的可聞或可視之結果。習知設計檢 驗及驗證方法乃是使用-EDA顯環境，職减行為作原型化 (P諭type)或賴化（a趣⑻，崎驗其各齡面功能。其後，習知系 統刀別將该EDA模擬邏輯’在客戶應用參考機板所形成的驗證環境中執 行，以「聽到」或「看到」其可聞或可視之結果。最後的模型化步驟則是 6 200928837 將》亥邏輯，根據元成品階段之電氣規格，納入到包裝完的電子裝置。在今 傳統設計檢驗及驗證方法下’例如一聲音或影像解碼器如果因為使用者= 计上有邏輯、步驟或軟體化方面的錯誤，而產生錯誤行為的輸出信號該 ，輸出將表現在非預期的聲音或顯示行為上。在-複雜的系統中，^預期: 行為可能是因邏輯錯誤、步驟錯誤或軟體程式化上的錯誤導致因而極難 加以診斷及隔離，無論在該EDA模擬環境中或在該應用參考機板環境中， 均是如此。因此，目前亟需有一種設計檢驗及驗證方法，以及其相應之工 具，可以供使用者：（1)直接將其EDA原型化模擬步驟整合到其印刷電路 板（PCB)原型中’⑵迅速隔離或修正設計上的錯誤，及⑴可在一整 合環射迅速檢驗驗證其PCB·。事實上，龍斯嫌及驗證方法 可以提供給使用者一種高產率’由設計驗證到系統驗證的端對端解決方案。 【發明内容】 本發明之一實施例提供一種對客戶電子系統設計（ESD )之設計資料， 作漸進式模型化及驗證的方法4亥客戶ESD資料經分割成為多數個階層式 (hierarchical)設計元件HDEi (i=i，2,…，M)，以及其個別之互聯網路 (interconnectingnetworks)及測試基準（testbenches)。該 EDS 資料通常耦 合多數之客戶週邊裝置CPDj (j=1，2, ...，N)，並與之互動，其連結係透過 各客戶週邊裝置之相對應週邊界面端點piTj (j=1，2, ...，N)，而形成相對應 之互聯階層式系統元件HSEk (k=l，2, .··，〇)’各階層式系統元件間依據一 預没之階層式結構化功能驗證規格，而產生互動。該階層式系統元件HSEk 另形成多數之祕階層SHLm (m=l，2, "”p)。根據本發明之-實施例，本 發明之方法包括： (a) 供一可重新程式規劃邏輯裝置（㈣化device， RPLD)，包含（i) 一 RPLD介面，用以建構及程式化該rpld，及（u) 可程式規劃外部介面PXIFj (j=q，2， ，N)，分別連結到該piTj (】=1， 2, ...,Ν)； 200928837 ㈦提供-模擬軟趙工具，該類工具可⑴讀取紐計資料；⑻ 模擬及（III)檢驗各該HDEi及其相關之各該測試用基準； 、（C)透過該肌时面解除全部之PXIFj，並對各個經解除之欣的⑴ . __PXIFk具有醜連結之HDEi，及（ii)對制試基準附加激 勵（stimulus)及回應（response) ’以形成可反映該相對應cpDk之互 動行為之附加測試基準；及 (ci)以下述方式漸進的檢驗及驗證全部HSEfc: dl)找到一組候選HSE，該HSE尚未經檢驗及驗證，且不互聯到在 一尚未經檢驗及驗證之較低系統階層中的其他HSE ; ❹ d2)對該域選脱之各元素，及與其姆應之階層錢計元件及 客戶週邊裝置，一同進行檢驗及驗證；及 d3)重複上述步驟出及扣，直到該組邢匕（k=1，2，…,〇)中所有元 素均根據其功能性驗證規格，以當時已完成之j^PLD原型，完成 檢驗及驗證為止。 如果一候選HSE元素僅包含一 HDE，則對該候選HSE元素之檢驗及 驗證另包括：以該模擬軟體及其各別之測試基準，檢驗該之步驟。其 後，本發明之方法透過建構及程式化該RPLD之方式，將已經檢驗之 © 轉換成在該RPLD中之一相對應程式化階層式元件。本發明之方法嗣後將 所有經程式化之階層式元件，依據其個別之互聯網路，在該加以定 位及劃定路徑。 如果一候選HSE元素包括一 HDE及其耦合之CPD，則對該候選HSE 元素之驗證另包括： d21)以該模擬軟體及其個別之附加測試基準檢驗該。其後，本 發明之方法以建構及程式化該RPLD之方式，將已經檢驗之 HDE轉換成一在該RPLD中之相對應程式化階層式元件。本發 明之方法嗣後將全部經程式化之階層化元件，依據其個別之互 動網路，在該RPLD上加以定位及劃定路徑。 200928837 d22)移除各該附加測試基準，並透過該rpld介面致能一與該搞合 之CPD相對應之PXIF ;及 ' d23 )驗證該功能性驗證規格令，對應到該RPLD之部份，及該CPDj * (·Η，2,…，N)中，對應到該經致能之PXIF之更新名單之部份。 在進行漸進式檢驗及驗證時，所有的常是在該系統階層中，由 下向上處理至其根部。如果在檢驗及驗證中偵測到錯誤，則本發明之方法 暫時轉而對該HSEk以向該系統階層之下方處理至葉部之方式，進行檢驗及 驗證’直到在該ESD中造成該偵得錯誤之問題已經發現，並經修正為止。 