TW200908703A

TW200908703A - Methods and apparatuses for defective pixel detection and correction

Info

Publication number: TW200908703A
Application number: TW096142675A
Authority: TW
Inventors: Chang-Jung Kao
Original assignee: Mediatek Inc
Priority date: 2007-08-06
Filing date: 2007-11-12
Publication date: 2009-02-16
Also published as: CN101365050A; TWI348859B; US20090040343A1

Description

200908703 九、發明說明：【發明所屬之技術領域】本發明係關於影像處理，更具體說，是有關影像中缺卩曰像素決定和校正之方法及裝置。【先前技術】照相機系統中大量運用了影像感測器，對於影像感廣j抑來π兒，一個較重要之特性是晝質（c〇smetic q仙Η”）， ί感測器之影像必須是理想而無瑕庇的。然而，由於處理上的不完美，統計上的偏差等原因，會造成在感測器陣列中疋數置之像素會有缺陷或者產生一個訊號，其與準確的像素值之偏差可肉眼辨別出。因此，有必要為決定和校正影像中之缺陷像素提供相關方法及裝置。【發明内容】 i 有鑑於此，本發明提供相應之可對影素進行_及校正之射。像裝置。m—人目的储供—種㈣及校正缺陷像素之 ^衣、，已3.缺陷像素偵測單元獲取偵測像素以二素，當第一條件及第二條件滿足時決定谓測像素為缺陷像素；及缺嶋偵測單元決定之缺陷像素之數值，：中 =:包含_像素及相鄰像素之職區塊之_心，第〖、描述為至多谓測到一個相鄰像素的值距離該伯測 0758-A33139TWF;MTKl-07-l 〇5 6 200908703 .像素的值在一預設閾值範圍内，以及第二條件描述為除了偵測出之相鄰像素之外，其餘所有相鄰像素之數值小於或大於偵測像素之數值。 f 本發明之另一目的係提供一種偵測及校正缺陷像素 ^方法。該方法包含：獲取偵測像素及複數個相鄰像素· =第y條件及第二條件滿足時決定該伯測像素為缺陷像二:以及校正缺陷像素之數值’其中該缺陷像素位於包、二偵測像素及相鄰像素之nxn區塊之中心，第—條件描，多债測到一個相鄰像素的值距離該偵測像素的：在一預設閾值範_，以及第二條件描述為除 =相鄰像素之外，其騎有相鄰料之數值小於或大於偵測像素之數值。、測及二達成該等目標，本發明根據上述方法及裝置偵 “ 乂正影像中的缺陷像素以獲取更佳影像。【實施方式】發明更本發明的較佳實施例’其目的是使本伽由:而並非本發明的限制。本發明的保禮觀圍由後附之權利要求範圍所界定。下㈣參照第！圖至第ί3圖、體，關於缺陷像素之_及 :; 述中，介紹具體實施例時了不的七，，田描例使得所屬技術領域t星有二'附圖。詳細描述實施明，並明自衫㈣知識者料實施本發月之‘神和範圍下，可以實作 7 200908703 -其它的實施例或更改社a ^ 細描述不是限制本發：構，輯及電氣連接。以下的詳的許多組件本身是農古…了解，在說明書中描述揭示實體中，或者力㈣，亦可被實作於—或多個太am&〜同於說明書描述之形式中。本1明的貫施例為及裝置，以於ηχη揭★、/㈢像素偵測和校正提供了方法則測-或多個缺拜耳格式影像（nxn Bayer卿⑽ , 夕個缺陷像素。在一實施例中，搵徂測單元及缺陷像素^置。衣置包含有缺陷像素谓 χ早兀。缺陷像素偵測單元獲取偵冽像素及稷數個相鄰傻去又貝時決定㈣測像素ΓΓ 與第二條件滿足 ^g . ”為缺陷像素，其中，該缺陷像素位於具有偵測及相鄰像音夕 ” F、十·“幻占、素之nxn區塊之中心，該第—條件二、冽到一個相鄰像素的值距離該偵測像素的之相；m值範圍内’該第二條件描述為除了偵測出像素外之所有像素的數值都小於或大於偵測像素 _。缺陷像素校正單元校正由缺陷像素偵測單元決疋之缺陷像素的數值。、第1圖係為本發明實施例之影像訊號處理器（image

