TH42301A3 - การควบคุมกระบวนการโดยใช้การตรวจวัดหลายครั้ง - Google Patents

Abstract

DC60 (10/02/43) อุปกรณ์ควบคุมซึ่งประกอบรวมด้วยการตรวจวัด และการวัดค่าพารามิเตอร์ เช่น การมีอยู่ และ ตำแหน่งของส่วนประกอบของสินค้า โดยมีส่วน กำหนดอย่างน้อยสองส่วนซึ่งเป็นตัวแทนของ พารามิเตอร์เป้าหมาย และส่งสัญญาณไปยัง คอมพิวเตอร์ การตรวจวัดดังกล่าวสามารถรวม ถึงสิ่ง จำลองสามชุดหรือมากกว่านั้น โดยที่เป็น ทางเลือกแล้วแต่ละชุดจะมีไว้สำหรับพารามิเตอร์ อย่าง น้อยสองตัว โดยเป็นทางเลือกแล้วจะใช้วิธี การที่แตกต่างกันสองแบบเพื่อวิเคราะห์สัญญาณ ดัง กล่าว การประดิษฐ์นี้จะพิจารณาการตรวจวัด และการวิเคราะห์พารามิเตอร์เป้าหมายโดยการ ใช้ เครื่องมือวิเคราะห์สองตัวหรือมากกว่านั้น ภาย ในภาพที่สอดคล้องกัน เพื่อที่จะตรวจวัด ส่วน ประกอบที่กำหนดให้ของผลิตภัณฑ์ดังกล่าว กล่าวคือ ค่าวัดสองค่าหรือมากกว่านั้นของพารา มิเตอร์ ต่อภาพที่มองเห็นภาพเดียว วิธีการวิเคราะห์อาจ รวมถึงการหาค่าเฉลี่ยของสัญญาณ การ กำหนด จำนวนสัญญาณที่มีระยะเวลาสัญญาณร่วมกัน และ/หรือลักษณะเฉพาะของสัญญาณ การ คำนวณ ความเบี่ยงเบนมาตรฐาน การดัดแปรการจัดหมู่ สัญญาณ เพื่อชดเชยสัญญาณที่ไม่เหมาะ สม และ/ หรือการเปรียบเทียบสัญญาณกับฐานข้อมูลของ การจัดหมู่สัญญาณ วิธีการดังกล่าวจะ สามารถ คำนวณสาเหตุทีอาจเป็นไปได้ของความผิดปกติ บางอย่างในสัญญาณโดยอัตโนมัติ พัฒนาการตอบ สนองที่สอดคล้องกัน และส่งสัญญาณการตอบ สนองไปยังส่วนควบคุมกระบวนการ และภาย หลังจากนั้นไปยังอุปกรณ์ควบคุม วิธีการดังกล่าว จะสามารถสอบเทียบตัวกำหนดอีกครั้ง ได้โดย อัตโนมัติ หรือปรับแก้การวิเคราะห์โดยอัตโนมัติ โดยยึดถือตัวกำหนดน้อยลงไปหนึ่งตัว และ/หรือ นำการตรวจสอบสำรองต่อสินค้าไปใช้โดยอัตโนมัติ อย่างเป็นทางเลือกแล้วจะบันทึก ภาพไว้เพื่อ การวิเคราะห์เพิ่มเติม หรือคัดผลิตภัณฑ์ชิ้นนั้นออก ภาพที่มองเห็นซึ่งได้รับการแปลง เป็นเชิงเลขจะ แทนจุดภาพ และการจัดหมู่ของจุดภาพ วิธีการ ดังกล่าวจะพิจารณาถึงการวิเคราะห์ สิ่งแทนจุด ภาพกับตัวกำหนดอย่างน้อยสองตัวของพารามิเตอร์ในพื้นที่อย่างน้อยสองส่วนของ ภาพ ตาม ลำดับ อย่างเป็นทางเลือกแล้วสำหรับพารามิเตอร์ อย่างน้อยสองตัวที่ตำแหน่งการทำสิ่ง จำลอง โดย ใช้การตีความหมายของซอฟต์แวร์ของพื้นที่ซึ่ง ได้รับการเลือกสรรของภาพที่มองเห็น ดังกล่าว อุปกรณ์ควบคุมซึ่งประกอบรวมด้วยการตรวจวัด และการวัดค่าพารามิเตอร์ เช่น การมีอยู่ และ ตำแหน่งของส่วนประกอบของสินค้า โดยมีส่วน กำหนดอย่างน้อยสองส่วนซึ่งเป็นตัวแทนของ พารามิเตอร์เป้าหมาย และส่งสัญญาณไปยัง คอมพิวเตอร์ การตรวจวัดดังกล่าวสามารถรวม ถึงสิ่ง จำลองสามชุดหรือมากกว่านั้น โดยที่เป็น ทางเลือกแล้วแต่ละชุดจะมีไว้สำหรับพารามิเตอร์ อย่าง น้อยสองตัว โดยเป็นทางเลือกแล้วจะใช้วิธี การที่แตกต่างกันสองแบบเพื่อวิเคราะห์สัญญาณ ดัง กล่าว การประดิษฐ์นี้จะพิจารณาการตรวจวัด และการวิเคราะห์พารามิเตอร์เป้าหมายโดยการ ใช้ เครื่องมือวิเคราะห์สองตัวหรือมากกว่านั้น ภาย ในภาพที่สอดคล้องกัน เพื่อที่จะตรวจวัด ส่วน ประกอบที่กำหนดให้ของผลิตภัณฑ์ดังกล่าว กล่าวคือ ค่าวัดสองค่าหรือมากกว่านั้นของพารา มิเตอร์ ตอภาพที่มองเห็นภาพเดียว วิธีการวิเคราะห์อาจ รวมถึงการหาค่าเฉลี่ยของสัญญาณ การ กำหนด จำนวนสัญญาณที่มีระยะเวลาสัญญาณร่วมกัน และ/หรือลักษณะเฉพาะของสัญญาณ การ คำนวณ ความเบี่ยงเบนมาตรฐาน การดัดแปรการจัดหมู่ สัญญาณ เพือชดเชยสัญญาณที่ไม่เหมาะ สม และ/ หรือการเปรียบเทียบสัญญาณกับฐานข้อมูลของ การจัดหมู่สัญญาณ วิธีการดังกล่าวจะ สามารถ คำนวณสาเหตุทีอาจเป็นไปได้ของความผิดปกติ บางอย่างในสัญญาณโดยอัตโนมัติ พัฒนาการตอบ สนองที่สอดคล้องกัน และส่งสัญญาณการตอบ สนองไปยังส่วนควบคุมกระบวนการ และภาพ หลังจากนั้นไปยังอุปกรณ์ควบคุม วิธีการดังกล่าว จะสามารถสอบเทียบตัวกำหนดอีกครั้ง ได้โดย อัตโนมัติ หรือปรับแก้การวิเคราะห์โดยอัตโนมัติ โดยยึดถือตัวกำหนดน้อยลงไปหนึ่งตัว และ/หรือ นำการตรวจสอบสำรองตอสินค้าไปใช้โดยอัตโนมัติ อย่างเป็นทางเลือกแล้วจะบันทึก ภาพไว้เพือ การวิเคราะห์เพิ่มเติม หรือคัดผลิตภัณฑ์ชิ้นนั้นออก ภาพที่มองเห็นซึ่งได้รับการแปลง เป็นเชิงเลขจะ แทนจุดภาพ และการจัดหมู่ของจุดภาพ วิธีการ ดังกล่าวจะพิจารณาถึงการวิเคราะห์ สิ่งแทนจุด ภาพกับตัวกำหนดอย่างน้อยสองตัวของพารามิเตอร์ในพื้นที่อย่างน้อยสองส่วนของ ภาพ ตาม ลำดับ อย่างเป็นทางเลือกแล้วสำหรับพารามิเตอร์ อย่างน้อยสองตัวที่ตำแหน่งการทำสิ่ง จำลอง โดย ใช้การตีความหมายของซอฟต์แวร์ของพื้นที่ซึ่ง ได้รับการเลือกสรรของภาพที่มองเห็น ดังกล่าว

Claims (1)

1. วิธีการวัดค่าพารามิเตอร์ของสินค้าซึ่งกำลังได้รับการผลิตในปฏิบัติการผลิต วิธี กลางดังกล่าวจะประกอบรวมด้วย (ก) การกำหนดพารามิเตอร์เป้าหมายซึ่งจะวัดค่าต่อสินค้า และสภาวะที่ยอมรับได้ ของพารามิเตอร์เป้าหมาย (ข) การพัฒนากลยุทธ์ในการวัดค่า เพื่อการวัดค่าพารามิเตอร์เป้าหมาย (ค) การตรวจวัดและวัดค่าพารามิเตอร์เป้าหมายด้วยสิ่งจำลองที่แยกจากกัน และแตก ต่างจากกันอย่างชัดเจนที่หนึ่งและที่สอง ในการกำหนดสภาวะของตอนหนึ่งของสินค้า แท็ก :