在本發明一實施例令，該方法係監視該HSEk之電路行為，並在該ESd中， ® 對應於該HSEki SHLk層，插入一數量之錯誤偵測器，並設立一隔離區 (quarantine area)，以備後來修正問題之用。 為提高以該模擬軟體原型化及驗證該組候選HSE之成功率，本發明之 方法乃找到一組輸入/輸出信號並無重疊之階層系統元素（稱為「平行階層 系統元素」）。本發明之方法嗣以該模擬軟體對這些平行階層系統元素同時 進行平行之檢驗及驗證。 在檢驗中之階層系統元件中，如果輸入信號中含有一已程式化之階 層元素所產生之信號，則本發明之方法將自該已程式化之階層元素取樣該 © 信號，然後將該信號值供給該模擬軟體。透過這種方式，本發明之方法可 實現一以軟硬體共同進行模擬之複合式原型化方法，而可大大提昇其原型 化之產率。有限邏輯（fmitel〇gic)與硬體傳輸延遲（pr〇pagati〇ndeiay)可 能導致從該已程式化之階層元素取樣到錯誤之信號。因此，本發明之方法 乃在轉換一經驗證之HDE成為其相對應之已程式化之階層元素時，在其輸 入信號經過任何改變之後’程式化該RPLD，以提供一輸出資料備妥（〇utput data ready)信號’作為該已程式化之階層元素之輸出信號，用來表示該輸 出信號已經驗證之狀態。本發明之方法嗣依據該輪出資料備妥之信號狀 態’有條件取樣該信號。 如果客戶已經擁有一客戶RPLD ,則本發明之方法即包括以程式化方 9 200928837 式： a) 將該RPLD介面插入及構裝入該客戶rplD ; b) 將該PXIFj (j=1，2，...，N)分別插入及構裝入該客戶RPLD ;及 ' c)將其連結到該piTj ，藉此達成降低該之成本。 在本發明方法之一更特定之實例中，該RPLD介面包括一組由向量產 生器、構裝介面、錯誤偵測器及錯誤警示組成之元件。 如果客戶已經擁有一測試樣型產器及一客户模擬軟體工具，而有能力 模擬及檢驗該階層式設計元素，則本發明之方法僅提供一向量產生工具， 作為該客戶模擬軟體及該測試樣型產生器之介面，以與該設計資料在一功 ® 阳層上進行互動’藉此降低該測試樣型產生器及該測試軟體工具的成本。 依據本發明之一實施例，該向量產生工具包括一組由可構裝模擬器介 面，一可構裝測試樣型產生器，一錯誤偵測器及一錯誤分析器所組成之元 件。 根據本發明之一實施例，該RPLD為一現場可程式規劃閘陣列（field programmable gate array-FPGA)之可程式規劃互聯陣列。 上述及其他本發明及其各種實施例之作法，對在該領域具有通常知識 之人士而言’均可透過以下發明之詳細說明而更形明瞭。 〇 為更充分說明本發明之各種實施例，請參考所附之圖式。不過，圖式 之目的僅供例示之用，並非用來限制本發明之範圍。 【實施方式】 本發明之專利說明書及其囷式僅在說明本發明一種或多種目前之較佳 實施例，以及某些例示性之選用性特徵及替代性實例。專利說明書及圖式 乃是用來說明，因此不得用以限制本發明之範圍。也因此，在閱讀本案之 說明後，習於斯藝之人士均可作出各種變化、修正及替代。該等變化、修 正及替代均應屬於本發明之專利範圍以内。 第1圖顯示本發明之最終目標，亦即一經檢驗及驗證之客戶電子系統 200928837 原型（10)，該原型（10)包括一數量互相耗合之客戶既存週邊裝置（CPD)， 包括 CPD1 ( 12)，CPD2 (14)，CPD3 ( 16)，CPD4 (18)及 CPD5 (20)， k 都在一硬體環境下。第1B圖則顯示本發明之最終目標之副產物，即在一對 « 應於第1A圖之EDA軟體模擬環境中’已經檢驗之客戶電子系統設計(ESD) (200)，但並不包括任何與其客戶週邊裝置直接實體連結。在本說明書中， 「檢驗」（verification)及「驗證」（validation)分別指「在一 EDA軟體模 擬環境下檢驗該ESD」及「在一實體硬體環境下驗證該電子系統原型」。 如第1B圖所示，該電子系統設計（2〇〇)之設計資料，乃是分割成為 數個階層式設計元素（hierarchical design elements，HDE)，包括 HDE! © (22b)，HDE2 (24b) ’ HDE3 (26b)，…，HDE18 (56b)，以及其個別之互 聯網路。在本實例中’共顯示5個系統階層（systemhierarchicallevels， SHL)’ 即 SHL丨（71)，SHL2 (72)，SHL3 (73)，SHL4 (74)及 SHL5 (75)。 其中： SHI^ (71)對應於最低複雜度之閘層次設計。 SHL2 (72)對應於一第一較高複雜度之功能層次設計。 SHL3 (73)對應於一第二較高複雜度之方塊層次設計。 SHU (74)對應於一第三較高複雜度之子系統層次設計。 