TH75573B - Multi-channel optical spectrum measuring instrument - Google Patents

Multi-channel optical spectrum measuring instrument

Info

Publication number
TH75573B
TH75573B TH1001001004A TH1001001004A TH75573B TH 75573 B TH75573 B TH 75573B TH 1001001004 A TH1001001004 A TH 1001001004A TH 1001001004 A TH1001001004 A TH 1001001004A TH 75573 B TH75573 B TH 75573B
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
spectrum
measure
specimen
points
size
Prior art date
Application number
TH1001001004A
Other languages
Thai (th)
Other versions
TH115487A (en
Inventor
สุตะพันธ์ นายบุญส่ง
อัมฤทธิ์ นายรัฐศาสตร์
สมบูรณ์แก้ว นายอาโมทย์
Original Assignee
นางสาวอรกนก พรรณรักษา
นางสาวอรุณศรี ศรีธนะอิทธิพล
นางสาวอรุณศรี ศรีธนะอิทธิพล นายชาญชัย นีรพัฒนกุล นางสาวอรกนก พรรณรักษา
นายชาญชัย นีรพัฒนกุล
Filing date
Publication date
Application filed by นางสาวอรกนก พรรณรักษา, นางสาวอรุณศรี ศรีธนะอิทธิพล, นางสาวอรุณศรี ศรีธนะอิทธิพล นายชาญชัย นีรพัฒนกุล นางสาวอรกนก พรรณรักษา, นายชาญชัย นีรพัฒนกุล filed Critical นางสาวอรกนก พรรณรักษา
Publication of TH115487A publication Critical patent/TH115487A/en
Publication of TH75573B publication Critical patent/TH75573B/en

