TH65105A - ผังบิทที่ทนทานสำหรับหน่วยความจำที่มีส่วนประกอบเครื่องพิมพ์แบบถอดเปลี่ยนได้ - Google Patents

ผังบิทที่ทนทานสำหรับหน่วยความจำที่มีส่วนประกอบเครื่องพิมพ์แบบถอดเปลี่ยนได้

Info

Publication number
TH65105A
TH65105A TH201001915A TH0201001915A TH65105A TH 65105 A TH65105 A TH 65105A TH 201001915 A TH201001915 A TH 201001915A TH 0201001915 A TH0201001915 A TH 0201001915A TH 65105 A TH65105 A TH 65105A
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
parity
memory
bit
ink
chunk
Prior art date
Application number
TH201001915A
Other languages
English (en)
Other versions
TH34479B (th
Inventor
เอ็ม. สกรีน นายจอห์น
เอ. เชฟเฟิร์ด นายแมทธิว
ฮูม นายการ์ราร์ด
Original Assignee
นายโรจน์วิทย์ เปเรร่า
นายธเนศ เปเรร่า
นางดารานีย์ วัจนะวุฒิวงศ์
นางสาวสนธยา สังขพงศ์
Filing date
Publication date
Application filed by นายโรจน์วิทย์ เปเรร่า, นายธเนศ เปเรร่า, นางดารานีย์ วัจนะวุฒิวงศ์, นางสาวสนธยา สังขพงศ์ filed Critical นายโรจน์วิทย์ เปเรร่า
Publication of TH65105A publication Critical patent/TH65105A/th
Publication of TH34479B publication Critical patent/TH34479B/th

Links

Abstract

DC60 (11/05/55) ระบบและวิธีการตรวจจับความผิดพลาดในข้อมูลที่ได้รับจากหน่วยความจำ (16) ที่มีส่วน ประกอบเครื่องพิมพ์แบบถอดเปลี่ยนได้ (12) จะรวมทั้งการจัดให้มีพาริตี้บิทที่หนึ่ง (310C) ที่ใช้ ประกอบกันกับชิ้นข้อมูลที่หนึ่ง (310D) ชิ้นข้อมูลที่หนึ่งและพาริตี้บิทที่หนึ่งจะถูกเก็บบันทึกไว้ใน หน่วยความจำ เครื่องพิมพ์จะรวมทั้งสายตัวนำทางไฟฟ้า (20) จำนวนมาก หน่วยความจำนี้รวมทั้งบิท จำนวนมาก อย่างน้อยที่สุดสายตัวนำทางไฟฟ้าเส้นหนึ่งจะใช้ร่วมกันกับแต่ละบิท ชิ้นข้อมูลที่หนึ่งและ พาริตี้บิทที่หนึ่งจะถูกอ่านจากหน่วยความจำ การทดสอบทางไฟฟ้าของสายตัวนำทางไฟฟ้าอย่างน้อยที่ สุดเส้นหนึ่งจะถูกปฏิบัติการ ความผิดพลาดในชิ้นข้อมูลที่หนึ่งจะถูกบ่งชี้ขึ้นอยู่กับพาริตี้บิทที่หนึ่ง ที่อ่านจากหน่วยความจำและการทดสอบทางไฟฟ้า ระบบและวิธีการตรวจับความผิดพลาดในข้อมูลที่ได้รับจากหน่วยความจำ (16) ที่มีส่วน ประกอบเครื่องพิมพ์แบบถอดเปลี่ยนได้ (12) จะรวมทั้งการจัดให้มีพาริตี้บิทที่หนึ่ง (310C) ที่ใช้ ประกอบกันกับชิ้นข้อมูลที่หนึ่ง (310D) ชิ้นข้อมูลที่หนึ่งและพาริตี้บิทที่หนึ่งจะถูกเก็บบันทึกไว้ใน หน่วยความจำ เครื่องพิมพ์จะรวมทั้งสายตัวนำทางไฟฟ้า (20) จำนวนมาก หน่วยความจำนี้รวมทั้งบิท จำนวนมาก อย่างน้อยที่สุดสายตัวนำทางไฟฟ้าเส้นหนึ่งจะใช้ร่วมกันกับแต่ละบิท ชิ้นข้อมูลที่หนึ่งและ พาริตี้บิทที่หนึ่งจะถูกอ่านจากหน่วยความจำ การทดสอบทางไฟฟ้าของสายตัวนำทางไฟฟ้าอย่างน้อยที่ สุดเส้นหนึ่งจะถูกปฏิบัติการ ความผิดพลาดในชิ้นข้อมูลที่หนึ่งจะถูกบ่งชี้ขึ้นอยู่กับพาริตี้บิทที่หนึ่ง ที่อ่านจากหน่วยความจำและการทดสอบทางไฟฟ้า

