TH109716A - ชั้นฐานดิสก์แม่เหล็กและดิสก์แม่เหล็ก - Google Patents
ชั้นฐานดิสก์แม่เหล็กและดิสก์แม่เหล็กInfo
- Publication number
- TH109716A TH109716A TH901004328A TH0901004328A TH109716A TH 109716 A TH109716 A TH 109716A TH 901004328 A TH901004328 A TH 901004328A TH 0901004328 A TH0901004328 A TH 0901004328A TH 109716 A TH109716 A TH 109716A
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- magnetic disk
- microns
- disk base
- base layer
- primary
- Prior art date
Links
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims abstract 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract 3
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 claims abstract 3
- 238000004630 atomic force microscopy Methods 0.000 claims abstract 2
- 230000023077 detection of light stimulus Effects 0.000 abstract 2
Abstract
DC60 (21/12/52) ในชั้นฐานดิสก์แม่เหล็กที่เป็นวงแหวนและที่มีพื้นผิวหลักที่หนึ่งและสอง (1) ความขรุขระ พื้นผิวที่ถูกวัดโดยกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมที่มีความละเอียดของ 256x256 พิกเซลต่อ 2 ตาราง ไมครอน และ/หรือ (2) จำนวนของสารแปลกปลอมที่ถูกตรวจจับที่มีขนาด 0.1 ไมครอน หรือมากกว่า และ 1.0 ไมครอน หรือน้อยกว่าโดยขึ้นกับการตรวจจับของแสงที่กระจายจากชั้นฐานดิสก์แม่เหล็ก เมื่อแสง เลเซอร์ที่มีความยาวคลื่น 405 nm ถูกฉายกับขนาดจุด 0.5 ไมครอน ที่พลังงานเลเซอร์ 25mW แตก ต่างระหว่างพื้นผิวหลักที่หนึ่งและสอง เพียงแค่พื้นผิวหลักที่หนึ่งมีคุณภาพพื้นผิวที่สามารถใช้ได้ เป็นพื้นผิวการบันทึกแม่เหล็ก จำนวนของสารแปลกปลอมที่ถูกตรวจจับที่มีขนาด 0.1 ไมครอน หรือมาก กว่า และ 1.0 ไมครอน หรือน้อยกว่าโดยขึ้นกับการตรวจจับของแสดงที่กระจายจากฐานดิสก์แม่เหล็ก เมื่อแสดงเลเซอร์ที่มีความยาวคลื่น 405 nm ถูกฉายกับขนดาจุด 5 ไมครอน ที่พลังงานเลเซอร์ 25 mW เป็น 400 หรือน้อยกว่าต่อ 30 ตารางเซนติเมตร บนพื้นผิวหลักที่สอง ในชั้นฐานดิสก์แม่เหล็กที่เป็นวงแหวนและที่มีพื้นผิวหลักที่หนึ่งและสอง (1) ความขรุขระ พื้นผิวที่ถูกวัดโดยกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมที่มีความละเอียดของ 256x256 พิกเซลต่อ 2 ตาราง um และ/หรือ (2) จำนวนของสารแปลกปลอมที่ถูกตรวจจับที่มีขนาด 0.1 um หรือมากกว่า และ 1.0 um หรือน้อยกว่าโดยขึ้นกับการตรวจจับของแสงที่กระจายจากชั้นฐานดิสก์แม่เหล็ก เมื่อแสง เลเซอร์ที่มีความยาวคลื่น 405 nm ถูกฉายกับขนาดจุด 0.5 um ที่พลังงานเลเซอร์ 25mW แตก ต่างระหว่างพื้นผิวหลักที่หนึ่งและสอง เพียงแค่พื้นผิวหลักที่หนึ่งมีคุณภาพพื้นผิวที่สามารถใช้ได้ เป็นพื้นผิวการบันทึกแม่เหล็ก จำนวนของสารแปลกปลอมที่ถูกตรวจจับที่มีขนาด 0.1 um หรือมาก กว่า และ 1.0 um หรือน้อยกว่าโดยขึ้นกับการตรวจจับของแสดงที่กระจายจากฐานดิสก์แม่เหล็ก เมื่อแสดงเลเซอร์ที่มีความยาวคลื่น 405 nm ถูกฉายกับขนดาจุด 5um ที่พลังงานเลเซอร์ 25 mW เป็น 400 หรือน้อยกว่าต่อ 30 cm2 บนพื้นผิวหลักที่สอง
Claims (1)
