TW200908703A - Methods and apparatuses for defective pixel detection and correction - Google Patents

Description

200908703 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於影像處理，更具體說，是有關影像中 缺卩曰像素決定和校正之方法及裝置。 【先前技術】 照相機系統中大量運用了影像感測器，對於影像感 廣j抑來π兒，一個較重要之特性是晝質（c〇smetic q仙Η”）， ί感測器之影像必須是理想而無瑕庇的。然而，由於處理 上的不完美，統計上的偏差等原因，會造成在感測器陣 列中疋數置之像素會有缺陷或者產生一個訊號，其與 準確的像素值之偏差可肉眼辨別出。 因此，有必要為決定和校正影像中之缺陷像素提供 相關方法及裝置。 【發明内容】 i 有鑑於此，本發明提供相應之可對影 素進行_及校正之射。 像 裝置。m—人目的储供—種㈣及校正缺陷像素之 ^衣、，已3.缺陷像素偵測單元獲取偵測像素以 二素，當第一條件及第二條件滿足時決定 谓測像素為缺陷像素；及缺 嶋偵測單元決定之缺陷像素之數值，：中 =:包含_像素及相鄰像素之職區塊之_心，第 〖、描述為至多谓測到一個相鄰像素的值距離該伯測 0758-A33139TWF;MTKl-07-l 〇5 6 200908703 .像素的值在一預設閾值範圍内，以及第二條件描述為除 了偵測出之相鄰像素之外，其餘所有相鄰像素之數值小 於或大於偵測像素之數值。 f 本發明之另一目的係提供一種偵測及校正缺陷像素 ^方法。該方法包含：獲取偵測像素及複數個相鄰像素· =第y條件及第二條件滿足時決定該伯測像素為缺陷像 二:以及校正缺陷像素之數值’其中該缺陷像素位於包 、二偵測像素及相鄰像素之nxn區塊之中心，第—條件描 ，多债測到一個相鄰像素的值距離該偵測像素的： 在一預設閾值範_，以及第二條件描述為除 =相鄰像素之外，其騎有相鄰料之數值小於或大於 偵測像素之數值。 、 測及二達成該等目標，本發明根據上述方法及裝置偵 “ 乂正影像中的缺陷像素以獲取更佳影像。 【實施方式】 發明更本發明的較佳實施例’其目的是使本 伽由:而並非本發明的限制。本發明的保 禮觀圍由後附之權利要求範圍所界定。 下㈣參照第！圖至第ί3圖 、體，關於缺陷像素之_及 :; 述中，介紹具體實施例時 了不的七，，田描 例使得所屬技術領域t星有二'附圖。詳細描述實施 明，並明自衫㈣知識者料實施本發 月之‘神和範圍下，可以實作 7 200908703 -其它的實施例或更改社a ^ 細描述不是限制本發：構，輯及電氣連接。以下的詳 的許多組件本身是農古…了解，在說明書中描述揭示 實體中，或者力㈣，亦可被實作於—或多個 太am&〜 同於說明書描述之形式中。 本1明的貫施例為 及裝置，以於ηχη揭★、/㈢像素偵測和校正提供了方法 則測-或多個缺拜耳格式影像（nxn Bayer卿⑽ , 夕個缺陷像素。在一實施例中，搵徂 測單元及缺陷像素^置。衣置包含有缺陷像素谓 χ早兀。缺陷像素偵測單元獲取偵 冽像素及稷數個相鄰傻去 又貝 時決定㈣測像素ΓΓ 與第二條件滿足 ^g . ”為缺陷像素，其中，該缺陷像素位 於具有偵測及相鄰像音夕 ” F、十·“幻占、素之nxn區塊之中心，該第—條件 二、冽到一個相鄰像素的值距離該偵測像素的 之相；m值範圍内’該第二條件描述為除了偵測出 像素外之所有像素的數值都小於或大於偵測像素 _。缺陷像素校正單元校正由缺陷像素偵測單元決 疋之缺陷像素的數值。 、 第1圖係為本發明實施例之影像訊號處理器（image