Links

Abstract

DC60 สเปกโตรมิเตอร์แบบหลายช่องวัดตามการประดิษฐ์นี้ สามารถใช้วัดสเปกตรัมเชิงแสงจาก หลายจุดวัดบนตัวอย่างชิ้นงานได้อย่างต่อเนื่อง มีความแม่นยำในการวัดสูง และสามารถปรับขนาด ตำแหน่ง หรือจำนวนจุดวัดได้อย่างยืดหยุ่น สิ่งประดิษฐ์นี้ใช้อุปกรณ์เอสแอลเอ็ม (Special light modulator, SLM) ทำหน้าที่เป็นช่องเปิดรับแสง ซึ่งจะยินยอมให้แสงสะท้อนหรือทะลุผ่านจาก ตำแหน่งบนตัวอย่างชิ้นงานที่ต้องการวัดสเปกตรัม สามารถเคลื่อนที่ผ่านไปยังสเปกโตรมิเตอร์เพื่อ ทำหน้าที่วัดสเปกตรัมแสงได้ เมื่อต้องการวัดสเปกตรัมจากหลายจุดวัดบนตัวอย่างชิ้นงาน ก็จะ โปรแกรมการทำงานของอุปกรณ์เอสแอลเอ็ม ให้เปิดช่องรับแสงให้ตรงกับขนาดและตำแหน่งของ จุดวัดบนตัวอย่างชิ้นงานในแต่ละจุดไปเรื่อยๆ เมื่อต้องการวัดสเปกตรัมอย่างต่อเนื่องตามเวลา ก็ สามารถโปรแกรมให้เครื่องมือดังกล่าวทำงานซ้ำไปเรื่อยๆ ได้ ทำให้สิ่งประดิษฐ์นี้สามารถวัด สเปกตรัมแสงจากตำแหน่งต่างๆ ได้ โดยไม่มีการเคลื่อนไหวเชิงกลของอุปกรณ์การวัดหรือการ เลื่อนตำแหน่งตัวอย่างชิ้นงาน จึงทำให้สามารถวัดสเปกตรัมจากจุดต่างๆ ได้อย่างต่อเนื่องและมี ความแม่นยำสูง ลักษณะพิเศษของสิ่งประดิษฐ์นี้ยังประกอบด้วยอุปกรณ์ตรวจสอบตำแหน่งและ ขนาดช่องเปิดรับแสงบนอุปกรณ์เอสแอลเอ็มว่าตรงกับตำแหน่งบนตัวอย่างชิ้นงานหรือไม่ โดยใช้ กล้องรับภาพวางไว้ในตำแหน่ง ที่สามารถมองเห็นช่องเปิดรับแสงบนอุปกรณ์เอสแอลเอ็มและ ตัวอย่างชิ้นงานพร้อมกัน ความสามารถดังกล่าวจะทำให้ผู้สามารถกำหนดตำหน่ง ขนาด และ จำนวนจุดวัดสเปกตรัมบนตัวอย่างชิ้นงานได้อย่างยืดหยุ่น สเปกโตรมิเตอร์แบบหลายช่องวัดตามการประดิษฐ์นี้ สามารถใช้วัดสเปกตรัมเชิงแสงจาก หลายจุดวัดบนตัวอย่างชิ้นงานได้อย่างต่อเนื่อง มีความแม่นยำในการวัดสูง และสามารถปรับขนาด ตำแหน่ง หรือจำนวนจุดวัดได้อย่างยืดหยุ่น สิ่งประดิษฐ์นี้ใช้อุปกรณ์เอสแอลเอ็ม (Special light modulator, SLM) ทำหน้าที่เป็นช่องเปิดรับแสง ซึ่งจะยินยอมให้แสงสะท้อนหรือทุลุผ่านจาก ตำแหน่งบนตัวอย่างชิ้นงานที่ต้องการวัดสเปกตรัม สามารถเคลื่อนที่ผ่านไปยังสเปกโตรมิเตอร์เพื่อ ทำหน้าที่วัดสเปกตรัมแสงได้ เมื่อต้องการวัดสเปกตรัมจากหลายจุดวัดบนตัวอย่างชิ้นงาน ก็จะ โปรแกรมการทำงานของอุปกรณ์เสอแอลเอ็ม ให้เปิดช่องรับแสงให้ตรงกับขนาดและตำแหน่งของ จุดวัดบนตัวอย่างชิ้นงานในแต่ละจุดไปเรื่อยๆ เมื่อต้องการวัดสเปกตรัมอย่างต่อเนื่องตามเวลา ก็ สามารถโปรแกรมให้เครื่องมือดังกล่าวทำงานซ้ำไปเรื่อยๆ ได้ ทำให้สิ่งประดิษฐ์นี้สามารถวัด สเปกตรัมแสงจากตำแหน่งต่างๆ ได้ โดยไม่มีการเคลื่อนไหวเชิงกลของอุปกรณ์การวัดหรือการ เลื่อนตำแหน่งตัวอย่างชิ้นงาน จึงทำให้สามารถวัดสเปกตรัมจากจุดต่างๆ ได้อย่างต่อเนื่องและมี ความแม่นยำสูง ลักษณะพิเศษของสิ่งประดิษฐ์นี้ยังประกอบด้วยอุปกรณ์ตรวจสอบตำแหน่งและ ขนาดช่องเปิดรับแสงบนอุปกรณ์เอสแอลเอ็มว่าตรงกับตำแหน่งบนตัวอย่างชิ้นงานหรือไม่ โดยใช้ กล้องรับภาพวางไว้ในตำแหน่ง ที่สามารถมองเห็นช่องเปิดรับแสงบนอุปกรณ์เอสแอลเอ็มและ ตัวอย่างชิ้นงานพร้อมกัน ความสามารถดังกล่าวจะทำให้ผู้สามารถกำหนดตำหน่ง ขนาด และ จำนวนจุดวัดสเปกตรัมบนตัวอย่างชิ้นงานได้อย่างยืดหยุ่น The DC60 multi-channel spectrometer is measured according to this invention. It can be used to measure the optical spectrum from Multiple points can be measured continuously on the specimen. High measurement accuracy And can adjust the size, position or number of measurement points flexibly. The invention uses a special light modulator (SLM) device that acts as an aperture. Which will allow light to reflect or penetrate from Location on the specimen to be measured spectrum Can be moved through the spectrometer to Serves to measure the light spectrum To measure the spectrum from multiple points on a sample, a SLM device is programmed. Open the aperture to match the size and position of the Measuring points on the specimen at each point and so on To continuously measure the spectrum over time, the instrument can be programmed to repeat itself over and over again, enabling the invention to measure. Light spectrum from different positions without mechanical movement of the measuring device or Move the sample position Thus making it possible to measure the spectrum from different points Has continued and has High accuracy The unique characteristics of this invention also consist of positional devices and The aperture size on the SLM device is the same as the position on the specimen or not by placing the camera in place. That can see the exposure on SLM devices and Simultaneous sample This capability allows the operator to flexibly determine the position, size and number of spectral measurement points on a workpiece sample. A multi-channel spectrometer was measured according to this invention. It can be used to measure the optical spectrum from Multiple points can be measured continuously on the specimen. High measurement accuracy And can adjust the size, position or number of measurement points flexibly. The invention uses a special light modulator (SLM) device that acts as an aperture. Which will allow light to reflect or pass through from Location on the specimen to be measured spectrum Can be moved through the spectrometer to Serves to measure the light spectrum To measure the spectrum from multiple measurement points on a sample, the workpiece is programmed for the amplification of the SLM device. Open the aperture to match the size and position of the Measuring points on the specimen at each point and so on To continuously measure the spectrum over time, the instrument can be programmed to repeat itself over and over again, enabling the invention to measure. Light spectrum from different positions without mechanical movement of the measuring device or Move the sample position Thus making it possible to measure the spectrum from different points Has continued and has High accuracy The unique characteristics of this invention also consist of positional devices and The aperture size on the SLM device is the same as the position on the specimen or not by placing the camera in place. That can see the exposure on SLM devices and Simultaneous sample This capability allows the operator to flexibly determine the position, size and number of spectral measurement points on a workpiece sample.

