TH65544A - Small particles based on silica - Google Patents
Small particles based on silicaInfo
- Publication number
- TH65544A TH65544A TH201002925A TH0201002925A TH65544A TH 65544 A TH65544 A TH 65544A TH 201002925 A TH201002925 A TH 201002925A TH 0201002925 A TH0201002925 A TH 0201002925A TH 65544 A TH65544 A TH 65544A
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- silica
- slurry mixtures
- small particles
- particles based
- abrasives
- Prior art date
Links
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract 18
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 title claims abstract 9
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract 6
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract 7
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 3
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims 2
- GHMLBKRAJCXXBS-UHFFFAOYSA-N resorcinol Chemical compound OC1=CC=CC(O)=C1 GHMLBKRAJCXXBS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 claims 1
- 239000002002 slurry Substances 0.000 abstract 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract 4
- 239000003082 abrasive agent Substances 0.000 abstract 2
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 2
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 abstract 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract 2
Abstract
DC60 (29/10/45) การประดิษฐ์นี้เกี่ยวข้องกับซิลิกา, สารผสมสเลอรี และวิธีของการเตรียมของมัน โดยเฉพาะซิลิกาของการประดิษฐ์นี้ รวมถึง อนุภาคเบื้องต้นที่เกาะเป็นกลุ่มก้อน สารผสมสเลอรี ซึ่งรวม กับซิลิกา เหมาะสำหรับวัตถุขัดถู และมีประโยชน์โดยเฉพาะ สำหรับการทำระนาบเชิงกล ทางเคมีของซับสเตรตของสารกึ่งตัวนำ และไมโครอิเลคโทรนิกซับสเตรตอื่นๆ การประดิษฐ์นี้เกี่ยวข้องกับซิลิกา, สารผสมสเลอรี และวิธีของการเตรียมของมัน โดยเฉพาะซิลิกาของการประดิษฐ์นี้ รวมถึง อนุภาคเบื้องต้นที่เกาะเป็นกลุ่มก้อน สารผสมสเลอรี ซึ่งรวม กับซิลิกา เหมาะสำหรับวัตถุขัดถู และมีประโยชน์โดยเฉพาะ สำหรับการทำระนาบเชิงกล ทางเคมีของซับสเตรตของสารกึ่งตัวนำ และไมโครอิเลคโทรนิกซับสเตรตอื่น ๆ DC60 (29/10/45) This invention involves silica, slurry mixtures and methods of its preparation. Specifically, the silica of this invention includes the bulking elementary particles, slurry mixtures, which combine with silica, suitable for abrasives. And especially useful For making a mechanical plane Chemistry of the semiconductor substrate And other microelectronic substrates The invention involved silica, slurry mixtures and methods of their preparation. Specifically, the silica of this invention includes the bulking elementary particles, slurry mixtures, which combine with silica, suitable for abrasives. And especially useful For making a mechanical plane Chemistry of the semiconductor substrate And other microelectronic substrates
Claims (2)
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH65544A true TH65544A (en) | 2004-12-16 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100215939B1 (en) | Activated polishing composition | |
| US8439995B2 (en) | Abrasive compounds for semiconductor planarization | |
| PL1675971T3 (en) | Method for coating a substrate surface using a plasma beam | |
| DE60030444D1 (en) | CMP COMPOSITION CONTAINING SILANO MODIFIED GRINDING PARTICLES | |
| KR20140003475A (en) | Composition and method for polishing polysilicon | |
| EP1542266A4 (en) | ABRASIVE FOR SEMICONDUCTOR, PROCESS FOR PRODUCING THE SAME, AND POLISHING METHOD | |
| WO2007133894A3 (en) | Low dimensional thermoelectrics fabricated by semiconductor wafer etching | |
| Lei et al. | Synthesis of Sm-doped colloidal SiO2 composite abrasives and their chemical mechanical polishing performances on sapphire substrates | |
| CN105637986B (en) | Polishing composition and manufacturing method of printed wiring board | |
| WO2013008751A1 (en) | Method for producing ceramic composite for photoconversion | |
| ID24802A (en) | PROCESS FOR MECHANICAL CHEMICAL PROCESSING FROM AN ALUMINUM OR ALUMINUM MIXED MATERIAL COATING | |
| Wang et al. | Effect of a pH regulator on sapphire substrate CMP | |
| TW200720016A (en) | Chemically modified chemical mechanical polishing pad, process of making a modified chemical mechanical polishing pad and method of chemical mechanical polishing | |
| KR20130054267A (en) | Composition and method for polishing bulk silicon | |
| TW200621965A (en) | Polishing composition for a semiconductor substrate | |
| TW200643157A (en) | Abrasive for semiconductor integrated circuit device, method for polishing semiconductor integrated circuit device and semiconductor integrated circuit device manufacturing method | |
| CN109971356B (en) | A chemical mechanical polishing liquid | |
| TH65544A (en) | Small particles based on silica | |
| TWI804587B (en) | Polishing composition | |
| TW200717635A (en) | Polishing method for semiconductor wafer | |
| KR20230044516A (en) | Slurry, polishing method and manufacturing method of semiconductor parts | |
| TWI853796B (en) | Polishing composition and method for adjusting polishing speed | |
| WO2004073922A3 (en) | Abrasives for copper cmp and methods for making | |
| TH74074A (en) | Silica and silica-based slurry | |
| WO2019012743A1 (en) | Transparent sealing member |