TH73040A - วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมา - Google Patents

วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมา

Info

Publication number
TH73040A
TH73040A TH401001346A TH0401001346A TH73040A TH 73040 A TH73040 A TH 73040A TH 401001346 A TH401001346 A TH 401001346A TH 0401001346 A TH0401001346 A TH 0401001346A TH 73040 A TH73040 A TH 73040A
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
plasma
microwave
matter
channel
basic matter
Prior art date
Application number
TH401001346A
Other languages
English (en)
Other versions
TH54009B (th
Inventor
คูราชิมะ นายฮิเดโอะ
โคบายาชิ นายอากิระ
ยามาดะ นายโคอุจิ
นามิกิ นายทสึเนฮิซะ
Original Assignee
นางดารานีย์ วัจนะวุฒิวงศ์
นางสาวสนธยา สังขพงศ์
Filing date
Publication date
Application filed by นางดารานีย์ วัจนะวุฒิวงศ์, นางสาวสนธยา สังขพงศ์ filed Critical นางดารานีย์ วัจนะวุฒิวงศ์
Publication of TH73040A publication Critical patent/TH73040A/th
Publication of TH54009B publication Critical patent/TH54009B/th

Links

Abstract

DC60 (07/07/47) วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมาได้รับการจัดเตรียมไว้ซึ่งทำให้สามารถก่อรูปชั้น ฟิล์มบางสม่ำเสมอได้ บนพื้นผิวที่จะได้รับการผ่านกรรมวิธีและทำให้สามารถดำ เนินกรรมวิธีได้ใน เวลาสั้น ในวิธีการดำเนินกรรมวิธีไม โครเวฟพลาสมานั้น ไมโครเวฟจะได้รับการนำเข้าไป ในช่อง ดำเนินกรรมวิธีพลาสมา 1 และก๊าซดำเนินกรรม วิธีจะได้รับการถ่ายเทเข้าไปในพลาสมาเพื่อก่อรูป เป็น ชั้นฟิล์มบางบนสสารพื้นฐาน 13 ที่ได้รับการจัดวางไว้ใน ช่องดำเนินกรรมวิธีพลาสมา 13 และ วิธีการดังกล่าวประกอบ ด้วย การประกอบติดสสารพื้นฐาน 13 ไว้โดยมีแกนร่วมกับแกน กลางของ ช่องดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมา 1 การปรับ ตั้งโมดคลื่นนิ่งของไมโครเวฟในช่องดำเนิน กรรมวิธีพลาสมา เป็นโมด TE หรือโมด TEM จากส่วนปาก 131 ไปยังส่วน ลำตัว 133 ของสสาร พื้นฐาน และปรับตั้งโมดซึ่งมีทั้งโมด TE และโมด TM ในส่วนก้น 132 ของสสารพื้นฐาน วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมาได้รับการจัดเตรียมไว้ซึ่งทำให้สามารถก่อรูปชั้น ฟิล์มบางสม่ำเสมอได้ บนพื้นผิวที่จะได้รับการผ่านกรรมวิธีและทำให้สามารถดำ เนินกรรมวิธีได้ใน เวลาสั้น ในวิธีการดำเนินกรรมวิธีไม โครเวฟพลาสมานั้น ไมโครเวฟจะได้รับการนำเข้าไป ในช่อง ดำเนินกรรมวิธีพลาสมา 1 และก๊าซดำเนินกรรม วิธีจะได้รับการถ่ายเทเข้าไปในพลาสมาเพื่อก่อรูป เป็น ชั้นฟิล์มบางบนสสารพื้นฐาน 13 ที่ได้รับการจัดวางไว้ใน ช่องดำเนินกรรมวิธีพลาสมา 13 และ วิธีการดังกล่าวประกอบ ด้วย การประกอบติดสสารพื้นฐาน 13 ไว้โดยมีแกนร่วมกับแกน กลางของ ช่องดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมา 1 การปรับ ตั้งโมดคลื่นนิ่งของไมโครเวฟในช่องดำเนิน กรรมวิธีพลาสมา เป็นโมด TE หรือโมด TEM จากส่วนปาก 131 ไปยังส่วน ลำตัว 133 ของสสาร พื้นฐาน และปรับตั้งโมดซึ่งมีทั้งโมด TE และโมด TM ในส่วนก้น 132 ของสสารพื้นฐาน

Claims (5)

