TH166834B - โพรบการ์ดความราบเรียบสูงสำหรับเครื่องมือทดสอบสำหรับอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ - Google Patents
โพรบการ์ดความราบเรียบสูงสำหรับเครื่องมือทดสอบสำหรับอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์Info
- Publication number
- TH166834B TH166834B TH1601005055A TH1601005055A TH166834B TH 166834 B TH166834 B TH 166834B TH 1601005055 A TH1601005055 A TH 1601005055A TH 1601005055 A TH1601005055 A TH 1601005055A TH 166834 B TH166834 B TH 166834B
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- probe
- support
- card
- electronics
- test
- Prior art date
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract 8
- 230000002787 reinforcement Effects 0.000 claims abstract 2
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract 1
- 230000001131 transforming Effects 0.000 abstract 1
Abstract
บรรยายโพรบการ์ดสำหรับเครื่องมือทดสอบของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ซึ่งประกอบรวมด้วย อย่างน้อยที่สุดหนึ่งหัวทดสอบ (21) ซึ่งเป็นที่อยู่ของโพรบสัมผัสจำนวนหนึ่ง (22), แต่ละโพรบสัมผัส (22) ที่มีอย่างน้อยที่สุดหนึ่งปลายสัมผัสที่เหมาะสมเพื่อให้ค้ำยันอยู่บนแผ่นสัมผัสของอุปกรณ์ภายใต้ การทดสอบ (25), และแผ่นรองรับ (23) ของหัวทดสอบ (21) ที่สัมพันธ์กับแผ่นเสริมแรง (24) และ ส่วนรองรับระหว่างกลาง (26), ที่ถูกต่อเข้ากับแผ่นรองรับ (23) ดังกล่าวและที่เหมาะสมเพื่อจัดให้มี การแปลงเชิงพื้นที่ของระยะทางระหว่างแผ่นสัมผัสที่ผลิตอยู่บนผิวหน้าตรงข้ามกันของมัน โดยสะดวกแล้ว, โพรบการ์ด (20) จะประกอบรวมด้วยชิ้นส่วนรองรับ (28) ซึ่งถูกทำให้เป็นปึกแผ่น เข้ากับส่วนรองรับระหว่างกลาง (26), ชิ้นส่วนรองรับ (28) นี้ถูกผลิตโดยอาศัยวัสดุที่มีความแข็งแกร่ง มากกว่าส่วนรองรับระหว่างกลาง (26), โดยที่สามารถจัดให้มีการปรับตรงจุลภาคเฉพาะที่ของ ส่วนรองรับระหว่างกลาง (26)
Claims (1)
1. โพรบการ์ด (20) สำหรับเครื่องมือทดสอบของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์, ซึ่งประกอบรวมด้วยอย่างน้อยที่สุดหนึ่งหัวทดสอบ (21) ซึ่งเป็นที่อยู่ของโพรบสัมผัสจำนวนหนึ่ง (22), แต่ละโพรบสัมผัส (22), ที่มีอย่างน้อยที่สุดปลายสัมผัสที่เหมาะสมเพื่อให้ค้ำยันอยู่บนแผ่นสัมผัส ของอุปกรณ์ภายใต้การทดสอบ (25), แผ่นรองรับ (23) ของหัวทดสอบ (21) ดังกล่าวที่สัมพันธ์กับแผ่น เสริมแรง (24), ส่วนรองรับระหว่า
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH166834B true TH166834B (th) | 2017-08-31 |
| TH166834A TH166834A (th) | 2017-08-31 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| PH12016501754A1 (en) | High-planarity probe card for a testing apparatus of electronic devices | |
| PH12016501753A1 (en) | Probe card for a testing apparatus of electronic devices, particularly for extreme temperature applications | |
| PH12017501807A1 (en) | Vertical contact probe and corresponding testing head with vertical contact probes, particularly for high frequency applications | |
| PH12017501673A1 (en) | Testing head with vertical probes having an improved sliding movement within respective guide holes and correct holding of the probes within the testing head under different operative conditions | |
| TW200642027A (en) | Probe assembly, method of producing it and electrical connecting apparatus | |
| PH12017501672A1 (en) | Testing head with vertical probes, particularly for high frequency applications | |
| MY200160A (en) | Probe card for a testing apparatus of electronic devices | |
| WO2016087369A3 (en) | Testing head comprising vertical probes | |
| WO2017124108A3 (en) | Devices and methods for tension measurements and applications of same | |
| WO2013182317A8 (en) | Probe card for an apparatus for testing electronic devices | |
| CN204479521U (zh) | 一种用于超声波法测量残余应力的配套装置 | |
| CN102830171A (zh) | 一种岩体试件超声波测试设备 | |
| TH166834B (th) | โพรบการ์ดความราบเรียบสูงสำหรับเครื่องมือทดสอบสำหรับอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ | |
| TH166834A (th) | โพรบการ์ดความราบเรียบสูงสำหรับเครื่องมือทดสอบสำหรับอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ | |
| MY186825A (en) | Device for pressing electronic component with different downward forces | |
| TH170466B (th) | โพรบการ์ดสำหรับเครื่องมือทดสอบของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ โดยเฉพาะอย่างยิ่งสำหรับการประยุกต์ใช้อุณหภูมิสุดยอด | |
| CN203940835U (zh) | 多点位移精确测量实验设备 | |
| SE0800335L (sv) | Mätanordning | |
| CN105204199B (zh) | 测试机台及测试装置 | |
| WO2014009980A8 (en) | Interface board of a testing head for a test equipment of electronic devices and corresponding testing head | |
| FI9867U1 (fi) | Mittaväline anatomisen mittauspisteen määrittämiseksi | |
| TH170466A (th) | โพรบการ์ดสำหรับเครื่องมือทดสอบของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ โดยเฉพาะอย่างยิ่งสำหรับการประยุกต์ใช้อุณหภูมิสุดยอด | |
| CN105784471B (zh) | 一种测试点爆铝壳防爆压力的夹具装置 | |
| CN104714062B (zh) | 防短路信号测试探针 | |
| CN204182106U (zh) | 智能感应式仰卧起坐测试仪 |