Slgnalpr0cess0r，lsp)之示意圖。影像感測器110產生一基于偵測輸人影像之原始料格式影像（Qdginal Bayer P^ern image)。相對於每一像素儲存紅(R)、綠（G)、藍⑺）二種色衫值之RGB影像，拜耳格式影像之每一像素含有僅對應一種色彩成分之資訊，例如G、B或R。第2 A圖係為一 5x5拜耳格式影像之例子。如第2A圖所示，有綠〇758-A33139TWF;MTKI-07-105 8 200908703 色G和藍色B像素交錯之g/b列，像素交錯之R/Gq。因此，料才夂式和綠色G 紅色R、綠色G、誌色B像+ 工〜像大致上就是由綠色像素數量為红；Uf成的—個馬賽克，其中色資料比對紅色或該辛片兩‘。由於人眼對綠像。〜色更破感’該陣列能精確地反映影一般之影像過濾流程之操 f 自上而下地掃产公循眭，、疋人左上角像素開始，㈣衫像陣列。根據要處理之像辛之Μ 選擇以要處理之像素為中 1之像素之色杉，芸帘、4,. 豕素之恰當之選擇窗（矩形或辛的其犯、由-/ 弟2Β圖所不的為綠色（G)像素的㈣遮敝(_幻，以及分別如？冢 ,h ^ J又乐儿圖和弟2D圖所為二色(R)及藍色(B)像素的矩形遮蔽。舉例來說，拜耳影傻中且亡辛被if摆PE ’、 “有相同色彩之一組九個像湖，其中之-像素位於選擇窗中為要測試之偵測像素，而余下之人個像素會

Xc蛊Γ你本牛1巧木況，如弟2Β圖所示，若像素 "為象素，則像素Xc為偵測像素而像素G1至G8為认丄义^ 、擇_也可包含具有同樣色彩之多於九個或少於九個像素之拜耳影像。接著缺陷像素债測及校正單元12〇接收原始拜耳格式影像’在原始拜耳格式影像内決定缺陷像素並藉由校正偵測出之缺陷像素產生—校正拜耳格式影像（咖⑽⑶