ข้อถือสิทธฺ์ (ทั้งหมด) ซึ่งจะไม่ปรากฏบนหน้าประกาศโฆษณา :แก้ไข 19/08/2559 1. วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมาเพื่อนำไมโครเวฟเข้าไปในช่องดำเนิน กรรมวิธีพลาสมา และแปลงก๊าซดำเนินกรรมวิธีเป็นพลาสมาเพื่อก่อรูปเป็นชั้นฟิล์มบางบนสสาร พื้นฐานที่ได้รับการจัดวางไว้ในช่องดำเนินกรรมวิธีพลาสมา วิธีการดังก่ลาวมีลักษณะเฉพาะดังนี้ การประกอบติดสสารพื้นฐานไว้โดยมีแกนร่วมกับแกนกลางของช่องดำเนินกรรมวิธี พลาสมา การปรับตั้งโมดคลื่นนิ่งของไมโครเวฟในช่องดำเนินกรรมวิธีพลาสมาเป็นโมด TE หรือ โมด TEM จากส่วนปากไปยังส่วนลำตัวของสสารพื้นฐานและ 2. วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมาตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ซึ่งประกอบด้วย การสอดชิ้นประกอบโลหะป้อนก๊าซดำเนินกรรมวิธีไว้ในสสารพื้นฐานบนแกนกลางของช่องดำเนิน กรรมวิธีพลาสมาเพื่อไม่ให้ไปถึงส่วนก้นของสสารพื้นฐาน 3. วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมาตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ซึ่งประกอบด้วย การป้อนไมโครเวฟไปยังช่องดำเนินกรรมวิธีพลาสมาจากพื้นผิวด้านข้างของช่องดำเนินกรรมวิธี พลาสมาที่ตำแหน่งหนึ่งระหว่างส่วนปากและส่วนกันของสสารพื้นฐาน 4. วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมาตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ซึ่งโมดของ ไมโครเวฟก่อนหน้าการได้รับการนำเข้าไปในช่องดำเนินกรรมวิธีพลาสมาจะได้รับการปรับตั้งไว้ที่ โมด TE และโมด TM 5. วิธีการเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมาตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ซึ่งระดับ สุญญากาศภายในสสารพื้นฐานสูงกว่าระดับสุญญากาศนอกสสารพื้นฐาน ------------------------------------------------------
1. วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมาเพื่อนำไมโครเวฟเข้าไปในช่องดำเนิน กรรมวิธีพลาสมา และแปลง ก๊าซดำเนินกรรมวิธีเป็นพลาสมาเพื่อก่อรูปเป็นชั้นฟิล์มบาง บนสสาร พื้นฐานที่ได้รับการจัดวางไว้ในช่องดำเนินกรรม วิธีพลาสมา วิธีการดังกล่าวมีลักษณะเฉพาะดังนี้ การประกอบติดสสารพื้นฐานไว้โดยมีแกนร่วมกับแกนกลาง ของช่องดำเนินกรรมวิธี พลาสมา การปรับตั้งโมดคลื่นนิ่งของไมโครเวฟในช่องดำเนินกรรม วิธีพลาสมาเป็นโมด TE หรือโมด TEM จากส่วนปากไปยัง ส่วนลำตัวของสสารพื้นฐานและ การปรับตั้งทั้งโมด TE และโมด TM ไว้ในส่วนกันของ สสารพื้นฐานดังกล่าว
2. วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมาตามข้อถือสิทธิ ข้อ 1 ซึ่งประกอบด้วย การสอดชิ้นประกอบป้อนก๊าซดำเนิน กรรมวิธีไว้ในสสารพื้นฐานบนแกนกลางของช่องดำเนินกรรม วิธีพลาสมาเพื่อไม่ให้ไปถึงส่วนก้นของสสารพื้นฐาน
3. วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมาตาม ข้อถือสิทธิข้อ 1 หรือ 2 ซึ่งประกอบ ด้วยการป้อน ไมโครเวฟไปยังช่องดำเนินกรรมวิธีพลาสมาจากพื้น ผิวด้านข้างของช่องดำเนินกรรม วิธีพลาสมาที่ตำแหน่ง หนึ่งระหว่างส่วนปากและส่วนก้นของสสารพื้นฐาน
4. วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมาตามข้อ ถือสิทธิข้อ 1 ถึง 3 ข้อใดข้อหนึ่ง ซึ่งโมดของไมโคร เวฟก่อนหน้าการได้รับการนำเข้าไปในช่องดำเนิน กรรมวิธีพลาสมาจะได้รับการ ปรับตั้งไว้ที่โมด TE และโมด TM
5. วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมาตามข้อ ถือสิทธิข้อ 1 ถึง 4 ข้อใดข้อหนึ่ง ซึ่งระดับสุญญากาศ ภายในสสารพื้นฐานสูงกว่าระดับสุญญากาศนอกสสาร พื้นฐาน
TH401001346A 2004-04-16 วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมา TH54009B (th)

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TH73040A true TH73040A (th) 2005-12-01
TH54009B TH54009B (th) 2017-02-28

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2008087843A1 (ja) プラズマ処理装置、プラズマ処理方法及び記憶媒体
TW200509247A (en) Surface wave plasma treatment apparatus using multi-slot antenna
EP1220281A3 (en) Method of treatment with a microwave plasma
WO2003096383A3 (en) Cavity shapes for plasma-assisted processing
TW200644117A (en) Plasma processing apparatus and plasma processing method
ATE430376T1 (de) Plasmareaktor zur behandlung von grossflächigen substraten
SG151287A1 (en) Method for reducing roughness of a thick insulating layer
WO2008140022A1 (ja) 化合物半導体の熱処理方法及びその装置
AU2002368438A1 (en) Susceptor system________________________
WO2002012587A3 (en) Processing apparatus and cleaning method
CN107396528B (zh) 边耦合驻波加速管的制作方法、边耦合驻波加速管
WO2006083778A3 (en) Selective plasma re-oxidation process using pulsed rf source power
TW200520107A (en) Method for using ion implantation to treat the sidewalls of a feature in a low-k dielectric film
WO2006083858A3 (en) Plasma gate oxidation process using pulsed rf source power
WO2003004728A1 (en) Organic electrolytic reaction device for electrolytic oxidation and production method for compound using it
TW200715412A (en) Method and apparatus for forming metal film
TW200703505A (en) Manufacturing method of gate insulating film and of semiconductor device
RU2010122060A (ru) Способ изготовления обработанной поверхности и вакуумные источники плазмы
TH54009B (th) วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมา
TH73040A (th) วิธีการดำเนินกรรมวิธีไมโครเวฟพลาสมา
JP2002246381A5 (th)
JP2007038502A (ja) タイヤ加硫成形用金型の洗浄方法及びその装置
JP2009105468A5 (th)
TW200504874A (en) Cleaning method for a substrate processing apparatus
JPS61149486A (ja) 表面処理方法