O SHL5 (75)對應於一最高複雜度之頂層系統層次設計。 因此，自HDEi (22b)到HDE7 (3扑）屬於該系統階層SHL! (71)， 其中例如HDEz (24b)本身即可為一群1〇個互聯之邏輯閘，而hdE5 (30b) 本身即為一群12個正反器，而HDE7 (34b)可為一群12個串接之暫存器。 自HDES (36b)到HDE„ (42b)則屬於該系統階層SHL2 (72)，其中例如 該HDE9 (38b)可為一 12位元對12位元之乘法器，而該HDE" (42b)可 為一 16位元聲音數位類比轉換器（DAC)。由 屬於該系統階層SHU (73)，其中例如該HDEi2 (44b)可為一第三人數位 RF信號處理IP，而該HDE14 (48b)可為一第三人視頻影像改良IPcHDEj6 (52b)與HDE17 (54b)屬於該系統階層SHL4 (74)，其中例如該HDE16 200928837 (52b)可為一 HDD (硬碟機）控制器，而該難口（54b)則可為一影像 顯示控制器。最後，HDE18 (56b)可為-可攜式作業系統（〇s);，位於 ' 最頂層系統階層SHL5 ( 75 )。 ' 作為該階層設計元素間之互聯網路之一例，該HDE〗（22b)及HDE2 (24b)兩者均透過網路信號Sn8及網路信號&互聯至(3你）且成 為其一部份。而在第二例中，(4〇b)及肋知（必）兩者則透過網 路信號Sum4及網路信號S„-M互聯到該hde〗4 (48b)，並成為其一部份。一 般而έ，網路彳§號為雙向，且各別包括多數信號線，可在各該階層設計元 素之間啟動激勵（stimulus)及回應（resp0nse)。因此，在一 eda軟體模 ® 擬環境巾’各珊層設計元件之晴錢可以觀化成為其職基準（test bench) ’並據以進行模擬及檢驗。例如，該網路信號& 9、〜及％ η可以 模型化，成為該12位元對12位元乘法器hdE9 (38b)之測試基準，而據 以模擬及檢驗。在以圖形展示本發明時，各HDE方塊在以一 EDA模擬進 行任何檢驗之前，先以一無填入斜線之方塊表示，但在以一 EDA模擬進行 檢驗之後’即以一填入斜線之方塊圊表示。在此技藝中，電子系統設計（2〇〇) 之6叉计資料可以數種EDA s吾言表不，例如VHDL，Verilog，System C，以 及其他各種語言。因此，一模擬軟體工具必須能夠讀取該設計資料，進行 ❹ 模擬，並檢驗各別之HDE以及其測試基準》在典型之方式下，該模擬軟艘 工具可為循環型（cycle-based) ’事件型（transaction-based)，正規型 (formal-based)，或其結合。以上方式之詳情，可參閱美國專利公開案 2005-114809 號，發明名稱為「Design verification using formal techniques」(使 用正規化技術之設計檢驗），以及美國專利公開案2004-153308號，發明名 稱為「Method and system for design verification using proof-based abstraction」 (使用驗證型抽取方法之設計檢驗方法及系統），其内容可作為本案之參 考。以下僅列出數種上述之模擬軟艘工具：Cadence Design System, Inc.之 「Incisive Simulator」，Synopsys Inc.之「VCS」及 Mentor Graphics Corporation 之「ModelSim」等產品。 12 200928837 對應於本發明將設計資料作階層式分割，納入上述hde以及其各別之 互聯網路’在第1A圖中，該經檢驗及驗證之客戶電子系統原型（10)也在 ‘ 硬體上，實現類似的階層式分割，現分別稱之為階層系統元素（hierarchical * system element ’ HSE) ’但因其耦合之CPD而生之差異，則不在此限。因 此’由 HSE! (22a)到 HSE7 (34a)係代表該 HDE丨（22b)到 HDE7 (34b) 之電子硬體實現方式。而HSE8 (36a)到HSE10 (40a)代表自HDE8 (36b) 到HDE1() (40b)之電子硬體實現方式。不過，HSEll (42a)則代表 (42b)以及其耦合之CPD1 (12)之電子硬體實現方式。與此相似，HSE17 (5½)也代表HDE〗7 (54b)以及其耦合之CPD4 (18)之電子硬體實現方 Ο -X' 式。餘此類推。在該電子系統原型（1〇)中，以將HSEi(22a)與HSE2(24a) 兩者圈在HSEs (36a)以内之方式，來顯示HDE〗（22b)與HDE2 (24b) 兩者形成該HDES (36b)之一部份之事實。與此相似，在該電子系統原型 (10)中’也以將HSE10 (40a)及HSE丨丨（42a)兩者圈入該HSE14 (48a) 之方式，來表示HDE1Q (40b)與HDE„ (42b)兩者形成HDEH (48b)之 一部份之事實。在第1A圖中，所有經程式化之HSE均依照其個別所互聯 之網路’加以定位及劃定路徑。在本發明之圖形展示中，各個HSE方塊在 以EDA模擬及硬體驗證之前，是以虛線表示其邊界，但在以EDA模擬及