Slgnalpr0cess0r，lsp)之示意圖。影像感測器110產生一 基于偵測輸人影像之原始料格式影像（Qdginal Bayer P^ern image)。相對於每一像素儲存紅(R)、綠（G)、藍⑺） 二種色衫值之RGB影像，拜耳格式影像之每一像素含有 僅對應一種色彩成分之資訊，例如G、B或R。第2 A圖 係為一 5x5拜耳格式影像之例子。如第2A圖所示，有綠 〇758-A33139TWF;MTKI-07-105 8 200908703 色G和藍色B像素交錯之g/b列， 像素交錯之R/Gq。因此，料才夂式和綠色G 紅色R、綠色G、誌色B像+ 工〜像大致上就是由 綠色像素數量為红；Uf成的—個馬賽克，其中 色資料比對紅色或該辛片 兩‘。由於人眼對綠 像。 〜色更破感’該陣列能精確地反映影 一般之影像過濾流程之操 f 自上而下地掃产公循眭，、疋人左上角像素開始， ㈣ 衫像陣列。根據要處理之像辛之Μ 選擇以要處理之像素為中 1之像素之色杉， 芸帘、4,. 豕素之恰當之選擇窗（矩形或 辛的其犯、由-/ 弟2Β圖所不的為綠色（G)像 素的㈣遮敝(_幻，以及分別如 ？冢 ,h ^ J又乐儿圖和弟2D圖所 為二色(R)及藍色(B)像素的矩形遮蔽。 舉例來說，拜耳影傻中且亡 辛被if摆PE ’、 “有相同色彩之一組九個像 湖，其中之-像素位於選擇窗中 為要測試之偵測像素，而余下之人個像素會

Xc蛊Γ你本 牛1巧木況，如弟2Β圖所示，若像素 "為象素，則像素Xc為偵測像素而像素G1至G8為 认丄义^ 、擇_也可包含具有同樣色彩之多 於九個或少於九個像素之拜耳影像。 接著缺陷像素债測及校正單元12〇接收原始拜耳格 式影像’在原始拜耳格式影像内決定缺陷像素並藉由校 正偵測出之缺陷像素產生—校正拜耳格式影像（咖⑽⑶

Bayer pattern image)。色彩插補單元⑽插補由缺陷像素 偵測及校正單& 120產生之校正拜耳格式影像，以得到 0758-A33139TWF;MTKJ-07-l 05 9 200908703 '完整色彩影像（complete color image) ’即RGB位圖影像。 每一得到之RGB位圖影像都包含如G、B、R等與三種 色彩成分對應之資訊。該RGB位圖影像接著被伽碼校正 (gamma correction)單元140執行伽瑪校正操作以產生校 正 RGB 位圖影像（corrected RGB bitmap image)，其藉由 RGB 至 YCbCr 轉化單元（RGB to YCbCr transform unit)150更進一步被轉化成YCbCr位圖影像。接著該 YCbCr位圖影像藉由影像編碼器（image encoder) 160被編 碼成編碼位元流（例如，JPEG、MPEG位元流），可被顯示 在如LCD之顯示單元（未圖示）上。 根據本發明一實施例，於原始拜耳格式影像中之所 有缺陷像素可以被偵測及校正以產生具有更高精準度之 校正拜耳格式影像，其為隨後之色彩插補單元（c〇1〇r interpolation unit) 130 準備。 第3圖係為根據本發明對缺陷像素進行摘測及校正 之缺(¾像素偵;1則及权正单元（defective pixel detection and correction unit)300之實施例。缺陷像素偵測及校正單元 300包含缺陷像素偵測單元310以及缺陷像素校正單元 320。下面要描述一些條件可被缺陷像素偵測單元31〇採 用以判斷出s亥偵測像素是否是缺陷像素。缺陷像素债測 單元310獲取一 ηχη區塊之像素陣列，其包含一偵測像 素及複數個相鄰像素’當在特定條件滿足的情況下決定 該偵测像素為缺陷像素。缺陷像素校正單元3 2 〇然後校 正缺陷像素偵測單元310決定之缺陷像素之值。偵測像 075 8-Α3 313 9TWF;MTKI-07-l 05 10 200908703 1 像素及相鄰像素之一塊。請泉 陣列_之中^ f 21〇(XC)位於5x5區塊（像素 鄰像素二= = — 值距離該_像素的值在—預： = ;:個相鄰像素的 二條件描述為：除了内’以及’第 鄰像素之值皆小於二相鄰像素之外的所有相 次八於该偵測像素之值。 r 將參考在和第二條件之不同實施例， 雖然二實綠色⑹像素， 像素之矩形選擇窗中。、、擇出二色⑻像素及藍色⑻ 流程圖。如缺陷像素之實施例之 否為缺陷==第= 素的值在-預::：二相素的值距離該偵測像 該谓測像素之值。-餘相讀素之值皆小於或大於 第5Α圖及第5Β圖係 第-條件及第二條件之像素值顯示滿足本發明 之數值為從〇至1〇23門，貝；:4刀佈。假定一像素 用較亮的If#- & ，且八個相鄰之像素在圖中 意的;St以測像素以較暗的圓表示。需要注 顏色是相同的。ttr::鄰像素與偵測像素的 朿5兄右偵測像素的顏色是綠色， 075 8-A j 313 9TWF;MTKI-07-105 200908703 /那麼選擇的相鄰像素的顏色也 ^ 色是紅色或藍色，那麼選擇;;、色’ *偵測像素的顏 色或藍色。如第…別是紅 相鄰像素作根據它們的像素Γ值來^包素r 诏圖，注意下面的描述>考弟5A和 至多谓測到一個相鄰 滿足弟一及第二條件時， 預設聞值範園内離該偵測像素的值在- 像素之數值小於(如第5B圖了 ===其餘 偵測像素之數值。 一 '' (罘5A圖所不） 由觀察可得，至多偵制糾 .^ 偵_的值在-預設二一 :==_ 鄰像素之外其餘在此區姑冰二 除了偵測出之相 素之一侧，或在/面的相鄰像素都位於偵測像