Bayer pattern image)。色彩插補單元⑽插補由缺陷像素偵測及校正單& 120產生之校正拜耳格式影像，以得到 0758-A33139TWF;MTKJ-07-l 05 9 200908703 '完整色彩影像（complete color image) ’即RGB位圖影像。每一得到之RGB位圖影像都包含如G、B、R等與三種色彩成分對應之資訊。該RGB位圖影像接著被伽碼校正 (gamma correction)單元140執行伽瑪校正操作以產生校正 RGB 位圖影像（corrected RGB bitmap image)，其藉由 RGB 至 YCbCr 轉化單元（RGB to YCbCr transform unit)150更進一步被轉化成YCbCr位圖影像。接著該 YCbCr位圖影像藉由影像編碼器（image encoder) 160被編碼成編碼位元流（例如，JPEG、MPEG位元流），可被顯示在如LCD之顯示單元（未圖示）上。根據本發明一實施例，於原始拜耳格式影像中之所有缺陷像素可以被偵測及校正以產生具有更高精準度之校正拜耳格式影像，其為隨後之色彩插補單元（c〇1〇r interpolation unit) 130 準備。第3圖係為根據本發明對缺陷像素進行摘測及校正之缺(¾像素偵;1則及权正单元（defective pixel detection and correction unit)300之實施例。缺陷像素偵測及校正單元 300包含缺陷像素偵測單元310以及缺陷像素校正單元 320。下面要描述一些條件可被缺陷像素偵測單元31〇採用以判斷出s亥偵測像素是否是缺陷像素。缺陷像素债測單元310獲取一 ηχη區塊之像素陣列，其包含一偵測像素及複數個相鄰像素’當在特定條件滿足的情況下決定該偵测像素為缺陷像素。缺陷像素校正單元3 2 〇然後校正缺陷像素偵測單元310決定之缺陷像素之值。偵測像 075 8-Α3 313 9TWF;MTKI-07-l 05 10 200908703 1 像素及相鄰像素之一塊。請泉陣列_之中^ f 21〇(XC)位於5x5區塊（像素鄰像素二= = — 值距離該_像素的值在—預： = ;:個相鄰像素的二條件描述為：除了内’以及’第鄰像素之值皆小於二相鄰像素之外的所有相次八於该偵測像素之值。 r 將參考在和第二條件之不同實施例，雖然二實綠色⑹像素，像素之矩形選擇窗中。、、擇出二色⑻像素及藍色⑻ 流程圖。如缺陷像素之實施例之否為缺陷==第= 素的值在-預::：二相素的值距離該偵測像該谓測像素之值。-餘相讀素之值皆小於或大於第5Α圖及第5Β圖係第-條件及第二條件之像素值顯示滿足本發明之數值為從〇至1〇23門，貝；:4刀佈。假定一像素用較亮的If#- & ，且八個相鄰之像素在圖中意的;St以測像素以較暗的圓表示。需要注顏色是相同的。ttr::鄰像素與偵測像素的朿5兄右偵測像素的顏色是綠色， 075 8-A j 313 9TWF;MTKI-07-105 200908703 /那麼選擇的相鄰像素的顏色也 ^ 色是紅色或藍色，那麼選擇;;、色’ *偵測像素的顏色或藍色。如第…別是紅相鄰像素作根據它們的像素Γ值來^包素r 诏圖，注意下面的描述>考弟5A和至多谓測到一個相鄰滿足弟一及第二條件時，預設聞值範園内離該偵測像素的值在- 像素之數值小於(如第5B圖了 ===其餘偵測像素之數值。一 '' (罘5A圖所不）由觀察可得，至多偵制糾 .^ 偵_的值在-預設二一 :==_ 鄰像素之外其餘在此區姑冰二除了偵測出之相素之一侧，或在/面的相鄰像素都位於偵測像

圖，除了具體來說’請參考第5A 比偵測像# γ 4 “ 有，、餘相鄰像素的數值除了二加= 值大。請參考第· 測像素的數值Xc減去預1值、例二鄰像素的數值比偵閾值可以是固定：：要注意的是’該預設調整的。也可以由用戶可根據不同的應用來件及第一條件和第二條件，還介紹了第三條面描述判之像素。將在下及第7A-7B圖。$四條件，亚可分別參考第6A'6D圖

弟6A圖係為根據本發明決定第三條件是否滿足G 105 〇758-A33l39TWF；MTKI-〇7. 12 200908703 -像素之方法實施例之流程圖同於谓測像素XC之像素#綠认A例中，有四個顏色不個像素係為判斷該_象Γχ二^素Xc周圍，此四 _)或是複雜區域（CC)mpiex area)==滑區域（s_h 圖’當偵測像素Xcg 0像素日士，牛T說，請參考第 β2是被選擇以用於分析偵測像素Xc。，二第：：’ 當谓測像素1為厌像素或B像素時二圖，與G4被選擇以用於分析辛。’K3 音的赵佶u匕月冢素Xc 〇當這四個相鄰像似時，則判定偵測像素I位於平滑區域的H 測像素&位於複雜區域。如果這樣、11以决疋，原先被確認為缺陷像素候選（知&ctive =1 candidate)之偵嶋Xc被決定為缺陷像素、—eectlVepixelandc〇uldbec〇rrected)且可被校正。位於稷雜區域之偵測像素Xc可以被忽略(ign〇red)，因為這類偵測像素Xc之偏差报難觀測到。對於為G像素之债測像素Xc，請參考第6A圖和第 6B圖’可以用下列公式來計算相鄰像素對〇f neighboring pixels)之差值：