© 硬體經過檢驗及驗證之後，則以點-虛線（----）表示其邊界。在第1A 圖中可舉數個CPD為例，說明如下： CPD1 12 :聲音裝置。 CPD2 14 ·两頻（Rp)收發器。 CPD3 16 :硬碟（HDD)機。 CPD4 18 :影像裝置。 CPD5 20 .微處理器單元（mpu)及記憶體。 對此行業之人士而言，成功的硬體驗證有賴於該組HSE能在互相間及 與該CPD ’依據-預設之階層式架構功能驗證規格，產i互動。舉例而言， 該功能驗證規格可能包括如下： " 13 200928837 在該CPD2 ( 14)(例如為一 RF收發器）出現一 RF聲音信號後，該接 收到之聲音彳§號先暫存在CPD3 ( 16)(例如為一硬碟機）中，再以該HDEw . (5你）（例如為一可攜式〇S)處理，並須在2秒鐘以内播放。 ' 在本發明中’該電子系統原型（10)(不包括該數個CPD)可以一可重 新程式規劃邏輯裝置（reprogrammable logic device，RPLD)，例如一可現場 程式規劃閘陣列（field programmable gate array，FPGA )之可程式規劃互聯 陣列’加以實現。該RPLD須具有一 RPLD介面，以利其構裝及程式化。 該RPLD更須具有一數量之可程式規劃外部介面（progj^mabie extemai interface，PXIF)，用以連結到各別之CPD，並可經由其RPLD介面之程式 © 化，加以致能或解除致能。因此，如第iA圖所示： 該 HSE" (42a)具有一 HDE!! (42b)及一 CPD1 (12);該 CPD1 (12) 具有一週邊介面端點（peripheral interface terminal，PIT) PIT! (12a)，連結 至一已致能之PXIF, (13c)。在此狀態下，該已致能之PXIFl (13c)即耦合 該 CPD1 (12)與該 HDE„ (42b)。 該 HSE17 (54a)具有一 HDE17 (54b)及一 CPD4 ( 18);該 CPD4 ( 18) 具有一 PIT4 ( 18a) ’連結到一已致能之PXIF4 (19c)。在此狀態下，該已致 能之PXIF4 (19c)即耦合該 CPD4 (18)與該 HDEn (54b)。 ❹ 該 HSE18 (56a)具有一 HDE18 (56b)及一 CPD5 (20);該 CPD5 (20) 具有一 PITS (20a)，連結到一已致能之PXIF5 (21c>在此狀態下，該已致 能之 PXIF5 (21c)即耦合該 CPD5 (20)與該 HDE18 (56b)。 如上述之本發明之一部份，以CPD1 (12)為例，可見到一 pxiF之狀 態包括以下之條件： (A)僅將PXIF#除致能，則經解除後之pxiFl係以下列圖型表示： (Β)解除PXIF!但在該HDEn (42b)之測試基準附加激勵及回應， 以形成該HDE”（42b)之附加測試基準。此時該附加之激勵及 回應應能反映該CPD1 (12)之互動行為。所得之解除後pxif, 200928837 以下列圖型表示： (C)致能PXIF! ’所得之已致能pxiFi以下列圖型表示： * Φ-+ 利用這種对’本剌可使各HDE在—EDA倾顧觀下，在條 件⑻下開始進行模擬及驗證，即使存在與其麵合之cpD，也不受該cpD 之主要複雜性（major CompHcation)所影響。其後將該hdE程式化成為一 HSE，職PXIF可缝舰能’餅HSE之驢可在齡⑹下與其柄 合之CPD —起進行。制是在—高度複雜之硬賴，如該CPD3 (16)者， 該肋反映該CPD3 (16)絲行為細加雜及喊，在該⑽) 之初始模擬及檢驗程序中，只能得到其粗略之近似值。該粗略之近似值並 不代表-真實問題，因該CPD3 (16)在其檢驗階段也會轉合至該脱丨6 (52a)。
