TH172288A - สับสเตรทสำหรับการติดตั้งชิ้นส่วนเซมิคอนดักเตอร์และวิธีการสำหรับการผลิต สับสเตรทดังกล่าว - Google Patents

สับสเตรทสำหรับการติดตั้งชิ้นส่วนเซมิคอนดักเตอร์และวิธีการสำหรับการผลิต สับสเตรทดังกล่าว

Info

Publication number
TH172288A
TH172288A TH1501002714A TH1501002714A TH172288A TH 172288 A TH172288 A TH 172288A TH 1501002714 A TH1501002714 A TH 1501002714A TH 1501002714 A TH1501002714 A TH 1501002714A TH 172288 A TH172288 A TH 172288A
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
layer
resistor
resistor layer
exposed
light
Prior art date
Application number
TH1501002714A
Other languages
English (en)
Inventor
โฮโซโมมิ ชิเกรุ
Original Assignee
นาง ดารานีย์ วัจนะวุฒิวงศ์
นางสาว สนธยา สังขพงศ์
นางสาว สุคนธ์ทิพย์ จิตมงคลทอง
Filing date
Publication date
Application filed by นาง ดารานีย์ วัจนะวุฒิวงศ์, นางสาว สนธยา สังขพงศ์, นางสาว สุคนธ์ทิพย์ จิตมงคลทอง filed Critical นาง ดารานีย์ วัจนะวุฒิวงศ์
Publication of TH172288A publication Critical patent/TH172288A/th

