บรรยายโพรบการ์ดสำหรับเครื่องมือทดสอบของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ซึ่งประกอบรวมด้วย อย่างน้อยที่สุดหนึ่งหัวทดสอบ (21) ซึ่งเป็นที่อยู่ของโพรบสัมผัสจำนวนหนึ่ง (22), แต่ละโพรบสัมผัส (22) ที่มีอย่างน้อยที่สุดหนึ่งปลายสัมผัสที่เหมาะสมเพื่อให้ค้ำยันอยู่บนแผ่นสัมผัสของอุปกรณ์ภายใต้ การทดสอบ (25), และแผ่นรองรับ (23) ของหัวทดสอบ (21) ที่สัมพันธ์กับแผ่นเสริมแรง (24) และ ส่วนรองรับระหว่างกลาง (26), ที่ถูกต่อเข้ากับแผ่นรองรับ (23) ดังกล่าวและที่เหมาะสมเพื่อจัดให้มี การแปลงเชิงพื้นที่ของระยะทางระหว่างแผ่นสัมผัสที่ผลิตอยู่บนผิวหน้าตรงข้ามกันของมัน โดยสะดวกแล้ว, โพรบการ์ด (20) จะประกอบรวมด้วยชิ้นส่วนรองรับ (28) ซึ่งถูกทำให้เป็นปึกแผ่น เข้ากับส่วนรองรับระหว่างกลาง (26), ชิ้นส่วนรองรับ (28) นี้ถูกผลิตโดยอาศัยวัสดุที่มีความแข็งแกร่ง มากกว่าส่วนรองรับระหว่างกลาง (26), โดยที่สามารถจัดให้มีการปรับตรงจุลภาคเฉพาะที่ของ ส่วนรองรับระหว่างกลาง (26) Describe the probe card for the test instrument of electronic equipment, which includes At least one probe (21), which is the address of a number of touch probes (22), each touch probe (22) with at least one appropriate contact tip to support the contact pads of the device. Under test (25), and the support plate (23) of the test head (21) in relation to the reinforcement plate (24) and the intermediate support (26), which is connected to the aforementioned support plate (23). And appropriate to provide The spatial transformation of the distances between the contact pads produced on their opposite surfaces. Conveniently, the card probe (20) is assembled with the supporting parts (28) that are solidified. To the intermediate support (26), this support (28) is manufactured using a rigid material. Rather than the intermediate supports (26), where local comma adjustment of the Intermediate supports (26)
Claims (1)
1. โพรบการ์ด (20) สำหรับเครื่องมือทดสอบของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์, ซึ่งประกอบรวมด้วยอย่างน้อยที่สุดหนึ่งหัวทดสอบ (21) ซึ่งเป็นที่อยู่ของโพรบสัมผัสจำนวนหนึ่ง (22), แต่ละโพรบสัมผัส (22), ที่มีอย่างน้อยที่สุดปลายสัมผัสที่เหมาะสมเพื่อให้ค้ำยันอยู่บนแผ่นสัมผัส ของอุปกรณ์ภายใต้การทดสอบ (25), แผ่นรองรับ (23) ของหัวทดสอบ (21) ดังกล่าวที่สัมพันธ์กับแผ่น เสริมแรง (24), ส่วนรองรับระหว่า1. Probe card (20) for test instruments of electronic equipment, which consists of at least one probe (21) housing a number of touch probes (22), each contact probe (22), With, at the very least, the appropriate contact end to provide support on the contact pad. Of the device under test (25), the support plate (23) of the test head (21) in relation to the reinforcement plate (24), the support between
TH1601005055A2015-03-05
High smoothness card probe for testing instruments for electronics
TH166834B
(en)
Testing head with vertical probes having an improved sliding movement within respective guide holes and correct holding of the probes within the testing head under different operative conditions