Claims (9)

1. วิธีการตรวจจับความผิดพลาดในข้อมูลที่ได้รับมาจากหน่วยความจำ (16) ที่มี ส่วนประกอบของ เครื่องพิมพ์ชนิดหมึกฉีดแบบถอดเปลี่ยนได้(12) ของเครื่องพิมพ์(10), หน่วยความจำที่ รวมถึงบิทจำนวนมาก, เครื่องพิมพ์นี้จะรวมทั้งสายตัวนำทางไฟฟ้า(20),อย่างน้อยที่สุดสายตัวนำ ทางไฟฟ้าเส้นหนึ่งถูกใช้ร่วมกันกับแต่ละบิท, วิธีการนี้จะประกอบด้วย การจัดให้มีพาริตี้บิทที่หนึ่ง (310C) ที่ประกอบเข้ากับชิ้นข้อมูลที่หนึ่ง (310D) ชิ้นข้อมูลที่ หนึ่งและพาริตี้บิทที่หนึ่งจะถูกเก็บบันทึกไว้ในหน่วยความจำ การอ่านชิ้นข้อมูลที่หนึ่ง และพาริตี้บิทที่หนึ่งจากหน่วยความจำ การปฏิบัติการทดสอบทางไฟฟ้าที่มีอย่างน้อยที่สุดสายตัวนำทางไฟฟ้าเส้นหนึ่งและ การบ่งชี้ความผิดพลาดในชิ้นข้อมูลที่หนึ่ง ที่ขึ้นอยู่กับพาริตี้บิทที่หนึ่งที่อ่านได้จากหน่วย ความจำและวิธีทดสอบทางไฟฟ้า
2. วิธีการตามข้อถือสิทธิ ข้อ 1 ยังประกอบด้วย การบ่งชี้ทางลัดวงจรทางไฟฟ้าในสายตัวนำทางไฟฟ้าอย่างน้อยที่สุดเส้นหนึ่ง ขึ้นอยู่กับการทดสอบทางไฟฟ้า และที่ซึ่งความผิดพลาดในชิ้นข้อมูลที่หนึ่งจะถูกบ่งชี้ขึ้นอยู่กับ พาริตี้บิทที่หนึ่ง ที่อ่านได้จากหน่วยความจำและการลัดวงจรทางไฟฟ้าที่ถูกบ่งชี้
3. วิธีการตามข้อถือสิทธิ ข้อ 1 ยังประกอบด้วย การบ่งชี้วงจรเปิดในสายตัวนำทางไฟฟ้าอย่างน้อยที่สุดหนึ่งสายที่ขึ้นอยู่กับการทดสอบ ทางไฟฟ้า และที่ซึ่งความผิดพลาดในชิ้นข้อมูลที่หนึ่งที่ถูกบ่งชี้ ขึ้นอยู่กับพาริตี้บิทที่หนึ่งที่อ่านจาก หน่วยความจำและวงจรเปิดที่ถูกบ่งชี้
4. วิธีการตามข้อถือสิทธิ ข้อ 1, ที่ซึ่งสายตัวนำทางไฟฟ้าเป็นสายตำแหน่งที่อยู่ที่ต่อหน่วย ความจำไปยังเครื่องควบคุม (34) ของเครื่องพิมพ์
5. วิธีการตามข้อถือสิทธิ ข้อ 1, ที่ซึ่งหน่วยความจำคือ ROM (16A)
6. วิธีการตามข้อถือสิทธิ ข้อ 1 และยังประกอบด้วย การจัดให้มีพาริตี้บิทที่สอง (310I) ที่ประกอบเข้ากับชิ้นข้อมูลที่สอง (310J) ชิ้นข้อมูลที่ สอง และพาริตี้บิทที่สอง จะถูกเก็บบันทึกไว้ในหน่วยความจำ การอ่านชิ้นข้อมูลที่สองและพาริตี้บิทที่สองจากหน่วยความจำ การบ่งชี้ความผิดพลาดที่ถูกเก็บอยู่ในชิ้นข้อมูลที่สองขึ้นอยู่กับพาริตี้บิทที่สองที่อ่านได้ จากหน่วยความจำ
7. ระบบการพิมพ์ (10) ที่ประกอบด้วย หัวพิมพ์ชนิดหมึกฉีด (14A) สำหรับการเกาะติดอย่างเลือกได้ของหมึกที่หยดลงบนตัวกลาง ในการพิมพ์ (32) แหล่งจ่ายหมึก (26) สำหรับเก็บหมึกที่ถูกจัดไว้ให้แก่หัวพิมพ์ชนิดหมึกฉีด อุปกรณ์หน่วยความจำ (16) สำหรับการเก็บบันทึกพาริตี้บิทที่หนึ่ง (310C) และชิ้นข้อมูลที่ หนึ่ง (310D), พาริตี้บิทที่หนึ่งจะถูกประกอบเข้ากับชิ้นข้อมูลที่หนึ่ง