第2A至第8A圖共同顯示在本發明之範圍内，用以在該硬體及該EDA 軟體模擬環境下’同時對該客戶之電子系統設計（2〇〇)及電子系統原型 (10)，進行漸進式檢驗及驗證之方法。 第2A及2B圖共同顯示該硬體及該EDA軟體在未進行任何檢驗及驗 Ο 證前之第-初始狀態。如上所述，此時所有PXIF均在條件⑻下加以解 除（解除後之PXIF, ( 13a)，解除後之pXIF2 (15a)，解除後之pxiF3 ( 17a)， 解除後之PXIF4 (19a)及解除後之PXIF5 (21a))，以開始在一 EDA軟體 模擬環境下’對各個HDE進行初始模擬及驗證，而不受其所耦合之CpD 之主要複雜性所影響》請注意，在第2B囷中各HDE方塊均以無填滿斜線 之方塊表示，且第2A圖HSE方塊係以虛線標示其邊界。 第3A及3B圖共同顯示’在該客戶電子系統設計（2〇〇)之系統階層 （71) ’即最底階層之檢驗及驗證完成後，該硬體及該EDA軟體程序 之第二狀態。在此’自該HDE】（22b)至删7 (34b)及其各別之測試基 15 200928837 準，均已經使用一模擬軟體工具作過模擬及檢驗。質言之，以一 HDE3(26b) 之測試基準模型化網路信號S3-9，及以該HDE7 (34b)之測試標準模型化網 * 路信號 S7-11。HDEi(22b)到 HDE7 (34b)之個別網路信號 S 丨 _8、S2-8、S3_9、 - 、S5_10、S6M 丨、s7-n 均互相不重疊。因此使得 HDE, ( 22b )到 HDE7 ( 34b ) 均為有效之平行HDE。如有必要，則可利用一模擬軟體工具，在一多重處 理環境下’同時對HDE】（22b)到HDE7 (34b)進行模擬及驗證，以提高 原型化之產率。其後，建構及程式化HDE, (22b)至HDE7 (34b)，在一 RPLD上將其定位到HSEi (22a)至HSE7 (34a)，並劃定其路徑。
第4A及4B圓共同顯示該硬體及該EDA軟體，在完成該客戶電子系 ® 統設計（2〇〇)之一較高系統階層SHL2 (72)之檢驗及驗證程序後之第三 狀態。在此’該HDE8 (36b)至HDE„ (42b)以及其各別之測試基準，均 已經以一模擬軟體工具加以模擬及檢驗。進一步說明··以該HDE8 (36b) 之一測試基準模型化網路信號、S2.8、S8-D。以該HDE9 (38b)之一測 試基準模型化網路信號S3_9、S4-9、S9·丨3。自HDE8 (36b)到HDE„ (42b) 之各別網路信號（Si_8、S2-8、S8-13、S3-9、S4-9、S9-I3 ' S5-l〇、Sfio、S10*14、S7.ll、 Sii-u)均互相不重曼》結果使得HDEe (36b)到HDE" (42b)均為有效之 平行HDE。如有需要，可以一模擬軟體工具，在一多重處理環境下，同時 〇 進行HDEe (36b)至HDEu (42b)的模擬及檢驗，以提高原型化之產率。 其後，將HDE8 (36b)至HDEn (42b)加以建構及程式化，在一 RPLD上 定位到HSEe (36a)至HSEn (42a)，並劃定其路徑。在第4A圖中，該經 檢驗之HDEu (42b)係透過一已致能之ΡΧΠ^ (13c) ’在條件c下，透過 一 PIT丨（12a)耦合到該CPD1 (12) ’。而在第3A圖中，該未經檢驗之 HDEn (42b)則是透過一未致能之PXIFi (13a)，在條件B下，透過該piTj (42b)而與該CPD1 (12)隔離。意謂如前所述，在對HDE31 (42b)進行 模擬及檢驗時，該HDE„ (42b)之測試基準已經附加激勵及回應，以形成 該HDE”（42b)之已附加測式基準，而所附加之激勵及回應則反映該cpDl (12)之互動行為。在檢驗成功之後，經過檢驗之HDE„(42b)將在一 rplD 200928837 上作建構及减彳b。碰，㈣該RPLD介面㈣加之麟基轉除。並以 程式化致能該PXIF,(成為條件〇最後，對應於雜式化肌〇之功能 驗證規格，以及該CPD中對應於已致能ρχπ7之更新名單之部份，即已完 成檢驗。 第4C、4D及4E圖共同顯示本發明結合硬體及EDA軟體模擬之複合 式原型化步驟中，檢驗該HDE10 (40b)時，處於該硬體及該EDA軟體模 擬程序第二狀態與地三狀態間之情形。 如第4C、4D圖所示，該模擬中扭^1〇 (4〇b)自hj)^ (3〇b)接收其 網路信號S5_1G，該HDEs (30b)已經檢驗，並程式化成rpld硬體上之一 © HSE5 (30a)。與此相似，其他網路信號S6_10也由HDE6 (32b)收到，該 HDE6 (32b)也已經檢驗，並程式化成处以）硬體上之一 HSE6 (32&)。因 此’該HDE1G (40b)之測試基準中，與該網路信號&七連結之部份，即可 透過由該已經程式化之HSE5 (3〇a)硬體，以即時（reaMime)取樣該網路 信號Syo之方式取得。該網路信號S5_1G在該模擬軟體中之值，即可實現一 結合硬體及軟體模擬之複合原型化程序，而提高原型化之產率（因有硬體 加速）。而該原型化之產率提高（與純以軟體模擬比較），更會隨該電子系 統原型（10)在硬艎整合方面之進步發展而相應增加。在此種硬體整合之 Φ 程度下，純以軟體模擬即使利用更高度性能之電腦來執行，其產率仍受到 限制。