Diffl=abs(Rl-R2)；

Diff2=abs(Bl-B2)，其中abs(Rl-R2)是Ri和R2之間差異的絕對值。若計算出來的差值Diffi和Diff2的最大值小於預設閾值Threshold〗，則滿足第三條件。同樣的，對於偵測像素XC係為r或B像素的情況， 0758-A33139TWF;MTKI-07-105 13 200908703 請參考第6D圖和第叱圖。如第6C圖中所示之m_G4, :個相鄰像素為G像素。第6D圖係為根據本發明判定弟二條件是否滿足像素之方程圖。入戸、像素G1-G4之最大值及最小值根據下列公式計算： mmg=min(Gl，G2，G3，G4); maxg=max(G]，G2 ,⑺，g4)，其中min(G1，G2，G3，G4)是像素〇ι_〇4之最小值，而max(Gl ’ G2，G3 ’ G4)是像素G1_G4之最大值。若和mmg之差值小於預設間值几㈣· 第三條件。第7A圖係為根據本發明判定第四條件是否滿足之 :法之實施例之流程圖。要注意的是，第四條件係僅適 =於G像素。在此例中，為每_G像素，第四條件利用上八個相鄰像素以執行缺陷像素偵測。在—實施例中，該八個相鄰像素被分成兩個相鄰組，每_組含有四個像素。八個相鄰像素中離偵測像素Xc較近之四個像素被分組為第土-相鄰組(neighbormg gr〇up)，而其餘離偵測像素 Xc較遠之像素被分組為第二相鄰組。舉例來說，請參考第圖，像素⑴至G8被選擇出來做為偵測像素h ，鄰像素，其中像素G1 ’ G2，G3及G4因物貞測像素 c較近而被分進第一相鄰組，而像素G5，G6，及 G8因為離债測像素Xc較遠而被分進第二相鄰组。分別計算第-和第二相鄰組之平均像素數值。接著根據〇758-A33139TWF;MTKI-07^105 14 200908703 -平均像素數值來獲取偵測像素Xc之可接受範圍之每界’例如，上邊界與下邊界。若债測像素Xc之數值赶過了預計之邊界，偵測像素Xc滿足第四條件。請參考第 7A圖及第7B圖，第一相鄰組像素（G1-G4)之平均值，^己作Meanl，而第二相鄰組像素（G5-G8)之平均值，記作 Mean2，可以根據下列公式計算而得到：

Mean 1 = (G1 + G2+G3+G4-mm(G 1 ， G2 ， Q3 ， G4)-max(Gl，G2，G3，G4))/2; ^ Mean2=(G5+G6+G7+G8-min(G5 ，G6 ，G7 ， G8)-max(G5 ， G6 ， G7 ， G8))/2

Mean 1 —(G1+G2+G3+G4-min(G 1 5 G2 5 G3 5 G4)-max(Gl 5 G2，G3，G4))/2，於是，可以決定出Meanl和Mean2之差值Diff。然後根據下列公式決定上邊界Bound 1與下邊界Bound2 :

Diff=Meanl-Mean2;

Boundl=Meanl+Diff*Threshold3;