圖，除了具體來說’請參考第5A 比偵測像# γ 4 “ 有，、餘相鄰像素的數值 除了二加= 值大。請參考第· 測像素的數值Xc減去預1值、例二鄰像素的數值比偵 閾值可以是固定：：要注意的是’該預設 調整的。 也可以由用戶可根據不同的應用來 件及第一條件和第二條件，還介紹了第三條 面描述判之像素。將在下 及第7A-7B圖。$四條件，亚可分別參考第6A'6D圖

弟6A圖係為根據本發明決定第三條件是否滿足G 105 〇758-A33l39TWF；MTKI-〇7. 12 200908703 -像素之方法實施例之流程圖 同於谓測像素XC之像素#綠认A例中，有四個顏色不 個像素係為判斷該_象Γχ二^素Xc周圍，此四 _)或是複雜區域（CC)mpiex area)==滑區域（s_h 圖’當偵測像素Xcg 0像素日士，牛T說，請參考第 β2是被選擇以用於分析偵測像素Xc。，二第：：’ 當谓測像素1為厌像素或B像素時二圖， 與G4被選擇以用於分析辛。’K3 音的赵佶u匕 月冢素Xc 〇當這四個相鄰像 似時，則判定偵測像素I位於平滑區域 的H 測像素&位於複雜區域。如果這樣 、11以决疋，原先被確認為缺陷像素候選（知&ctive =1 candidate)之偵嶋Xc被決定為缺陷像素 、—eectlVepixelandc〇uldbec〇rrected)且可被校正。位於 稷雜區域之偵測像素Xc可以被忽略(ign〇red)，因為這類 偵測像素Xc之偏差报難觀測到。 對於為G像素之债測像素Xc，請參考第6A圖和第 6B圖’可以用下列公式來計算相鄰像素對〇f neighboring pixels)之差值：