與此相似，HDEm (40b)之測試基準中，與該網路信號心丨❹連結之 部份，也可以從該已程式化之HSE6 (32a)硬體中，取樣該網路信號§6_丨〇 而取得。該網路信號Se-u)之值並提供給該模擬軟體。所得之複合式模擬環 境顯示於第4E圖》其中模擬中之HDE10 ( 40b )經由資料通道Dp5.1〇 ( 80b )， 自該HSE5 (30a)收到網路信號S5_1() ’並經由資料通道dp6_w (82b)，自 HSE6 (32a)收到網路信號S6.丨〇。 為避免該模擬軟體因為邏輯上及硬體傳輸延遲而自HSE5(30a)或HSE6 (32a)取樣到假硬體信號’該HSE均另經程式化，以提供「輸出資料備妥」 (data ready)信號 ODR5 (80a)及 ODR^ (82a)。該 HSE5 (30a)之 ODR5 17 200928837 (80a)表示其輸出網路信號心⑽，在其輸入信號經過任何改變後之驗證狀 態。該模擬軟體嗣另又依據該〇DR5 (80a)之狀態，透過該dp5-1G (8〇b), 有條件的對該網路信號S5_1G取樣。與此相似，該η% ( 32a )之ODR6 ( 82a ) - 表不其輸入信號經過任何改變後，產生之輸出網路信號之驗證狀態。而該 模擬軟體嗣亦依據該ODR6 (82a)之狀態，透過該Dp6 1G (82b)資料通道， 有條件的對該網路信號S^o取樣。其他可供上述在該硬體及該EDA軟艘之 處理程序之第二狀態與第三狀態間，作複合式模型化處理之，係包括 HDE8 (36b)、HDE9 (38b)及 HDE„ (42b)。 第5A圖及第5B圖共同顯示在完成對客戶電子系統設計2〇〇，進行一 ® 較高系統階層SHL3 ( 73 )之檢驗及驗證後，該硬體及該EDA軟體程序之 第四狀態。在此，該HDEu (44b)至HDE1S (50b)，以及其各別之測試基 準，均已以一模擬軟體工具進行過模擬及檢驗。如有必要，自(44b) 到HDE15 (50b)可以利用一模擬軟體工具，在一多重處理環境下同時進行 模擬及檢驗’以提高該模型化之產率。其後，自 均經建構及程式化’定位到該RPLD上之HSE12 (44a)至HSE15 (50a)， 並劃定路徑。在模擬及檢驗該HDEu (44b)之期間，該HDE12 (44b)之 測試基準已經附加激勵及回應，以形成該hdEi2 (44b)之附加測試基準。 Ο 該附加之激勵及回應反映該CPD2 (14)之互動行為。在檢驗成功之後，該 經檢驗之HDEu (44b)即在一 RPLD上加以建構及程式化。其後將該附加 之測試基準移除，並透過該RPLD介面將該PXIF2以程式化方式致能（成 為條件C)。最後，該功能性驗證規格中，對應於該程式化之rpld之部份， 以及該CPD中相對應於已致動pxif之更新名單之部份，均已經驗證。該 HDE中’適合在該第三狀態與該第四狀態之間，以該硬體及該EDA軟體作 複合原型化處理之HDE，包括HDEi2 (桃）、HDE]3 ( 46b )及HDE丨4 ( 48b )。 第6A圖及第6B圖共同顯示在完成對客戶電子系統設計200，進行一 較高系統階層SHL4 (74)之檢驗及驗證後’該硬體及該EDA軟體程序之 第五狀態。在此’該HDE丨6 (52b)至HDE17 (54b)，以及其各別之測試基 200928837 準，均已經以一模擬軟韹工具進行過模擬及檢驗。如有必要，自 到HDEn (54b)可利用一模擬軟體工具，在一多重處理環境下，同時進行 模擬及檢驗，以提咼該模型化之產率。其後，自至 - 均以一 加以建構及程式化，定位到該RPLD之HSE16(52a)至HSE17 (54a) ’並劃定路徑。在模擬及檢驗該( 5扑）之期間，該( 5北） 之測試基準已經附加激勵及回應，而形成該之附加測試基準。 該附加之激勵及回應反映該〇>〇4 ( 18)之互動行為。在檢驗成功之後，該 經檢驗之HDEn (54b)即在一 rpld上加以建構及程式化。其後將該附加 之測試基準移除，並透過該RPLD介面將該PXIF4以程式化方式致能（成 © 祕件〇。最後，該魏性驗證規格巾，對應於該已程式化之RPLD之部 伤，以及5亥CPD中，對應於已致動pxif之更新名單之部份，均已經驗證。 該HDE中，適合在該第四狀態與該第五狀態之間，以該硬體及該EDA軟 體作複合原型化處理之HDE ’包括HDEI6 (52b)及HDE17 (454b)。 第7A到7G圖共同顯示本發明在檢驗一 HSEi2 (44a)，進行錯誤偵測 及問題解決，而其CPD2 (14)(例如為一 Rp收發器）之ρχιρ2 (i5c)已 經致能時，該硬體及該EDA軟體處理程序在第三狀態與第四狀態之間時之 情形。在SHLi2 (73)層驗證該HSE!2 (44a)時，產生一錯誤，而該錯誤 ® 明顯與經由該HSEl2 (44a)及HSE11 (42a)之聲音資料接收及播放有關。