1. ชั้นฐานดิสก์แม่เหล็กที่เป็นวงแหวนและมีพื้นผิวหลักที่หนึ่งและสอง ในที่ซึ่ง (1) ความขรุขระพื้นผิวที่ถูกวัดโดยกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมที่มีความละเอียด ของ 256x256 พิกเซลต่อ 2 ตาราง um และ/หรือ (2) จำนวนของสารแปลกปลอมที่ถูกตรวจจับที่มี ขนาด 0.1 um หรือมากกว่า และ 1.0 um หรือน้อยกว่าโดยขึ้นกับการตรวจจับของแสงที่กระจาย จากชั้นฐานดิสก์แม่เหล็กดังกล่าว เมื่อแสงเลเซอร์ที่มีความยาวคลื่น 405 nm ถูกฉายกับขนานจุด 0.5 um ที่พลังงานเลเซอร์ 25 mW แตกต่างระหว่างพื้นผิวหลักที่หนึ่งและสองดังกล่าว แแท็ก :
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH109716A true TH109716A (th) | 2011-07-29 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| MY186233A (en) | Glass substrate for a magnetic disk and magnetic disk | |
| EP3387368B1 (en) | Properties of a surface and subsurface structures with white light interferometry using photonic jets | |
| TW201612621A (en) | Reflective mask blank, method for manufacturing reflective mask blank, reflective mask, and method for manufacturing semiconductor device | |
| JP2010176830A5 (th) | ||
| WO2014075448A1 (zh) | 大景深三维纳米分辨成像方法、光学组件及成像系统 | |
| EP2579100A3 (en) | Inspection apparatus, lithographic apparatus, and device manufacturing method | |
| MY153605A (en) | Substrate for magnetic disk and magnetic disk | |
| Liu et al. | Real-space observation of photonic nanojet in dielectric microspheres | |
| Mojarad et al. | Measuring three-dimensional interaction potentials using optical interference | |
| TWI266305B (en) | An optical head which can provide a sub-wavelength-scale light beam | |
| WO2012021727A3 (en) | Image force microscopy of molecular resonance | |
| SG160307A1 (en) | Magnetic disk substrate and magnetic disk | |
| Roy et al. | Exploiting evanescent-wave amplification for subwavelength low-contrast particle detection | |
| TH109716A (th) | ชั้นฐานดิสก์แม่เหล็กและดิสก์แม่เหล็ก | |
| WO2014158290A8 (en) | Optical beam positioning unit for atomic force microscope | |
| Raeymaekers et al. | The effect of laser polishing on fretting wear between a hemisphere and a flat plate | |
| Ebeling et al. | Increased localization precision by interference fringe analysis | |
| Kassamakov et al. | 3D super-resolution label-free imaging | |
| Tapilouw et al. | Reduction of batwing effect in white light interferometry for measurement of patterned sapphire substrates (PSS) wafer | |
| Dariani et al. | Root mean square roughness of nano porous silicon by scattering spectra | |
| CN100570326C (zh) | 高密度光栅偏振相关自成像的探测方法和装置 | |
| Kim et al. | Surface Measurement of Microstructures Using Optical Pick-up Based Scanner | |
| Herlihy | Polyferrocenylsilanes Enable NIL-Fabricated Magneto-Ceramic Composite Nanorod Arrays | |
| 김정용 | Determination of the spatial resolution of an aperture-type near-field scanning optical microscope using a standard sample of a quantum-dot-embedded polymer film | |
| Ahn et al. | Optical interferometric imaging of sub-50 nm semiconductor nanoparticles |