Diffl=abs(Rl-R2)；

Diff2=abs(Bl-B2)， 其中abs(Rl-R2)是Ri和R2之間差異的絕對值。 若計算出來的差值Diffi和Diff2的最大值小於預設 閾值Threshold〗，則滿足第三條件。 同樣的，對於偵測像素XC係為r或B像素的情況， 0758-A33139TWF;MTKI-07-105 13 200908703 請參考第6D圖和第叱圖。如第6C圖中所示之m_G4, :個相鄰像素為G像素。第6D圖係為根據本發明判定 弟二條件是否滿足像素之方 程圖。 入戸、 像素G1-G4之最大值及最小值根據下列公式計算： mmg=min(Gl，G2，G3，G4); maxg=max(G]，G2 ,⑺，g4)， 其中min(G1，G2，G3，G4)是像素〇ι_〇4之最小值， 而max(Gl ’ G2，G3 ’ G4)是像素G1_G4之最大值。若 和mmg之差值小於預設間值几㈣· 第三條件。 第7A圖係為根據本發明判定第四條件是否滿足之 :法之實施例之流程圖。要注意的是，第四條件係僅適 =於G像素。在此例中，為每_G像素，第四條件利用 上八個相鄰像素以執行缺陷像素偵測。在—實施例中， 該八個相鄰像素被分成兩個相鄰組，每_組含有四個像 素。八個相鄰像素中離偵測像素Xc較近之四個像素被分 組為第土-相鄰組(neighbormg gr〇up)，而其餘離偵測像素 Xc較遠之像素被分組為第二相鄰組。舉例來說，請參考 第圖，像素⑴至G8被選擇出來做為偵測像素h ，鄰像素，其中像素G1 ’ G2，G3及G4因物貞測像素 c較近而被分進第一相鄰組，而像素G5，G6，及 G8因為離债測像素Xc較遠而被分進第二相鄰组。 分別計算第-和第二相鄰組之平均像素數值。接著根據 〇758-A33139TWF;MTKI-07^105 14 200908703 -平均像素數值來獲取偵測像素Xc之可接受範圍之每 界’例如，上邊界與下邊界。若债測像素Xc之數值赶過 了預計之邊界，偵測像素Xc滿足第四條件。請參考第 7A圖及第7B圖，第一相鄰組像素（G1-G4)之平均值，^己 作Meanl，而第二相鄰組像素（G5-G8)之平均值，記作 Mean2，可以根據下列公式計算而得到：

Mean 1 = (G1 + G2+G3+G4-mm(G 1 ， G2 ， Q3 ， G4)-max(Gl，G2，G3，G4))/2; ^ Mean2=(G5+G6+G7+G8-min(G5 ，G6 ，G7 ， G8)-max(G5 ， G6 ， G7 ， G8))/2

Mean 1 —(G1+G2+G3+G4-min(G 1 5 G2 5 G3 5 G4)-max(Gl 5 G2，G3，G4))/2， 於是，可以決定出Meanl和Mean2之差值Diff。然 後根據下列公式決定上邊界Bound 1與下邊界Bound2 :

Diff=Meanl-Mean2;

Boundl=Meanl+Diff*Threshold3;