請注意’該HSEu^a)乃是透過一已致能pXI]p2( 15c)麵合到CpD2( 14)， 而HSE„ (42a)則是透過一己致能PXiFl (13c)而耦合到CpD1 〇2)(聲 音裝置）。為要在該電子系統設計200中正確找到該錯誤來源，乃將一錯誤 偵測器（100)以程式化該RPLD之方式，插入在HSE]2 (44a)之内。另將 一第二錯誤偵測器（102) ’也以程式化該rpld之方式插入到HSEn (42心 之内。均如第7A圖所示。在第7B圓中，經過進一步之驗證程序後，錯誤 偵測器（100)在HSE】2 (44a)中並未偵測到任何錯誤，因此乃將錯誤偵測 器（100)以程式化該RPLD之方式加以移除。另一方面，因該錯誤偵測器 (102)在HSEn(42a)之中谓測到錯誤，故而在位於SHL2(72)層之H 200928837 (42a)中建立一留置區（quaraminearea)(12〇)，其方式也是以程式化該 RPLD為之，以精確標示該錯誤來源之位置。在第7C圖中，又經過進一步 驗s登活動，以該錯誤偵測器（1〇2)對該留置區（12〇)分析後，在最底層 • SHLi (71)之HSE7 (34a)内發現一問題。因此乃在HSe7 (34a)中加入 另一錯誤偵測器（1〇4)，並建立另一留置區（122)，以直接指明該問題之 精確位置。由於該問題最終仍位在該電子系統設計（2〇〇)中，第7D圖及 第7E圖即共同顯示一暫時退回到該EDA軟體模擬環境，以解決該問題之 狀態。在第7D圖中，該CPD1 (12)乃是透過該未致能之ρχπ^ (I3a)， 在條件B下解除與該HDEn (42b)之耦合，以供其以一相對應之附加測試 © 基準作軟體模擬。而在第7E圖中，該HDE7 (34b)内之問題已經在SHL, (71)層中修正完成後，該HOE? (34b)與該HDE„ (42b)均已經重行模 擬及重行檢驗。第7F圖即顯示其後該HSEU (42a)在SHL2 (72)之重行 驗證，其中一再致能之ΡΧΠ^ (13c)在該錯誤偵測器（1〇2)存在下，耦合 該CPD1 (12)。由於已經找不到其他錯誤，故將錯誤偵測器（1〇2)移除。 第7G圖即顯示在SHU (73)已驗證成功之HSEi2 (44a)以及CPD2 (14) (RF收發器）之再致能ρχπ：2 (15c)。 第8A圖及第8B圖共同顯示在完成對客戶電子系統設計2〇〇，進行一 Ο 較咼系統階層SHLS ( 75 )之檢驗及驗證後，該硬體及該EDA軟體程序之 第六狀態。在此，該HDE1S (56b)及其測試基準，均已經以一模擬軟體·工 具進行過模擬及檢驗。其後，將HDE】8 (56b)建構及程式化，定位到 上之一 HSE】8 (56a)而，並劃定路徑。在模擬及檢驗該即£18 (56b)之期 間，該HDE1S (56b)之測試基準已經附加激勵及回應，形成該(5你） 之附加測試基準。該附加之激勵及回應反映該CPD5 (2〇)之互動行為。在 檢驗成功之後，該經檢驗之HDE〗8 (56b)即在該rpld上加以建構及程式 化。其後將該附加之測試基準移除，並透過該RpLD介面將該ρχπ?2以程 式化方式致能（成為條件C)。最後，依據該功能性驗證規格驗證該電子系 統原型（10)，亦即，在該PRLD所建立之原型，可望成為最終產品階段已 20 200928837 包裝之產物。該HDE適合以該硬體及該EDA軟體，在該第五狀態與該第 六狀態間，作複合原型化處理。由於該CPD5 (20)(微處理單元及記憶體） 在驗證過程令是最後最後致能，但在許多情形下，驗證一複雜之多媒體裝 * 置CPD(例如該CPD1 (丨2)之聲音裝置）具有高度獨特性。故該CPD5 (20) (微處理單元及記憶體）也須加以致能，以供使用該CPD5 (2〇)程式化或 播放該CPD1 (12)之聲音裝置，以供驗證。 作為一種概括的說明，本發明已經利用如下之特定系統階層，說明如 上： SHLjQl):閘 © SHL2(72):功能 SHL3 (73):方塊 SHL4 (74):子系統 SHL5 (75) ··系統 對本行業具有相當技藝之人士而言，本發明也可適用在具有其他系統 階層之案例。以下即提出一系列此種其他系統階層之範例： 電晶體、開關、邏輯（AND、0R、XOR)、功能（加法器 '乘法器、 數學邏輯單元（ALU))、行為（功能間之互動）。 〇 在硬體方面，如果客戶已經擁有一客戶RPLD，則只要使用以下步驟， 即可完成使該客戶RPLD可使用在本發明之處理： 1·以私式化方式插入及建構該RPLD介面到該客戶jyjLD β 2.以程式化方摘人錢顧PXIF職客户帆卜並狀㈣連接到該 PIT。 