TH9703A - Sliding contactor testing equipment - Google Patents
Sliding contactor testing equipmentInfo
- Publication number
- TH9703A TH9703A TH8901000992A TH8901000992A TH9703A TH 9703 A TH9703 A TH 9703A TH 8901000992 A TH8901000992 A TH 8901000992A TH 8901000992 A TH8901000992 A TH 8901000992A TH 9703 A TH9703 A TH 9703A
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- contact
- stationary
- sliding
- testing equipment
- moving
- Prior art date
Links
Abstract
อุปกรณ์ทดสอบคอนแทคแบบเลื่อน (20) ประกอบด้วยคอนแทคนิ่ง(44) และคอนแทคเคลื่อน (54) ที่เป็นตัวนำไฟฟ้า โดยมีระยะห่าง จากกันน้อยกว่าระยะห่างระหว่างขั้วบน (34) และขั้วล่าง (36) ของชิ้นส่วนที่จะถูกทดสอบดังเช่น คาแปคซีเตอร์ (24) เพียงเล็ก น้อย คอนแทคเคลื่อน (54) จะถูกยึดอยู่ในตำแหน่งโดยสปริงกด (112 ) ส่วนคอนแทคอีกข้างหนึ่งคือ คอนแทคนิ่ง (44) จะอยู่กับที่ (44) และคอนแทคเคลื่อน (54) จะเลื่อนสัมผัสกับพื้นผิว (52,56) ของชิ้นส่วน (24) ที่จะถูกนำเข้าสู่ตำแหน่งทดสอบ (26) ที่อยู่ ระหว่างคอนแทคทั้งสอง อุปกรณ์ทดสอบคอนแทคแบบเลื่อนใช้ชิ้น ส่วนที่มีการเคลื่อนที่น้อยชิ้นและการเคลื่อนที่แบบเลื่อนของ คอนแทคนิ่ง(44)และคอนแทคเคลื่อน(54)สัมผัสกับพื้นผิว(52,56) ก่อให้เกิดความมั่นใจว่าคอนแทคนิ่ง (44) และคอนแทคเคลื่อน (54) จะทะลวงชั้นอ๊อกไซด์ที่ก่อตัวขึ้นที่พื้นผิว (52,56)The sliding contact tester (20) consists of a stationary contact (44) and a movable contact (54) that are electrically conductive and separated by a distance less than the distance between the upper (34) and lower (36) terminals of the part to be tested, much like a capacitor (24). The movable contact (54) is held in place by a compression spring (112), while the other contact, the stationary contact (44), remains stationary (44), and the movable contact (54) slides into contact with the surfaces (52,56) of the part (24) to be brought into the test position (26) located between the two contacts. The sliding contact tester uses few moving parts and the sliding motion of The stationary contact(44) and moving contact(54) make contact with the surface(52,56), ensuring that the stationary contact(44) and moving contact(54) penetrate the oxide layer that forms on the surface(52,56).
Claims (1)
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH9703A true TH9703A (en) | 1991-10-01 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR910000997B1 (en) | Apparatus for regulating position of electronic part | |
| US6937037B2 (en) | Probe card assembly for contacting a device with raised contact elements | |
| GB1499649A (en) | Electronic component testing and extraction tool | |
| US4983909A (en) | Repetitive-switching | |
| US6756798B2 (en) | Contactor assembly for testing ceramic surface mount devices and other electronic components | |
| CN1146730C (en) | Easy-to-use contact device | |
| US20100062662A1 (en) | Electrical connecting apparatus | |
| KR940010258A (en) | Burn-in test jig | |
| CN218974515U (en) | Flip type hand detector for chip test | |
| JPS59632Y2 (en) | Circuit element holding device | |
| SU813559A1 (en) | Contact device | |
| EP3035356B1 (en) | Electrical switches and methods | |
| US6838898B2 (en) | Apparatus and method for testing high current circuit assemblies | |
| JPS6217728Y2 (en) | ||
| EP0387732A3 (en) | Testing device for connector | |
| SU1228310A1 (en) | Connector for grounding equipment | |
| US3971618A (en) | Holding device for measuring the capacity of small electrical components | |
| JP2003185675A (en) | Method and apparatus for extracting electric signal | |
| JP2008151551A (en) | Contact jig for semiconductor device inspection, inspection jig apparatus, and semiconductor device inspection method | |
| JPH0441339Y2 (en) | ||
| KR200236178Y1 (en) | Voltage Controlled Oscillator (VCO) Module Measuring Equipment | |
| RU93010031A (en) | CONTACT DEVICE | |
| JPS6331009Y2 (en) | ||
| SU432701A1 (en) | CONTACT DEVICE | |
| JPH0446222Y2 (en) |