TH124878A - Surface inspection equipment - Google Patents

Surface inspection equipment

Info

Publication number
TH124878A
TH124878A TH1101000835A TH1101000835A TH124878A TH 124878 A TH124878 A TH 124878A TH 1101000835 A TH1101000835 A TH 1101000835A TH 1101000835 A TH1101000835 A TH 1101000835A TH 124878 A TH124878 A TH 124878A
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
light
projected
inspection
photographic
clause
Prior art date
Application number
TH1101000835A
Other languages
Thai (th)
Other versions
TH50291B (en
TH124878B (en
Inventor
โอคุโนะ นายมาโคโตะ
ทาคาดะ นายฮิเดคิ
มุราตะ นายไซอิจิ
Original Assignee
นางสาวปัณณพัฒน์ เหลืองธาตุทอง
นางสาวยิ่งลักษณ์ ไกรฤกษ์
นางสาวปวริศา อุดมธนภัทร
Filing date
Publication date
Application filed by นางสาวปัณณพัฒน์ เหลืองธาตุทอง, นางสาวยิ่งลักษณ์ ไกรฤกษ์, นางสาวปวริศา อุดมธนภัทร filed Critical นางสาวปัณณพัฒน์ เหลืองธาตุทอง
Publication of TH124878A publication Critical patent/TH124878A/en
Publication of TH124878B publication Critical patent/TH124878B/en
Publication of TH50291B publication Critical patent/TH50291B/en

