TR201910383T4 - Değişken dielektrik özelliklere sahip bir çevrede dielektrik özelliklerdeki değişimin ölçülmesine yönelik ölçüm cihazı. - Google Patents
Değişken dielektrik özelliklere sahip bir çevrede dielektrik özelliklerdeki değişimin ölçülmesine yönelik ölçüm cihazı. Download PDFInfo
- Publication number
- TR201910383T4 TR201910383T4 TR2019/10383T TR201910383T TR201910383T4 TR 201910383 T4 TR201910383 T4 TR 201910383T4 TR 2019/10383 T TR2019/10383 T TR 2019/10383T TR 201910383 T TR201910383 T TR 201910383T TR 201910383 T4 TR201910383 T4 TR 201910383T4
- Authority
- TR
- Turkey
- Prior art keywords
- signal
- measuring
- dielectric properties
- environment
- quadrature
- Prior art date
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 abstract 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/22—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating capacitance
- G01N27/228—Circuits therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/44—Resins; Plastics; Rubber; Leather
- G01N33/442—Resins; Plastics
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
Mevcut buluş, aşağıdaki unsurları içeren, bir çevrenin dielektrik özelliklerindeki değişimin ölçülmesine yönelik bir ölçüm cihazı (1) ile ilgilidir; ? bir giriş ve çıkış elektrik bağlantısı ile sağlanan bir kapasitif ölçüm devresi, burada ölçüm devresi, çevrede yer alabilen bir veya daha fazla bağlı ölçüm kapasitörünü (4, 5, 6) içerir ve burada ölçüm kapasitörünün (5) kapasitansı, çevrenin dielektrik özelliklerinden etkilenebilir, ? spesifik bir baz frekansı ve spesifik bir sinyal şekline sahip bir birinci elektrik alternatif sinyalinin, ölçüm devresinin giriş ve çıkış bağlantısı arasında uygulanmasına yönelik bir elektrik alternatif sinyal üreteci (2), ? birinci sinyalden ikinci bir elektrik alternatif sinyalinin türetilmesine yönelik bir birinci sinyal işleme aracı (7), burada ikinci sinyal, birinci sinyal ile aynı baz frekansına ve sinyal şekline sahiptir ve birinci sinyale göre fazda 90° kaydırılır, ? ölçüm devresinin çıkış bağlantısı boyunca bir çıkış geriliminin (Uc) eş fazlı bileşeni (I1c) ve dörtlü bileşeninin (Q1c) hesaplanmasına yönelik bir birinci dörtlü belirleme aracı (8), burada birinci sinyal ve ikinci sinyal, referans sinyalleri olarak işlev görür, ? ölçüm devresinin giriş bağlantısı boyunca bir çıkış geriliminin (UL) eş-fazlı bileşeni (I1L) ve dörtlü bileşeninin (Q1L) hesaplanmasına yönelik bir ikinci dörtlü belirleme aracı (9), burada birinci sinyal ve ikinci sinyal, referans sinyalleri olarak işlev görür, ? eş-fazlı bileşenler (I1c, I1L) ve dörtlü bileşenlerin (Q1c, Q1L) bir oranını hesaplamak üzere konfigüre edilen bir hesaplama devresi.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL2015028A NL2015028B1 (nl) | 2015-06-25 | 2015-06-25 | Verbeterde meetinrichting voor het meten van verandering van de diëlektrische eigenschappen in een omgeving met variabele diëlektrische eigenschappen. |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TR201910383T4 true TR201910383T4 (tr) | 2019-08-21 |
Family
ID=53539899
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TR2019/10383T TR201910383T4 (tr) | 2015-06-25 | 2016-06-22 | Değişken dielektrik özelliklere sahip bir çevrede dielektrik özelliklerdeki değişimin ölçülmesine yönelik ölçüm cihazı. |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP3314244B1 (tr) |