利用上述方式，可以節省該RPLD之成[更詳言之，脑入及建構 RPLD介面之步驟，可包括插人—組由向量產生器建構介面、錯誤侧器 及錯誤警示組成之元件到該客戶中。 而在軟髏方面，對已雜有—職樣财生m模擬及檢驗該 HDE之客戶模擬賴工具之客戶，只要使用町步驟即可完成使該客戶模 21 200928837 擬軟體可以使用在本發明之處理： 提供向量產生工具，作為該客戶模擬軟體及該測試樣型產生器之介 . 面，用以與該設計資料產生功能性互動。 • 湘上述方式，可以節省對綱離型產生器及顧擬軟體X具之成 本。更詳S之，提供該向量產生工具之步驟可包括提供一組由可建構模擬 器介面，可建構測試樣型產生器，錯誤偵測器及錯誤分析器組成之工具。 上述綱巾包含許多特定實例，該特定實例不棚以關本發明範 圍’而只能用來提供對本發明數種目前較佳實施例之說明。對本行業具有 財技藝之人士而言’本發明乃是提供_種具有肢用途之方法，用以漸 進的模擬，原型化及碰—連結到客戶週邊裝置之可程式邏輯裝置之客戶 電子系統設計。在本說明書及圖式中，已經提出多種例示性之實施方式， 各別有其贼之建構方式。對林行業具有通倾藝之人士巾言，本發明 當可以數種其他型式加以實施。對本行業具有通常技藝之人士而言，更可 在不需額外試驗下’達成該其他型式之實施方式。在本專利文件目的下， 本發明之範圍並不僅限於上述酬書中所舉之例示性實施例，_由以下 之申清專利範_界定。任何及所有落人中請專概g之意義及其均等範 圍内之修改’均應視為包含在本發明之精神及範圍内。 ® 【圖式簡單說明】 第1A圖顯不本發明之最終目標，亦即一經客戶檢驗及驗證之電子系統 原型’包括—數量之客户週邊裝置，全部在一硬體環境中； 第1B圖顯示本發明之最終目標之一副產物，即一經客戶檢驗之電子系 統設計，係在一對應於第1A圈之EDA軟體模擬環境中，且不包括其客戶 週邊裝置； 第2A〜8B圖共同顯示本發明在硬體及EDA軟體模擬環境中，一起進 订漸進式檢驗及驗證該客戶電子系統設計及原型之方法，詳言之： 第2A及2B圖共同顯示本發明中，於進行任何檢驗及驗證步驟前，該 22 200928837 硬體及該EDA軟體模擬環境之第一初始狀態； 第3A及3B圖共同顯示本發明中，於完成系統階層第一層之檢驗及驗 證後，該軟體及該EDA軟體模擬環境之第二狀態； • 第4A及4B圖共同顯示本發明中，於完成系統階層第二層之檢驗及驗 證後’該軟體及該EDA軟體模擬環境之第三狀態； 第4C、4D及4E圖共同顯示以本發明對一階層式設計元素HD&0違行 檢驗時’在該硬體及該EDA軟體模擬環境進行到該第二狀態與該第三狀態 間，執行硬體及軟體結合模擬之複合原型化程序之情形。 第5A及5B圖共同顯示本發明中，於完成系統階層第三層之檢驗及殮 ® 證後’該軟體及該EDA軟體模擬環境之第四狀態； 第6A及6B圖共同顯示本發明中，於完成系統階層第四層之檢驗及殮 證後，該軟體及該EDA軟體模擬環境之第五狀態； 第7A到第7G圖共同顯示以本發明對一階層式設計元素HSEi2以〜終 致能之客戶週邊裝置CPD2 (RF收發器）進行檢驗時，在該硬體及該^^ 軟體模鏡境進行到該第三狀態與第四狀態間，執行錯誤細及問題解決 程序之情形》 ' 第8A及8B圖共同顯示本發明中，於完成系統階層第五層之檢驗 〇 證後’該軟體及該EDA軟體模擬環境之第六狀態。 【主要元件符號說明】 10 電子系統原型 24b hde2 12 CPD1 26b hde3 14 CPD2 28b hde4 16 CPD3 30b hde5 18 CPD4 32b hde6 20 CPD5 34b hde7 200 電子系統設計 36b hde8 22b HDEj 38b hde9 23 200928837
40b HDEi〇 50a hse15 42b HDE„ 52a hse16 44b HDE12 54a hse,7 46b hde13 56a hse18 48b HDEj4 12a PITi 50b hde15 14a PIT2 52b HDEj6 16a PIT3 54b hde17 18a PIT4 56b HDEi8 20a PIT5 71 SHLi 13c PXIF! 72 shl2 15c PXIF2 73 shl3 17c PXIF3 74 shl4 19c PXIF4 75 shl5 21c PXIF5 22a HSEj 80a 〇DR5 24a hse2 80b DP5-10 26a hse3 82a ODR6 28a hse4 82b DPe-io 30a hse5 100 錯誤偵測器 32a hse6 102 錯誤偵測器 34a hse7 104 錯誤偵測器 36a hse8 120 留置區 38a hse9 122 留置區 40a HSE,〇 42a HSE„ 44a hse12 46a hse13 48a HSEh 24