TH150099A - ตัวสัมผัสวงจรรวมระดับเวเฟอร์และวิธีการสร้าง - Google Patents
ตัวสัมผัสวงจรรวมระดับเวเฟอร์และวิธีการสร้างInfo
- Publication number
- TH150099A TH150099A TH1401007613A TH1401007613A TH150099A TH 150099 A TH150099 A TH 150099A TH 1401007613 A TH1401007613 A TH 1401007613A TH 1401007613 A TH1401007613 A TH 1401007613A TH 150099 A TH150099 A TH 150099A
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- elastomer
- angle
- legs
- leg
- aligned
- Prior art date
Links
- 238000010276 construction Methods 0.000 title 1
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 claims abstract 10
- 239000000806 elastomer Substances 0.000 claims abstract 10
- 238000007906 compression Methods 0.000 claims abstract 4
- 230000000284 resting Effects 0.000 claims abstract 2
- 239000000725 suspension Substances 0.000 claims abstract 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims 1
Abstract
DC60 (19/12/57) อุปกรณ์ทดสอบสำหรับทดสอบระดับเวเฟอร์ของวงจร IC ถูกเปิดเผยไว้ ขาด้านบนและด้านล่าง (22, 62) ถูกจัดโครงแบบให้เลื่อนโดยสัมพัทธ์กันและคงให้มีการสัมผัสแบบถ่วงทางไฟฟ้าโดย อีลาสโตเมอร์ (80) อีลาสโตเมอร์ถูกบีบอัดไว้ล่วงหน้าจากสภาวะที่มีการพักชั่วคราวตามธรรมชาติของมัน ระหว่างแผ่นบนสุด (22) กับด้านล่างสุด (70) การบีบอัดไว้ล่วงหน้าจะช่วยเพิ่มการตอบสนองแบบคืน สภาพได้ของขา ส่วนยอดของขา (40) ถูกคงสภาพให้ร่วมระนาบกันค่อนข้างมากโดยการคาบเกี่ยวปีก (44a-b) อย่างน้อยหนึ่งอันต้านกับผิวหน้าหยุดด้านบน 90 ของแผ่น 20 อันเป็นการประกันให้มีลักษณะที่ ร่วมระนาบกันของส่วนยอด ตัวนำร่องขา (12) ถูกคงสภาพให้เรียงแนวกับตัวยึด 14 โดยการสร้างมุม สำหรับทำให้ได้ระดับกัน (506) และขับดันตัวนำร่องเข้าไปในมุมโดยอีลาสโมเตอร์ในมุมตรงกันข้ามตาม แนวเส้นทแยงมุมอย่างน้อยหนึ่งมุม อุปกรณ์ทดสอบสำหรับทดสอบระดับเวเฟอร์ของวงจร IC ถูกเปิดเผยไว้ ขาด้านบนและด้านล่าง (22,62) ถูกจัดแบบให้เลื่อนโดยสัมพันธ์กันแะคงให้มีการสัมผัสแบบถ่วงทางไฟฟ้าโดย อีลาสโตเมอร์ (80) อีลาสโตเมร์ถูกบีบอัดไว้ล่วงหน้าจากสภาวะที่มีการพักชั่วคราวตามธรรมชาติของมัน ระหว่างแผ่นบนสุด (22) กับด้านล่างสุด (70) การบีบอัดไว้ล่วงหน้าจะช่วยเพิ่มการตอบสนองแบบคืน สภาพได้ของขา ส่วนยอดของขา (40) ถูกคงสภาพให้ร่วมระนาบกันค่อนข้างมากโดยการคาบเกี่ยวปีก (44a-b) อย่างน้อยหนึ่งอันต้านกับผิวหน้าหยุดด้านบน 90 ของแผ่น 20 อันเป็นการประกันให้มีลักษณะที่ ร่วมระนาบกันของส่วนยอด ตัวนำร่องขา (12) ถูกคงสภาพให้เรียงแนวกับตัวยึด 14 โดยการสร้างมุม สำหรับทำให้ได้ระดับกัน (506) และขับดันตัวนำร่องเข้าไปในมุมโดยอีลาสโมเตอร์ในมุมตรงกันข้ามตาม แนวเส้นทแยงมุมอย่างน้อยหนึ่งมุม
Claims (1)
- : DC60 (19/12/57) อุปกรณ์ทดสอบสำหรับทดสอบระดับเวเฟอร์ของวงจร IC ถูกเปิดเผยไว้ ขาด้านบนและด้านล่าง (22, 62) ถูกจัดโครงแบบให้เลื่อนโดยสัมพัทธ์กันและคงให้มีการสัมผัสแบบถ่วงทางไฟฟ้าโดย อีลาสโตเมอร์ (80) อีลาสโตเมอร์ถูกบีบอัดไว้ล่วงหน้าจากสภาวะที่มีการพักชั่วคราวตามธรรมชาติของมัน ระหว่างแผ่นบนสุด (22) กับด้านล่างสุด (70) การบีบอัดไว้ล่วงหน้าจะช่วยเพิ่มการตอบสนองแบบคืน สภาพได้ของขา ส่วนยอดของขา (40) ถูกคงสภาพให้ร่วมระนาบกันค่อนข้างมากโดยการคาบเกี่ยวปีก (44a-b) อย่างน้อยหนึ่งอันต้านกับผิวหน้าหยุดด้านบน 90 ของแผ่น 20 อันเป็นการประกันให้มีลักษณะที่ ร่วมระนาบกันของส่วนยอด ตัวนำร่องขา (12) ถูกคงสภาพให้เรียงแนวกับตัวยึด 14 โดยการสร้างมุม สำหรับทำให้ได้ระดับกัน (506) และขับดันตัวนำร่องเข้าไปในมุมโดยอีลาสโมเตอร์ในมุมตรงกันข้ามตาม แนวเส้นทแยงมุมอย่างน้อยหนึ่งมุม อุปกรณ์ทดสอบสำหรับทดสอบระดับเวเฟอร์ของวงจร IC ถูกเปิดเผยไว้ ขาด้านบนและด้านล่าง (22,62) ถูกจัดแบบให้เลื่อนโดยสัมพันธ์กันแะคงให้มีการสัมผัสแบบถ่วงทางไฟฟ้าโดย อีลาสโตเมอร์ (80) อีลาสโตเมร์ถูกบีบอัดไว้ล่วงหน้าจากสภาวะที่มีการพักชั่วคราวตามธรรมชาติของมัน ระหว่างแผ่นบนสุด (22) กับด้านล่างสุด (70) การบีบอัดไว้ล่วงหน้าจะช่วยเพิ่มการตอบสนองแบบคืน สภาพได้ของขา ส่วนยอดของขา (40) ถูกคงสภาพให้ร่วมระนาบกันค่อนข้างมากโดยการคาบเกี่ยวปีก (44a-b) อย่างน้อยหนึ่งอันต้านกับผิวหน้าหยุดด้านบน 90 ของแผ่น 20 อันเป็นการประกันให้มีลักษณะที่ ร่วมระนาบกันของส่วนยอด ตัวนำร่องขา (12) ถูกคงสภาพให้เรียงแนวกับตัวยึด 14 โดยการสร้างมุม สำหรับทำให้ได้ระดับกัน (506) และขับดันตัวนำร่องเข้าไปในมุมโดยอีลาสโมเตอร์ในมุมตรงกันข้ามตาม แนวเส้นทแยงมุมอย่างน้อยหนึ่งมุมข้อถือสิทธิ์ (ข้อที่หนึ่ง) ซึ่งจะปรากฏบนหน้าประกาศโฆษณา : 1.ชุดประกอบขาสัมผัสที่ใช้ในการทดสอบสำหรับการสัมผัสชั่วคราวกับแผ่นทดสอบบน อุปกรณ์ประเภทวงจรรวมระดับเวเฟอร์ภายใต้การทดสอบ (DUT) ซึ่งประกอบรวมด้วย: a. ขาเสียบต่อด้านบนที่เลื่อนได้อย่างน้อยหนึ่งอันซึ่งยังมีส่วนยื่นด้านบนสุดสำหรับสัมผัสกับส่วน DUT,ปีกชิ้นประกอบในแนวขวางด้านข้างอย่างน้อยหนึ่งอันและผิวสัมผัส; โดยที่ขาด้านบนดังกล่าวจะ เลื่อนได้ระหว่างตำแหน่งที่ไม่ได้อยู่ในช่วงทดสอยกับตำแหน่งที่อยู่ในช่วงทดสอบ; b. ขาเสียบต่อด้านแท็ก :
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH150099A true TH150099A (th) | 2016-05-10 |
| TH1401007613B TH1401007613B (th) | 2016-05-10 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| PH12014502745A1 (en) | Wafer level integrated circuit contractor and method of construction | |
| EP4350372A3 (en) | Method and device for detecting the absence of voltage | |
| WO2012033802A3 (en) | Electrically conductive pins for microcircuit tester | |
| TW200602655A (en) | Probe card for testing a semiconductor device | |
| MY155882A (en) | Electrically conductive pins for microcircuit tester | |
| MY186140A (en) | Climbing test bench for scooters | |
| BRPI0811226A2 (pt) | Equipamento de ancoragem magnético com uma unidade de autoteste | |
| EP2975608A3 (en) | Electronic pad | |
| CN204855340U (zh) | 用于评估胶黏材料粘结性能的试验机 | |
| WO2015138388A3 (en) | Wafer level integrated circuit probe array and method of construction | |
| WO2015006624A3 (en) | On-center electrically conductive pins for integrated testing | |
| CN204064602U (zh) | 一种跌落试验装置 | |
| PH12016501263A1 (en) | Method for testing semiconductor wafers using temporary sacrificial bond pads | |
| CY1124660T1 (el) | Μη επανδρωμενη ή με εξ αποστασεως λειτουργια πλατφορμα | |
| DK3258757T3 (da) | Under gulvet forsænket fordeler til elektriske og/eller elektroniske indretninger | |
| TH150099A (th) | ตัวสัมผัสวงจรรวมระดับเวเฟอร์และวิธีการสร้าง | |
| CN205246825U (zh) | 一种高效的线路板检测装置 | |
| WO2013010512A3 (en) | Apparatus and method of electrical testing for flip chip | |
| WO2014096358A3 (en) | Support for a training simulator device | |
| CN204621897U (zh) | 一种综合测试试验装置的夹具 | |
| WO2015170189A3 (en) | Method and apparatus for conductive elastometric pin arrays using solder interconnect and a non conductive medium and individual solderable compression stops | |
| CN207051441U (zh) | Pcba功能测试设备 | |
| FI20160282A (fi) | Kuljetinjärjestely testausjärjestelmälle | |
| FR3014347B1 (fr) | Dispositif permettant le maintien en position statique au sol du socle d'un appareillage visant a exercer une pression mecanique horizontale sur une plinthe ou assimilee | |
| CN204514966U (zh) | Pcba测试治具 |