Bound2=Mean 1-Diff*Threshold3 » 上邊界Boundl與下邊界Bound2用來產生可接受之範圍（range)(Boundl，Bound2)。若偵測像素Xc之數值在 Boundl和Bound2所決定範圍之外，則滿足第四條件；否則’不滿足第四條件。第8-13圖係描繪了使用上述條件來偵測及校正缺陷像素之方法之不同實施例。第8圖係為根據本發明偵測及校正G像素之方法實 0758-A33139TWF;MTKI-07-l 05 15 200908703 -施例之流程圖。，同時參考第3圖及第8圖，之像素陣列，首兵妯杜圖所不5x5 %2〇)。在步驟S820，執行第弟^牛及弟二條件（步驟盔曰，目,丨沾凡仃罘4圖中所示的步驟。若έ士里谓測像素被確認為是缺陷像素而且：果 f :以=:輸=:==二: tltZlir0 至色來插補=一plxel) ’且其數值不經校正而直接輸出主已办插補早兀130(步驟S84〇)。刑囬及校像素執行缺陷像素偵測驟第先被獲取(步 ^ S92〇)^,.^ S91〇；；；s^^^^ 驟_和步驟^ 、弟8圖中的步 _〇中，將合執行第以不再贅述。在步及第1欠J 胃中描繪的步驟。若第一條件 ===:::=_中的否)，像純 Μ 4 其數值不經校正直接輸Μ色彩插 ==H95Q)°M—條件與第二條件的檢驗後，圓中=4牛第二條件（S93〇)。在步驟S930，執行第6A 圖中所不之步驟，並且請參考第犯圖，像素r】，r2，〇758-A33139TWF;MTKI-〇7-1〇5 16 200908703 ^B2 ^擇出來做為谓測像素☆之相鄰像素士 ::疋’谓測像素被確認為一缺陷像素並：：像素校正操作（步 j仃缺色#插姑留-' 及杈正像素破輸出至 ^ 早几以執行進一步操作（895〇)。被滿足（步驟S9M 士从π、弟一备、件亚未像巾纟，㈣縣純確認為非缺陷 S950)/、數值不經校正直接輸出至色彩插補單元（步驟 :測及=:==。像素執行缺陷像素偵如弟2A圖所示之5χ5 (S1_)°接著，決定是否滿足第Λ件U先 (S1020)。步驟Sl〇从、”弟一ί卞件步驟_和步驟心：=作和第8圖中步驟s_中m 41 此處不再贅述。在件和第二條二中:V::示描緣之步驟。若第-條像素被確^ a2 滿足（步驟S1020中的否），偵測像素被確4麵陷像素且其# )偵和色彩插補單元(步驟卞直接輪出至之後，決疋是否滿足第四條件（ >弟-條件中，第7A圖中描緣之步驟被執行 ^驟Sl030