Bound2=Mean 1-Diff*Threshold3 » 上邊界Boundl與下邊界Bound2用來產生可接受之 範圍（range)(Boundl，Bound2)。若偵測像素Xc之數值在 Boundl和Bound2所決定範圍之外，則滿足第四條件；否 則’不滿足第四條件。 第8-13圖係描繪了使用上述條件來偵測及校正缺 陷像素之方法之不同實施例。 第8圖係為根據本發明偵測及校正G像素之方法實 0758-A33139TWF;MTKI-07-l 05 15 200908703 -施例之流程圖。 ，同時參考第3圖及第8圖， 之像素陣列，首兵妯杜 圖所不5x5 %2〇)。在步驟S820，執行第弟^牛及弟二條件（步驟 盔曰，目,丨沾 凡仃罘4圖中所示的步驟。若έ士里 谓測像素被確認為是缺陷像素而且：果 f :以=:輸=:==二: tltZlir0 至色來插補=一plxel) ’且其數值不經校正而直接輸出 主已办插補早兀130(步驟S84〇)。 刑囬 及校像素執行缺陷像素偵測 驟第先被獲取(步 ^ S92〇)^,.^ S91〇；；；s^^^^ 驟_和步驟^ 、弟8圖中的步 _〇中，將合執行第以不再贅述。在步 及第1欠J 胃中描繪的步驟。若第一條件 ===:::=_中的否)，像純 Μ 4 其數值不經校正直接輸Μ色彩插 ==H95Q)°M—條件與第二條件的檢驗後， 圓中=4牛第二條件（S93〇)。在步驟S930，執行第6A 圖中所不之步驟，並且請參考第犯圖，像素r】，r2， 〇758-A33139TWF;MTKI-〇7-1〇5 16 200908703 ^B2 ^擇出來做為谓測像素☆之相鄰像素士 ::疋’谓測像素被確認為一缺陷像素並 ：： 像素校正操作（步 j仃缺 色#插姑留-' 及杈正像素破輸出至 ^ 早几以執行進一步操作（895〇)。 被滿足（步驟S9M 士从π、 弟一备、件亚未 像巾纟，㈣縣純確認為非缺陷 S950)/、數值不經校正直接輸出至色彩插補單元（步驟 :測及=:==。像素執行缺陷像素偵 如弟2A圖所示之5χ5 (S1_)°接著，決定是否滿足第Λ件U先 (S1020)。步驟Sl〇 从、”弟一ί卞件 步驟_和步驟心：=作和第8圖中 步驟s_中m 41 此處不再贅述。在 件和第二條二中:V::示描緣之步驟。若第-條 像素被確^ a2 滿足（步驟S1020中的否），偵測 像素被確4麵陷像素且其# )偵和 色彩插補單元(步驟 卞直接輪出至 之後，決疋是否滿足第四條件（ >弟-條件 中，第7A圖中描緣之步驟被執行 ^驟Sl030