Links

Abstract

DC60 (15/06/54) อุปกรณ์ตรวจสอบพื้นผิวซึ่งมีอุปกรณ์ส่องสว่างลักษณะวงแหวน 3 ซึ่งมีส่วนฉายแสงลักษณะ วงกลม 3A กับแผ่นกั้นแสง 3B ซึ่งมีส่วนช่องเปิดทางแสงซึ่งมีลักษณะวงกลมแกนร่วมกับส่วนฉายแสง 3A และมีเส้นผ่าศูนย์กลางที่เล็กกว่าเส้นผ่าศูนย์กลางภายในของส่วนฉายแสง 3A ที่ระหว่างส่วนฉาย แสงกับวัตถุเป้าหมายการตรวจสอบดังกล่าว และมีส่วนถ่ายภาพ 4 ซึ่งมีการจัดวางที่บนเส้นกึ่งกลาง C ของส่วนช่องเปิดของแผ่นกั้นแสง 3B และถ่ายภาพพื้นผิวของแผ่นเหล็กกล้า 2 โดยอาศัยส่วนช่องเปิด ดังกล่าว ที่บริเวณถ่ายภาพบน A บนพื้นผิวซึ่งส่วนถ่ายภาพ 4 ทำการถ่ายภาพ เพียงแสงที่ได้ส่องอ้อม ที่บริเวณขอบส่วนช่องเปิดของแผ่นกั้นแสง 3B ของแสงที่ถูกฉายแสงจากส่วนฉายแสง 3A เท่านั้นถูก ฉายแสง ระยะทาง H ระหว่างส่วนฉายแสง 3A กับพื้นผิวของแผ่นเหล็กกล้า 2 ถูกกำหนดให้มีระดับ ความสว่างเฉลี่ยในบริเวณถ่ายภาพ A เป็นระดับที่กำหนดขึ้นไปและความต่างของระดับความสว่างใน บริเวณถ่ายภาพ A ถูกกำหนดให้อยู่ในขอบเขตที่กำหนด จากนี้ จึงสามารถทำการตรวจจับตำหนิ ลักษณะจุดขนาดเล็กมากได้อย่างเที่ยงตรง อุปกรณ์ตรวจสอบพื้นผิวซึ่งมีอุปกรณ์ส่องสว่างลักษณะวงแหวน 3 ซึ่งมีส่วนฉายแสงลักษณะ วงกลม 3A กับแผ่นกั้นแสง 3B ซึ่งมีส่วนช่องเปิดทางแสงซึ่งมีลักษณะวงกลมแกนร่วมกับส่วนฉายแสง 3A และมีเส้นผ่าศูนย์กลางทที่เล็กกว่าเส้นผ่าศูนย์กลาง-ายในของส่วนฉายแสง 3A ที่ระหว่างส่วนฉาย แสงกับวัตถุเป้าหมายการตรวจสอบดังกล่าว และมีส่วนถ่ายภาพ 4 ซึ่งมีการจัดวางที่บนเส้นกึ่งกลาง C ของส่วนช่องเปิดของแผ่นกั้นแสง 3B และถ่ายภาพพื้นผิวของแผ่นเหล็กกล้า 2 โดยอาศัยส่วนช่องเปิด ดังกล่าว ที่บริเวณถ่ายภาพบน A บนพื้นผิวซึ่งส่วนถ่ายภาพ 4 ทำการถ่ายภาพ เพียงแสงที่ได้ส่องอ้อม ที่บริเวณขอบส่วนช่องเปิดของแผ่นกั้นแสง 3B ของแสงที่ถูกฉายแสงจากส่วนฉายแสง 3A เท่านั้นถูก ฉายแสง ระยะทาง H ระหว่างส่วนฉายแสง 3A กับพื้นผิวของแผ่นเหล็กกล้า 2 ถูกกำหนดให้มีระดับ ความสว่างเฉลี่ยในบริเวณถ่ายภาพ A เป็นระดับที่กำหนดขึ้นไปและความต่างของระดับความสว่างใน บริเวณถ่ายภาพ A ถูกกำหนดให้อยู่ในขอบเขตที่กำหนด จากนี้ จึงสามารถทำการตรวจจับตำหนิ ลักษณะจุดขนาดเล็กมากได้อย่างเที่ยงตรง DC60 (15/06/54) Surface Inspection Device with 3 Ring Illuminator with 3A Circular Projection Section and 3B Baffle with Optical Aperture Segment, which has a circular axis in combination with the Projection section. 3A light and has a smaller diameter than the internal diameter of the 3A light-emitting section between the projected sections Light on the target object to examine it It has a photographic section 4, which is positioned on the center line C of the aperture block part 3B, and photographed the surface of the steel plate 2 using the aperture portion at the photographic area on A on the surface. In which the shooting part 4 is only taken to shoot the light that has shone around At the edge of the aperture of the 3B baffle, only the light that is projected from the 3A beam is projected, the distance H between the 3A beam and the steel plate surface 2 is set to a level. The average brightness in the shooting area A is the level specified above, and the difference in the The shooting area A is fixed to the specified region, so blemishes can be detected. Characteristics of very small dots The surface inspection device is equipped with a 3-ring illuminator with a 3A circular beam and a 3B baffle with an axial-circular optical opening segment with a 3A light beam and a small diameter. Than the inner diameter of the 3A light-emitting part between the projected parts Light on the target object to examine it It has a photographic section 4, which is positioned on the center line C of the aperture block part 3B, and photographed the surface of the steel plate 2 using the aperture portion at the photographic area on A on the surface. In which the shooting part 4 is only taken to shoot the light that has shone around At the edge of the aperture of the 3B baffle, only the light that is projected from the 3A beam is projected, the distance H between the 3A beam and the steel plate surface 2 is set to a level. The average brightness in the shooting area A is the level specified above, and the difference in the The shooting area A is fixed to the specified region, so blemishes can be detected. Characteristics of very small dots

Claims (9)