และ หน่วยประมวลผล (34) ที่ถูกต่อเข้ากับอุปกรณ์หน่วยความจำสายตัวนำทางไฟฟ้า (20) จำนวนมาก, หน่วยประมวลผลนี้จะตอบสนองต่อสัญญาณออกของอุปกรณ์หน่วยความจำ, หน่วย ประมวลผลนี้ทำขึ้นให้มีลักษณะเพื่อกระทำการทดสอบทางไฟฟ้าของสายตัวนำทางไฟฟ้าอย่างน้อย หนึ่งเส้น, หน่วยประมวลผลนี้ทำขึ้นให้มีลักษณะเพื่อบ่งชี้ความผิดพลาดในชิ้นข้อมูลที่หนึ่งขึ้บอยู่กับ พาริตี้บิทที่หนึ่งและการทดสอบทางไฟฟ้า
8. ตลับหมึกฉีด (12) สำหรับระบบการพิมพ์ชนิดหมึกฉีด (10) ที่มีเครื่องควบคุม (34) จะ ประกอบด้วย ส่วนประกอบหัวพิมพ์แบบหมึกฉีด (14) ที่มีหัวพิมพ์แบบหมึกฉีด (14A) อย่างน้อยที่สุดหนึ่ง หัว สำหรับการเกาะติดอย่างเลือกได้ของหมึกที่หยดลงบนตัวกลางในการพิมพ์ (32) แหล่งจ่ายหมึก (26) สำหรับเก็บหมึกที่ถูกจัดไว้ให้แก่หัวพิมพ์ชนิดหมึกฉีด และ อุปกรณ์หน่วยเก็บสารสนเทศ (16) ที่เก็บบันทึกพาริตี้บิทที่หนึ่ง (310C) และชิ้นข้อมูลที่หนึ่ง (310D) พาริตี้บิทที่หนึ่งที่ประกอบร่วมกันกับชิ้นข้อมูลที่หนึ่ง พาริตี้บิทที่หนึ่งนี้ สำหรับใช้โดยเครื่อง ควบคุมในความสัมพันธ์กับการทดสอบทางไฟฟ้าของสายตัวนำทางไฟฟ้าที่ต่อเข้ากับอุปกรณ์หน่วย เก็บสารสนเทศ เพื่อบ่งชี้ความผิดพลาดในชิ้นข้อมูลที่หนึ่ง
9. ตลับหมึกฉีดตามข้อถือสิทธิข้อ 8, ที่ซึ่งอุปกรณ์หน่วยเก็บสารสนเทศคือ ROM (16A) ที่รวม ทั้ง ดาย (die) สารกึ่งตัวนำ (60) และวงจรไฟฟ้าจำนวนมาก (400A และ 400B) ที่ทำขึ้นบนดายสารกึ่ง ตัวนำ แต่ละวงจรจะถูกประกอบเข้ากับกับและจะกำหนดสถานะของบิทใน ROM และที่ซึ่งวงจรนี้ ที่ประกอบเข้ากับชิ้นข้อมูลที่หนึ่ง จะถูกวางตำแหน่งเกือบจะใกล้ๆ กับศูนย์กลางของแม่พิมพ์แบบสาร กึ่งตัวนำ 1
0. หน่วยความจำ (16) สำหรับส่วนประกอบเครื่องพิมพ์ชนิดหมึกฉีดแบบถอดเปลี่ยนได้ (12) ของระบบการพิมพ์ (10) ที่ประกอบด้วย ดายสารกึ่งตัวนำ (60) วงจรจำนวนมาก (400A และ 400B) ที่ทำขึ้นบนดายสารกึ่งตัวนำ แต่ละวงจรที่ประกอบกันกับ และการกำหนดสถานะของบิทในหน่วยความจำ และ หน่วยความจำที่ทำการเก็บชิ้นข้อมูลที่หนึ่ง (310D), ชิ้นข้อมูลที่หนึ่ง จะจัดให้มีการบ่งชี้สาร สนเทศที่เกี่ยวเนื่องกับ ส่วนประกอบเครื่องพิมพ์ชนิดหมึกฉีดแบบถอดเปลี่ยนได้ นั่นคือสามารถที่จะ นำไปใช้ได้ในระบบการพิมพ์ เพื่อกำหนดว่าส่วนประกอบเครื่องพิมพ์ชนิดหมึกฉีดแบบถอดเปลี่ยนได้ เหมาะสมที่จะถูกนำไปใช้ในระบบการพิมพ์นั้นหรือไม่, วงจรไฟฟ้าที่ถูกประกอบเข้ากับชิ้นข้อมูลที่ หนึ่งจะถูกวางตำแหน่งเกือบจะใกล้ศูนย์กลางของดายสารกึ่งตัวนำ
TH201001915A 2002-05-24 ผังบิทที่ทนทานสำหรับหน่วยความจำที่มีส่วนประกอบเครื่องพิมพ์แบบถอดเปลี่ยนได้ TH34479B (th)