Links

Abstract

แก้ไข บทสรุป 25/06/2558 สิ่งที่ถูกจัดให้ไว้คือสับสเตรทสำหรับการติดตั้งชิ้นส่วนเซมิคอนดักเตอร์ที่มีความยึดติด ที่เพิ่มขึ้นระหว่างชั้นอิเล็กโทรด และ เรซิน และวิธีการสำหรับการผลิตสับสเตรทนั้นโดยอาศัย รูปทรงภาคตัดที่เป็นสี่เหลี่ยมคางหมูกลับหัวอย่างมีนัยสำคัญ และ พื้นผิวด้านข้างที่ถูกทำให้หยาบ ของชั้นอิเล็กโทรด วิธีการสำหรับการผลิตสับสเตรทสำหรับการติดตั้งชิ้นส่วนเซมิคอนดักเตอร์ รวมถึง ขั้นตอนที่เป็นลำดับขั้นต่อไปนี้ a) ขั้นตอนของการสร้างชั้นตัวต้านทานที่เป็นสองชั้นซึ่ง ถูกสร้างขั้นจากชั้นตัวต้านทานด้านล่าง และ ชั้นตัวต้านทานด้านบน บนพื้นผิวด้านหน้าของแผ่น โลหะโดยการใช้ตัวต้านทานแต่ละอันที่มีความยาวคลื่นที่ไวต่อแสงหลักที่ต่างกัน; b) ขั้นตอนของ การทำให้ชั้นตัวต้านทานด้านบนเผยสัมผัสกับแสงในรูปแบบที่กำหนดไว้ก่อนหน้าในขณะที่ชั้น ตัวต้านทานด้านล่างอยู่ในสถานะที่ไม่ถูกทำให้เผยสัมผัสกับแสง; c)ขั้นตอนการพัฒนาของการ สร้างช่องเปิดในรูปแบบที่กำหนดไว้ก่อนหน้าในชั้นตัวต้านทานด้านบนและการสร้างช่องเปิด เพิ่มเติมที่มีรูปแบบของชั้นตัวต้านทานด้านบนในชั้นตัวต้านทานด้านล่างที่ไม่ถูกทำให้เผยสัมผัสกับ แสงเพื่อเผยสัมผัสพื้นผิวด้านหน้าของแผ่นโลหะบางส่วน; d)ขั้นตอนของการเผยสัมผัสกับแสง และ การทำให้ชั้นตัวต้านทานด้านล่างคงตัว; e) ขั้นตอนของการสร้างชั้นซึ่งถูกชุบซึ่งถูกกำหนดไว้ ก่อนหน้าบนพื้นผิวด้านหน้าของแผ่นโลหะซึ่งเผยสัมผัสจากชั้นตัวต้านทานด้านล่าง; f) ขั้นตอน ของการลอกออกทั้งหมดของชั้นตัวต้านทานสองชั้นซึ่งสร้างขึ้นจากชั้นตัวต้านทานด้านล่าง และชั้น ตัวต้านทานด้านบน; และ g) ขั้นตอนของการทำให้พื้นผิวด้านข้างของแต่ละชั้นซึ่งถูกชุบซึ่งถูก สร้างขึ้นในขั้นตอน (e) นั้น หยาบ ------------------------------------------ คำขอใหม่ปรับปรุงวันที่ 23/02/2559 สิ่งที่ถูกจัดให้ไว้คือสับสเตรทสำหรับการติดตั้งชิ้นส่วนเซมิคอนดักเตอร์ที่มีความยึดติด ที่เพิ่มขึ้นระหว่างชั้นอิเล็กโทรด และ เรซิน และวิธีการสำหรับการผลิตสับสเตรทนั้นโดยอาศัย รูปทรงภาคตัดที่เกือบเป็นสี่เหลี่ยมคางหมูกลัวหัว และ พื้นผิวด้านข้างที่ถูกทำให้หยาบของ ชั้นอิเล็กโทรด วิธีการสำหรับการผลิตสับสเตรทสำหรับการติดตั้งชิ้นส่วนเซมิคอนดักเตอร์รวมถึง ขั้นตอนที่เป็นลำดับขั้นต่อไปนี้: a) ขั้นตอนการสร้างชั้นตัวต้านทานที่เป็นสองชั้นซึ่งถูกสร้าง ขึ้นจากชั้นตัวต้านทานด้านล่าง และ ชั้นตัวต้านทานด้านบน บนพื้นผิวด้านหน้าของแผ่นโลหะ โดยการใช้ตัวต้านทานแต่ละอันที่มีความยาวคลื่นที่ไวต่อแสงหลักที่ต่างกัน; b) ขั้นตอนของการ ทำให้ชั้นตัวต้านทานด้านบนเผยสัมผัสกับแสงในรูปแบบที่กำหนดไว้ก่อนหน้าในขณะที่ชั้นตัว ต้านทานด้านล่างอยู่ในสถานะที่ไม่ถูกทำให้เผยสัมผัสกับแสง; c) ขั้นตอนการพัฒนาของการสร้าง ช่องเปิดในรูปแบบที่กำหนดไว้ก่อนหน้าในชั้นตัวต้านทานด้านบนและการสร้างช่องเปิดเพิ่มเติมที่มี รูปแบบของชั้นตัวต้านทานด้านบนในชั้นตัวต้านทานด้านล่างที่ไม่ถูกทำให้เผยสัมผัสกับแสงเพื่อ เผยสัมผัสพื้นผิวด้านหน้าของแผ่นโลหะบางส่วน; d) ขั้นตอนของการเผยสัมผัสกับแสง และ การทำ ให้ชั้นตัวต้านทานด้านล่างคงตัว; e) ขั้นตอนของการสร้างชั้นซึ่งถูกชุบซึ่งถูกกำหนดไว้ก่อนหน้า บนพื้นผิวด้านหน้าของแผ่นโลหะซึ่งเผยสัมผัสจากชั้นตัวต้านทานด้านล่าง; f) ขั้นตอนของการลอก ออกทั้งหมดของชั้นตัวต้านทานสอง-ชั้นซึ่งสร้างขึ้นจากชั้นตัวต้านทานด้านล่าง และชั้นตัวต้านทาน ด้านบน; และ g) ขั้นตอนของการทำให้พื้นผิวด้านข้างของแต่ละชั้นซึ่งถูกชุบซึ่งถูกสร้างขึ้นใน ขั้นตอน (e) นั้นหยาบ:

Claims (1)

: แก้ไข บทสรุป 25/06/2558 สิ่งที่ถูกจัดให้ไว้คือสับสเตรทสำหรับการติดตั้งชิ้นส่วนเซมิคอนดักเตอร์ที่มีความยึดติด ที่เพิ่มขึ้นระหว่างชั้นอิเล็กโทรด และ เรซิน และวิธีการสำหรับการผลิตสับสเตรทนั้นโดยอาศัย รูปทรงภาคตัดที่เป็นสี่เหลี่ยมคางหมูกลับหัวอย่างมีนัยสำคัญ และ พื้นผิวด้านข้างที่ถูกทำให้หยาบ ของชั้นอิเล็กโทรด วิธีการสำหรับการผลิตสับสเตรทสำหรับการติดตั้งชิ้นส่วนเซมิคอนดักเตอร์ รวมถึง ขั้นตอนที่เป็นลำดับขั้นต่อไปนี้: a) ขั้นตอนของการสร้างชั้นตัวต้านทานที่เป็นสองชั้นซึ่ง ถูกสร้างขั้นจากชั้นตัวต้านทานด้านล่าง และ ชั้นตัวต้านทานด้านบน บนพื้นผิวด้านหน้าของแผ่น โลหะโดยการใช้ตัวต้านทานแต่ละอันที่มีความยาวคลื่นที่ไวต่อแสงหลักที่ต่างกัน; b) ขั้นตอนของ การทำให้ชั้นตัวต้านทานด้านบนเผยสัมผัสกับแสงในรูปแบบที่กำหนดไว้ก่อนหน้าในขณะที่ชั้น ตัวต้านทานด้านล่างอยู่ในสถานะที่ไม่ถูกทำให้เผยสัมผัสกับแสง; c)ขั้นตอนการพัฒนาของการ สร้างช่องเปิดในรูปแบบที่กำหนดไว้ก่อนหน้าในชั้นตัวต้านทานด้านบนและการสร้างช่องเปิด เพิ่มเติมที่มีรูปแบบของชั้นตัวต้านทานด้านบนในชั้นตัวต้านทานด้านล่างที่ไม่ถูกทำให้เผยสัมผัสกับ แสงเพื่อเผยสัมผัสพื้นผิวด้านหน้าของแผ่นโลหะบางส่วน; d)ขั้นตอนของการเผยสัมผัสกับแสง และ การทำให้ชั้นตัวต้านทานด้านล่างคงตัว; e) ขั้นตอนของการสร้างชั้นซึ่งถูกชุบซึ่งถูกกำหนดไว้ ก่อนหน้าบนพื้นผิวด้านหน้าของแผ่นโลหะซึ่งเผยสัมผัสจากชั้นตัวต้านทานด้านล่าง; f) ขั้นตอน ของการลอกออกทั้งหมดของชั้นตัวต้านทานสองชั้นซึ่งสร้างขึ้นจากชั้นตัวต้านทานด้านล่าง และชั้น ตัวต้านทานด้านบน; และ g) ขั้นตอนของการทำให้พื้นผิวด้านข้างของแต่ละชั้นซึ่งถูกชุบซึ่งถูก สร้างขึ้นในขั้นตอน (e) นั้น หยาบ ------------------------------------------ คำขอใหม่ปรับปรุงวันที่ 23/02/2559 สิ่งที่ถูกจัดให้ไว้คือสับสเตรทสำหรับการติดตั้งชิ้นส่วนเซมิคอนดักเตอร์ที่มีความยึดติด ที่เพิ่มขึ้นระหว่างชั้นอิเล็กโทรด และ เรซิน และวิธีการสำหรับการผลิตสับสเตรทนั้นโดยอาศัย รูปทรงภาคตัดที่เกือบเป็นสี่เหลี่ยมคางหมูกลัวหัว และ พื้นผิวด้านข้างที่ถูกทำให้หยาบของ ชั้นอิเล็กโทรด วิธีการสำหรับการผลิตสับสเตรทสำหรับการติดตั้งชิ้นส่วนเซมิคอนดักเตอร์รวมถึง ขั้นตอนที่เป็นลำดับขั้นต่อไปนี้: a) ขั้นตอนการสร้างชั้นตัวต้านทานที่เป็นสองชั้นซึ่งถูกสร้าง ขึ้นจากชั้นตัวต้านทานด้านล่าง และ ชั้นตัวต้านทานด้านบน บนพื้นผิวด้านหน้าของแผ่นโลหะ โดยการใช้ตัวต้านทานแต่ละอันที่มีความยาวคลื่นที่ไวต่อแสงหลักที่ต่างกัน; b) ขั้นตอนของการ ทำให้ชั้นตัวต้านทานด้านบนเผยสัมผัสกับแสงในรูปแบบที่กำหนดไว้ก่อนหน้าในขณะที่ชั้นตัว ต้านทานด้านล่างอยู่ในสถานะที่ไม่ถูกทำให้เผยสัมผัสกับแสง; c) ขั้นตอนการพัฒนาของการสร้าง ช่องเปิดในรูปแบบที่กำหนดไว้ก่อนหน้าในชั้นตัวต้านทานด้านบนและการสร้างช่องเปิดเพิ่มเติมที่มี รูปแบบของชั้นตัวต้านทานด้านบนในชั้นตัวต้านทานด้านล่างที่ไม่ถูกทำให้เผยสัมผัสกับแสงเพื่อ เผยสัมผัสพื้นผิวด้านหน้าของแผ่นโลหะบางส่วน; d) ขั้นตอนของการเผยสัมผัสกับแสง และ การทำ ให้ชั้นตัวต้านทานด้านล่างคงตัว; e) ขั้นตอนของการสร้างชั้นซึ่งถูกชุบซึ่งถูกกำหนดไว้ก่อนหน้า บนพื้นผิวด้านหน้าของแผ่นโลหะซึ่งเผยสัมผัสจากชั้นตัวต้านทานด้านล่าง; f) ขั้นตอนของการลอก ออกทั้งหมดของชั้นตัวต้านทานสอง-ชั้นซึ่งสร้างขึ้นจากชั้นตัวต้านทานด้านล่าง และชั้นตัวต้านทาน ด้านบน; และ g) ขั้นตอนของการทำให้พื้นผิวด้านข้างของแต่ละชั้นซึ่งถูกชุบซึ่งถูกสร้างขึ้นใน ขั้นตอน (e) นั้นหยาบข้อถือสิทธิ์ (ข้อที่หนึ่ง) ซึ่งจะปรากฏบนหน้าประกาศโฆษณา : แก้ไข 25/06/2558
1. วิธีการสำหรับการผลิตสับสเตรทสำหรับการติดตั้งชิ้นส่วนเซมิคอนดักเตอร์ ซึ่ง เป็นวิธีการที่ประกอบรวมด้วยขั้นตอน (a) ถึง (g) ต่อไปนี้เป็นลำดับขั้น: a) ขั้นตอนของการสร้างชั้นตัวต้านทานซึ่งถูกลามิเนตบนพื้นผิวด้านหน้าของแผ่นโลหะ ซึ่ง ชั้นตัวต้านทานซึ่งถูกลามิเนตนั้นถูกสร้างจากสองชั้นของชั้นตัวต้านทานด้านล่าง และชั้นตัว ต้านทานด้านบน โดยการใช้ตัวต้านทานสองประเภท ซึ่งตัวต้านทานแต่ละประเภทมีความยาวคลื่น ที่ต่างกัน ในฐานะเป็นแท็ก :
TH1501002714A 2013-11-01 สับสเตรทสำหรับการติดตั้งชิ้นส่วนเซมิคอนดักเตอร์และวิธีการสำหรับการผลิต สับสเตรทดังกล่าว TH172288A (th)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TH172288A true TH172288A (th) 2018-01-11