1.อุปกรณ์ตรวจสอบพื้นผิวซึ่งมีลักษณะจำเพาะ คือ มีอปุกรณ์ส่องสว่างลักษณะวงแหวนซึ่งมีส่วนฉายแสงลักษณะวงกลมกับแผ่นกันแสงซึ่งมีส่วน ช่องเปิดทางแสงซึ่งมีลักษณะวงกลมแกนร่วมกับส่วนฉายแสงดังกล่าวและมีเส้นผ่าศูนย์กลางที่เล็กกว่า เส้นผ่าศูนย์กลางภายในของส่วนฉายแสงดังกล่าวที่ระหว่างส่วนฉายแสงกับวัตถุเปาหมายการตรวจ สอบดังกล่าว และมีส่วนถ่ายภาพซึ่งมีการจัดวางที่บนเส้นกึ่งกลางของส่วนช่องเปิดของแผ่นกั้นแสงดังกล่าว และถ่ายภาพพื้นผิวของวัตถุเป้าหมายการตรวจสอบดังกล่าวโดยอาศัยส่วนช่องเปิดดังกล่าว ที่บริเวณถ่ายภาพบนพื้นผิววัตถุเป้าหมายการตรวจสอบดังกล่าวซึ่งส่วนถ่ายภาพดังกล่าวทำ การถ่ายภาพเพียงแสงที่ได้ส่องอ้อมที่บริเวณขอบส่วนช่องเปิดของแผ่นกั้นแสงดังกล่าวของแสงที่ถูก ฉายแสงจากส่วนดังกล่าวเท่านั้นถูกฉายแสงระยะทางระหว่างส่วนฉายแสงดังกล่าวกับพื้นผิว ของวัตถุเป้าหมายการตรวจสอบดังกล่าวถูกกำหนดให้มีระดับความสว่างเฉลี่ยในบริเวณถ่ายภาพบน พื้นผิวของวัตถุเป้าหมายการตรวจสอบดังกล่าวเป็นระดับที่กำหนดขึ้นไปและความต่างของระดับความ สว่างในบริเวณถ่ายภาพดังกล่าวถูกกำหนดให้อยู่ในขอบเขตที่กำหนด1.Surface inspection equipment, which is characterized by a ring-shaped illumination device, which has a circular beam and a shield, which contributes to The optical opening, which has a circular axis, is joined to the beam and has a smaller diameter. The internal diameter of the projected part, between the projected part and the target of the inspection, and the photographic component positioned on the center line of the aperture portion of the baffle. And shoots the surface of the object to be examined using the said opening part At the shooting area on the surface of the target object, such inspection of which the said photographic part is Shooting only indirect light at the edge of the opening of the block of light Only light from the said part is projected, the distance is between the said part and the surface. The inspection is set with the average brightness level in the upper shooting area. The surface of the inspection target object is defined above and the level difference The brightness in the shooting area is fixed within the specified limits. 2. อุปกรณ์ตรวจสอบพื้นผิวของข้อถือสิทธิข้อ 1 ซึ่งมีลักษณะจำเพาะ คือ วัตถุเป้าหมายการตรวจสอบดังกล่าวเป็นวัสดุลักษณะแถบยาวซึ่งมีการลำเลียงเรียบทิศทาง ความยาว ทำให้อุปกรณ์ส่องสว่างวงกลมดังกล่าวกับส่วนถ่ายภาพดังกล่าวที่เคลื่อนที่ไปกลับหนึ่งเที่ยว ตลอดทั่วด้านกว้างวสัดุลักษณะแถบยาวดังกล่าวเป็นอย่างน้อยระหว่างที่ช่วงซึ่งมีความยาวที่กำหนด ไม่เกินความยาวสั้นที่สุดของความยาวการเกิดอย่างต่อเนื่องของตำหนิต่อเนื่องซึ่งถูกกำหนดที่วัสดุ ลักษณะแถบยาวเจาะจงดังกล่าวพร้อมกับมีตัวเคลื่อนที่ตัดขวางซึ่งทำซ้ำการทำงานเดียวกันตามทุก ครั้งที่ช่วงซึ่งมีความยาวที่กำหนดมีการลำเลียง และตรวจสอบตำหนิต่อเนื่องซึ่งเกิดที่พื้นผิววัสดุลักษณะแถบยาวดังกล่าว2. The surface inspection apparatus of claim 1, which has a specific characteristic, is that the object of the inspection is a long strip of material, which is smoothed, directional, lengthened, causing the device to illuminate the circle with the photographic element. Say that moves one round trip The entire width of the aforementioned length is at least during the span of a specified length. Not exceeding the shortest length of the continuous birth length of defects determined at the material. Such a specific length is accompanied by a cross-section motion that repeats the same operation for every The time during which a specified length of a span is transported. And continually inspect for defects that occur on the surface of such long strip material 3. อุปกรณ์ตรวจสอบพื้นผิวของข้อถือสิทธิข้อ 2 ซึ่งมีลักาณะจำเพาะ คือ มีส่วนตรวจจับระยะ ทางลำเลียงซึ่งตรวจจับระยะทางลำเลียงของวัสดุลักาณะแถบยาวดังกล่าว มีอุปกรณ์ควบคุมช่วงจังหวะถ่ายภาพซึ่งควบคุมการทำงานไปกลับของส่วนที่ตัดขวาง ดังกล่าวตามข้อมูลระยะทางลำเลียงที่ได้ตรวจจับโดยส่วนตรวจจับระยะทางลำเลียงดังกล่าวกับจังหวะ ถ่ายภาพให้ส่วนถ่ายภาพดังกล่าวถ่ายภาพตลอดทั่วด้านกว้างของวัสดุลักษณะแถบยาวดังกล่าวทาง คุณสมบัติที่แท้จริง3. The surface inspection device of Clause 2, which has a specific