圖所示之相鄰像素G1_G8。若 ^擇出如第7B 確認為缺陷像素且對該 j為疋’則_像素被 (S1040)，接著該校正像素：輪出：缺陷像素校正操作後續操作（步驟SU)5G)。二至色衫插補單元以執行尹的否），則該偵鄉像素被確切滿足（步心咖锻雀4非缺陷像素且其數值不〇y58-A33139TWF;MTKl~〇7-l 05 17 200908703 -經杈正直接輸出至色彩插補單元（步驟S 1050)。、第11圖係為根據本發明對G像素執行缺陷像素偵測及杈正之方法實施例之流程圖。如圖所示，第U圖中的-些步驟和第9圖中的相似，所以在此僅簡單描述之。第11圖與第9圖之不同之處在於：更增加了一個決定第四H否滿足之步驟’其做為檢查該偵測像素是否為 =像素之又一約束。需要注意的是，镇測像素只有在去:有的i卞件％才被確認為是缺陷像素，素被確認為是非缺陷像素。 * 陷像素傾測1校:之素或β像素執行缺仅炙万去貫施例之流程圖。 (步驟=〇2二：所示之5:5之像素陣列會首先被獲取声員色m牛口弟2C圖或第2D圖所示根據偵測像素之相鄰像素，接下來，決定是否滿足第一= μ (S122G)。在步驟S122G，如執行第4 H所- 之步驟。若結果為是，則缺㈣各沾轨订弟4圖所不偵測像素為缺陷像素並=:::單伽操作(步驟_)。然後該校正像素被輪出丁=像f校正兀以進行後續處理（步驟sl24〇)。若〃色衫插補早二條件其中之一（步驟S1220中的否一條件及第認為非缺陷像素且其數值* 像素被確單元（步驟S1040)。直接輪出至色彩插補第13圖係為根據本發明對r像陷像素偵測及校正之方法實施例之流^像素執行缺 °758-A33l39TWF;MTKI-07-105 18 200908703 σ圖所示，5x5之像幸陸,、，仙〇)。接著，決定是否滿足第及先被獲取（步驟 sl32〇)。步驟阳10及S1320之#:f及弟二條件（步驟 S12】0及S1220之操作相似木Π 12圖中之步驟滿足（步驟S^n l，件及第二條件其中之一不素且立數值不π /否）K貞測像素被確認為非缺陷像 S! 3 5 〇)。檢”里：：直：輸出至色彩插補單元(步驟第三條件;及在第:條件之後，決定圖中描繪之步驟，帛6C 執二在弟® G4 t + 冢常 G1 ’ G2，G3 和白被k擇出來做為债測像★ Xc之相鄰像素。若么士果勃=杜則則貞測像素被確認為缺陷像素並對該_像素直:Γ屮像素校正操作（步驟sl34Q)i後該校正像辛被直接輸出至色彩插補單元以進行後續摔作(Γ: 咖〇)。若該第三條件並未滿足(步驟si33〇^^ =貞測像素會被石雀認為非缺陷像素且其值不經校正)直接輸出之色彩插補單元（步驟S135〇)。上面描述用於缺陷像素偵測及校正之實施例，或其中某些方面或部分，可以邏輯電路，或以程式碼(即指：等形式具體實現在實體媒介中，如軟碟（fl〇ppy叫7, =D-R〇M’硬碟（harddrive)，或任何其他機器可讀存儲介貝（machine-readable storage medium)。其中，當程弋碼、皮載入-機器並被執行時，該機器便成為實“二= 置，其中該機器可為電腦’數位照相機，行動電 ^ 0758-A33139TWF;MTKI-07-105 19 200908703 類似裝置。該搞；+ 一、送之程式碼，例如'電氣=可應用在—些傳輸介質中傳式傳輸之傳輸介質。苴中、二電纜’藉由光纖或其他形被一機器執行時式碼被接收、載入並當應用在通用處理丨成為貫施本發明之-裝置。式碼結合處理X。。ί PUrp〇se pr〇cessor)上時，程 (―裝置。供—類似特定邏輯電路之獨特例僅_彳舉本發明之實施態樣，以及 χ 技術特徵，並非用來限制本發明之範_。任何熟悉此技術者可_易不&狀祀可。屬於本發明所主張改變或均等性之安排均專利範圍為準。圍’本發明之權利範圍應以申請【圖式簡單說明】第1圖係為本發明實施例之影像處理流程之示意弟2Α圖係為拜耳格式影像之5χ5陣列之示意圖。弟2=-2D圖係為拜耳袼式影像之5χ5陣列之採口之不意圖。第3圖係為根據本發明之缺陷像素之實施例之示意圖。早70 第4圖係為根據本發明之缺陷像素彳貞測及校正方法之實施例之流程圖。第5Α-5Β圖係為根據本發明在滿足第一條件與第二 0758-Α33139TWF;MTKI-07-l 05 20 200908703 條賴素值之資料分佈之示意圖。第6A圖係為楣卢實施例之流程圖。本㈣決定是否滿足第三條件之第6C圖係為根據、曰條件之5x5陣列之加郫你主月用采决疋疋否滿足第三平幻之相鄰像素之示意圖。第6D圖係為根播方法實施例之流_本發明決定是否滿以三條件之方二：圖f為根據本發明決定是否滿足第四停件之方法貝鈀例之流程圖。％ 1千之第7B圖係為根據本件之5X5樣轉敎相_=^。_足第四條實施圖為根據本發明為偵測及校正G像素之方法第9圖係為根據本發明對G像素及校正方法之實施例之流程圖。、&像素偵測第忉圖係為根據本發明對G像測讀正方法之實施例之流程圖。像素執仃缺陷像素偵第11圖係為根據本發明對G像辛勃測及校正之方法實施例之流程圖。素執订缺陷像素偵第12圖係為根據本發明對&像素陷像素偵測及校正之方法實施例之流程圖。，、執订缺第13圖係為根據本發明對R像素陷像素偵測及校正之方法實施例之流輕圖。素執行缺 0758-A33139TWF；MTKI-07-105 21 200908703 . 【主要元件符號說明】 110 :影像感測器； 120 :缺陷像素偵測及校正單元； 130 :色彩插補單元； 150 : RGB至YCbCr轉換單元； 16 0 .影像編碼， G :綠色像素； R :紅色像素； Γ B :藍色像素；

