TH175423A - ตัวเสียบที่เป็นชิ้นส่วนหน้าสัมผัสขนาดเล็ก - Google Patents

ตัวเสียบที่เป็นชิ้นส่วนหน้าสัมผัสขนาดเล็ก

Info

Publication number
TH175423A
TH175423A TH1501004612A TH1501004612A TH175423A TH 175423 A TH175423 A TH 175423A TH 1501004612 A TH1501004612 A TH 1501004612A TH 1501004612 A TH1501004612 A TH 1501004612A TH 175423 A TH175423 A TH 175423A
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
arrangement
contact
connector
enclosures
coordinate
Prior art date
Application number
TH1501004612A
Other languages
English (en)
Inventor
แม็ทธิว แอล. กิลค์ นาย
Original Assignee
นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์
นางสาว ปรับโยชน์ ศรีกิจจาภรณ์
นาย บุญมา เตชะวณิช
นาย ต่อพงศ์ โทณะวณิก
Filing date
Publication date
Application filed by นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์, นางสาว ปรับโยชน์ ศรีกิจจาภรณ์, นาย บุญมา เตชะวณิช, นาย ต่อพงศ์ โทณะวณิก filed Critical นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์
Publication of TH175423A publication Critical patent/TH175423A/th

Links

Abstract

คำขอใหม่ปรับปรุง วันที่ 26/02/2559 ชุดทดสอบแบบชิ้นส่วนหน้าสัมผัสสำหรับใช้ในการทดสอบวงจรรวม ชุดทดสอบนี้ ประกอบด้วย เปลือกหุ้มที่มีพื้นผิวที่หันหน้าตรงกันข้าม และมีร่องหนึ่งร่องหรือมากกว่าที่ยื่นผ่านทะลุ เปลือกหุ้มในระหว่างพื้นผิวเหล่านั้น โดยในขณะใช้งานชุดทดสอบ วงจรรวมที่จะทดสอบจะเข้ามา ใกล้พื้นผิวที่หนึ่งนั้น และพื้นผิวที่สองที่อยู่ใกล้แผงโหลดที่สถานที่ทดสอบ ชิ้นส่วนหน้าสัมผัสจะ รับเข้าไว้ในร่อง ซึ่งชิ้นส่วนหน้าสัมผัสแต่ละชิ้นมีปลายข้างที่หนึ่ง ซึ่งประสานเข้าได้กับขั้วนำไฟฟ้า ของอุปกรณ์วงจรรวม ปลายข้างที่สองของชิ้นส่วนหน้าสัมผัสแต่ละชิ้นจะประสานนอยู่กับขั้วต่อที่ สมนัยกัน ชิ้นส่วนหน้าสัมผัสแต่ละชิ้นสามารถเคลื่อนที่ได้ระหว่างการจัดเรียงลักษณะที่หนึ่งซึ่งไม่ ประสานกับขั้วนำไฟฟ้าที่สมนับกันของไอซี และการจัดเรียงลักษณะที่สองซึ่งไอซีประสานเข้ากับ ขั้วนำไฟฟ้าที่สมนัยกันของไอซี และได้รับการผลักดันเข้าไป ในร่องของชิ้นส่วนหน้าสัมผัส ชิ้นส่วนยืดหยุ่นจะทำให้ชิ้นส่วนหน้าสัมผัสมีลักษณะโน้มเอียงไปสู่ลักษณะการจัดเรียงลักษณะที่หนึ่ง เมื่อชิ้นส่วนหน้าสัมผัสเคลื่อนที่ไประหว่างลักษณะการจัดเรียงลักษณะที่หนึ่งและลักษณะที่สอง จะไม่เลื่อนข้ามขั้วต่อของแผงโหลด

Claims (1)