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2011129810A (ru) Способы изготовления панелей и изготавливаемая такими способами панель
JP2017516308A5 (th)
WO2007104171A3 (fr) Procede de fabrication par liga-uv d'une structure metallique multicouche a couches adjacentes non entierement superposees, et structure obtenue
JP2019201206A5 (th)
WO2010070485A3 (en) Methods for manufacturing panels
JP2020513475A5 (th)
JP2011129165A5 (th)
ATE557406T1 (de) Strukturierte elektretstrukturen und verfahren zur herstellung von strukturierten elektretstrukturen
TWI456628B (zh) 製造光罩的方法
JP2015505639A5 (th)
JP2015216344A5 (th)
JP2016207959A5 (th)
JP2015097258A5 (th)
JP2013501375A5 (th)
TW201713184A (en) Three-dimensional wiring board production method, three-dimensional wiring board, and substrate for three-dimensional wiring board
JP2012138570A5 (th)
JP2013232484A5 (th)
JP2014135417A5 (th)
JP2015530630A5 (th)
CN107580412A (zh) 阶梯电路板及其制作方法
PH12015501133B1 (en) Substrate for mounting semiconductor element and method for manufacturing said substrate
CN108511502B (zh) 一种阵列基板、显示面板、显示装置及阵列基板的制备方法
JP2016149517A5 (th)
JP2017139433A5 (th)
TH172288A (th) สับสเตรทสำหรับการติดตั้งชิ้นส่วนเซมิคอนดักเตอร์และวิธีการสำหรับการผลิต สับสเตรทดังกล่าว