DK (1) | DK3314244T3 (tr) |
ES (1) | ES2735141T3 (tr) |
NL (1) | NL2015028B1 (tr) |
TR (1) | TR201910383T4 (tr) |
WO (1) | WO2016209072A1 (tr) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL2018878B1 (nl) * | 2017-05-09 | 2018-11-15 | Kooyen Holding B V | Verbeterde meetinrichting voor het meten van verandering van fysische eigenschappen in een materiaal |
NL2026999B1 (en) * | 2020-11-27 | 2022-07-04 | Isenspro Nv | System and method for measuring condensation and/or advance of corrosion |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19755417C2 (de) * | 1997-12-12 | 1999-11-04 | Fraunhofer Ges Forschung | Auswerteschaltung zur Ermittlung komplexer Impedanzen, Vorrichtung zur Messung komplexer Impedanzen und Verwendung der Vorrichtung |
-
2015
- 2015-06-25 NL NL2015028A patent/NL2015028B1/nl not_active IP Right Cessation
-
2016
- 2016-06-22 EP EP16751365.4A patent/EP3314244B1/en active Active
- 2016-06-22 DK DK16751365.4T patent/DK3314244T3/da active
- 2016-06-22 TR TR2019/10383T patent/TR201910383T4/tr unknown
- 2016-06-22 WO PCT/NL2016/050441 patent/WO2016209072A1/en unknown
- 2016-06-22 ES ES16751365T patent/ES2735141T3/es active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL2015028B1 (nl) | 2017-01-24 |
EP3314244B1 (en) | 2019-05-08 |
WO2016209072A1 (en) | 2016-12-29 |
DK3314244T3 (da) | 2019-07-22 |
EP3314244A1 (en) | 2018-05-02 |
ES2735141T3 (es) | 2019-12-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
WO2014166479A3 (de) | Kapazitiver füllstandssensor | |
WO2014072733A3 (en) | Voltage measurement | |
WO2017050045A1 (zh) | 电容式传感器、电容式传感装置和电子设备 | |
FR2985309B1 (fr) | Capteur de temperature capacitif comprenant deux condensateurs en pont diviseur de tension | |
US10006950B2 (en) | Impedance measurement circuit | |
MX2016011345A (es) | Sonda de voltaje diferencial aislada para fuente de ruido emi. | |
RU2012152546A (ru) | Обнаружение скрытого диэлектрического объекта | |
TR201910383T4 (tr) | Değişken dielektrik özelliklere sahip bir çevrede dielektrik özelliklerdeki değişimin ölçülmesine yönelik ölçüm cihazı. | |
CN107449949B (zh) | 施加直流偏置电压于交流正弦波信号源的装置 | |
EP3798645A4 (en) | CAPACITY MEASURING CIRCUIT, TOUCH DETECTOR AND ELECTRONIC DEVICE | |
JP6331453B2 (ja) | 電圧計測装置および電圧計測方法 | |
Piao et al. | Conditioning circuit for capacitive position sensor with nano-scale precision based on AC excitation principle | |
RU167006U1 (ru) | Измерительный преобразователь переменного напряжения в постоянное | |
MX2015007420A (es) | Metodos y circuitos para medir un elemento de impedancia alta con base en las mediciones de constantes de tiempo. | |
MD591Y (en) | Method for measurement of impedance component | |
MD943Y (ro) | Metodă de măsurare a componentelor impedanţei | |
CN107710002B (zh) | 用于检测高频信号的方法 | |
CN104459336A (zh) | 一种电容屏节点电容测试仪及其测试方法 | |
JP2015122635A5 (tr) | ||
Ihlenfeld et al. | On the nonlinear voltage dependence of passive electronic components | |
RU2013122372A (ru) | Высокочастотный аттенюатор | |
MD859Y (en) | Method for measuring impedance components | |
RU164356U1 (ru) | Устройство для измерения действующего значения переменного напряжения | |
UA110161C2 (uk) | Пристрій для виміру ємності | |
Vyukhin | Analysis of the error of measuring the capacity of semiconductor structures at a high Frequency |