圖所示之相鄰像素G1_G8。若 ^擇出如第7B 確認為缺陷像素且對該 j為疋’則_像素被 (S1040)，接著該校正像素：輪出：缺陷像素校正操作 後續操作（步驟SU)5G)。二至色衫插補單元以執行 尹的否），則該偵鄉像素被確切滿足（步心咖 锻雀4非缺陷像素且其數值不 〇y58-A33139TWF;MTKl~〇7-l 05 17 200908703 -經杈正直接輸出至色彩插補單元（步驟S 1050)。 、 第11圖係為根據本發明對G像素執行缺陷像素偵 測及杈正之方法實施例之流程圖。如圖所示，第U圖中 的-些步驟和第9圖中的相似，所以在此僅簡單描述之。 第11圖與第9圖之不同之處在於：更增加了一個決定第 四H否滿足之步驟’其做為檢查該偵測像素是否為 =像素之又一約束。需要注意的是，镇測像素只有在 去:有的i卞件％才被確認為是缺陷像素， 素被確認為是非缺陷像素。 * 陷像素傾測1校:之素或β像素執行缺 仅炙万去貫施例之流程圖。 (步驟=〇2二：所示之5:5之像素陣列會首先被獲取 声員色m牛口弟2C圖或第2D圖所示根據偵測像素之 相鄰像素，接下來，決定是否滿足第一= μ (S122G)。在步驟S122G，如執行第4 H所- 之步驟。若結果為是，則缺㈣各沾轨订弟4圖所不 偵測像素為缺陷像素並=:::單伽 操作(步驟_)。然後該校正像素被輪出丁=像f校正 兀以進行後續處理（步驟sl24〇)。若 〃色衫插補早 二條件其中之一（步驟S1220中的否一條件及第 認為非缺陷像素且其數值* 像素被確 單元（步驟S1040)。 直接輪出至色彩插補 第13圖係為根據本發明對r像 陷像素偵測及校正之方法實施例之流^像素執行缺 °758-A33l39TWF;MTKI-07-105 18 200908703 σ圖所示，5x5之像幸陸,、， 仙〇)。接著，決定是否滿足第及先被獲取（步驟 sl32〇)。步驟阳10及S1320之#:f及弟二條件（步驟 S12】0及S1220之操作相似木Π 12圖中之步驟 滿足（步驟S^n l， 件及第二條件其中之一不 素且立數值不π /否）K貞測像素被確認為非缺陷像 S! 3 5 〇)。檢”里：：直：輸出至色彩插補單元(步驟 第三條件;及在第:條件之後，決定 圖中描繪之步驟，帛6C 執二在弟® G4 t + 冢常 G1 ’ G2，G3 和 白被k擇出來做為债測像★ Xc之相鄰像素。若么士果 勃=杜則則貞測像素被確認為缺陷像素並對該_像素 直:Γ屮像素校正操作（步驟sl34Q)i後該校正像辛被 直接輸出至色彩插補單元以進行後續摔作(Γ: 咖〇)。若該第三條件並未滿足(步驟si33〇^^ =貞測像素會被石雀認為非缺陷像素且其值不經校正)直接 輸出之色彩插補單元（步驟S135〇)。 上面描述用於缺陷像素偵測及校正之實施例，或其 中某些方面或部分，可以邏輯電路，或以程式碼(即指： 等形式具體實現在實體媒介中，如軟碟（fl〇ppy叫7, =D-R〇M’硬碟（harddrive)，或任何其他機器可讀存儲介 貝（machine-readable storage medium)。其中，當程弋碼、皮 載入-機器並被執行時，該機器便成為實“二= 置，其中該機器可為電腦’數位照相機，行動電 ^ 0758-A33139TWF;MTKI-07-105 19 200908703 類似裝置。該搞；+ 一、 送之程式碼，例如'電氣=可應用在—些傳輸介質中傳 式傳輸之傳輸介質。苴中、二電纜’藉由光纖或其他形 被一機器執行時式碼被接收、載入並 當應用在通用處理丨成為貫施本發明之-裝置。 式碼結合處理X。。ί PUrp〇se pr〇cessor)上時，程 (―裝置。 供—類似特定邏輯電路之獨特 例僅_彳舉本發明之實施態樣，以及 χ 技術特徵，並非用來限制本發明之範_。 任何熟悉此技術者可_易 不&狀祀可。 屬於本發明所主張改變或均等性之安排均 專利範圍為準。圍’本發明之權利範圍應以申請 【圖式簡單說明】 第1圖係為本發明實施例之影像處理流程之示意 弟2Α圖係為拜耳格式影像之5χ5陣列之示意圖。 弟2=-2D圖係為拜耳袼式影像之5χ5陣列之採 口之不意圖。 第3圖係為根據本發明之缺陷像素 之實施例之示意圖。 早70 第4圖係為根據本發明之缺陷像素彳貞測及校正方法 之實施例之流程圖。 第5Α-5Β圖係為根據本發明在滿足第一條件與第二 0758-Α33139TWF;MTKI-07-l 05 20 200908703 條賴素值之資料分佈之示意圖。 第6A圖係為楣卢 實施例之流程圖。本㈣決定是否滿足第三條件之 第6C圖係為根據 、曰 條件之5x5陣列之加郫你主月用采决疋疋否滿足第三 平幻之相鄰像素之示意圖。 第6D圖係為根播 方法實施例之流_本發明決定是否滿以三條件之 方二：圖f為根據本發明決定是否滿足第四停件之 方法貝鈀例之流程圖。 ％ 1千之 第7B圖係為根據本 件之5X5樣轉敎相_=^。_足第四條 實施圖為根據本發明為偵測及校正G像素之方法 第9圖係為根據本發明對G像素 及校正方法之實施例之流程圖。 、&像素偵測 第忉圖係為根據本發明對G像 測讀正方法之實施例之流程圖。像素執仃缺陷像素偵 第11圖係為根據本發明對G像辛勃 測及校正之方法實施例之流程圖。素執订缺陷像素偵 第12圖係為根據本發明對&像素 陷像素偵測及校正之方法實施例之流程圖。，、執订缺 第13圖係為根據本發明對R像素 陷像素偵測及校正之方法實施例之流輕圖。素執行缺 0758-A33139TWF；MTKI-07-105 21 200908703 . 【主要元件符號說明】 110 :影像感測器； 120 :缺陷像素偵測及校正單元； 130 :色彩插補單元； 150 : RGB至YCbCr轉換單元； 16 0 .影像編碼， G :綠色像素； R :紅色像素； Γ B :藍色像素；