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TH65105A true TH65105A (th) 2004-11-24
TH34479B TH34479B (th) 2012-12-04

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2004533057A5 (th)
RU2003137219A (ru) Надежная битовая схема для запоминающего устройства сменного компонента принтера
ES2274421T3 (es) Consumible de impresora que tiene almacenamiento de datos para datos de calibracion estatica y dinamica.
JP5141606B2 (ja) 印刷装置
JP2008094109A5 (th)
JPS6476596A (en) Error of eeprom detecting device
CN105261398B (zh) 动态随机存取存储器的校准方法及装置
TH65105A (th) ผังบิทที่ทนทานสำหรับหน่วยความจำที่มีส่วนประกอบเครื่องพิมพ์แบบถอดเปลี่ยนได้
TH34479B (th) ผังบิทที่ทนทานสำหรับหน่วยความจำที่มีส่วนประกอบเครื่องพิมพ์แบบถอดเปลี่ยนได้
TW200620294A (en) Memory circuit and method for evaluating a memory datum of a CBRAM resistance method cell
CN101183529A (zh) 盘驱动系统的写通驱动器
CN107992317B (zh) 一种电芯的电量管理和电流监控ic的烧录校验的方法
CN107656188A (zh) 一种芯片的测试系统及其方法
US11738561B2 (en) Ink cartridge verification method, system, readable storage medium and device
CN100471679C (zh) 通过检测热打印头类型来形成图像的装置和方法
US6646445B2 (en) Thermal head determining apparatus and determining method
EP3907083B1 (en) Repair chip, ink cartridge, and printer
US7184924B1 (en) Method, apparatus and computer program product for implementing thermal integrity screening
KR100998597B1 (ko) 여분 셀 분석을 위한 웨이퍼테스트 시스템 및 방법
CN114801521B (zh) 一种打印机打印头检测方法
CN223526874U (zh) NAND Flash读干扰测试装置
CN215986384U (zh) 一种熔断器短时过载试验及测试装置
CN217155639U (zh) 一种总温叶型受感部件
US20250271996A1 (en) Memory chip and memory system
CN110890121B (zh) 储存装置及其nand快闪记忆体控制器