TH49716B - วิธีการสำหรับทำเครื่องหมายแสดงจุดบกพร่องของ - Google Patents

Abstract

การประดิษฐ์นี้เป็นวิธีการสำหรับระบุตำแหน่งของจุดบกพร่อง,ทำเครื่องหมายแสดงจุดบกพร่อง และการวิเคราะห์บรรดาฮาร์ดดิสก์ที่เป็นแผ่นฟิล์มบาง ในตอนเริ่มต้นนั้น ฮาร์ดดิสก์จะถูกใส่ไว้ในดิสก์ ไดรฟ์และดิสก์ดังกล่าวก็จะถูกฟอร์แมดให้มีแนวระบุเซ็กเตอร์และข้อมูลที่เขียนลงไปในแทร็คข้อมูล ในระหว่างกรรมวิธีการเขียนข้อมูลนั้น จุดบกพร่องที่อยู่บนผิวดิสก์ก็จะถูกระบุออกมาตามตำแหน่งของ เซ็กเตอร์, แทร็คและไบด์ของจุดบกพร่องดังกล่าว จากนั้น ฮาร์ดดิสก์ดังกล่าวก็จะถูกทำเครื่องหมาย แสดงจุดบกพร่องไว้ในลักษณะที่จุดบกพร่องดังกล่าวสามารถถูกระบุตำแหน่งได้ในภายหลัง บรรดา แถบที่ถูกลบออกไปจะช่วยให้การระบุตำแหน่งของจุดบกพร่องในภายหลัง หลังจากเสร็จสิ้นการลบ ออกเพื่อระบุตำแหน่งของจุดบกพร่องสำหรับจุดบกพร่องแต่ละจุดที่พบบนดิสก์แล้ว ดิสก์ดังกล่าวก็จะ ถูกถอดออกจากฮาร์ดดิสก์ไดร์ฟเพื่อนำไปวิเคราะห์ต่อไป จากนั้น ดิสก์ดังกล่าวก็จะถูกใส่ลงบนแท่นวางกล้องจุลทรรศน์และของไหลที่เป็นแม่เหล็กเฟอร์โร จะถูกใส่ลงไปยังดิสก์ดังกล่าวเพื่อให้สามารถมองเห็นแทร็คที่ถูกลบออกไปได้ ของไหลที่เป็นแม่เหล็ก เฟอร์โรถูกใส่ลงไปจนเสร็จสิ้นกระบวนการลบแทร็คโดยไม่ต้องใส่ของไหลที่เป็นแม่เหล็กเฟอร์โรลงไป ยังส่วนที่เป็นจุดบกพร่อง ผลที่ได้ก็คือ จุดบกพร่องที่จำเพาะเจาะจงจะถูกระบุตำแหน่งให้สามารถมอง เห็นได้เพื่อการวิเคราะห์ในลำดับต่อไปในสภาพดั้งเดิมของมันเองโดยไม่ต้องมีการลบดิสก์บนตัวมัน เองและไม่ต้องมีการใส่ของไหลที่เป็นแม่เหล็กเฟอร์โรลงไปยังจุดบกพร่อง เนื่องจากจุดบกพร่องดัง กล่าวจะอยู่ในสภาพดั้งเดิมของมันเอง จึงทำให้สามารถวิเคราะห์ลักษณะทางธรรมชาติของจุดบกพร่อง ดังกล่าวได้อย่างถูกต้องและแม่นยำยิ่งขึ้น

Claims (1)

1. วิธีการสำหรับทำเครื่องหมายแสดงจุดบกพร่องและการวิเคราะห์ของฮาร์ดดิสก์ที่เป็น แผ่นฟิล์มบางซึ่งประกอบด้วยขั้นตอนต่างๆของ การทดสอบฮาร์ดดิสก์ที่ได้รับการฟอร์มแมตในดิสก์ไดรฟ์เพื่อระบุตำแหน่งของจุดบกพร่อง การกำหนดตำแหน่งของเซกเตอร์, แทร็ค และไบต์ของจุดบกพร่องดังกล่าว การลบบริเวณส่วนหนึ่งของเซกเตอร์ซึ่งจุดบกพร่องดังกล่าวถูกระบุตำแหน่งโดยไม่ต้องลบ บริเวณเหนือจุดบกพร่องดังกล่าว การนำฮาร์ดดิสก์ออกจากดิสก์ไดรฟ์ การใส่ของไหลที่เป็นแม่เหล็กเฟอร์โรลงไ