Xc :偵測像素； 300 :缺陷像素偵測及校正單元； 310 :缺陷像素偵測單元； 320 :缺陷像素校正單元； S810〜840 :步驟； S910〜950 :步驟； S1010〜1050 :步驟； i S1110〜1160 :步驟； S1210〜1240 :步驟； S1310〜1350 :步驟。 0758-A33139TWF;MTKI-07-l 05 22

Claims (1)

1. 200908703 •十、申請專利範圍： 1 · 一種偵測及校正缺陷像素之裝置，包含： ,一缺陷像素_單元，獲取—偵測像素以及複 相鄰像素’當滿足一第一條件及—第二條件時決定該偵 測像素為一缺陷像素；及 、 、 缺fe像素杈正單兀，校正由該缺陷像素偵測 決疋之该缺陷像素之一數值， ^中該缺陷像素係位於包含該制像素及該等相鄰 ，素f —咖區塊之中心，該第—條件描述為至多_ =相鄰像素的值距離該偵測像素的值在一」 =圍内’以及該第二條件描述為除了該侧出之相鄰像 素之數卜值:餘所料_素之數值小於或大於該侦測像 素之】·Γ=範圍第1項所述之恤校正缺陷像 ? 2 ，一中音該第一條件，第二條件及一第二條件 ‘ 中：陷::單元更決定該崎素為- 域。，、弟一條件描述為該偵測像素係位於一平滑區 辛之】圍第2項所述之_及校正缺陷像 驗兮僧像素係位於一平滑區域係藉由檢 決=_像素之數值是否與該等相鄰像素之數值相似而 辛之】·Γ:ί利範圍第3項所述之谓測及校正缺陷像 素之^置，其令㈣測像素係為一綠色像素，該缺陷像象 0758-Α33139TWF；MTKI-07-105 23 200908703 素偵測單元更獲取鄰近該偵測像素之複數個紅色像素之 紅色數值以及獲取鄰近該偵測像素之複數個藍色像素之 i色數值，計算該等獲取之紅色數值之差異做為第一差 值，計算該等獲取之藍色數值之差異做為第二差值，以 及當該第-差值與第二差值之最大值小於—預設間值 日守’決疋該第三條件滿足。 f - 5·如申請專利範圍第3項所述之偵測及校正缺陷像素 之裝置，其中該偵測像素係為一綠色像素，該缺陷像素 早元更根據下面m計算鄰近㈣縣素之紅色 像素之兩個紅色數值之一第一差值： Diffl二abs(Rl-R2)， .其中Ri與112表示該紅色數值，以及該第一差值 匕如係為R1與R2之間差異的絕對值，該缺陷像素備測 早兀更根據下面-第二公式計算鄰近㈣測像素之藍色 像素之兩個藍色數值之一第二差值： Diff2=abs(Bl-B2)， 其中B1肖B2表示該藍色數值，以及該第二差值 歸2係為B!肖b 2之間差異的絕對值，當該計算第 =與第二差值之最大值小於一預設閾值時，該缺陷像素 偵測單元更決定該第三條件滿足。 ” 6.如申請專利範圍第3項所述之_及校正缺陷像 參之裝置’其中該偵測像素係為—紅色像素或—藍色像 :綠Si糊測單元更獲取鄰近該偵測像素之複數 …色像素之綠色數值，決定該等獲取之綠色數值之最 〇758-A33139TWF;MTKI-〇7-l〇5 24 200908703 .小值，決定該等獲取之綠色數值之最大、 大值減去該最小值小於—預 =及當該最 滿足。 謂日守’决疋該第三條件 7·如申請專利範圍第丨項所述之偵 素之裝置’其中當該第-條件及第二條件及缺= = 測單元更決定該缺陷像素= 垃/、中㈣二條件描述為該偵測像素之數值 f ::，圍之外’該可接受範圍係為與該 = 樣顏色之相鄰像素之數值。 I门 利範圍第7項所述之侦測及校正 素之衣置，其中該偵測像素係為一綠色像素。 