characteristic, is that the distance detection part. A conveyor that detects the transport distance of such long strip material. There is a timing control device that controls the back-and-forth operation of the cross-section. According to the conveyor distance data detected by the aforementioned transport distance sensing part and the stroke. Take a photo so that the shooting section shoots the entire width of the aforementioned material. Real features 4. อุปกรณ์ตรวจสอบพื้นผิวของข้อถือสิทธิข้อ 2 หรือ 3 ซึ่งมีลักษณะตำเพาะคือ ในกรณีที่ กำหนดบริเวณช่องที่มีขนาดเล็กและยาวจำนวนหนึ่งซึ่งอยู่ติดกันและขนานกันเรียบทิสทางความยาว ของวัสดุลักษณะแถบยาวดังกล่าว ส่วนถ่ายภาพดังกล่าวถ่ายภาพบริเวณบางส่วนที่อยู่ติดกันหรือ บริเวณบางส่วนดังกล่าวที่อยู่ห่างกันซึ่งอยู่ในแต่ละบริเวณแทร็กดังกล่าว4. The surface inspection device of Clause 2 or 3, which is characterized by the specifics, is, in the case of specifying a number of small and long channels that are adjacent and parallel to the length. Of such material The photographic portion captures parts that are adjacent or Some of the above areas that are located in each of the following tracks. 5. อุปกรณ์ตรวจสอบพื้นผิวของข้อถือสิทธิข้อ 2 หรือ 3 ซึ่งมีลักษณะจำเพาะ คือ มีส่วน ประมวลผลภาพซึ่งคัดเลือกระดับความเสียหายของตำหนิในแต่ละภาพที่ส่วนถ่ายภาพได้ถ่ายภาพเป็น ข้อมูลตัวเลข และมีส่วนคำนวณการกระจายตำหนิซึ่งคำนวณสภาพการเกิดตำหนิ 2 มิติของพื้นผิววัสดุ ลักษณะแถบยาวตามข้อมูลตัวเลขตำหนิของแต่ละภาพถ่ายดังกล่าวซึ่งถูกคัดเลือกประมวลผล ภพดังกล่าวกับตำแหน่งภาพนั้น5. Surface inspection equipment of Clause 2 or 3, which is characterized as having an image processor, which selects the degree of defect damage in each image at the photographic part, has taken numerical data and is involved in calculations. Defect distribution which calculates the 2-dimensional defect condition of the material surface. Characteristics of the long strip according to the defect data of each such photograph, which was processed. The above world and the position of that picture 6. อุปกรณ์ตรวจสอบพื้นผิวของข้อถือสิทธิข้อ 5 ซึ่งมีลักษณะจำเพาะ คือ มีส่วนแสดงผลแผน ที่ตำหนิซึ่งแสดงผลสภาพการกระจายตำหนิซึ่งได้มีการคำนวณที่ส่วนตำนวณการกระจายตำหนิที่บน รูปขยาย 2 มิติของพื้นผิววัสดุลักษณะแถบยาวดังกล่าวเพิ่มขึ้นอีก6. Surface inspection equipment of claim 5, which is characterized by having a part to display the plan results. The defect distribution, which shows the flaw distribution condition, has been calculated at the defect distribution part of the 2-D magnification of the aforementioned elongated material surface. 7. อุปกรณ์ตรวจสอบพื้นผิวของข้อถือสิทธิข้อ 6 ซึ่งมีลักษณะจำเพาะ คือส่วนแสดงผลแทนที่ ตำหนิดังกล่าวแยกพื้นผิววัสดุลักษณะแถบยาวดังกล่าวเป็นตาข่ายสี่เหลี่ยมและแสดงผลระดับความ เสัยหายของตำหนิของแต่ละข่ายโดยการเปลี่ยนสีแสดงผลหรือสัญลักษณ์แสดงผล7.Surface inspection equipment of Clause 6, with characteristics Is the replacement display The defect separates the surface of the material, the characteristic long strip into a square lattice and shows the degree Loss of defects of each network by changing display colors or display symbols. 8. อุปกรณ์ตรวจสอบพื้นผิวของข้อถือสิทธิข้อ 1 ถึง 7 ข้อใดข้อหนึ่งซึ่งมีลักษณะจำเพาะคือ วัตถุเป้าหมายการตรวจสอบดังกล่าวเป็นแฟ่นเหล็กกล้า และตรวจสอบตำหนิลักษณะจุดขนาดเล็กใน บริเวณถ่ายภาพบนแผ่นเหล็กกล้า8.Any of Clause 1 to 7 of Clause 1 to 7 surface inspection equipment, characterized by: The object of the inspection is steel. And examine the appearance of small spots in The shooting area on the steel plate 9. อุปกรณ์ตรวจสอบพื้นผิวของข้อถือสิทธิข้อ 2 ถึง 7 ข้อใดข้อหนึ่งึ่งมีลักษณะจำเพาะ คือ วัตถุเป้าหมายการตรวจสอบดังกล่าวเป็นแผ่นเหล็กกล้าล้างด้วยกรด และตำหนิต่อเนื่องดังกล่าวเป็น คราบตกค้าง9. Surface inspection equipment of Clause 2 to 7, one of which is unique, is the object that the inspection target is acid-washed steel plate. And continuous defects such as residues
TH1101000835A 2011-02-23 Surface inspection equipment TH50291B (en)