Claims (1)

1. ข้อถือสิทธฺ์ (ทั้งหมด) ซึ่งจะไม่ปรากฏบนหน้าประกาศโฆษณา :1. Claims (all) which will not appear on the advertisement page :
TH1001001004A 2010-07-05 Multi-channel optical spectrum measuring instrument TH75573B (en)

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TH115487A TH115487A (en) 2012-07-31
TH75573B true TH75573B (en) 2020-04-09

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP4317947A4 (en) FLUORESCENCE MEASURING DEVICE
DK3865850T3 (en) LIGHT SOURCE FOR SPECTROSCOPIC ANALYSIS, SPECTROSCOPIC ANALYSIS DEVICE AND SPECTROSCOPIC ANALYSIS PROCEDURE
EP4036537A4 (en) MEASURING DEVICE
JP2017516075A5 (en)
EP4209761C0 (en) MEASURING DEVICE
DK3523029T3 (en) PROCEDURE FOR TESTING A SAMPLE
EP4102175A4 (en) POSITION MEASUREMENT DEVICE
FI20136036A7 (en) Device and Method for Optical Measurement of a Target
EP3748339C0 (en) DEVICE FOR GAS ANALYSIS USING RAMAN SPECTROSCOPY
CN104280348A (en) Optical system applied to photoelectric direct-reading spectrum analyzer
NO20080166L (en) Spectrometer device for painting offset spectral distributions
EP4512282A4 (en) MEASURING DEVICE
EP4372389A4 (en) TEST DEVICE
TH75573B (en) Multi-channel optical spectrum measuring instrument
EP4239997A4 (en) CAMERA DISTANCE MEASURING DEVICE
EP4379403A4 (en) TEST DEVICE
IL280874A (en) A light attenuating device for a high power ultraviolet test instrument
EP3974105C0 (en) MEASURING DEVICE
TH115487A (en) Multi-channel optical spectrum measuring instrument
EP4001890A4 (en) QUANTITATIVE PARTICLE MEASUREMENT DEVICE
EP4368983C0 (en) MEASURING DEVICE
EP4538682A4 (en) PLASMA MEASURING DEVICE
TWI801243B (en) Sample inspection device
EP4350377A4 (en) MAGNETISM MEASURING DEVICE
EP3798612C0 (en) DEVICE FOR EXAMINATING AN OPTICAL PROPERTY OF A SAMPLE