素利範圍第7項所述之侦測及校正缺陷像 、置〃中該等相鄰像素被分組成_第—組盘—第 二組，該第一組之相鄰像素距離該偵測像素較近ϊ+亥第 -組之相鄰像素距離㈣測像素較遠，該缺陷像/ 更計算該第一組之相鄰像素之一第—平均值，計算該第 一、、且之相鄰像素之一第二平均值，計算該第一平均值盥 ，第二=均值之差值，以及藉由計算該第一平均值與該 第與第—平均值之差值計算出該可接受範圍之—上 界與一下邊界。 10·如申請專利範圍第9項所述之偵測及校正缺陷像 素之裝置’其中該第一平均值係根據下列公式計算·· Meanl=(Gl+G2+G3+G4-min(Gl，G2，G3， G4)-max(Gl，G2，G3，G4))/2 〇758-A33139TWF;MTKI-〇7-l〇5 25 200908703 其中min(Gl，G2, G3 ’ G4)表示該第—組之相鄰像 素數值之最小值，max(Gl，G2，G3，G4)表示該第一組 之相鄰像素數值之最大值，以及該第二平均值係根據下 列公式計算： G7 Mean2=(G5+G6+G7+G8-min(G5 ， G8)-max(G5，G6，G7，G8))/2， ί 其t min(G5，G6，G7，G8)表示該第二組之相鄰像 素數值之最小值，腦X(G5，G6，G7，G8)表示該第二組 之相鄰像素數值之最大值。 11·如申請專利範圍第9項所述之偵測及校正缺陷像 ^裝置，其中該可接受範圍之該上邊界根據下列公式 汁鼻： Boundl=Meanl+Diff*T， 其中該可接受範圍之下邊界根據下列公式計算： Bound2=Meanl-Diff*T， 其中Meanl表示該第一平均值，以红表示該 均值與第二平均值之差值，以 表預設閾值。 辛之利範圍第1項所述之價測及校正缺陷像 素之$置，其中該ηχη區塊係為—Μ之 等相鄰像素為與該_像素相同顏色之人個像素。" 素之置如申利f圍第1項所述之偵測及校正缺陷像 而選擇性地從該咖區塊中獲取之。 像素之顏色 14.如申請專利範圍第1項所述之偵測及校正缺陷像 0758-A33139TWF;MTKI-07-l 05 26 200908703 -素之裝置，其中該nxn區塊係為一拜耳袼式影像之一 素陣列。 m 15‘ —種偵測及校正缺陷像素之方法，包含. 獲取一彳貞測像素及複數個相鄰像素； 當m件及—第二#件滿足料賴彳貞測 為一缺陷像素；以及 ” 才父正该缺陷像素之一數值， 其t該缺陷像素位於—包含該_像素及該等 之-nxn區塊之中心、，該第—條件描述為至多偵測 相鄰像素的值距離㈣測像素的值在—預設間 第f條件描述為除了該細相鄰像素 之數值所有㈣料之數值小於或大於㈣測像素 Μ.如申請專利範圍第15 像素之方法，其中衫㈣心、之㈣及权正缺陷 更包含：节去 、°Λ、/、丨象素為該缺陷像素之步驟 足3士 / 弟—條件及該第二條件及-第三條件、篇 圹汁么兮沾 素為缺像素’以及該第二條# 為逃為則貞測像素係位於—平滑區域。 乐—條件 17. 如申請專利範 像素之方法，其巾該 ：、所叙制及校正缺陷 驗該偵測像素之數值θ、^。位於—平滑區域係藉由檢 決定。 值疋否與該等相鄰像素之數值相似來 18. 如申請專利範 像素之方法，並中&〜 5項所述之偵測及校正缺陷 ”决义該债測像素為該缺陷像素之步驟 〇V58-A33139TWF；MTKI-〇7-l〇5 27 200908703 ^第—條件及該第二條件及一第三條件滿足 為兮伯冽像素為一缺陷像素，以及該第三條件描述 之數值係在-可接受範圍之外，該可接受 取。 ' 、。"偵測像素相同顏色之相鄰像素數值中獲 像素所述之嫌校正缺陷 色選擇性地從該nxn區塊；獲取根據該偵測像素之顏 20.如申請專利範圍第Η頊 像素之方法’其中該ηχη 、：:J測及校正缺陷 素陣列。 為拜耳格式影像之一像 0758-Α3 3139Τ WF;MTKI-〇7-105 28