Xc :偵測像素； 300 :缺陷像素偵測及校正單元； 310 :缺陷像素偵測單元； 320 :缺陷像素校正單元； S810〜840 :步驟； S910〜950 :步驟； S1010〜1050 :步驟； i S1110〜1160 :步驟； S1210〜1240 :步驟； S1310〜1350 :步驟。 0758-A33139TWF;MTKI-07-l 05 22

Claims

200908703 •十、申請專利範圍： 1 · 一種偵測及校正缺陷像素之裝置，包含： ,一缺陷像素_單元，獲取—偵測像素以及複相鄰像素’當滿足一第一條件及—第二條件時決定該偵測像素為一缺陷像素；及、、缺fe像素杈正單兀，校正由該缺陷像素偵測決疋之该缺陷像素之一數值， ^中該缺陷像素係位於包含該制像素及該等相鄰，素f —咖區塊之中心，該第—條件描述為至多_ =相鄰像素的值距離該偵測像素的值在一」 =圍内’以及該第二條件描述為除了該侧出之相鄰像素之數卜值:餘所料_素之數值小於或大於該侦測像素之】·Γ=範圍第1項所述之恤校正缺陷像 ? 2 ，一中音該第一條件，第二條件及一第二條件 ‘ 中：陷::單元更決定該崎素為- 域。，、弟一條件描述為該偵測像素係位於一平滑區辛之】圍第2項所述之_及校正缺陷像驗兮僧像素係位於一平滑區域係藉由檢決=_像素之數值是否與該等相鄰像素之數值相似而辛之】·Γ:ί利範圍第3項所述之谓測及校正缺陷像素之^置，其令㈣測像素係為一綠色像素，該缺陷像象 0758-Α33139TWF；MTKI-07-105 23 200908703 素偵測單元更獲取鄰近該偵測像素之複數個紅色像素之紅色數值以及獲取鄰近該偵測像素之複數個藍色像素之 i色數值，計算該等獲取之紅色數值之差異做為第一差值，計算該等獲取之藍色數值之差異做為第二差值，以及當該第-差值與第二差值之最大值小於—預設間值日守’決疋該第三條件滿足。 f - 5·如申請專利範圍第3項所述之偵測及校正缺陷像素之裝置，其中該偵測像素係為一綠色像素，該缺陷像素早元更根據下面m計算鄰近㈣縣素之紅色像素之兩個紅色數值之一第一差值： Diffl二abs(Rl-R2)， .其中Ri與112表示該紅色數值，以及該第一差值匕如係為R1與R2之間差異的絕對值，該缺陷像素備測早兀更根據下面-第二公式計算鄰近㈣測像素之藍色像素之兩個藍色數值之一第二差值： Diff2=abs(Bl-B2)，其中B1肖B2表示該藍色數值，以及該第二差值歸2係為B!肖b 2之間差異的絕對值，當該計算第 =與第二差值之最大值小於一預設閾值時，該缺陷像素偵測單元更決定該第三條件滿足。 ” 6.如申請專利範圍第3項所述之_及校正缺陷像參之裝置’其中該偵測像素係為—紅色像素或—藍色像 :綠Si糊測單元更獲取鄰近該偵測像素之複數 …色像素之綠色數值，決定該等獲取之綠色數值之最〇758-A33139TWF;MTKI-〇7-l〇5 24 200908703 .小值，決定該等獲取之綠色數值之最大、大值減去該最小值小於—預 =及當該最滿足。謂日守’决疋該第三條件 7·如申請專利範圍第丨項所述之偵素之裝置’其中當該第-條件及第二條件及缺= = 測單元更決定該缺陷像素= 垃/、中㈣二條件描述為該偵測像素之數值 f ::，圍之外’該可接受範圍係為與該 = 樣顏色之相鄰像素之數值。 I门利範圍第7項所述之侦測及校正素之衣置，其中該偵測像素係為一綠色像素。