: คำขอใหม่ปรับปรุง วันที่ 26/02/2559 ชุดทดสอบแบบชิ้นส่วนหน้าสัมผัสสำหรับใช้ในการทดสอบวงจรรวม ชุดทดสอบนี้ ประกอบด้วย เปลือกหุ้มที่มีพื้นผิวที่หันหน้าตรงกันข้าม และมีร่องหนึ่งร่องหรือมากกว่าที่ยื่นผ่านทะลุ เปลือกหุ้มในระหว่างพื้นผิวเหล่านั้น โดยในขณะใช้งานชุดทดสอบ วงจรรวมที่จะทดสอบจะเข้ามา ใกล้พื้นผิวที่หนึ่งนั้น และพื้นผิวที่สองที่อยู่ใกล้แผงโหลดที่สถานที่ทดสอบ ชิ้นส่วนหน้าสัมผัสจะ รับเข้าไว้ในร่อง ซึ่งชิ้นส่วนหน้าสัมผัสแต่ละชิ้นมีปลายข้างที่หนึ่ง ซึ่งประสานเข้าได้กับขั้วนำไฟฟ้า ของอุปกรณ์วงจรรวม ปลายข้างที่สองของชิ้นส่วนหน้าสัมผัสแต่ละชิ้นจะประสานนอยู่กับขั้วต่อที่ สมนัยกัน ชิ้นส่วนหน้าสัมผัสแต่ละชิ้นสามารถเคลื่อนที่ได้ระหว่างการจัดเรียงลักษณะที่หนึ่งซึ่งไม่ ประสานกับขั้วนำไฟฟ้าที่สมนับกันของไอซี และการจัดเรียงลักษณะที่สองซึ่งไอซีประสานเข้ากับ ขั้วนำไฟฟ้าที่สมนัยกันของไอซี และได้รับการผลักดันเข้าไป ในร่องของชิ้นส่วนหน้าสัมผัส ชิ้นส่วนยืดหยุ่นจะทำให้ชิ้นส่วนหน้าสัมผัสมีลักษณะโน้มเอียงไปสู่ลักษณะการจัดเรียงลักษณะที่หนึ่ง เมื่อชิ้นส่วนหน้าสัมผัสเคลื่อนที่ไประหว่างลักษณะการจัดเรียงลักษณะที่หนึ่งและลักษณะที่สอง จะไม่เลื่อนข้ามขั้วต่อของแผงโหลดข้อถือสิทธิ์ (ข้อที่หนึ่ง) ซึ่งจะปรากฏบนหน้าประกาศโฆษณา : คำขอใหม่ปรับปรุง วันที่ 26/02/2559
1. อุปกรณ์สำหรับการเชื่อมต่อระหว่างกันทางไฟฟ้าอย่างชั่วคราวของขั้วนำไฟฟ้าของ อุปกรณ์เข้ากับขั้วต่อของอุปกรณ์ทดสอบที่ประกอบรวมด้วย a) เปลือกหุ้มที่มีพื้นผิวที่หนึ่งและสองที่เป็นระนาบที่อยู่ตรงข้ามและขนานกันที่มี &nbแท็ก :
TH1501004612A 2004-04-23 ตัวเสียบที่เป็นชิ้นส่วนหน้าสัมผัสขนาดเล็ก TH175423A (th)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TH175423A true TH175423A (th) 2018-04-19

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI266882B (en) High performance probe system
MY139036A (en) Improved integrated circuit contact to test apparatus
WO2005065258A3 (en) Active wafer probe
DK1581111T3 (da) Sensormodul til måling af overflader
ATE371196T1 (de) Vorrichtung für eine schnittstelle zwischen elektronischen gehäusen und testgeräten
GB2446629A (en) Technique for evaluating local electrical characteristics in semiconductor devices
ATE421173T1 (de) Steckverbinder für elektronische bauelemente
EP1503217A3 (en) Electronic component test apparatus
TW200620518A (en) Semiconductor test device and test component tray used for the same
TW200734661A (en) Electronic component device testing apparatus
TH175423A (th) ตัวเสียบที่เป็นชิ้นส่วนหน้าสัมผัสขนาดเล็ก
ATE382869T1 (de) Testen integrierter schaltungen
WO2001009980A3 (en) Controlled compliance fine pitch interconnect
CN207866977U (zh) Fpc测试转接治具
TWI234660B (en) Arch type probe and probe card using same
CN201134093Y (zh) 负载测具
CN205643625U (zh) 主板测试组件
TH47928B (th) ตัวเสียบที่เป็นชิ้นส่วนหน้าสัมผัสขนาดเล็ก
TH68080A (th) ตัวเสียบที่เป็นชิ้นส่วนหน้าสัมผัสขนาดเล็ก
ATE338278T1 (de) Vielsondentestkopf und prüfverfahren
MY149802A (en) Device and method for testing electronic components
KR950014898A (ko) 집적 회로 테스팅 장치
US11768223B2 (en) Testing device and probe elements thereof
CN109814023A (zh) 电源板测试装置
US20120014589A1 (en) Method for analyzing peripheral component interconnect sockets