Publications (3)

Publication Number Publication Date
TH124878A true TH124878A (en) 2013-06-28
TH124878B TH124878B (en) 2013-06-28
TH50291B TH50291B (en) 2016-07-06

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10805552B2 (en) Visual inspection device and illumination condition setting method of visual inspection device
JP5806808B2 (en) Imaging optical inspection device
MX348272B (en) Method and device for detecting, in particular, refreacting defects.
MY181779A (en) Surface defect inspecting device and method for steel sheets
JP2010286791A5 (en)
RU2012128554A (en) SYSTEM AND METHODS OF DETECTING MATERIAL WITH VARIABLE OPTICAL CHARACTERISTICS
JP2011095005A5 (en)
MY196733A (en) Intraocular lens inspection
US8717544B2 (en) Alignment method, alignment apparatus, and exposure apparatus
JP6448563B2 (en) Cloth surface inspection device
JP2019082333A5 (en)
JP2011174896A (en) Imaging apparatus and method
JP6575232B2 (en) Steel plate shape measuring apparatus and method, and steel plate manufacturing apparatus and method using the same
TH124878A (en) Surface inspection equipment
TH50291B (en) Surface inspection equipment
JP6801860B2 (en) Appearance inspection device for the object to be inspected
JP2010286339A (en) Method of inspecting directivity of light source and apparatus therefor
JP6526514B2 (en) Inspection apparatus, method and program
JP2022105581A (en) Method of detecting molding failure
RU2017104849A (en) DEVICE FOR OPTICAL IDENTIFICATION OF SLAUGH PIG FLOOR
JP2017009533A (en) Image inspection system
JP2019120540A (en) Defect inspection device, and defect inspection device manufacturing method
JP2014169988A (en) Defect inspection device of transparent body or reflection body
JP2015045598A5 (en)
EP3174011A3 (en) Processing apparatus, processing system, image pickup apparatus, processing method, and processing program