素利範圍第7項所述之侦測及校正缺陷像、置〃中該等相鄰像素被分組成_第—組盘—第二組，該第一組之相鄰像素距離該偵測像素較近ϊ+亥第 -組之相鄰像素距離㈣測像素較遠，該缺陷像/ 更計算該第一組之相鄰像素之一第—平均值，計算該第一、、且之相鄰像素之一第二平均值，計算該第一平均值盥，第二=均值之差值，以及藉由計算該第一平均值與該第與第—平均值之差值計算出該可接受範圍之—上界與一下邊界。 10·如申請專利範圍第9項所述之偵測及校正缺陷像素之裝置’其中該第一平均值係根據下列公式計算·· Meanl=(Gl+G2+G3+G4-min(Gl，G2，G3， G4)-max(Gl，G2，G3，G4))/2 〇758-A33139TWF;MTKI-〇7-l〇5 25 200908703 其中min(Gl，G2, G3 ’ G4)表示該第—組之相鄰像素數值之最小值，max(Gl，G2，G3，G4)表示該第一組之相鄰像素數值之最大值，以及該第二平均值係根據下列公式計算： G7 Mean2=(G5+G6+G7+G8-min(G5 ， G8)-max(G5，G6，G7，G8))/2， ί 其t min(G5，G6，G7，G8)表示該第二組之相鄰像素數值之最小值，腦X(G5，G6，G7，G8)表示該第二組之相鄰像素數值之最大值。 11·如申請專利範圍第9項所述之偵測及校正缺陷像 ^裝置，其中該可接受範圍之該上邊界根據下列公式汁鼻： Boundl=Meanl+Diff*T，其中該可接受範圍之下邊界根據下列公式計算： Bound2=Meanl-Diff*T，其中Meanl表示該第一平均值，以红表示該均值與第二平均值之差值，以表預設閾值。辛之利範圍第1項所述之價測及校正缺陷像素之$置，其中該ηχη區塊係為—Μ之等相鄰像素為與該_像素相同顏色之人個像素。" 素之置如申利f圍第1項所述之偵測及校正缺陷像而選擇性地從該咖區塊中獲取之。像素之顏色 14.如申請專利範圍第1項所述之偵測及校正缺陷像 0758-A33139TWF;MTKI-07-l 05 26 200908703 -素之裝置，其中該nxn區塊係為一拜耳袼式影像之一素陣列。 m 15‘ —種偵測及校正缺陷像素之方法，包含. 獲取一彳貞測像素及複數個相鄰像素；當m件及—第二#件滿足料賴彳貞測為一缺陷像素；以及 ” 才父正该缺陷像素之一數值，其t該缺陷像素位於—包含該_像素及該等之-nxn區塊之中心、，該第—條件描述為至多偵測相鄰像素的值距離㈣測像素的值在—預設間第f條件描述為除了該細相鄰像素之數值所有㈣料之數值小於或大於㈣測像素 Μ.如申請專利範圍第15 像素之方法，其中衫㈣心、之㈣及权正缺陷更包含：节去、°Λ、/、丨象素為該缺陷像素之步驟足3士 / 弟—條件及該第二條件及-第三條件、篇圹汁么兮沾素為缺像素’以及該第二條# 為逃為則貞測像素係位於—平滑區域。乐—條件 17. 如申請專利範像素之方法，其巾該：、所叙制及校正缺陷驗該偵測像素之數值θ、^。位於—平滑區域係藉由檢決定。值疋否與該等相鄰像素之數值相似來 18. 如申請專利範像素之方法，並中&〜 5項所述之偵測及校正缺陷 ”决义該债測像素為該缺陷像素之步驟〇V58-A33139TWF；MTKI-〇7-l〇5 27 200908703 ^第—條件及該第二條件及一第三條件滿足為兮伯冽像素為一缺陷像素，以及該第三條件描述之數值係在-可接受範圍之外，該可接受取。 ' 、。"偵測像素相同顏色之相鄰像素數值中獲像素所述之嫌校正缺陷色選擇性地從該nxn區塊；獲取根據該偵測像素之顏 20.如申請專利範圍第Η頊像素之方法’其中該ηχη 、：:J測及校正缺陷素陣列。為拜耳格式影像之一像 0758-Α3 3139Τ WF;MTKI-〇7-105 28