TH73040A - วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมา - Google Patents
วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมาInfo
- Publication number
- TH73040A TH73040A TH401001346A TH0401001346A TH73040A TH 73040 A TH73040 A TH 73040A TH 401001346 A TH401001346 A TH 401001346A TH 0401001346 A TH0401001346 A TH 0401001346A TH 73040 A TH73040 A TH 73040A
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- plasma
- microwave
- matter
- channel
- basic matter
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract 35
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract 6
- 238000003672 processing method Methods 0.000 claims abstract 5
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims 2
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 1
- 239000002905 metal composite material Substances 0.000 claims 1
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 claims 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims 1
- FFBHFFJDDLITSX-UHFFFAOYSA-N benzyl N-[2-hydroxy-4-(3-oxomorpholin-4-yl)phenyl]carbamate Chemical compound OC1=C(NC(=O)OCC2=CC=CC=C2)C=CC(=C1)N1CCOCC1=O FFBHFFJDDLITSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract 2
Abstract
DC60 (07/07/47) วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมาได้รับการจัดเตรียมไว้ซึ่งทำให้สามารถก่อรูปชั้น ฟิล์มบางสม่ำเสมอได้ บนพื้นผิวที่จะได้รับการผ่านกรรมวิธีและทำให้สามารถดำ เนินกรรมวิธีได้ใน เวลาสั้น ในวิธีการดำเนินกรรมวิธีไม โครเวฟพลาสมานั้น ไมโครเวฟจะได้รับการนำเข้าไป ในช่อง ดำเนินกรรมวิธีพลาสมา 1 และก๊าซดำเนินกรรม วิธีจะได้รับการถ่ายเทเข้าไปในพลาสมาเพื่อก่อรูป เป็น ชั้นฟิล์มบางบนสสารพื้นฐาน 13 ที่ได้รับการจัดวางไว้ใน ช่องดำเนินกรรมวิธีพลาสมา 13 และ วิธีการดังกล่าวประกอบ ด้วย การประกอบติดสสารพื้นฐาน 13 ไว้โดยมีแกนร่วมกับแกน กลางของ ช่องดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมา 1 การปรับ ตั้งโมดคลื่นนิ่งของไมโครเวฟในช่องดำเนิน กรรมวิธีพลาสมา เป็นโมด TE หรือโมด TEM จากส่วนปาก 131 ไปยังส่วน ลำตัว 133 ของสสาร พื้นฐาน และปรับตั้งโมดซึ่งมีทั้งโมด TE และโมด TM ในส่วนก้น 132 ของสสารพื้นฐาน วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมาได้รับการจัดเตรียมไว้ซึ่งทำให้สามารถก่อรูปชั้น ฟิล์มบางสม่ำเสมอได้ บนพื้นผิวที่จะได้รับการผ่านกรรมวิธีและทำให้สามารถดำ เนินกรรมวิธีได้ใน เวลาสั้น ในวิธีการดำเนินกรรมวิธีไม โครเวฟพลาสมานั้น ไมโครเวฟจะได้รับการนำเข้าไป ในช่อง ดำเนินกรรมวิธีพลาสมา 1 และก๊าซดำเนินกรรม วิธีจะได้รับการถ่ายเทเข้าไปในพลาสมาเพื่อก่อรูป เป็น ชั้นฟิล์มบางบนสสารพื้นฐาน 13 ที่ได้รับการจัดวางไว้ใน ช่องดำเนินกรรมวิธีพลาสมา 13 และ วิธีการดังกล่าวประกอบ ด้วย การประกอบติดสสารพื้นฐาน 13 ไว้โดยมีแกนร่วมกับแกน กลางของ ช่องดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมา 1 การปรับ ตั้งโมดคลื่นนิ่งของไมโครเวฟในช่องดำเนิน กรรมวิธีพลาสมา เป็นโมด TE หรือโมด TEM จากส่วนปาก 131 ไปยังส่วน ลำตัว 133 ของสสาร พื้นฐาน และปรับตั้งโมดซึ่งมีทั้งโมด TE และโมด TM ในส่วนก้น 132 ของสสารพื้นฐาน
Claims (5)
1. วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมาเพื่อนำไมโครเวฟเข้าไปในช่องดำเนิน กรรมวิธีพลาสมา และแปลง ก๊าซดำเนินกรรมวิธีเป็นพลาสมาเพื่อก่อรูปเป็นชั้นฟิล์มบาง บนสสาร พื้นฐานที่ได้รับการจัดวางไว้ในช่องดำเนินกรรม วิธีพลาสมา วิธีการดังกล่าวมีลักษณะเฉพาะดังนี้ การประกอบติดสสารพื้นฐานไว้โดยมีแกนร่วมกับแกนกลาง ของช่องดำเนินกรรมวิธี พลาสมา การปรับตั้งโมดคลื่นนิ่งของไมโครเวฟในช่องดำเนินกรรม วิธีพลาสมาเป็นโมด TE หรือโมด TEM จากส่วนปากไปยัง ส่วนลำตัวของสสารพื้นฐานและ การปรับตั้งทั้งโมด TE และโมด TM ไว้ในส่วนกันของ สสารพื้นฐานดังกล่าว
2. วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมาตามข้อถือสิทธิ ข้อ 1 ซึ่งประกอบด้วย การสอดชิ้นประกอบป้อนก๊าซดำเนิน กรรมวิธีไว้ในสสารพื้นฐานบนแกนกลางของช่องดำเนินกรรม วิธีพลาสมาเพื่อไม่ให้ไปถึงส่วนก้นของสสารพื้นฐาน
3. วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมาตาม ข้อถือสิทธิข้อ 1 หรือ 2 ซึ่งประกอบ ด้วยการป้อน ไมโครเวฟไปยังช่องดำเนินกรรมวิธีพลาสมาจากพื้น ผิวด้านข้างของช่องดำเนินกรรม วิธีพลาสมาที่ตำแหน่ง หนึ่งระหว่างส่วนปากและส่วนก้นของสสารพื้นฐาน
4. วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมาตามข้อ ถือสิทธิข้อ 1 ถึง 3 ข้อใดข้อหนึ่ง ซึ่งโมดของไมโคร เวฟก่อนหน้าการได้รับการนำเข้าไปในช่องดำเนิน กรรมวิธีพลาสมาจะได้รับการ ปรับตั้งไว้ที่โมด TE และโมด TM
5. วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมาตามข้อ ถือสิทธิข้อ 1 ถึง 4 ข้อใดข้อหนึ่ง ซึ่งระดับสุญญากาศ ภายในสสารพื้นฐานสูงกว่าระดับสุญญากาศนอกสสาร พื้นฐาน
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH73040A true TH73040A (th) | 2005-12-01 |
| TH54009B TH54009B (th) | 2017-02-28 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| WO2008087843A1 (ja) | プラズマ処理装置、プラズマ処理方法及び記憶媒体 | |
| TW200509247A (en) | Surface wave plasma treatment apparatus using multi-slot antenna | |
| EP1220281A3 (en) | Method of treatment with a microwave plasma | |
| WO2003096383A3 (en) | Cavity shapes for plasma-assisted processing | |
| TW200644117A (en) | Plasma processing apparatus and plasma processing method | |
| ATE430376T1 (de) | Plasmareaktor zur behandlung von grossflächigen substraten | |
| SG151287A1 (en) | Method for reducing roughness of a thick insulating layer | |
| WO2008140022A1 (ja) | 化合物半導体の熱処理方法及びその装置 | |
| AU2002368438A1 (en) | Susceptor system________________________ | |
| WO2002012587A3 (en) | Processing apparatus and cleaning method | |
| CN107396528B (zh) | 边耦合驻波加速管的制作方法、边耦合驻波加速管 | |
| WO2006083778A3 (en) | Selective plasma re-oxidation process using pulsed rf source power | |
| TW200520107A (en) | Method for using ion implantation to treat the sidewalls of a feature in a low-k dielectric film | |
| WO2006083858A3 (en) | Plasma gate oxidation process using pulsed rf source power | |
| WO2003004728A1 (en) | Organic electrolytic reaction device for electrolytic oxidation and production method for compound using it | |
| TW200715412A (en) | Method and apparatus for forming metal film | |
| TW200703505A (en) | Manufacturing method of gate insulating film and of semiconductor device | |
| RU2010122060A (ru) | Способ изготовления обработанной поверхности и вакуумные источники плазмы | |
| TH54009B (th) | วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมา | |
| TH73040A (th) | วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมา | |
| JP2002246381A5 (th) | ||
| JP2007038502A (ja) | タイヤ加硫成形用金型の洗浄方法及びその装置 | |
| JP2009105468A5 (th) | ||
| TW200504874A (en) | Cleaning method for a substrate processing apparatus | |
| JPS61149486A (ja) | 表面処理方法 |